JIS G 0551:2013 鋼―結晶粒度の顕微鏡試験方法

                                                                                   G 0551 : 2013

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[1]
•  4 記号・・・・[3]
•  5 原理・・・・[4]
•  6 試験片の採取及び調製・・・・[5]
•  6.1 試験片の採取・・・・[5]
•  6.2 フェライト結晶粒界の現出・・・・[5]
•  6.3 オーステナイト及び旧オーステナイト結晶粒界の現出・・・・[5]
•  7 結晶粒度の評価方法・・・・[7]
•  7.1 一般事項・・・・[7]
•  7.2 結晶粒度標準図との比較による評価方法(比較法)・・・・[7]
•  7.3 総合判定方法・・・・[8]
•  8 結晶粒度の表示・・・・[8]
•  8.1 フェライト結晶粒度の表示・・・・[8]
•  8.2 オーステナイト結晶粒度の表示・・・・[8]
•  9 報告・・・・[9]
•  附属書A(規定)結晶粒度標準図・・・・[10]
•  附属書B(規定)計数方法による評価・・・・[19]
•  附属書C(規定)切断法による評価・・・・[23]
•  附属書JA(規定)熱処理粒度試験方法によるオーステナイト粒界現出方法・・・・[27]
•  附属書JB(規定)フェライト結晶粒の切断法による評価方法・・・・[30]
•  附属書JC(規定)混粒組織の評価方法及び表示方法・・・・[32]
•  附属書JD(規定)フェライト-パーライト混在組織の評価方法・・・・[33]
•  附属書JE(参考)JISと対応国際規格との対比表・・・・[36]

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――――― [JIS G 0551 pdf 1] ―――――

G 0551 : 2013

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人日本
鉄鋼連盟(JISF)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改正すべきとの申出があり,日本工業標準
調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)である。
  これによって,JIS G 0551:2005は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

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――――― [JIS G 0551 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                              G 0551 : 2013

鋼−結晶粒度の顕微鏡試験方法

Steels-Micrographic determination of the apparent grain size

序文

  この規格は,2003年に第2版として発行されたISO 643を基に,技術的内容を変更して作成した日本工
業規格である。
  なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。
変更の一覧表にその説明を付けて,附属書JEに示す。

1 適用範囲

  この規格は,鋼のフェライト又はオーステナイトの結晶粒度を測定するための顕微鏡試験方法について
規定する。また,この規格は,結晶粒界の現出方法及び一様に結晶粒が分布する試験片の平均結晶粒度の
求め方について規定する。
    注記1 実際の結晶粒の形状は,立体的(三次元)であるため,顕微鏡試料の切断面は,結晶粒の端
            部から最大直径の部分までの任意の箇所になり得る。たとえ結晶粒が完全に同じ大きさであ
            っても,平面上(二次元)に現れる結晶粒の大きさは,ある範囲にばらつく。
    注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
            ISO 643:2003,Steels−Micrographic determination of the apparent grain size(MOD)
              なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”
            ことを示す。
    警告 この規格に基づいて試験を行う者は,通常の試験室での作業に精通していることを前提とする。
          この規格は,その使用に関連して起こる全ての安全上の問題を取り扱おうとするものではない。
          この規格の利用者は,各自の責任において安全及び健康に対する措置をとらなければならない。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS G 0561 鋼の焼入性試験方法(一端焼入方法)
    ISO 3785 Steel−Designation of test piece axes

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。
3.1
結晶粒(grain)
  顕微鏡観察のために研磨及び調製された試験片の平らな断面上に現出する,多少湾曲した側面を伴う閉

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G 0551 : 2013
じた多角形の形状。結晶粒は,次のように区別する。
3.1.1
オーステナイト結晶粒(austenitic grain)
  面心立方の結晶粒。焼なまし双晶を含むことがある。
3.1.2
フェライト結晶粒(ferritic grain)
  体心立方の結晶粒。焼なまし双晶は含まない。
    注記 フェライト結晶粒は,通常は炭素含有率が0.25 %(質量分率)以下の炭素鋼又はフェライト系
          ステンレス鋼に対して適用している。フェライト結晶粒と同等の寸法のパーライトの島が存在
          する場合は,その島をフェライト結晶粒としている。
3.2
粒度番号(index)
  試験片断面の1 mm2当たりの平均結晶粒数mを用いて,次の式で計算されるGの値。正数及びゼロ又は
負数の場合もあり得る。
                         m   8 2G
    注記 定義に従って,mが16の場合,Gは1となる。結晶粒度標準図との比較による評価方法(比較
          法)においては,0.5単位及び総合判定においては,平均粒度番号を小数点以下一桁で表す場合
          もある。
3.3
捕捉結晶粒数(intercept),N
  直線又は曲線の試験線が通過又は捕捉した結晶の数。試験線が直線の場合,通常,両端は,結晶粒内で
終わる(図1参照)。
    注記 直線の両端部分各々は,捕捉結晶の1/2として計数する。Nは,さまざまな位置で無作為に適
          用した試験線が捕捉した結晶粒の数を多数回計数して得た平均値である。Nを測定に用いた線
          長LTで除することによって単位長さ(通常はmm単位)当たりの捕捉結晶粒数 Nを得る。
                                                                                   L
3.4
交点の数(intersection),P
  結晶粒界と一本の直線又は曲線の試験線との交点の数(図1参照)。
    注記 Pは,さまざまな位置で無作為に適用した試験線と結晶粒界とが交わった回数について,多数
          回計数して得た平均値である。Pを測定に用いた線長LTで除することによって,単位長さ(通
          常はmm単位)当たりの結晶粒界の交点数 Pを得る。
                                                  L
3.5
細粒鋼及び粗粒鋼
  細粒鋼は,粒度番号5以上の鋼。粗粒鋼は,粒度番号5未満の鋼。細粒鋼と粗粒鋼との判定は,特に指
定のない限り,6.3.2(浸炭粒度試験方法)による。
3.6
混粒
  1視野内において,最大頻度をもつ粒度番号の粒からおおむね3以上異なった粒度番号の粒が偏在し,
これらの粒が約20 %以上の面積を占める状態にあるもの,又は,視野間において3以上異なった粒度番号
の視野が存在するもの。

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                                                                                   G 0551 : 2013
          単相結晶粒組織上の直線による捕捉結晶粒数(N)の計数。ここでは,矢印点16までが結晶粒
        を捕捉していて線の両端部分が結晶粒内で終わっている(2×1/2=1)。したがって,N=7である。
          単相結晶粒組織上の直線による交点の数(P)の計数。ここでは,矢印点7までが交点の数。した
        がって,P=7である。
                         図1−捕捉結晶粒数(N)及び交点の数(P)の例

4 記号

  使用する記号を表1に示す。

――――― [JIS G 0551 pdf 5] ―――――

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