JIS T 1203:1998 脳波計 | ページ 3

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図4 試験用方形波電圧発生回路の一例
8.3.2 試験用正弦波電圧 試験用正弦波電圧は,図5に示す回路によって発生させる。

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図5 試験用正弦波電圧発生回路

8.4 試験方法

8.4.1  入力回路 入力回路の試験は,次による。
(1) 入力インピーダンス 図6に示す測定回路を用い,スイッチSを閉路して試験用正弦波電圧発生回路
から10Hzの交流電圧を電極接続器の入力に加え,記録の振れが10mmになるように調整する。次に,
スイッチSを開路したとき,記録の振れが5mm以上あるかどうかを各チャネルについて調べる。
図6 入力インピーダンス試験回路
(2) 直流入力回路電流 電極接続器の任意の一つの入力端子と接地端子との間に100±1k 地 抗器を接
続し,これを短絡したときに生じる記録の振れを求め,これと等しい振れを得るのに必要な入力電圧
の値から,計算によって直流入力回路電流を求める。
8.4.2 記録紙の送り速さ 1±0.002秒間隔の信号電圧を任意のチャネルに加え,所定の速さで送られてい
る記録紙に刻時目盛を記入し,その目盛によって,毎秒の送り速さの設定値に対する誤差が±5%であるか
どうかを調べる。
また,任意の20秒間の速さの変化が,その20秒間の平均速さに対して誤差±2.5%であるかどうかを調
べる。

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8.4.3 記録の位置 振れを生じるような信号が与えられていないとき,すべてのチャネルの記録の始点が,
記録紙の送り方向に直角な線に対して,±0.5mmの範囲内にあるかどうかを調べる。
8.4.4 刻時装置 1±0.002秒間隔の信号電圧を任意のチャネルに加え,刻時装置による刻時信号と共に
10秒間記録し,両者を比較する。
8.4.5 校正装置 校正装置の方形波電圧によって約8mmの振れを与えるように記録感度を調整し,その
振れの大きさを記録する。記録感度を再び調整することなく,電極接続器を介して先に加えた電圧に等し
い試験用方形波電圧を加えて振れの大きさを記録し,両者を比較する。
8.4.6 接触抵抗測定装置 10±0.1k 20±0.2k び30±0.3k 地 院 抗器を順次電極接続器の受口に
接続し,内蔵する接触抵抗測定装置で測定し,その誤差を調べる。
8.4.7 補助入出力部 補助入力及び補助出力の試験は,次による。
(1) 補助入力 図7の測定回路を用い補助入力の信号用端子と接地端子との間に試験用正弦波電圧発生回
路を用いて10Hzの電圧を加える。スイッチSを閉路した状態で記録の振れの大きさが10mmになる
ように入力電圧を調整したとき,その電圧が1VP−P以下であるかどうかを調べる。次に,入力電圧を
そのままの状態でスイッチSを開路したとき,記録の振れが5mm以上あるかどうか調べる。
図7 補助入力インピーダンス試験回路
(2) 補助出力 脳波計の記録の振れが10mmになるように感度を調整する。次に,試験用正弦波電圧発生
回路を用いて,電極接続器に10Hzの試験電圧を加え,記録の振れの大きさが10mmになるように入
力電圧を調整したとき,補助出力の出力電圧が1VP−P以上であるかどうかを調べる。この状態で,信
号用端子と接地端子との間に300±3 地 抗器を接続したとき,抵抗器の両端の電圧が出力電圧の21
以上であるかどうかを調べる。
また,8.4.8の試験を行うとき,補助出力電圧を測定し,その直線性を調べ,8.4.12の試験を行うと
き,補助出力電圧を測定し,その周波数特性を調べる。ただし,周波数特性では,600Hzの周波数に
ついても行う。
8.4.8 記録の直線性 記録の直線性は,脳波計の記録感度を入力電圧50 ンの振れが5mmに
なるように調整し,各チャネルについて行う。試験用方形波電圧発生回路を使用し,電極接続器によって
各チャネルに入力電圧を加え,これを20 鎖 柿 160 杙 化させて,それぞれを記録し,次に
入力電圧の極性を逆にして同様に記録する。この各電圧での振れの基準に対する記録のずれを測定する。
基準値に対する記録値の誤差E (%) は,図1のA及びBに基づいて,次の式によって算出する。
B A
E= 100
A
ここに, A : 基準値
B : 記録の振れ
なお,基準線は,図1に示すように原点と5mm/50 湎 点を結ぶ直線とする。
8.4.9 最大感度 脳波計の記録感度が最大となるように調整し,試験用方形波電圧を加えて記録し,記録
の振れの大きさを調べる。

