14
M 8709 : 2006 (ISO/DIS 3086 : 2005)
表 B.2.b 実験データ
ロット 全鉄分(%) di=xBi−xAi di2
xBi xAi
1 62.36 62.36 0 0
2 62.18 62.21 −0.03 0.000 9
3 62.22 62.44 −0.22 0.048 4
4 62.32 62.27 0.05 0.002 5
5 62.43 62.51 −0.08 0.006 4
6 62.72 62.74 −0.02 0.000 4
7 63.58 63.79 −0.21 0.044 1
8 63.64 63.77 −0.13 0.016 9
9 63.85 64.15 −0.30 0.090 0
10 63.21 63.93 −0.72 0.518 4
11 63.53 63.50 0.03 0.000 9
合計 −1.63 0.728 9
1 id .163
d .0148
k 11
1 2 ( .163) 2
SSd di2 di .0728 9 .0487
k 11
SSd .0487
Sd .0221
(k )1 10
異常値の検定 :
並び替えたdiの値 : −0.72, −0.30,−0.22,−0.21,−0.13,−0.08,−0.03, −0.02,0.00,0.03, 0.05
dk d .005 (.0148)
Gk .0896
Sd .0221
d d1 .0148 (.072)
G1 .2588
Sd .0221
Gk又はG1のいずれか大きい方の値 : 2.588
表1から11組の測定データに対するグラッブス検定の限界値は,2.355となる。
G1>2.355であり,di=−0.72は,この場合も異常値とみなして,異常値検定から外し,検定は残り10
組について実施する。
――――― [JIS M 8709 pdf 16] ―――――
15
M 8709 : 2006 (ISO/DIS 3086 : 2005)
表 B.2.c 実験データ
ロット 全鉄分(%) di=xBi−xAi di2
xBi xAi
1 62.36 62.36 0 0
2 62.18 62.21 −0.03 0.000 9
3 62.22 62.44 −0.22 0.048 4
4 62.32 62.27 0.05 0.002 5
5 62.43 62.51 −0.08 0.006 4
6 62.72 62.74 −0.02 0.000 4
7 63.58 63.79 −0.21 0.044 1
8 63.64 63.77 −0.13 0.016 9
9 63.85 64.15 −0.30 0.090 0
10 削除 削除
11 65.53 63.50 0.03 0.000 9
合計 −0.91 0.210 5
1 id .091
d .0091
k 10
1 2 ( .091) 2
SSd di2 di .0210 5 .0128
k 10
SSd .0128
Sd .0119
(k )1 9
異常値の検定 :
−0.03,−0.02,0.00,0.05
並び替えた idの値 : −0.30,−0.22,−0.21,−0.13,−0.08,−0.03,
dk d .005 (.0091)
Gk .1185
Sd .0119
d d1 .0091 (.030)
G1 .1756
Sd .0119
Gk又はG1のいずれか大きい方の値 : 1.756
表1から10組の測定データに対するグラッブス検定の限界値は,2.290となる。
G1<2.290であり,新たな異常値は存在しない。
偏りの検定 :
測定データの組に変更がなく,d,SSd及びSdの値は変わらない。
dに対する信頼限界は,次のとおりとなる。
Sd .0119
LL d t .0091.1833 .016
k 10
Sd .0119
UL d t .0091.1833 .002
k 10
――――― [JIS M 8709 pdf 17] ―――――
16
M 8709 : 2006 (ISO/DIS 3086 : 2005)
表2からt=1.833を得る。
水平軸にプロットする。
LL=−0.16 UL=−0.02
0
−δ=−0.20 +δ=+0.20
LLからULまでの範囲は,−δから+δまでの範囲に完全に含まれる。この場合,偏りは基準内であり,
方法Bは日常の方法として適用してよい。
B.3 数値例3 (δ : +6.3 mm粒度区分で0.30 %)
表B.3に示す数値例は,機械式サンプリング(方法B)と基準方法Aとを比較した実験の結果である。
実験によって検出しようとする偏りの大きさは,+6.3 mm粒度区分で0.30 %である。
表 B.3 実験データ
ロット +6.3 mm粒度区分(%) di=xBi−xAi di2
xBi xAi
1 2.62 2.63 −0.01 0.000 1
2 3.76 2.79 0.97 0.940 9
3 1.75 1.83 −0.08 0.006 4
4 3.08 4.04 −0.96 0.921 6
5 1.80 2.33 −0.53 0.280 9
6 2.38 2.82 −0.44 0.193 6
7 2.64 3.21 −0.57 0.324 9
8 2.25 2.08 0.17 0.028 9
