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X 5214 : 2010 (ISO/IEC 23917 : 2005)
報PDUに符号化されたDEPREQ PDU。イニシエータ又はターゲット試験装置がこのpduを送信
する。
TESTRESPONSE1xx
PNIがxxに設定されたTESTCOMMAND1への応答(DEPRES PDU)。
TESTCOMMAND2xx
連鎖処理の試験のための試験命令。この命令は,通信相手(イニシエータ又はターゲット)に対
し,次のDEPREQ PDUに連鎖の使用を強要する。この命令は,イニシエータ又はターゲット各々
に対するDEPREQ PDU又はDEPRES PDUで,複数情報リンクビットが0,TESTCOMMAND1
とpduとの型は同じであるが,そのデータは異なる。
TESTCOMMAND3Bxx
この命令は,複数情報リンクビットは1,PNIはxxに設定され,イニシエータ又はターゲット
各々に対するDEPREQ PDU又はDEPRES PDUのフレームの開始を示す。
TESTCOMMAND3nxx
この命令は,TESTCOMMAND3Bの後及びTESTCOMMAND3Eの前に送信される。nは0
9の値をとる。複数情報リンクビットは1,PNIはxxに設定される。
TESTCOMMAND3Exx
この命令は,複数情報リンクビットは0,PNIはxxに設定されるイニシエータ又はターゲット
各々に対するDEPREQ PDU又はDEPRES PDUのフレームで,連鎖手順の終了を示す。
TESTRESPONSE3xx
連鎖命令への応答。イニシエータ又はターゲット各々に対するDEPREQ PDU又はDEPRES
PDUでなければならず,複数情報リンクビットは0,PNIはxxに設定される。
TESTCOMMAND4xx
フレーム待ち時間を試験するための命令。イニシエータはこの命令を送信することでターゲット
にタイムアウトビットを1,PNIをxxに設定した管理PDUを使わせる。
TESTRESPONSE4xx
TESTCOMMAND4への応答。複数情報リンクビットが0,PNIがxxに設定されたDEPRES
PDU。TESTRESPONSE1と同じこともある。
6 記号及び略語
ATRREQ(Attribute Request command) JIS X 5211に規定する属性要求
ATRRES(Attribute Response command) 属性応答
CRC(Cyclic Redundancy Check) JIS X 5211の附属書A(CRCの計算方法)に規定する
巡回冗長検査
~CRC 上記で定義するCRCのビット反転
DEPREQ(Data Exchange Protocol Request) JIS X 5211に規定するデータ交換プロトコル要求
DEPRES(Data Exchange Protocol Response) データ交換プロトコル応答
DID(Device ID) JIS X 5211に規定するデバイス識別子
DSLREQ(Deselect Request command) JIS X 5211に規定する選択解除要求命令
DSLRES(Deselect Response command) 選択解除応答命令
DUT(Device Under Test) 試験対象デバイス
――――― [JIS X 5214 pdf 6] ―――――
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X 5214 : 2010 (ISO/IEC 23917 : 2005)
fc(carrier frequency) JIS X 5211に規定する搬送波の周波数
Hmax(Maximum field strength) JIS X 5211に規定する最大動作磁界強度
Hmin(Minimum field strength) JIS X 5211に規定する最小動作磁界強度
HThreshold JIS X 5211に規定する外部RFフィールドしきい値
ID(Identification number) 識別番号
LT(Lower Tester) イニシエータ試験装置のターゲットエミュレーション部
Mute 規定タイムアウト以内に応答がないこと
pdu(Protocol Data Unit) JIS X 5211に規定するプロトコルデータ単位
PNI(Package Number Information) JIS X 5211に規定するパケット番号情報
POLREQ(Polling Request command) JIS X 5211に規定するポーリング要求
POLRES(Polling Response command) ポーリング応答
PSLREQ(Parameter Select Request command) JIS X 5211に規定するパラメタ選択要求
PSLRES(Parameter Select Response command) パラメタ選択応答
RF(Radio Frequency) 無線周波数
RFU(Reserved for Future Use) 将来使用するため予約
RLSREQ(Release Request command) JIS X 5211に規定する解放要求命令
RLSRES(Release Response command) 解放応答命令
RTO PDU(Response Timeout extension) JIS X 5211の12.6.1.3.3(ターゲット規定)及び12.6.2(タ