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8.4.10 記録感度の変化 記録感度の変化の試験は,次による。
(1) 脳波計の正負の入力端子 (+, −) に,図8に示すように500mVの直流電圧 (E2) をそれぞれに切り換
えて重畳させたとき,記録の変化が0.5mm以下であるかどうかを,全チャネルについて調べる。
図8 記録感度の変化試験回路(1)
(2) 脳波計の正負の入力端子 (+, −) と接地端子 (E) との間に,図9に示すように500mVの直流電圧
(E2) を正負に切り換えて重畳させたとき,記録の変化が0.5mm以下であるかどうかを,全チャネルに
ついて調べる。
図9 記録感度の変化試験回路(2)
8.4.11 記録できる最小入力 試験用正弦波電圧発生回路を使用し,周波数が1Hz,10Hz及び60Hzで
100 Pの電圧をそれぞれ電極接続器を介して加え,約20mmP−Pの振れが得られるように感度を調整す
る。次に,入力電圧を2.5 Pに減少したときにも記録が認められるかどうか調べる。
8.4.12 総合周波数特性 試験用正弦波電圧発生回路を用い,電極接続器を介して10Hzの試験電圧を加え,
記録の振れの大きさが約15mmP−Pになるように電圧を調整する。次に,電圧を一定に保ちながら周波数を
1Hz,2Hz,3Hz,5Hz,7Hz,10Hz,20Hz,30Hz,40Hz,50Hz及び60Hzとしたときのそれぞれの振れの
大きさを記録し,図10に示すように片対数方眼紙の対数目盛に周波数をとり,等分目盛に振れの大きさを
とって測点を記入する。10Hzの試験電圧の振れを100%とし,その値に対して±10%線,すなわち直線AB
(110%) 及び直線CD (90%) を引き,記録したすべての点が直線ABと直線CDの間にあるかどうかを調べ
る。

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図10 総合周波数特性の測定
また,8.4.13の試験を行うときに,図11に示すオーバーシュートDの大きさを測定し,A点での振れの
大きさの10%以下であるかどうかを調べる。ただし,フィルタを開放にして行う。
8.4.13 時定数 時定数の切換えスイッチを0.3秒及び0.1秒の位置におき,試験用方形波電圧発生回路を
用い,電極接続器を介して100 形波電圧を加え,得られる振れの大きさが約10mmになるように記
録感度を調整したとき,図11に示すようにA点の振れの大きさを100%として37%に減少するまでの時間
を測定する。
図11 時定数の測定
8.4.14 フィルタ フィルタの切換えスイッチを開放の位置におき,試験用正弦波電圧発生回路から電極接
続器を介して60Hz,100 Pの電圧を各チャネルに加え,約15mmの振れを与えるように記録感度を調
整してその振れの大きさを記録する。次に,60Hzのフィルタを入れた状態で同じ試験用正弦波電圧を加え
て記録したとき,その振れの大きさが,最初の振れの大きさを100%としたとき (71±20) %であるかどう
かを調べる。
また,正弦波電圧の周波数を120Hzにしたとき,その振れが50%以下であるかどうかも調べる。
8.4.15 調整器間の干渉 任意のチャネルにおいて感度粗調整器,感度密調整器及び全チャネル感度調整器
を表2のように組み合わせて操作したとき,それぞれの記録感度の変化が,次の式を満足するかどうかを
調べる。
a b
≦0.05
a

――――― [JIS T 1203 pdf 15] ―――――

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JIS T 1203:1998の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 60601-2-26:1994(MOD)

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