JIS G 0551:2020 鋼―結晶粒度の顕微鏡試験方法

                                                                                   G 0551 : 2020

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[1]
•  4 記号・・・・[4]
•  5 原理・・・・[5]
•  6 試験片の採取及び調製・・・・[5]
•  6.1 試験片の採取・・・・[5]
•  6.2 フェライト結晶粒界の現出・・・・[5]
•  6.3 オーステナイト及び旧オーステナイト結晶粒界の現出・・・・[5]
•  7 結晶粒度の評価方法・・・・[7]
•  7.1 一般事項・・・・[7]
•  7.2 結晶粒度標準図との比較による評価方法(比較法)・・・・[7]
•  7.3 総合判定方法・・・・[8]
•  8 結晶粒度の表示・・・・[9]
•  8.0A 一般事項・・・・[9]
•  8.1 フェライト結晶粒度の表示・・・・[9]
•  8.2 オーステナイト結晶粒度の表示・・・・[9]
•  9 報告・・・・[9]
•  附属書A(規定)結晶粒度の評価・・・・[10]
•  附属書JA(規定)熱処理粒度試験方法によるオーステナイト結晶粒界現出方法・・・・[18]
•  附属書JB(規定)フェライト結晶粒度の切断法による評価方法・・・・[21]
•  附属書JC(規定)混粒組織の評価方法及び表示方法・・・・[23]
•  附属書JD(規定)フェライト-パーライト混在組織の評価方法・・・・[24]
•  附属書JE(参考)JISと対応国際規格との対比表・・・・[27]

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――――― [JIS G 0551 pdf 1] ―――――

           G 0551 : 2020

まえがき

  この規格は,産業標準化法第16条において準用する同法第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人
日本鉄鋼連盟(JISF)から,産業標準原案を添えて日本産業規格を改正すべきとの申出があり,日本産業
標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本産業規格である。これによって,JIS G 0551:2013
は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本産業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

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                                      日本産業規格                            JIS
                                                                              G 0551 : 2020

鋼−結晶粒度の顕微鏡試験方法

Steels-Micrographic determination of the apparent grain size

序文

  この規格は,2012年に第3版として発行されたISO 643を基とし,技術的内容を変更して作成した日本
産業規格である。
  なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。
変更の一覧表にその説明を付けて,附属書JEに示す。また,附属書JA附属書JDは対応国際規格には
ない事項である。

1 適用範囲

  この規格は,鋼のフェライト及びオーステナイトの結晶粒度を測定するための顕微鏡試験方法について
規定する。また,この規格は,結晶粒界の現出方法及び一様に結晶粒が分布する試験片の平均結晶粒度の
求め方について規定する。
    注記1 実際の結晶粒の形状は,立体的(三次元)であるため,顕微鏡試料の切断面は,結晶粒の端
            部から最大直径の部分までの任意の箇所になり得る。たとえ結晶粒が完全に同じ大きさであ
            っても,平面上(二次元)に現れる結晶粒の大きさは,ある範囲にばらつく。
    注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
            ISO 643:2012,Steels−Micrographic determination of the apparent grain size(MOD)
              なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”
            ことを示す。
    警告 この規格に基づいて試験を行う者は,通常の試験室での作業に精通していることを前提とする。
          この規格は,その使用に関連して起こる全ての安全上の問題を取り扱おうとするものではない。
          この規格の利用者は,各自の責任において安全及び健康に対する措置をとらなければならない。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS G 0561 鋼の焼入性試験方法(一端焼入方法)
    ISO 3785,Metallic materials−Designation of test specimen axes in relation to product texture
    ASTM E112,Standard Test Methods for Determining Average Grain Size

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。

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           2
G 0551 : 2020
3.1
結晶粒(grain)
  顕微鏡観察のために研磨及び調製された試験片の平らな断面上に現出する,多少湾曲した側面を伴う閉
じた多角形の形状。
  結晶粒は,次のように区別する。
3.1.1
オーステナイト結晶粒(austenitic grain)
  面心立方の結晶粒。焼なまし双晶を含むことがある。
3.1.2
フェライト結晶粒(ferritic grain)
  体心立方の結晶粒。焼なまし双晶は含まない。
    注記 フェライト結晶粒は,通常は炭素含有率が0.25 %(質量分率)以下の炭素鋼又はフェライト系
          ステンレス鋼に対して適用している。フェライト結晶粒と同等の寸法のパーライトの島が存在
          する場合は,その島をフェライト結晶粒としている。
3.2
粒度番号(index)
  観察した試験面の1 mm2当たりの平均結晶粒数mを用いて,次の式で表されるGの値。正数又はゼロだ
けではなく,負数の場合もある。
                         m  8 2G
    注記1 定義によると,mが16の場合,Gは1となる。
    注記2 結晶粒度標準図との比較による評価方法(比較法)においては,0.5単位及び総合判定におい
            て,平均粒度番号を小数点以下一桁で表す場合もある。
3.3
捕捉結晶粒数,N(intercept)
  直線又は曲線の試験線が通過又は捕捉した結晶の数[図1 a)参照]。
    注記 試験線が直線の場合,通常,両端は,結晶粒内で終わる。直線の両端部分各々は,捕捉結晶の
          1/2として計数される。Nは,様々な位置で無作為に適用した試験線が捕捉又は通過した結晶
          粒の数を多数回計数して得た平均値である。Nを測定に用いた線長LTで除することによって
          単位長さ(通常は,ミリメートル単位)当たりの捕捉結晶粒数 Nが得られる。
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3.4
交点の数,P(intersection)
  結晶粒界と一本の直線又は曲線の試験線との交点の数[図1 b)参照]。
    注記 Pは,様々な位置で無作為に適用した試験線と結晶粒界とが交わった回数について,多数回計
          数して得た平均値である。Pを測定に用いた線長LTで除することによって,単位長さ(通常は,
          ミリメートル単位)当たりの結晶粒界の交点の数 Pが得られる。
                                                       L
3.5
細粒鋼及び粗粒鋼
  細粒鋼は,粒度番号5以上の鋼。粗粒鋼は,粒度番号5未満の鋼。この判定に適用する試験方法は,通
常,6.3.2が適用される。

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                                                                                   G 0551 : 2020
3.6
混粒
  1視野内において,最大頻度をもつ粒度番号の粒からおおむね3以上異なった粒度番号の粒が偏在し,
これらの粒が約20 %以上の面積を占める状態にあるもの,又は視野間において3以上異なった粒度番号の
視野が存在するもの。
          矢印点16までが結晶粒を捕捉していて,線の両端部分が結晶粒内で終わっている(2×1/2=1)。
        したがって,N=7である。
                         a) 単相結晶粒組織上の直線による捕捉結晶粒数Nの計数
          矢印点7までが交点の数。したがって,P=7である。
                          b) 単相結晶粒組織上の直線による交点の数Pの計数
                            図1−捕捉結晶粒数N及び交点の数Pの例

――――― [JIS G 0551 pdf 5] ―――――

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