10
K 0141 : 2000 (ISO 14976 : 1998)
(*40*) [追加数値パラメータ数],
(*40*) {追加数値パラメータラベル,
(*40*) 追加数値パラメータ単位,
(*40*) 追加数値パラメータ値}
(*「追加数値パラメータ数」の数値によって,上の三つの入力項目グループの数
を規定する*),
{拡張ブロック入力}
(*「拡張ブロック入力数」の数値により,「拡張ブロック入力」の数が規定され
る。この項目は,フォーマットが将来更新されて挿入されるいかなる「整数」,「実
数」,「テキスト行」もすべて読み込めるように,「テキスト行」として定義され
る。しかし,更新後は「テキスト行」という定義を破棄してもよい。*),
データ点数
(*「データ点数」は,「対応変数の数」の数値と一組の対応変数を構成するデー
タ点数との積に等しい*),
{データ最小値,
データ最大値}
(*「対応変数の数」の数値によって,上の入力項目対の数が規定される。入力項
目対が挿入される順序は,「対応変数ラベル」が記載されている順序と同じである。
*),
{データ値}
(*「データ点数」の数値によって,「データ値」の数が規定される。「対応変数
の数」の数値が1より大きければ,データは完結したセットが連続した形で送られ,
それぞれのセットは「対応変数ラベル」が記載されている順序に従って,それぞれ
の対応する変数に対するデータ値が記載されている。
マイナス符号の後に空白が続くときは,少なくとも一つのデータ値は存在しなけれ
ばならないことを示す*);
横軸増分=実数
(*単位については「横軸開始値」の下にあるテーブルを参照*);
横軸ラベル=テキスト行;
横軸開始値=実数;
横軸単位=単位
(*次の表は「横軸単位」としてよく利用されるものを「測定手法」と「実験モード」に合わせ
て例を示したが,これを使わなければならないというものではない。
――――― [JIS K 0141 pdf 11] ―――――
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K 0141 : 2000 (ISO 14976 : 1998)
手法に対応する単位
実験モード AES diff, AES dir, FABMS, SIMS, SNMS FABMS energy spec,
EDX, ELS, ISS SIMS energy spec
UPS, XPS, XRF SNMS energy spec
MAP 'eV' 'u' or 's' 'eV'
MAPDP
NORM
SDP
SDPSV 's' 's'
*);
追加数値パラメータラベル=テキスト行;
追加数値パラメータ単位=単位;
追加数値パラメータ値=実数;
分光器軸方位角=実数;
分光器軸極角=実数;
分光器モード= ('FAT' | 'FRR' | 'constant delta m' | 'constant m/delta m'),改行;
分光器通過エネルギー,減速比又は質量分解能=実数;
分光器仕事関数,原子又はイオン取り込みエネルギー=実数;
分析線源方位角=実数;
分析線源ビーム幅x=実数;
分析線源ビーム幅y=実数;
分析線源特性エネルギー=実数;
分析線源ラベル=テキスト行;
分析線源入射極角=実数;
分析線源強度=実数;
分析領域幅x=実数;
分析領域幅y=実数;
ブロック識別子=テキスト行;
改行=・7ビットアスキー文字のCARRIAGE RETURNに7ビットアスキー文字の行送り (LINE FEED)
が続く・;
文字= '' | '!' | '"' | '#' | '$' | '%' | '&' | "'" | ' (' | ')' | '*' | '+' | ',' | '−' | '.' | '/' | '0' | '1' | '2' | '3' | '4'
| '5' | '6' | '7' | '8' | '9' | ' : ' | ' ;' | ' < ' | '=' | ' > ' | '・' | '@' | 'A' | 'B' | 'C' | 'D' | 'E' | 'F' | 'G' |
'H' | 'I' | 'J' | 'K' | 'L' | 'M' | 'N' | 'O' | 'P' | 'Q' | 'R' | 'S' | 'T' | 'U' | 'V' | 'W' | 'X' | 'Y' | 'Z' | '[' | '
