JIS K 7375:2008 プラスチック―全光線透過率及び全光線反射率の求め方

JIS K 7375:2008 規格概要

この規格 K7375は、板状及びフィルム状のプラスチックであって,透明,半透明及び不透明なプラスチックの,可視領域における全光線透過率及び全光線反射率の求め方について規定。

JISK7375 規格全文情報

規格番号
JIS K7375 
規格名称
プラスチック―全光線透過率及び全光線反射率の求め方
規格名称英語訳
Plastics -- Determination of total luminous transmittance and reflectance
制定年月日
2008年2月20日
最新改正日
2017年10月20日
JIS 閲覧
‐ 
対応国際規格

ISO

国際規格分類

ICS

83.080.01
主務大臣
経済産業
JISハンドブック
プラスチック I(試験) 2021, プラスチック II(材料) 2021, 色彩 2019
改訂:履歴
2008-02-20 制定日, 2012-10-22 確認日, 2017-10-20 確認
ページ
JIS K 7375:2008 PDF [9]
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pdf 目 次

ページ

  •  序文・・・・[1]
  •  1 適用範囲・・・・[1]
  •  2 引用規格・・・・[1]
  •  3 用語及び定義・・・・[1]
  •  4 原理・・・・[2]
  •  5 装置・・・・[2]
  •  6 試験片・・・・[3]
  •  7 試験片の状態調節・・・・[3]
  •  8 試験・・・・[4]
  •  9 計算・・・・[4]
  •  10 精度・・・・[5]
  •  11 結果の表し方・・・・[5]
  •  12 試験報告・・・・[5]
  •  附属書A(参考)全光線透過率及び全光線反射率の測定例・・・・[6]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS K 7375 pdf 1] ―――――

K 7375 : 2008

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,日本プラスチック工業連盟 (JPIF) 及び財団
法人日本規格協会 (JSA) から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日本工
業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許
権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について,責任は
もたない。

(pdf 一覧ページ番号 2)

――――― [JIS K 7375 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
K 7375 : 2008

プラスチック−全光線透過率及び全光線反射率の求め方

Plastics-Determination of total luminous transmittance and reflectance

序文

  この規格は,1981年に制定したJIS K 7105の一部である“光線透過率及び全光線反射率の測定法Bに
よる求め方”を分離し,作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
なお,対応国際規格は現時点で制定されていない。

1 適用範囲

  この規格は,板状及びフィルム状のプラスチックであって,透明,半透明及び不透明なプラスチックの,
可視領域における全光線透過率及び全光線反射率の求め方について規定する。
JIS K 7361-1では,厚さが10 mmを超えない透明なプラスチック材料の全光線透過率の求め方を規定し
ているが,この規格では,JIS K 7361-1と同じ全光線透過率を求めることができるだけでなく,厚さが厚
い(試験片を置く積分球開口直径の1/10以上)プラスチック材料並びにプラスチックの内部又は表面が曇
った外観でヘーズ値の大きな(30 %以上)半透明及び不透明プラスチック材料について全光線透過率及び
全光線反射率を求めることができる。
有彩色のもの及び蛍光を発するものには適用しない。ただし,用いる測定器の照射光によって励起され
る蛍光成分が,全光線透過率及び全光線反射率に影響しないことを事前に把握している場合は,適用して
もよい。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS K 7100 プラスチック−状態調節及び試験のための標準雰囲気
JIS K 7361-1 プラスチック−透明材料の全光線透過率の試験方法−第1部 : シングルビーム法
JIS Z 8402-2 測定方法及び測定結果の精確さ(真度及び精度)−第2部 : 標準測定方法の併行精度及
び再現精度を求めるための基本的方法
JIS Z 8781 CIE測色用標準イルミナント
JIS Z 8782 CIE測色標準観測者の等色関数

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。

――――― [JIS K 7375 pdf 3] ―――――

2
K 7375 : 2008
3.1
全光線透過率
試験片の平行入射光束に対する全透過光束の割合。
注記 光線透過率とは,試験片の平行入射光束に対する透過光束の割合であるが,測定方法により拡
散成分を含むか含まないかが,分かりにくい。拡散性のある試料の場合,拡散した透過光束を
含む測定が重要であり,この規格では,拡散成分を含む光線透過率の用語として“全光線透過
率”を用いる。
3.2
全光線反射率
試験片の平行入射光束に対する全反射光束の割合。
注記 光線反射率とは,試験片の平行入射光束に対する反射光束の割合であるが,測定方法により拡
散成分を含むか含まないかが,分かりにくい。拡散性のある試料の場合,拡散した反射光束を
含む測定が重要であり,この規格では,拡散成分を含む光線反射率の用語として“全光線反射
率”を用いる。