9 2.35 2.48 −0.13 0.016 9
10 2.31 2.34 −0.03 0.000 9
合計 −1.61 2.715 1
1 id .161
d .0161
k 10
1 2 ( .161) 2
SSd di2 di .2715 1 .2456
k 10
SSd .2456
Sd .0522
(k )1 9
異常値の検定 :
並び替えた idの値 : −0.96,−0.57,−0.53,−0.44,−0.13,−0.08,−0.03,−0.01,0.17,0.97
dk d .097 ( .0161)
Gk .2167
Sd .0522
d d1 .0161 (.096)
G1 .1531
Sd .0522
――――― [JIS M 8709 pdf 18] ―――――
17
M 8709 : 2006 (ISO/DIS 3086 : 2005)
Gk又はG1のいずれか大きい方の値 : 2.167
表1から10組の測定データに対するグラッブス検定の限界値は,2.290となる。
G1<2.290であり,異常値はない。
偏りの検定 :
異常値がなく,d,SSd及びSdの値は,変わらない。
dに対する信頼限界は,次のとおりとなる。
Sd .0522
LL d t .0161.1833 .046
k 10
Sd .0522
UL d t .0161.1833 .014
k 10
表2からt=1.833を得る。
水平軸にプロットする。
LL=−0.46 UL=+0.14
0
−δ=−0.30 +δ=+0.30
LLからULまでの範囲は,−δから+δまでの範囲に完全には含まれないが,ゼロ(0)を含んでいる。
この場合,更にサンプリング及び測定が必要となる。
B.4 数値例4 (δ : 水分で0.30 %)
表B.4に示す数値例は,測定試料の粒度及び質量が水分に及ぼす影響を調べた実験の結果である。この
実験では,質量1 kgで粒度−10 mmの試料(方法B)と質量5 kgで粒度−22.4 mmの試料(方法A)とを比較
した。実験によって検出しようとする偏りの大きさは,水分で0.30 %とする。
――――― [JIS M 8709 pdf 19] ―――――
18
M 8709 : 2006 (ISO/DIS 3086 : 2005)
表 B.4 実験データ
ロット 銘柄 水分(%) id2
di xBi xAi
xBi xAi
1 A 1.89 2.00 −0.11 0.012 1
2 A 1.64 1.68 −0.04 0.001 6
3 A 1.80 1.67 0.13 0.016 9
4 B 5.34 5.42 −0.08 0.006 4
5 B 5.22 5.29 −0.07 0.004 9
6 C 3.27 3.04 0.23 0.052 9
7 C 3.75 3.90 −0.15 0.022 5
8 D 4.36 4.65 −0.29 0.084 1
9 E 4.08 4.00 0.08 0.006 4
10 C 3.70 3.89 −0.19 0.036 1
合計 −0.49 0.243 9
1 id .049
d .0049
k 10
1 2 ( .049) 2
SSd di2 di .0243 9 .0220
k 10
SSd .0220
Sd .0156
(k )1 9
異常値の検定 :
並び替えた idの値 : −0.29,−0.19,−0.15,−0.11,−0.08,−0.07,−0.04,0.08,0.13,0.23
dk d .023 (.0049 )
Gk .1788
Sd .0156
d d1 .0049 (.029)
G1 .1545
Sd .0156
Gk又はG1のいずれか大きい方の値 : 1.788
表1から10組の測定データに対するグラッブス検定の限界値は,2.290となる。
Gk<2.290であり,異常値はない。
偏りの検定 :
異常値がなく,d,SSd及びSdの値は変わらない。
dに対する信頼限界は,次のとおりとなる。
Sd .0156
LL d t .0049.1833 .014
k 10
Sd .0156
UL d t .0049.1833 .004
k 10
――――― [JIS M 8709 pdf 20] ―――――
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JIS M 8709:2006の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO/DIS 3086:2005(IDT)
JIS M 8709:2006の国際規格 ICS 分類一覧
- 73 : 鉱採及び鉱物 > 73.060 : 金属鉱物及びそれらの濃縮物 > 73.060.10 : 鉄鉱石
JIS M 8709:2006の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISM8700:2013
- 鉄鉱石及び還元鉄―用語
- JISM8702:2019
- 鉄鉱石―サンプリング及び試料調製方法
- JISM8708:2005
- 鉄鉱石―サンプリング,試料調製及び測定の精度を確認する実験方法
- JISM8708:2021
- 鉄鉱石―サンプリング,試料調製及び測定の精度を確認する実験方法