＼' | ']' | '^' | '' | '`' | 'a' | 'b' | 'c' | 'd' | 'e' | 'f' | 'g' | 'h' | 'i' | 'j' | 'k' | 'l' | 'm' | 'n' | 'o' | 'p' | 'q'
| 'r' | 's' | 't' | 'u' | 'v' | 'w' | 'x' | 'y' | 'z' | '[{' | ' |' | '}]' | '~'
(*ここで用いる文字とは,空白(スペース)若しくは94あるASCII (American National Standard
Code for Information Interchange) コード文字である。7ビットASCII, ANSI X3.4-1986は,情報標
準−情報処理−情報交換ISO 7ビットコード文字セット,ISO 646 : 1983の米国版である。ISO 646
――――― [JIS K 0141 pdf 12] ―――――
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K 0141 : 2000 (ISO 14976 : 1998)
の他の版では '#', '$', '@', '[', '＼', ']', '^', '', '[{', '|', '}]', '~' を他の文字で置き換
えてもよい。*);
検出粒子電荷=整数;
注釈行=テキスト行;
対応変数ラベル=テキスト行;
対応変数単位=単位;
カレンダー日=整数;
十進数=[符号],[{数字}, '.'],{数字}−
(*後ろに続くものがない負号は「十進数」の数字が少なくとも一つ要ることを示す。*);
微分幅=実数;
数字= '0' | '1' | '2' | '3' | '4' | '5' | '6' | '7' | '8' | '9';
実験識別子=テキスト行;
実験モード= ('MAP' | 'MAPDP' | 'MAPSV' | 'MAPSVDP' | 'NORM' | 'SDP' | 'SDPSV' | 'SEM'),改行
(*実験項目における各ブロックの内容は次の「実験モード」の記述子を用いて表記する :
'MAP' 等間隔に設定された二次元座標系の上に定めたある測定点に対応したスペクト
ル。
'MAPDP' 等間隔に設定された二次元座標系の上に定めたある測定点と深さ方向分析におけ
るある分析層に対応したスペクトル。
'MAPSV' 二次元座標系の上に等間隔に定めたすべての点において,ある決められた数の変
数に対応するそれぞれの値を一つずつ,与えた数値の組。ここで,x方向の線分析
とは,「分析箇所数」が「全マップ領域上x座標数」に等しくマップのy方向点
数が1の場合である。y方向の線分析についてはxとyを交換する。
'MAPSVDP' 深さ方向分析のある一層に対応して,二次元座標系の上に等間隔に定めたすべて
の点において,ある決められた数の変数に対応するそれぞれの値を一つずつ,与
えた数値の組。
'NORM' 独立したデータであるか,又は一つ以上の実験変数に対応して定まる一連のデー
タ;これらのデータはスペクトルのこともあるが,スペクトルではないこともあ
る。
'SDP' 深さ方向分析において,ある層に対応しているスペクトル。
'SDPSV' 深さ方向分析の層に対応して決めたある変数の値の全体。
'SEM' 等間隔に作った二次元配列の各点に対応する放射電子強度。
*);
実験終了符= 'end of experiment' ,改行;
実験変数ラベル=テキスト行;
実験変数単位=単位;
視野幅x=実数;
視野幅y=実数;
初走査線の終了x座標=整数;
初走査線の終了y座標=整数;
初走査線の開始x座標=整数;
――――― [JIS K 0141 pdf 13] ―――――
13
K 0141 : 2000 (ISO 14976 : 1998)
初走査線の開始y座標=整数;
フォーマット識別子= 'VAMAS Surface Chemical Analysis Standard Data Transfer Format 1988 May4',
改行;
拡張ブロック入力=テキスト行;
拡張実験入力=テキスト行;
時=整数;
機関識別子=テキスト行;
装置型式識別子=テキスト行;
整数=[符号],[数字]−,改行
(*「整数」の値の範囲は,−1E37から1E37までの範囲でなければならない。
後ろに続くものがない負号は,この後に少なくとも一つの「整数」が必要なことを示す。*);