4 原理

  プラスチックの透過光を,試験片端部からの散逸(エッジロスと通称。試験片が厚いほど,ヘーズ値が
大きいほど試験片内部での光の拡散が増大し,エッジロスは,大きくなる。)を可能な限り少なくした状態
で,積分球内へ導くことによって,半透明及び不透明な材料の全光線透過率を求めることができる。また,
反射光の鏡面反射光を捕そく(捉)することによって全光線反射率を求めることができる。
注記 この規格を用いて可視光線領域で光の吸収がほとんどないメタクリル樹脂の半透明板(乳半板)
などを測定すると,全光線透過率と全光線反射率との和がほぼ100 %になり,理論的に妥当な
値となる。

5 装置

5.1   装置は,安定した光源,接続光学系,開口部を備える積分球(図1参照)及び測光器によって構成
される。測光器は,受光器,信号処理装置及び表示装置によって構成される。必要に応じ,記録装置を備
えてもよい。
5.2 光源及び測光器は,その組合せの特性が,JIS Z 8782に規定するCIE測色標準観測者の等色関数y (λ)
とJIS Z 8781に規定するCIE測色用標準イルミナントD65との組合せに相当する出力を与えるものでなけ
ればならない。
5.3 積分球の全開口部(開口a,b,c及びd)の面積の和は,積分球の内面積の4 %以下とする。試験片
の厚さ方向への散逸光を十分捕そくするため,積分球の直径は,試験片に対して十分大きくなるよう150
mm以上であることが望ましい。積分球の開口部直径の試験片の厚さに対する比が34よりも小さい場合
は,開口部の直径を大きくして,積分球の直径も大きいものを用いるのがよい。
5.4 開口a,b及びcは,球の同一大円上にあって,開口aの中心と開口cの中心とを結ぶ線と,開口c
の中心と開口bの中心とを結ぶ線とのなす角度は14°とする。
5.5 試験片に入射する光束は平行光線で,光軸に対して3° 以上傾く光線が含まれてはならない。光束の
中心は,開口aの中心と一致させる。光束の断面は円形であって,鮮明でなければならない。また,開口
aの直径は,試験片直径の0.5倍0.6倍とする。ただし,不透明の試料の反射率を求める場合は,この限

――――― [JIS K 7375 pdf 4] ―――――

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K 7375 : 2008
りではない。
5.6 開口cに取り付ける標準白色板は,可視光線の全波長に対して一様な高い反射率をもつものとする。
硫酸バリウム,ポリテトラフルオロエチレン (PTFE) などがこれに適する。積分球の内壁には,標準白色
板と同一反射率をもつものを塗布する。
5.7 開口cに取り付けるライトトラップは,試験片及び標準白色板のいずれも取り付けない場合,光を
完全に吸収しなければならない。
5.8 試験片のヘーズ値が大きく,かつ,厚さが厚い場合は,試験片の厚さ方向への光の散乱による散逸
光を捕そくするために,試験片は円板状にし,図1に示す試験片ホルダに入れて開口部に装着する。この
試験片ホルダの内面は,金属光沢をもつものとする。
図1−装置(積分球及び入口開口部)

6 試験片

6.1 試験片は,フィルム,板,射出成形品又は圧縮成形品から切り出す。
6.2 試験片が薄い場合(試験片を置く積分球開口直径の1/10未満)及び厚くてもヘーズ値が小さい場合
(30 %未満)は,積分球の開口直径が試験片直径の0.5倍から0.6倍となるような試験片の大きさとし,
厚さは原厚とする。試験片が厚く(試験片を置く積分球開口直径の1/10以上),かつ,ヘーズ値が大きい
場合(30 %以上)及び反射率の測定の場合は円形とし,試験片ホルダの内側に密着する大きさとする。こ
の場合,試験片の側面には試料を浸食しない性質の白色塗料を塗布し,厚さ方向に散乱して試験片の側面
から散逸しようとする光を内面に反射させ,積分球内へ向かわせる。
6.3 試験片は,きず,泡,ぶつなどの欠陥がなく,ごみ,グリース,保護材料からの接着剤などの汚れ
の付着がないものとする。また,肉眼で見ることができるすき間又は粒子が存在しないものとする。
6.4 試験片の数は,通常,3個とする。

7 試験片の状態調節

7.1   状態調節が必要な試験片は,試験の前に JIS K 7100 によって温度23 ℃ ± 2 ℃,相対湿度(50 ±
5)%の条件で状態調節を行う。状態調節の時間は,試験片の厚さ及び材料に応じて,試験片が熱平衡に達

――――― [JIS K 7375 pdf 5] ―――――

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