JIS C 8122:2012 差込みランプソケット | ページ 2

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2.3
端子又は接点の組立て(terminal/contact assembly)
次の二つのタイプをもち,かつ,接触圧力を維持する弾性手段と同様に,電源用導体の終端と対応する
ランプ口金の接触面との接続手段の部分又は部分の組立て。
a) 立上がりタイプ ランプ口金を差し込んだときに,端子がランプ軸と平行に立ち上がるタイプ。
b) 非立上がりタイプ ランプ口金を差し込んだときに,端子が立ち上がらないタイプ。
注記 端子及びバレルは,特有の構成要素としてもよい。
2.4
ユニオンリング(union ring)
ランプソケットの分離した外郭部分を,一つに合わせる円筒状部品。
2.5
シェードリング(shade ring)
外郭の対応する支持物とかみ合うめねじ部又は他の手段をもち,シェードを支える又は保持するように
意図した円筒状部品。
2.6
スカート(skirt)(合成樹脂ランプソケットだけ)
シェードリングに類似しているが,円筒状部分が長く,ランプソケットの器体の全長に延びている部品。
2.6.1
保護シールド(protective shield)(合成樹脂ランプソケットだけ)
スカートに類似しているが,使用者がランプ口金に偶発的に接触するのを保護するためのフレア開放端
をもつ部品(図9参照)。
2.7
ドーム(dome)
接続端子を遮蔽するコードグリップランプソケット又はねじ取付形ランプソケットの部分。
2.8
バレル(barrel)
ランプ口金とランプソケットとを機械的に接続するためのランプソケットの部分。
2.9
器具内用ランプソケット(lampholder for building-in)
照明器具内,追加外郭又は類似の外郭に組み込むように設計したランプソケット。
2.9.1
外郭のないランプソケット(unenclosed lampholder)
感電保護に関してこの規格の要求事項を満たすために,例えば,外郭といった付加手段を必要とするよ
うに設計した器具内用ランプソケット。
2.9.2
外郭のあるランプソケット(enclosed lampholder)
ランプソケット単独で,感電保護及び適切な場合にはIP分類に関して,この規格の要求事項を満たすよ
うに設計した器具内用ランプソケット。
2.10
独立形ランプソケット(independent lampholder)

――――― [JIS C 8122 pdf 6] ―――――

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照明器具から独立して取付けができ,同時にその分類に従って,必要な全ての保護及び表示を備えるよ
うに設計したランプソケット。
2.11
スイッチ付きランプソケット(switched lampholder)
ランプに対する電源を制御する一体形スイッチが付いたランプソケット。
2.12
基礎絶縁(basic insulation)
感電に対する基礎的保護を行うために,充電部に施す絶縁。
注記 基礎絶縁には,専ら機能的な用途に用いられる絶縁物を必ずしも含める必要はない。
2.13
付加絶縁(supplementary insulation)
基礎絶縁が故障したときに感電保護を行うため,基礎絶縁に追加して設けた独立した絶縁。
2.14
二重絶縁(double insulation)
基礎絶縁及び付加絶縁の両方で構成する絶縁。
2.15
強化絶縁(reinforced insulation)
規定する条件の下で,二重絶縁と同等の感電に対する保護度合いを備え,充電部に適用する単一絶縁シ
ステム。
注記 “絶縁システム”という用語は,絶縁が一つの同質の物でなければならないことを意味しない。
強化絶縁は,付加絶縁又は基礎絶縁として単独で試験することができない幾つかの層で構成し
てもよい。
2.16
充電部(live part)
通常の使用状態で感電を引き起こすおそれのある導電部。ただし,中性線は,充電部とみなす。
注記 感電のおそれの有無を調べる試験は,JIS C 8105-1の附属書A(導電部が感電を生じるかどう
かを決める試験)を参照する。
2.17
形式試験(type test)
製品の設計が関連規格の要求事項に適合するか否かを判定する目的で,形式試験試料を対象に行う試験,
又は一連の試験。
2.18
形式試験試料(type test sample)
形式試験のために,製造業者又は責任ある販売業者が提供した,1個以上の類似見本からなる試料。
注記 この規格の“製造業者又は責任ある販売業者”とは,電気用品安全法の“届出事業者”に類す
る者で,製品の日本国内での製造事業者及び輸入事業を行う販売(卸売など)業者である。
2.19
準照明器具(セミルミネア)(semi-luminaire)
安定器内蔵形ランプと類似の構造をもつが,光源及び/又は始動装置を交換して使用できるよう設計し
た器具。