最終走査線の終了x座標=整数;
最終走査線の終了y座標=整数;
分光器投射レンズ倍率=実数;
データ最大値=実数;
データ最小値=実数;
分時刻=整数;
月時刻=整数;
追加数値パラメータ数=0以上の整数;
分析箇所数=1以上の整数;
スパッタイオン又はスパッタ原子の原子数=1以上の整数;
ブロック数=1以上の整数;
対応変数の数=1以上の整数;
全マップ領域上x座標数=1以上の整数;
全マップ領域上y座標数=1以上の整数;
実験変数の数=0以上の整数;
拡張ブロック入力数=0以上の整数;
拡張実験入力数=0以上の整数;
グリニジ標準時差=実数;
ブロック注釈行数=0以上の整数;
注釈行数=0以上の整数;
ブロック内手入力項目数=0以上の整数;
データ点数=1以上の整数;
ブロックデータ測定繰り返し回数=1以上の整数;
スペクトル領域数=1以上の整数;
1以上の整数=整数;
測定者識別子=テキスト行;
データ値=実数;
手入力項目前付番号=1以上の整数;
実数=十進数,['E',[符号],[十進数値]−],改行
――――― [JIS K 0141 pdf 14] ―――――
14
K 0141 : 2000 (ISO 14976 : 1998)
(*「実数」の値は−1E37以上−1E−37以下,0,又は1E−37以上1E37以下でなければな
らない。
後ろに続くものがない負号は,それが存在するならば,その後の指数部に少なくとも一つの
数値が必要なことを示す。*);
測定試料識別子=テキスト行;
測定試料法線極角=実数;
測定試料回転角=実数;
掃引モード= ('REGULAR' | 'IRREGULAR' | 'MAPPING'),改行
(*もし「実験モード」が 'MAPSV', 'MAPSVDP' 又は 'SEM' であるならば,「掃引モード」
の値は 'MAPPING' である。これに対して,データが横軸開始値と横軸増分と一つ以上の等
間隔な実験変数に対応したデータの組によってできる形をしているならば「掃引モード」は
'REGULAR' である。これら以外の場合はすべて 'IRREGULAR' である。*);
秒時刻=整数;
符号= '+' | '−';
1掃引当たり積算時間=実数;
信号モード= ('analogue' | 'pulse counting'),改行
(*アナログ信号は,ディジタルに記述されていたとしても,どちらかの符号をもっている
かもしれないし増幅されているかもしれない。そのことは,ブロックの注釈に記されていて
もよい。パルス計数信号はゼロ以上の整数である*);
1掃引当たり積算時間補正=実数;
化学種ラベル=テキスト行;
スパッタイオン又はスパッタ原子の原子番号=1以上の整数;
スパッタイオン又はスパッタ原子の符号付き電荷=1以上の整数;
スパッタモード ('continuous' | 'cylic'),改行;
スパッタ線源方位角=実数;
スパッタビーム電流=実数;
スパッタエネルギー=実数;
スパッタ線源入射極角=実数;
スパッタ幅x=実数;
スパッタ幅y=実数;
測定試料バイアス電圧=実数;
測定手法= ('AES diff' | 'AES dir' | 'EDX' | 'ELS' | 'FABMS' | 'FABMS energy spec' | 'ISS' | 'SIMS' | 'SIMS
energy spec' | 'SNMS' | 'SNMS energy spec' | 'UPS' | 'XPS' | 'XRF'),改行
(*これらの測定手法は次のとおり
AES diff 微分型オージェ電子分光法
AES dir 積分型オージェ電子分光法
EDX エネルギー分散型X線分光法
ELS 電子エネルギー損失分光法
FABMS 高速原子衝撃質量分析法
ISS イオン散乱分光法
――――― [JIS K 0141 pdf 15] ―――――
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JIS K 0141:2000の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 14976:1998(IDT)
JIS K 0141:2000の国際規格 ICS 分類一覧
- 35 : 情報技術.事務機械 > 35.240 : 情報技術(IT)の応用 > 35.240.70 : 自然科学へのITの応用