JIS K 6265:2018 加硫ゴム及び熱可塑性ゴム―フレクソメータによる発熱及び耐疲労性の求め方 | ページ 3

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  検出精度は,±0.5 ℃とする。自動記録計を使用することが望ましい。

5.2 試験装置の校正

  試験装置の校正は,附属書Cによる。

5.3 試験片

5.3.1  試験片の形状及び寸法
  試験片の形状及び寸法は,直径(17.80±0.15)   m,高さ(25.00±0.25)   mの円柱状とする。
5.3.2  試験片の採取・作製
  試験片の採取・作製は,JIS K 6250の8.(試験片の採取・作製)による。
5.3.3  試験片の数
  試験片の数は,2個以上とする。
5.3.4  試験片の高さの測定
  試験片の高さの測定は,JIS K 6250の10.3[円柱状の試験片(圧縮永久ひずみ用など)の厚さの測定]
によって,0.01 mmの精度で行う。

5.4 試験方法

5.4.1  試験条件
  試験条件は,次による。
a) 試験室の標準温度は,JIS K 6250の6.1(試験室の標準温度)による。
b) 試料及び試験片の保管は,JIS K 6250の7.(試料及び試験片の保管)による。
c) 試験片の状態調節は,JIS K 6250の9.(試験片の状態調節)による。
d) 試験温度は,(55±1) ℃又は(100±1) ℃のいずれかとする。ただし,恒温槽の温度とする。
      恒温槽を取り除いて試験室の標準温度で行う試験は,特別な試験目的のために行う。
e) 試験時間は,25分間とする。
f)  試験片に加える静的圧縮応力は,(1.00±0.03)   Pa又は(2.00±0.06)   Paとする。静的圧縮応力(1.00±
    0.03)   Paは,質量11 kgの付加おもりを,また,静的圧縮応力(2.00±0.06)   Paは,質量22 kgの付加
    おもりを慣性おもりに追加することによって得られる。
g) ストローク(動的たわみ振幅の2倍)は,(4.45±0.03)   m,(5.71±0.03)   m又は(6.35±0.03)   mのい
    ずれかとする。
5.4.2  操作方法
  操作は,次のとおり行う。
a) 試験装置の調整 試験装置の調整は,次による。
  1) レバーを鉄製のピンで固定し,レバーが水平になるように装置を調整する。
  2) ストロークは,装置校正のための基準値(4.45±0.03)   mになるように偏心機構を調整する。
  3) ストローク調整後,偏心機構によって,上部アンビルを上死点まで上昇させ固定する。
  4) 下部アンビルをマイクロメータ機構によって下降させ,校正用ブロックを載せた後,下部アンビル
      の試験片接触面がレバー上面から(67±3)   mの範囲内になるように,再度マイクロメータ機構によ
      って下部アンビルを上昇させる。校正用ブロックは,高さ(25.00±0.01)   m,直径17.8 mmの黄銅
      製で,下部アンビルに当たる面の中央に温度センサを避けるためのくぼみが設けられたものでなけ
      ればならない。
  5) 上部アンビルが下部アンビルと平行で,かつ,校正用ブロックと確実に接触するように上部アンビ
      ルのクロスバーの調整を行う。ここで,マイクロメータの目盛をゼロに設定する。

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  6) マイクロメータ機構によって下部アンビルを下げ,校正用ブロックを取り除いてストロークが(4.45
      ±0.03)   mであることを再確認する。
  7) レバーからピンを外し,レバーが水平であることを確認する。レバーの水平が保たれていない場合
      は,補助おもりで調整する。
b) 試験の操作 試験の操作は,次による。
  1) 4.45 mm以外のストロークで試験を行う場合は,a) に準じて試験装置の調整を行う。
  2) レバーをピンで固定し,試験片に加える静的圧縮応力に応じて付加おもりを追加する。
  3) 試験片の高さの測定は,5.3.4による。
  4) 偏心機構によって上部アンビルを上死点に設定し,下部アンビルを下げて試験片を挿入し,試験片
      が上部アンビルと接触するまで下部アンビルを上昇させる。恒温槽を使用する試験を行う場合には,
      試験片を恒温槽内の網棚に載せ,最低30分間の状態調節を行った後,試験片の上下の向きを逆にし
      て素早く下部アンビルに挿入する。
  5) 装置を作動させ,直ちにレバーを水平位置に戻す。レバーは,試験中水平位置に保たれていなけれ
      ばならない。静荷重による試験片のたわみがストロークの1/2より少ないと,正しい結果が得られ
      ない。この場合には,付加おもりを追加するか,又はストロークを小さくして試験しなければなら
      ない。
  6) 時間とともに試験片高さの変化及び試験片温度を連続的に記録する。自動記録装置を用いることが
      望ましい。変位測定装置の読みから試験片の高さを求めるには,3) で測定した試験片の高さと25.00
      mmとの差を補正しなければならない。
c) 温度上昇及び永久ひずみの測定 温度上昇及び永久ひずみの測定は,試験片に異常がない場合は,25
    分間継続して行う。定常状態が続く場合は,更に測定時間を延ばす。永久ひずみは,25分間の試験が
    終了後,試験片を装置から取り出し,試験室の標準温度で1時間放冷した後,5.3.4によって試験片の
    高さを0.01 mmまで測定する。
d) 疲労破壊寿命の測定 疲労破壊寿命の測定は,破壊が発生するまで続ける。初期の破壊には,温度曲
    線の異常(突然の温度上昇)又はクリープの著しい増加が見られる。試験終了後,試験片をその高さ
    方向の中心を通る水平面で切断し,損傷(試験片の中心の微細な気泡,亀裂又はゴム質の低下)の程
    度を目視で確認する。破壊が発生しない場合,より厳しい試験条件を選択する。
e) クリープの測定 クリープの測定は,繰返し負荷を掛けて(試験開始時)から6秒後の試験片の高さ
    を起点としてそれ以降の試験片の高さを測定する。