――――― [JIS C 8122 pdf 7] ―――――

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2.20
定格動作温度(rated operating temperature)
ランプソケットの最高動作許容温度。
2.21
耐インパルスカテゴリ(impulse withstand category)
過渡的な過電圧状態を定義する数字(過電圧カテゴリともいう。)。
注記 耐インパルスカテゴリには,次のI,II,III及びIVを使用する。
a) 耐インパルスカテゴリによる分類の目的 耐インパルスカテゴリは,利用の継統性及び故
障の許容可能な危険性に関して,機器の有用性の程度を区別するために規定する。
機器の絶緑について,耐インパルスレベルを選択することによって,過電圧制御に基づ
いて,故障の危険性を許容レベルにまで低減させ,設備全体の絶縁協調が達成できる。
高い耐インパルスカテゴリ数は,機器の耐電圧特性が高いことを示しており,過電圧制
御に対する選択方法が広がる。
耐インパルスカテゴリの考え方は,幹線から直接,電力を供給する機器に使用する。
b) 耐インパルスカテゴリの説明 耐インパルスカテゴリIの機器は,建築物の固定電気設備
に接続することを意図した機器である。過渡過電圧を特定のレベルに抑制するために,機
器の外部に保護手段を設ける。保護手段は,固定設備の中又は固定設備と機器との間のい
ずれでもよい。
耐インパルスカテゴリIIの機器は,建築物の固定電気設備に接続する機器である。
耐インパルスカテゴリIIIの機器は,固定電気設備の一部となる機器である。また,固定
電気設備の一部となる機器以外であっても,更に高い有用性を期待する機器である。
耐インパルスカテゴリIVの機器は,建築物の電気設備の主分電盤より上位の,受電側に
近い位置又はその近傍で用いる機器である。
2.22
一次回路(primary circuit)
交流電源に直接接続する回路。
例えば,交流電源への接続手段,変圧器の一次巻線,電動機及びその他の負荷装置が該当する。
2.23
二次回路(secondary circuit)
一次回路に直接に接統しておらず,変圧器,コンバータ若しくは同等の装置又は電池から電力を供給す
る回路。
例外として,単巻変圧器では一次回路への直接接統部分があるが,変圧器のタップ部分は,上記でいう
二次回路とみなす。
注記 二次回路では,電源の過渡電圧は,一次巻線によって減衰する。誘導性安定器も同様に,電源
の過渡電圧の大きさを減じる。したがって,一次回路又は誘導性安定器の後ろにある部品には,
一段低い耐インパルスカテゴリ,すなわち耐インパルスカテゴリIIが適用できる。

3 一般的要求事項

  ランプソケットは,通常の使用状態で確実に機能し,かつ,人又は周囲に危険を生じない設計及び構造
とする。

――――― [JIS C 8122 pdf 8] ―――――

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適合性は,通常,該当する試験を全て実施して判定する。
特に器具内用を意図していない独立形ランプソケットの場合,この規格に規定していない項目は,JIS C
8105-1の次の章による。
第2章−照明器具の分類
第3章−表示
第4章−構造(適切に適用する。)
第8章−感電に対する保護
第9章−じんあい,固形物及び水気の侵入に対する保護
第10章−絶縁抵抗,耐電圧,接触電流及び保護導体電流(クラスIIが対象)
12.4及び12.5−温度試験

