JIS X 5214:2010 近距離通信用インタフェース及びプロトコル（ＮＦＣＩＰ－１）―プロトコル試験方法

この規格ページの目次

8.4 能動通信モードにおける活性化
8.5 ターゲット伝送プロトコルの論理操作
JIS X 5214:2010の引用国際規格 ISO 一覧
JIS X 5214:2010の国際規格 ICS 分類一覧
JIS X 5214:2010の関連規格と引用規格一覧

                                                                                              9
                                                                X 5214 : 2010 (ISO/IEC 23917 : 2005)

8.4 能動通信モードにおける活性化

8.4.1  RF衝突回避
  この試験の目的は,能動通信モードにおけるRF衝突回避中のDUTの振る舞いを判断することにある
[JIS X 5211の11.1.2(応答RF衝突回避)参照]。
8.4.1.1  手順
  106 kb/s,212 kb/s及び424 kb/sの伝送速度で,a)   e)の手順を繰り返す。
a)   UTを動作範囲に置く。
b) 磁界強度範囲HminHmaxのRFフィールドを生成し,その磁界強度が試験結果に影響しないことを確
    認する。
c) 選択した伝送速度で有効なATRREQ命令を送信し,その後RFを切断する。
d) ターゲット試験装置のRF切断からDUTのRF起動までの時間を測定する。
e)   )   d)の手順を,ターゲットがランダムに生成する数値(0≦n≦3)の倍数に当たる周期時間すべてが観
    測されるまで繰り返し,そのリトライ回数を数える。
8.4.1.2  試験成績書
  試験成績書は,DUTがすべての伝送速度において正しく動作するかどうかを示さなければならない(表
6参照)。
                               表6−能動通信モードにおける活性化
                                 特性                        期待値
                                 TADT                      最小 768/fc
                                                           最大 2559/fc
                                 TRFW                      n × 512/fc

8.5 ターゲット伝送プロトコルの論理操作

8.5.1  ATRREQの取扱方法
  この試験の目的は,DUTによるATRREQの取扱いが正しいかどうかを判断することにある[JIS X 5211
の12.5.1.3.2(ターゲット規定)参照]。
8.5.1.1  手順
  106 kb/s,212 kb/s及び424 kb/sの伝送速度で,能動及び受動両方の通信モードについて,a)   e)の手順
を繰り返す。
a)   UTを動作範囲に置く。
b) 磁界強度範囲HminHmaxのRFフィールドを生成し,その磁界強度が試験結果に影響しないことを確
    認する。
c) 選択した伝送速度で活性化し,能動通信モードにおいて衝突回避を行う。
d) シナリオ記述表T 1を適用する。
e)   UTからの応答がシナリオ記述表T 1どおりであるかを解析する。

――――― [JIS X 5214 pdf 11] ―――――

10
X 5214 : 2010 (ISO/IEC 23917 : 2005)
                                 シナリオ記述表T 1−ATRREQ
                 ターゲット試験装置                                         DUT
                TESTCOMMAND100
                                                                            Mute
                     ATRREQ
                                                                          ATRRES
                     ATRREQ
                                                                          ATRRES
                 ATRREQ (~CRC)
                                                                            Mute
                     ATRREQ
                                                                          ATRRES
                TESTCOMMAND100
                                                                    TESTRESPONSE100
                     ATRREQ
                                                                            Mute
                TESTCOMMAND101
                                                                    TESTRESPONSE101
8.5.1.2  試験成績書
  試験成績書は,DUTがすべての伝送速度及び通信モードにおいて正しく振る舞うかどうかを示さなけれ
ばならない。
8.5.2  PSLREQの取扱方法
  この試験の目的は,DUTによるPSLの取扱いが正しいかどうかを判断することにある[JIS X 5211の
12.5.3.3.2(ターゲット規定)参照]。
8.5.2.1  手順
  106 kb/s,212 kb/s及び424 kb/sの伝送速度で,能動及び受動両方の通信モードについて,a)   f)の手順を
繰り返す。
a)   UTを動作範囲に置く。
b) 磁界強度範囲HminHmaxのRFフィールドを生成し,その磁界強度が試験結果に影響しないことを確
    認する。
c) 選択した通信モード及び伝送速度において初期化とプロトコル活性化とを実行する。
d)   TRREQを送信し,ATRRESを受信する。
e) シナリオ記述表T 2を適用する。
f)  DUTからの応答がシナリオ記述表T 2どおりであるかどうかを確認する。