5.5 試験結果の表し方

  試験結果の計算は,次による。
a) 温度上昇 温度上昇は,次の式(1)によって算出する。
                             燿                               (1)
                      ここに,        燿   温度上昇(℃)
                                           試験開始時に測定した試験片底面の温度(℃)
                                             25分間の試験後に測定した試験片底面の温度(℃)
b) クリープ率 クリープ率は,次の式(2)によって算出する。
                            h6  ht
                         F         100  (2)
                              h0
                      ここに,    F :  クリープ率(%)
                                  h0 :  試験室の標準温度で測定した試験前の試験片の高さ(mm)

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                                  h6 :  試験開始6秒後に測定した試験片の高さ(mm)
                                  ht :  t分間の試験後に測定した試験片の高さ(mm)
                                        標準試験時間は25分間とする。
      最初の試験片の高さh0が,許容差±0.2 mm以内の場合は,試験片の高さの規格値25 mmを使用し
    て算出してもよい。試験開始後6秒以内に,レバーを水平位置に戻さなければならない。
      注記 式(2)は,クリープ率の一般的な定義とは異なっている。他の定義として,初期の変形に対し
            て式(3)のように表現できる。
                            h6  ht
                         F         100   (3)
                            h0  h6
      式(2)は,負荷条件の高さh6を基準にした再計算を行う必要がない利点がある。
      (h6−ht)/h0は,初期高さh0が一定とすれば(±0.2 mmの許容範囲内)マイクロメータ又は自動補正
    器によって容易に読み取ることもできる。
c) 永久ひずみ 永久ひずみは,次の式(4)によって算出する。
                            h0  he
                         S         100   (4)
                              h0
                      ここに,     S :  永久ひずみ(%)
                                  h0 :  試験室の標準温度で測定した試験前の試験片の高さ(mm)
                                  he :  25分間の試験後,試験室の標準温度で1時間放冷後測定した
                                        試験片の高さ(mm)
d) 疲労破壊寿命 疲労破壊寿命は,試験片内部に破壊が検出されるまでの時間又は繰返し回数とする。

5.6 試験結果のまとめ方

  試験結果は,2個以上の試験片によって得られた値の中央値をJIS Z 8401によって丸め,有効数字2桁
で表す。

5.7 試験精度

  試験精度は,附属書Aを参照する。

5.8 試験報告書

  試験報告書には,次の事項を記録する。
a) 試験片の詳細
  1) 試料及び試験片に関する詳細
  2) 試験片の採取・作製方法(例えば,加硫又は切り出し)
b) 試験方法
  1) この規格の番号及び名称
  2) 試験方法
  3) 許容差外の場合の最初の試験片の高さ及び直径
  4) 試験片の硬さ
c) 試験の詳細
  1) 試験室の標準温度
  2) 状態調節の時間及び温度
  3) 静的応力
  4) ストローク
  5) 恒温槽の温度

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  6) 規定された手順と異なる場合には,その詳細
d) 試験結果
  1) 使用した試験片の数
  2) 温度上昇の測定 : 試験時間,個々の測定値及び中央値
  3) クリープ率の測定 : 試験時間,%で表される個々の測定値及び中央値
  4) 永久ひずみの測定 : 試験時間,%で表される個々の測定値及び中央値
  5) 疲労破壊寿命の測定 : 疲労破壊の判定基準及び破壊点の時間又は繰返し回数並びにそのときの温度
      の個々の測定値及び中央値
e) 試験年月日
f)  その他必要事項

6 定応力フレクソメータ試験

6.1 試験装置

6.1.1  試験装置の概要
  試験装置は,試験片に静的及び動的荷重を加えるための加振機,試験片の変位量及び荷重を検出するセ
ンサ,試験片内部の温度を測定するための針状温度センサ,恒温槽,制御・演算装置などからなる。試験
装置の原理的な構成を図6に,試験装置の例を図7に示す。

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   1 位置制御装置            5   温度制御装置                    9  恒温槽
  2 力センサ                6   加振機の制御及び測定値の演算装置10 加振機
  3 針状温度センサ          7   試験片                          11 変位センサ
  4 上部アンビル            8   下部アンビル
                             図6−定応力フレクソメータの原理・構成

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