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K 0212 : 2016
番号 用語 よみ 定義 対応英語(参考)
10042 全反射X線回 ぜんはんしゃえっ total reflection X-ray
試料面にX線を全反射が起こる角度で照射する
折法, くすせんかいせ ことによって,表面からの回折X線だけを検出 diffractometry,
TXRD つほう して,試料表面の結晶構造を解析する方法。TXRD
10043 全反射キャピ ぜんはんしゃきゃ total reflection
キャピラリーの内壁面でX線を全反射させ,出
ラリー(X ぴらりー 射端まで伝ぱ(播)する集光素子。 capillary (for X-ray
線分析法の) analysis)
10044 全反射蛍光X ぜんはんしゃけい total reflection X-ray
半導体,ガラス基板など平たん(坦)な表面上
線分析法 こうえっくすせ にX線を全反射条件で照射し,発生する蛍光X fluorescence
んぶんせきほう 線を分析する方法。 spectroscopy
注記 基板からの散乱X線の影響を下げ,基板
表面の微量物質の評価に適する。
10045 ソーラースリ そーらーすりっと soller slit
薄い金属板を等間隔に積み重ねて,入射X線及
ット び回折線の垂直方向の発散を制限するためのス
リット。
10046 挿入光源 そうにゅうこうげ insertion light source
シンクロトロンの光の輝度を更に高くしたり,
ん エネルギーを高くするために,偏向磁石の間の
直線部分に設置する光源。
注記 アンジュレーターとウィグラーとの2種
類がある。
10047 定計数法 ていけいすうほう fixed count method
一定の計数値を設定して,計数がその設定値に
達するまでの時間を計測するX線強度の測定方
法。
10048 定時法 ていじほう fixed time method
一定時間を設定して,その時間内における計数
値を計測するX線強度の測定方法。
10049 電子結合エネ でんしけつごうえ electron binding
光電子の運動エネルギーから算出される,当該
ルギー ねるぎー 電子の測定試料内における束縛の強さを表すエenergy
ネルギー。
注記 光電子分光スペクトルのエネルギー軸に
用いる量。電子ボルト単位(eV)で表す。
10050 電子収量法, でんししゅうりょ electron yield method,
X線の照射によって物質から放出される電子の
EY うほう 総量を計測し,X線の吸収測定を行う方法。 EY
10051 電子線マイク でんしせんまいく electron probe
試料面に照射した電子ビームによって発生する
ロアナリシ ろあなりしす 特性X線(固有X線)を分光することによって,microanalysis,
ス, 微小領域の組成を分析する方法。 EPMA
EPMA 注記 1990年頃まではX線マイクロアナリシス
(XMA)とも称していた。
10052 特性X線, とくせいえっくす characteristic X-rays
X線スペクトルのうち,原子の内殻エネルギー
固有X線 せん, に固有なX線。
こゆうえっくすせ
ん
10053 二次フィルタ にじふぃるたー secondary beam filter
X線分析において分析目的の元素以外に起因す
ー(X線分 るX線を効果的に減衰させるために,試料と検 (for X-ray analysis)
析法の) 出器との間に入れるフィルター。
10054 波長分散方式 はちょうぶんさん wavelength dispersive
X線を分光結晶,回折格子などの分光素子を用
(X線分析 ほうしき いて分光する方式。 method (for X-ray
法の) analysis)
10055 半導体検出 はんどうたいけん solid state detector,
半導体を利用してX線を電気的なパルス信号に
器, しゅつき SSD (for X-ray
変換し,X線エネルギーと計数率(強度)とを
SSD(X線分 測定するための検出器。 analysis)
析の)
――――― [JIS K 0212 pdf 36] ―――――
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番号 用語 よみ 定義 対応英語(参考)
10056 表面EXAFS ひょうめんえぐざ surface EXAFS
全反射法など表面に敏感な手法で測定された広
ふす 域X線吸収微細構造スペクトル。
10057 比例計数管 ひれいけいすうか X線又は による気体のイオン化作用を利用proportional counter
ん した比例領域で作動するX線又は の検出器。
注記 光量子1個当たりのパルス電流が入射X
線のエネルギーに比例する。
10058 微小角入射X びしょうかくにゅ grazing incidence X-ray
X線を物質表面に全反射臨界角に近い角度で入
線回折法, うしゃえっくす 射し,その回折パターンから物質の表面近傍のdiffractometry,
GIXD せんかいせつほ 結晶構造などを得る方法。 GIXD
う
10059 ファンダメン ふぁんだめんたる X線の吸収・励起などのX線強度に影響を与えfundamental parameter
タルパラメ ぱらめーたーほ る物理定数(ファンダメンタルパラメーター)method,
ーター法, う, を用いて,蛍光X線スペクトルから物質の組成, FP method