4 試験に関する共通条件

4.1   この規格による試験は,形式試験とする。
注記 この規格に規定する要求事項及び許容差は,その目的で提出される形式試験試料の試験に関連
する。形式試験試料の適合性は,製造業者の全製品のこの安全規格に対する適合性を保証する
ものではない。製品のこの規格への適合性は,製造業者の責任であり,形式試験に加え,定期
検査及び品質保証を含めて実施してもよい。
詳細は,JIS C 7709-0のシート0-8-1を参照。
4.2 その他の規定がない場合,試料は,納入状態のままで,ランプなしに通常の使用状態に取り付け,
周囲温度20±5 ℃で試験する。
4.3 全ての検査及び試験は,次の合計試料数で実施する。
− スイッチなしランプソケットでは,8個の試料
− スイッチ付きランプソケットでは,11個の試料
箇条別の試料数は,次のとおりである。
− 箇条3箇条12 : 3個の試料
− 箇条14箇条18 : 3個の試料
− 箇条13(スイッチ付きランプソケット試験だけ) : 3個の試料
− 箇条19及び箇条20 : 2個の試料
注記 10.2に規定するねじなし端子の試験では,別個の追加試料が必要である。特に組込用に意図し
ない独立形ランプソケットでも,追加試料が必要である(箇条3参照)。
4.4 4.3に規定する全ての試験でランプソケットが全て合格になった場合,その形式のランプソケットは
この規格に適合するとみなす。
4.3に規定する全ての試験でいずれのグループのうち1個のランプソケットが不合格になった場合,その
ランプソケットが通常の生産又は設計を代表するものではないことを証明できる場合を除き,その形式の
ランプソケットは,この規定に適合しなかったとみなす。不合格となったランプソケットが通常の生産又
は設計を代表するものではないことを証明できる場合には,もう1組のランプソケットを使用して,その
グループの単数又は複数の試験を行わなければならない。一般に,不合格となった試験だけを繰り返せば
よい。ただし,ランプソケットが箇条14箇条18までに規定する試験に不合格となった場合には,箇条
14以降の試験を繰り返さなければならない。
1個のランプソケットが不合格となる場合に備えて最初の形式試験試料とともに,1組の追加形式試験試

――――― [JIS C 8122 pdf 9] ―――――

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料を提出することができ,1個のランプソケットが不合格となった場合には,追加形式試験試料を試験し,
その試料も不合格になった場合にだけ,この形式試験試料は不合格とみなす。この再試験で不合格となら
なかった場合には,その形式のランプソケットは,この規格に適合するものとみなす。追加形式試験試料
が同時に提出されなかった場合には,1個のランプソケットの不合格をもって,不適合とみなす。
4.3に規定する全ての試験で複数の試料が不合格となった場合には,その形式のランプソケットは,この
規格に適合しなかったとみなす。
注記 試験期間の短縮を考慮して,同じ構造及び原料で構成されており,細部だけが異なるランプソ
ケットは,申込者と試験機関との協定によって,代表的な1品種の試験で代用することができ
る。

5 定格の標準値

5.1 定格電圧の標準値

  全てのランプソケットに対し,定格電圧は250 Vだけとする。
ランプソケットB15dは,イグナイタ回路での使用を意図していない。
ランプソケットB22dは,ランプソケット製造業者の承認がない限り,イグナイタ回路では使用できな
い。
注記 理論的な観点から,ランプソケットB22dに要求する最小の沿面距離は,2.5 kVのパルス電圧
に耐えるに十分な空間距離である。
接触子の移動及びランプの取外しを容易にする手段は,ある状況では絶縁距離の不測の減少を伴い,空
間距離の減少は正常な動作(始動時を除く。)には影響せず,沿面距離の減少だけが危険となる場合がある。
ランプソケットBY22dは,イグナイタ回路での使用に特別に設計されたものである。

5.2 定格電流の標準値

  定格電流の標準値は,次による。
− ランプソケットB15は,2 A
− ランプソケットB22は,2 A
定格電流は,標準値以上でなければならない。2 Aを超える定格電流を許容する。
5.1及び5.2の要求事項の適合性は,表示の目視検査によって判定する。

6 分類

6.1   外郭の材質による分類は,次による。
− 合成樹脂ランプソケット
− セラミックランプソケット
− 金属ランプソケット
注記 部分的に金属製の外郭部分をもつランプソケット及び導電性外面(例えば,金属化外面)をも
つ絶縁材製の外郭部分からなるランプソケットは,金属ランプソケットとみなす。
これは,例えば,絶縁材製ランプソケットの外側に絶縁が機能しない場合にも充電部になり
得ない取り付けた金属シェードリングなどのねじ込み口及び外郭部分には適用しない。絶縁被
覆をもつ金属ランプソケットは,金属ランプソケットとみなす。
表面が導電性であるか疑義がある場合は,幅1.5 mm,長さ25 mmの2本の帯状電極(例えば,銀導電
塗料)を平行に相互の距離2 mmで表面に密着させた後,14.3に従って,電極間の絶縁抵抗を測定する。

――――― [JIS C 8122 pdf 10] ―――――

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JIS C 8122:2012の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 61184:2008(MOD)

JIS C 8122:2012の国際規格 ICS 分類一覧

JIS C 8122:2012の関連規格と引用規格一覧