JIS K 7374:2007 プラスチック―像鮮明度の求め方

                                                                                   K 7374 : 2007

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,日本プラスチック工業連盟(JPIF)/財団法人
日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日本工業標準
調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許
権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について,責任は
もたない。
  JIS K 7374には,次に示す附属書がある。
    附属書(参考)像鮮明度測定例

(pdf 一覧ページ番号 1)

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K 7374 : 2007

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1. 適用範囲・・・・[1]
•  2. 引用規格・・・・[1]
•  3. 定義・・・・[1]
•  4. 原理・・・・[1]
•  5. 装置・・・・[1]
•  6. 試験片・・・・[3]
•  7. 測定・・・・[3]
•  8. 計算・・・・[4]
•  9. 結果の表し方・・・・[5]
•  10. 試験報告・・・・[5]
•  附属書(参考)像鮮明度測定例・・・・[6]

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                              K 7374 : 2007

プラスチック−像鮮明度の求め方

Plastics−Determination of image clarity

序文

 この規格はJIS K 7105:1981(プラスチックの光学的特性試験方法)から像鮮明度に関する測定方法
だけを分離・独立して新規に制定した日本工業規格(日本産業規格)である。写像性試験方法としてJIS H 8686-2(アルミ
ニウム及びアルミニウム合金の陽極酸化皮膜の写像性試験方法−第2部 : 機器測定法)があるが,これは
アルミニウムの陽極酸化皮膜の写像性に特化した規格であり反射測定だけで,透過測定は含まれていない。
プラスチックにおいては透過測定が多く,透過においては写像性という名称は適切でないため,透過・反
射を含め像鮮明度とした。

1. 適用範囲

 この規格は,プラスチックの像鮮明度の求め方について規定する。ここでいうプラスチッ
クは,フィルム状及び板状のものをいい,プラスチックの塗装面,プラスチックのめっき面,光沢フィル
ムなどを含む。ペレット,粉体及び糸状のプラスチックには適用しない。

2. 引用規格

 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 7711 タングステン電球フィラメント継線形式の表し方
    JIS K 6900 プラスチック−用語
    JIS Z 8401 数値の丸め方
    JIS Z 8741 鏡面光沢度−測定方法

3. 定義

 この規格で用いる主な用語の定義は,JIS K 6900によるほか,次による。
a) 像鮮明度 プラスチックを透過して見える物体の像,又はプラスチックの表面で反射して見える物体
    の像が,どの程度鮮明にゆがみなく見えるかの度合い。

4. 原理

 像鮮明度は,試験片を透過又は反射する光量を,移動する光学くしを通して測定し,計算によ
って求める。
  試験片の透過光又は試験片からの反射光の光線軸に直交する光学くしを移動させて,光線軸上にくしの
透過部分があるときの光量(M)と,くしの遮光部分があるときの光量(m)を求める。両者の差(M−m)
と和(M+m)との比率(%)が像鮮明度である。

5. 装置

 透過法による測定装置の原理を図1に,反射法による測定装置の原理を図2に示す。
  図1及び図2に示すように光源スリットを通した光を平行光線として,透過法の場合には試験片に垂直
に,反射法の場合には45°又は60°の角度で試験片に入射させる。測定装置は,試験片を透過する光量又

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は試験片から正反射する光量を移動するくしを通して検知する光学系装置と,検知した光量の変動を計測
処理する計測系装置とから構成され,次の条件を満たすものとする。
a) 光源は,JIS C 7711の継線形式S-8で,フィラメントの太さが直径0.05 mm以下のものを用いる。
b) 光源スリット幅は,0.03 mm±0.01 mmで,光源スリットの高さは,20 mm以上とする。
c) 光学くしは図3に示すように遮光部分と透過部分との比が1 : 1で,その幅が0.125 mm,0.25 mm,0.5
    mm,1.0 mm及び2.0 mmの5種類とする。幅の許容差はそれぞれの光学くし目幅規定値の±10 %以
    内とする。光学くしは,透明ガラスに金属を蒸着して遮光部分とする。
d) 受光器の受光面は,約8 mm×8 mmで,光学くしを通った光の量を検知できるものとする。
      透過光量又は反射光量の小さい試験片についても,正確な像鮮明度が得られるように受光器の感度
    を調節できるものが望ましい。
e) 試験片に当たる照明光の光束幅は,約8 mmとする。
f)  透過法の場合は試験片なしの状態で,反射法の場合は鏡面光沢度の一次標準面 (1) を試料台に取り付け
    た状態で測定して得られた光量が5種類の光学くしのいずれを通した場合でも同じとする(図4参照)。
    注(1)   IS Z 8741に規定する一次標準面の黒ガラスの面。
                              図 1 透過法による測定装置の原理図

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                                                                                   K 7374 : 2007
                              図 2 反射法による測定装置の原理図
                                                                                      単位 mm
                                      図 3 光学くしの例

6. 試験片

 試験片の寸法は,最小50 mm×50 mmの大きさとし,厚さは原厚とする。

7. 測定

 測定は,次による。
a) 透過の場合は試験片を取り付けない状態で,反射の場合は鏡面光沢度の一次標準面を取り付けた状態
    で光学くしを移動させ,くしの暗部でゼロ点合わせを行う。
b) 試料取り付け台に試験片を取り付けた後,光学くしを所定の幅の範囲で移動させ,各々のくし目幅に

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