イムアウト応答拡張)に規定する
応答タイムアウト拡張要求
SDD(Single Device Detection) JIS X 5211に規定する単一デバイス検出
Td 212 kb/s及び424 kb/sにおけるSDDの要求フレームの最後尾とタイムスロットの先頭
との間の時間遅延(512×64/fcでなければならない。)
Ts 一つのタイムスロットの時間枠(256×64/fcでなければならない。)
TCM(Test control message) 試験管理メッセージ
UT(Upper Tester) イニシエータ試験装置のマスタ部
7 概要
7.1 試験装置
注記 試験装置は,実装プロトコル及び機能に関する情報を要することがあり,これらパラメタは,
試験成績書に記録されなければならない。
7.1は,イニシエータ及びターゲットの試験に適用される。
この規格では,タイミング測定及びフレーム正当性の確認のための専用試験回路を定義しないが,その
ような回路を使用した場合は試験結果に影響してはならない。
7.1.1 受信モードにおける入出力特性タイミングの生成
JIS X 5211に従い,ターゲット試験装置及びLTは入出力ビット列を生成できなければならない。すべて
のタイミングパラメタ(スタートビットの長さ,ガードタイム,ビット幅,要求ガードタイム,フレーム
幅の先頭,フレーム幅の終端など)がJIS X 5211に定義する値に設定されなければならない。JIS X 5213
でその制限を試験しなければならない。
注記 LT (Lower Tester)イニシエータ試験装置のターゲットエミュレーション部
――――― [JIS X 5214 pdf 7] ―――――
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X 5214 : 2010 (ISO/IEC 23917 : 2005)
7.1.2 RF入出力プロトコルの測定及び監視
ターゲット試験装置及びLTは,受信データを復調し論理的な1及び0の状態のタイミングを測定でき
なければならない。
7.1.3 試験シナリオ及び試験成績書
この規格で定義されたDUTの試験は,試験シナリオを適用する必要がある。この試験シナリオは,特
定の手順のプロトコル及びアプリケーションを含む。
試験シナリオの結果は,附属書A及び附属書Bに示す試験成績書に記録しなければならない。
7.1.4 RFUビット
RFUが既定値に設定されていない場合,試験は不合格とし,かつ,DUTが不適合なものであると明示し
なければならない。この規定に,該当する箇所はない。
7.1.5 一般規則
次の規則を適用する。
ターゲット試験においては試験装置がイニシエータとして常に要求を送信するのに対し,イニシエータ
試験においては試験装置のターゲットエミュレーション部 (LT) がターゲットとして応答を送信する。
応答は要求に続かなければならない。
すべての適正なTESTCOMMANDn(nは数字14)において,TESTRESPONSEnのPNIは
TESTCOMMANDnのものと等しいので,各論ではこの条件を省略する。
8 ターゲット試験方法
DUTは,シナリオに定義するとおりに応答しなければならない。シナリオに定義するとおりにpduで応
答する前に一つ以上のRTO PDUを挿入してもよい。
8.1 ターゲット試験装置
ターゲット試験装置は,イニシエータをエミュレートすることによってDUTを試験する。
ターゲット試験装置は,初期化及びプロトコル活性化を実行して,データ交換命令を実行しなければな
らない。
8.2 JIS X 5211に関するプロトコル試験方法リスト
106 kb/sでの受動通信モードにおいてターゲットの初期化とSDDとを試験するには,JIS X 6305-6の
PICC試験方法を実行しなければならない。
212 kb/s及び424 kb/sでの受動通信モードにおいてターゲットの初期化とSDDとを試験するには,表1
の試験方法を実行しなければならない。
表1−212 kb/s及び424 kb/sでの受動通信モードにおける活性化
試験方法 対応する要件
細分箇条 名称 規格 細分箇条
8.3.1 活性化時間 JIS X 5211 11.2.2.3
8.3.2 フレーム形式 JIS X 5211 11.2.2.2
8.3.3 212 kb/s及び424 kb/sにおけるSDD JIS X 5211 11.2.2.3
11.2.2.4
能動通信モードにおいてターゲットの初期化を試験するには,表2の試験方法を実行しなければならな
い。
――――― [JIS X 5214 pdf 8] ―――――
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X 5214 : 2010 (ISO/IEC 23917 : 2005)
表2−能動通信モードにおける活性化
試験方法 対応する要件
細分箇条 名称 規格 細分箇条
8.4.1 RF衝突回避 JIS X 5211 11.1.2
ターゲットの伝送プロトコルを試験するには,表3の試験方法を実行しなければならない。
表3−伝送プロトコルの論理操作
試験方法 対応する要件
細分箇条 名称 規格 細分箇条
8.5.1 ATRREQの取扱方法 JIS X 5211 12.5.1.3
8.5.2 PSLREQの取扱方法 JIS X 5211 12.5.3.3
8.5.3 DEPREQ 情報PDUの取扱方法 JIS X 5211 12.6.1.2
8.5.4 複数情報リンクビットが1に設定され JIS X 5211 12.6.1.3
たDEPREQ 情報PDUの取扱方法