FP法 えふぴーほう 膜厚などを計算で求める方法。
10060 粉末X線回折 ふんまつえっくす 粉末試料に対して行うX線回折法。 powder X-ray
法, せんかいせつほ 注記 主に試料の同定に用いられる。 diffractometry
粉末X線回折 う,
ふんまつえっくす
せんかいせつ
10061 ブラッグの式 ぶらっぐのしき Braggs equation
結晶によるX線の回折が起こるための条件を与
える式。
注記 式は次による。
2d sin θ=nλ
ここに,d : 格子面間隔
θ : ブラッグ角
λ : X線の波長
n : 整数
10062 ブラッグ反射 ぶらっぐはんしゃ Braggs reflection
結晶の格子面に入射し,反射したX線がブラッ
グの式の条件を満たすとき,回折波(反射線)
として強め合う現象。
10063 分光結晶 ぶんこうけっしょ 結晶によるX線の回折現象を利用して,X線のanalyzing crystal
う 波長分散を行うための素子。
10064 平行ビーム法 へいこうびーむほ parallel beam method
極細スリット,平行ソーラースリット,放物面
(X線回折 う ミラー,コリメーターなどで得られる平行なX (in X-ray
法の) 線源を用い,試料の回折面に対しそのX線入射 diffractmetry)
方向を保持して回折X線強度を測定する方法。
10065 平面分光素子 へいめんぶんこう plane dispersive
結晶のブラッグ反射を利用してX線を分光する
(X線分析 そし ために使用する,形状が平面の回折素子。 element (for X-ray
法の) analysis)
10066 偏向電磁石 へんこうでんじし deflection
高速で入射する電子ビームを,磁場をかけて曲
(放射光の) ゃく げることによって放射光を発生させ,かつ円形electromagnet (for
加速器内に電子ビームを閉じ込めるはたらきをsynchrotron
もつ磁石。 radiation)
10067 マルチチャン まるちちゃんねる multi-channel pulse
多重波高分析器で,数千段階程度のエネルギー
ネル波高分 はこうぶんせき 帯にX線を分類し,エネルギー分布を表示する height analyzer,
析器, き 機器。 MCA
MCA
10068 モズレーの法 もずれーのほうそ 原子の特性X線(固有X線)の波長と原子番号Moseleys law
則 く との関係を表す法則。
――――― [JIS K 0212 pdf 37] ―――――
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番号 用語 よみ 定義 対応英語(参考)
10069 ヨハンソン型 よはんそんがたぶ 分光結晶を半径2Rで湾曲させた後,半径Rの Johansson
分光器 んこうき ローランド円に沿って結晶表面を削ることによspectrometer
って,収差のない集光ができるX線分光器。
10070 リートベルト りーとべるとほう Rietveld method
広い回折角範囲の粉末回折パターンを直接解析
法 し,格子定数,構造パラメーターなどを精密化
する方法。
10071 粒子線励起X りゅうしせんれい particle induced X-ray
陽子,α粒子などの荷電粒子を加速して試料に
線分析法, きえっくすせん 照射し,発生する特性X線(固有X線)を測定 emission,
PIXE ぶんせきほう, して,元素分析する方法。 PIXE
ぴくしー
10072 励起X線 れいきえっくすせ excitation X-ray
蛍光X線又は光電子を発生させるために試料に
ん 照射するX線。
10073 湾曲分光素子 わんきょくぶんこ concave dispersive
結晶のブラッグ反射を利用して,X線を分光す
(X線分析 うそし element (for X-ray
ると同時に集束するための,湾曲した回折素子。
法の) analysis)
――――― [JIS K 0212 pdf 38] ―――――
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K 0212 : 2016
参考文献
JIS B 7079 光学及びフォトニクス−スペクトル帯域
JIS K 0050 化学分析方法通則
JIS K 0115 吸光光度分析通則
JIS K 0116 発光分光分析通則
JIS K 0117 赤外分光分析方法通則
JIS K 0119 蛍光X線分析通則
JIS K 0120 蛍光光度分析通則
JIS K 0121 原子吸光分析通則
JIS K 0150 表面化学分析−亜鉛及び/又はアルミニウム基金属めっきのグロー放電発光分光分析方法
JIS K 0211 分析化学用語(基礎部門)
JIS K 0214 分析化学用語(クロマトグラフィー部門)
JIS K 0215 分析化学用語(分析機器部門)
JIS K 3600 バイオテクノロジー用語
JIS Z 8117 遠赤外線用語
JIS Z 8120 光学用語
ISO 16962,Surface chemical analysis−Analysis of zinc- and/or aluminium-based metallic coatings by
glow-discharge optical-emission spectrometry
JIS K 0212:2016の国際規格 ICS 分類一覧
- 01 : 総論.用語.標準化.ドキュメンテーション > 01.040 : 用語集 > 01.040.71 : 化学技術(用語集)