――――― [JIS X 5214 pdf 12] ―――――

                                                                                             11
                                                                X 5214 : 2010 (ISO/IEC 23917 : 2005)
                                 シナリオ記述表T 2−PSLREQ
                 ターゲット試験装置                                         DUT
                     PSLREQ
                                                                          PSLRES
                     PSLREQ
                                                                            Mute
                TESTCOMMAND100
                                                                    TESTRESPONSE100
                  PSLREQ (~CRC)
                                                                            Mute
                     PSLREQ
                                                                            Mute
                TESTCOMMAND100
                                                                    TESTRESPONSE100
                TESTCOMMAND100
                                                                    TESTRESPONSE100
                     PSLREQ
                                                                            Mute
                TESTCOMMAND101
                                                                    TESTRESPONSE101
8.5.2.2  試験成績書
  試験成績書は,DUTがすべての伝送速度及び通信モードにおいて正しく振る舞うかどうかを示さなけれ
ばならない。
8.5.3  DEPREQ情報PDUの取扱方法
  この試験の目的は,DUTによるDEPREQ情報PDUの取扱いが正しいかどうかを判断することにある
[JIS X 5211の12.6.1.3(ブロックの取扱方法)参照]。
8.5.3.1  手順
  106 kb/s,212 kb/s及び424 kb/sの伝送速度で,能動及び受動両方の通信モードについて,a)   f)の手順を
繰り返す。
a)   UTを動作範囲に置く。
b) 磁界強度範囲HminHmaxのRFフィールドを生成し,その磁界強度が試験結果に影響しないことを確
    認する。
c) 選択した通信モード及び伝送速度において活性化を実行する。

――――― [JIS X 5214 pdf 13] ―――――

12
X 5214 : 2010 (ISO/IEC 23917 : 2005)
d)   TRREQを送信し,DUTからATRRESを受信する。
e) シナリオ記述表T 3,続いてシナリオ記述表T 4を実行する。
f)  DUTからの応答及びPNIがシナリオと一致するかどうかを確認する。
                 シナリオ記述表T 3−DEPREQ情報PDU,正しいトランザクション
                 ターゲット試験装置                                         DUT
                TESTCOMMAND100
                                                                    TESTRESPONSE100
                TESTCOMMAND101
                                                                    TESTRESPONSE101
                TESTCOMMAND110
                                                                    TESTRESPONSE110
                TESTCOMMAND111
                                                                    TESTRESPONSE111
               シナリオ記述表T 4−DEPREQ情報PDU,誤りのあるトランザクション
                 ターゲット試験装置                                         DUT
            TESTCOMMAND100 (~CRC)
                                                                            Mute
                        S(A)
                                                                            S(A)
                TESTCOMMAND100
                                                                    TESTRESPONSE100
                TESTCOMMAND101
                                                                    TESTRESPONSE101
                TESTCOMMAND100
                                                                    TESTRESPONSE100
            TESTCOMMAND101 (~CRC)
                                                                            Mute
                        S(A)
                                                                            S(A)
                TESTCOMMAND101
                                                                    TESTRESPONSE101

――――― [JIS X 5214 pdf 14] ―――――

                                                                                             13
                                                                X 5214 : 2010 (ISO/IEC 23917 : 2005)
8.5.3.2  試験成績書
  試験成績書は,DUTがすべての伝送速度及び通信モードにおいて正しく振る舞うかどうかを示さなけれ
ばならない。
8.5.4  複数情報リンクビットが1に設定されたDEPREQ情報PDUの取扱方法
  この試験の目的は,複数情報リンクビットが1に設定されたDEPREQ情報PDUの取扱いが正しいかど
うかを判断することにある(JIS X 5211の12.6.1.3参照)。
8.5.4.1  手順
  106 kb/s,212 kb/s及び424 kb/sの伝送速度で,能動及び受動両方の通信モードについて,a)   f)の手順を
繰り返す。
a)   UTを動作範囲に置く。
b) 動作範囲速度HminHmaxのRFフィールドを生成し,その磁界強度が試験結果に影響しないことを確
    認する。
c) 選択した通信モード及び伝送速度において活性化を実行する。
d)   TRREQを送信し,DUTからATRRESを受信する。
e) シナリオ記述表T 5,続いてシナリオ記述表T 6を実行する。
f)  DUTからの応答及びPNIがシナリオと一致するかどうかを確認する。

――――― [JIS X 5214 pdf 15] ―――――

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JIS X 5214:2010の引用国際規格 ISO 一覧

ISO/IEC 23917:2005(IDT)

JIS X 5214:2010の国際規格 ICS 分類一覧

35 : 情報技術.事務機械　>　35.100 : 開放型システム間相互接続(OSI)　>　35.100.10 : 物理層

JIS X 5214:2010の関連規格と引用規格一覧

規格番号: 規格名称
JISX5211:2015: システム間の通信及び情報交換―近距離通信用インタフェース及びプロトコル(NFCIP-1)
JISX5213:2015: 近距離通信用インタフェース及びプロトコル(NFCIP-1)―RFインタフェース試験方法
JISX6305-6:2013: 識別カードの試験方法―第6部:非接触(外部端子なし)ICカード―近接型