8.5.5 タイムアウトビットが1に設定された JIS X 5211 12.6.1.3
DEPREQ 管理PDUの取扱方法
8.5.6 タイムアウトビットが0に設定された JIS X 5211 12.6.1.3
DEPREQ 管理PDUの取扱方法
8.5.7 DSLREQの取扱方法 JIS X 5211 12.7.1.3
8.5.8 RLSREQの取扱方法 JIS X 5211 12.7.2.3
8.3 212 kb/s及び424 kb/sでの受動通信モードにおける活性化
8.3.1 活性化時間
この試験の目的は,ターゲットが起動後2秒以内にPOLREQに対してPOLRESを応答することを確
認することにある[JIS X 5211の11.2.2.3(212 kb/s及び424 kb/sにおける単一デバイス検出)参照]。
8.3.1.1 手順
212 kb/s及び424 kb/sの伝送速度で,a) e)の手順を繰り返す。
a) UTを動作範囲に置く。
b) 磁界強度範囲HminHmaxのRFフィールドを生成し,その磁界強度が試験結果に影響しないことを確
認する。
c) 選択した伝送速度においてTSNを0に設定したPOLREQ命令を送信する。
d) d及びTsが経過してもPOLRESを受信しない場合,再度POLREQを送信する。DUTからの応答
があるまでこの手順を繰り返す。
e) F起動からDUTの初回応答開始までの時間遅延を測定する。DUTの応答が2秒以内である場合,試
験は合格,そうでなければ不合格とする。
8.3.1.2 試験成績書
試験成績書は,DUTが両方の伝送速度において正しく動作するかどうかを示さなければならない。
8.3.2 フレーム形式
この試験の目的は,212 kb/s及び424 kb/sにおいて適正なフレーム形式を判断することにある[JIS X 5211
の11.2.2.2(フレームの形式)参照]。
――――― [JIS X 5214 pdf 9] ―――――
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X 5214 : 2010 (ISO/IEC 23917 : 2005)
8.3.2.1 手順
212 kb/s及び424 kb/sの伝送速度で,a) d)の手順を繰り返す。
a) UTを動作範囲に置く。
b) 磁界強度範囲HminHmaxのRFフィールドを生成し,その磁界強度が試験結果に影響しないことを確
認する。
c) 選択した伝送速度においてPOLREQ命令を送信する。
d) UTからの応答が正しいフレーム形式であることを確認する。
8.3.2.2 試験成績書
試験成績書は,両方の伝送速度においてDUTが正しく動作し,次の特性(表4参照)を含むかどうか
を示さなければならない。
表4−フレーム形式の特性
特性 期待される結果
プリアンブル 最低48ビットすべて0
SYNC 第1バイト“B2”
第2バイト“4D”
長さ “12”
CRC JIS X 5211の
附属書Aに従う。
8.3.3 212 kb/s及び424 kb/sにおけるSDD
この試験の目的は,POLREQへの正しい応答を判断することにある[JIS X 5211の11.2.2.4(NFCID2
の内容)参照]。
8.3.3.1 手順
212 kb/s及び424 kb/sの伝送速度で,a) f)の手順を繰り返す。
a) UTを動作範囲に置く。
b) 磁界強度範囲HminHmaxのRFフィールドを生成し,その磁界強度が試験結果に影響しないことを確
認する。
c) 選択した伝送速度においてTSNに設定した値を入れたPOLREQ命令を送信する(初回のTSNは0)。
d) OLREQとPOLRESとの間の時間遅延を記録する。最後のタイムスロットまでにDUTが応答しな
い場合は,手順c) を繰り返す。
e) 応答の内容を分析する。
f) TSNを次のとり得る値に増やし,TSNが最大値に達するまでa) e)の手順を繰り返す。
8.3.3.2 試験成績書
試験成績書は,DUTが両方の伝送速度において正しく動作し,次の特性を含むかどうかを示さなければ
ならない(表5参照)。
表5−212 kb/s及び424 kb/sにおけるSDDの特性
特性 期待値
ペイロードの第1バイト “01”
ペイロードの第2バイト “01”
ペイロードの第3バイト “FE”
POLREQ及びPOLRES間の Td + (TSN + 1)×Ts
時間遅延
――――― [JIS X 5214 pdf 10] ―――――
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JIS X 5214:2010の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO/IEC 23917:2005(IDT)
JIS X 5214:2010の国際規格 ICS 分類一覧
- 35 : 情報技術.事務機械 > 35.100 : 開放型システム間相互接続(OSI) > 35.100.10 : 物理層
JIS X 5214:2010の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISX5211:2015
- システム間の通信及び情報交換―近距離通信用インタフェース及びプロトコル(NFCIP-1)
- JISX5213:2015
- 近距離通信用インタフェース及びプロトコル(NFCIP-1)―RFインタフェース試験方法
- JISX6305-6:2013
- 識別カードの試験方法―第6部:非接触(外部端子なし)ICカード―近接型