この規格ページの目次
5
K 7226 : 1998 (ISO 2578 : 1993)
10. 試験方法
10.1 熱劣化温度にさらす試験片のほかに,次の場合に備えて,適切な個数の試験片を個別に保管する。
− 正確さの面から,別な温度での熱劣化試験を追加する必要がある場合
− 参照試験片として
これらの試験片は,適切に状態調節した雰囲気(ISO 291参照)で保存する。
10.2 熱劣化手順を開始する前に,選択した試験方法によって状態調節し試験した,必要数の試験片につ
いて室温で初期試験を行う。
熱硬化性材料は,選んだ温度範囲の最低の暴露温度で48時間状態調節する。
備考7. 必要であれば,熱可塑性材料も,選んだ温度範囲の最低の暴露温度において48時間アニーリ
ングする。
10.3 必要数の試験片を,選んだ温度に保持した各オーブンに入れる。
種類の異なるプラスチックの試験片が,相互に混じり合うおそれがある場合には,各材料ごとに別々の
オーブンを用いる。
10.4 各々の加熱劣化周期の終わりごとに(備考8.参照),必要数の試験片をオーブンから取り出し,必要
であれば,適切に調節した雰囲気(ISO 291参照)で状態調節する。試験は,選んだ試験基準に従って室
温で行う。
備考8. 最初の週の間では,試験する材料によって調べる特性の測定数が変わることがあるが,その
後の試験期間は,通常,附属書Cに従って選ぶ。
10.5 調べている特性の数値が,それに関連する終点に到達するまで,この試験方法を続行する。
11. 結果の評価
11.1 破壊試験並びに非破壊試験の両者について,各暴露温度及び各加熱劣化周期ごとに,選んだ特性の
測定値を,時間の対数の関数としてプロットする(図1参照)。このグラフが終点の基準を示す水平線と交
わる点を破壊到達時間とする。
保証試験を適用する場合には,破壊到達時間は平均値として計算される(2)。
注(2) EC 60216-1 : 1990の11.1を参照
11.2 耐熱性曲線は,それらの破壊到達時間及び各暴露温度に基づいて求められる。平均値を用いる場合
には,対数平均が破壊到達時間を表す。
11.3 附属書Aによって,回帰線を求める。
11.4 縦軸は時間の対数を尺度とし,横軸は絶対温度の逆数をベースに,摂氏温度による関連値も示した
グラフ用紙に,破壊到達時間対暴露温度をプロットする。図にプロットした各点を通して,回帰直線を引
くと,これが試験材料の耐熱性を表す。一例を図2に示す。
11.5 附属書Aによって,選んだ限度時間(通常,20 000時間)に対応する温度指数 (TI) 及び半減温度
幅 (HIC) を計算する。また,附属書Bに従って,相関係数を求める。
備考9. 温度の尺度を,その等間隔目盛が,絶対温度 (K) の逆数の等間隔目盛に等しい間隔に選ぶと,
一次関係があるならば得られた各点は直線上に乗ることが分かる。
10. 採用した温度範囲が比較的狭い場合,温度に比例する横軸の尺度を用いて曲線を作成しても
よい。この場合極めで慎重に行えば,曲線を直線に近似させることができる。
12. 相対温度指数の求め方
――――― [JIS K 7226 pdf 6] ―――――
6
K 7226 : 1998 (ISO 2578 : 1993)
相対温度指数 (RTI) は,耐熱性の二つの関係又は試験材料及び参照材料の比較試験に基づく曲線から得
られる耐熱特性である。RTIは,もともと照合材料に対して求めたTIに対応する時間に特に関係している。
RTIは二つの数字からなり,一方は式(1)を用いて得た温度を表し,他方は関連したHICを表す。これは
数値的に又はグラフを用いて求められる(詳細は,IEC 60216-3に示されている)。
計算の過程及び図3において,次の記号が用いられる。
TIr 参照材料の本来のTI
t0 TIrに相当する時間
A 試験材料の耐熱関係式の又は比較試験から作成された耐熱グラフ上の,座標 t0の点
B 参照材料の耐熱関係式の又は耐熱グラフ上の,座標 t0の点
HICr 本来の耐熱関係式又は耐熱グラフ上の点TIrでの参照材料のHIC
HIC (A) 点Aでの試験材料のHIC
HIC (B) 点Bでの参照材料のHIC
点A及びBは図式的に又は数値的に求められ,これからRTIが式 (1) を用いて求められる。
RTI=TIr+ (1)
RTIを報告する場合には,試験材料に関する特性,終点及び試験片のデータに関する通常の情報を補足
しておく。参照材料についても同様である。
備考11. 4.4に示した方法の実行に必要な基準は検討中である。
13. 試験報告書
試験報告書には,次の詳細事項を含める。
a) 試験材料の識別に必要なすべての情報
b) この規格の番号
c) 劣化条件が,応力を加えない試験片を加熱空気に暴露する場合でなければ,その条件の詳細
d) 対応する試験に関する規格を含め,選んだ特性
e) 選択した特性の終点
f) 関連する規格を含め,試験片の形,寸法及び作製方法
g) 状態調節条件
h) 加熱空気の流速及び方向についての詳細を含め,オーブンの形式
i) オーブンにおける暴露時間及び暴露温度
j) 必要であれば,各温度について特性値対時間をプロットした曲線
k) 作成した場合,統計的手法の記載を含め,温度に対して寿命の対数をプロットしたグラフ
l) TI,HIC及び相関係数
――――― [JIS K 7226 pdf 7] ―――――
7
K 7226 : 1998 (ISO 2578 : 1993)
図1 各温度の終点に達する時間の求め方−特性の変化(IEC 60216-1による。)
――――― [JIS K 7226 pdf 8] ―――――
8
K 7226 : 1998 (ISO 2578 : 1993)
図2 耐熱グラフ−温度指数−半減温度幅(IEC 60216-1による。)
――――― [JIS K 7226 pdf 9] ―――――
9
K 7226 : 1998 (ISO 2578 : 1993)
図3 耐熱グラフ−相対温度指数−半減温度幅(IEC 60216-1による。)
――――― [JIS K 7226 pdf 10] ―――――
次のページ PDF 11
JIS K 7224:1996の国際規格 ICS 分類一覧
- 83 : ゴム及びプラスチック工業 > 83.100 : 多孔質体