14
X 5214 : 2010 (ISO/IEC 23917 : 2005)
シナリオ記述表T 5−複数情報リンクビットが1に設定されたDEPREQ情報PDU,
正しいトランザクション
ターゲット試験装置 DUT
TESTCOMMAND100
TESTRESPONSE100
TESTCOMMAND3B01
A(ACK)01
TESTCOMMAND3E10
TESTRESPONSE310
TESTCOMMAND111
TESTRESPONSE111
TESTCOMMAND100
TESTRESPONSE100
TESTCOMMAND3B01
A(ACK)01
TESTCOMMAND3010
A(ACK)10
TESTCOMMAND3111
A(ACK)11
TESTCOMMAND3200
A(ACK)00
TESTCOMMAND3301
A(ACK)01
TESTCOMMAND3E10
TESTRESPONSE310
TESTCOMMAND111
TESTRESPONSE111
――――― [JIS X 5214 pdf 16] ―――――
15
X 5214 : 2010 (ISO/IEC 23917 : 2005)
TESTCOMMAND100
TESTRESPONSE100
TESTCOMMAND201
TESTCOMMAND3B01
A(ACK)10
TEST COMMAND3E10
TESTCOMMAND111
TESTRESPONSE111
次の試験は,DUTの振る舞いに依存するものであり,任意とする。
TESTCOMMAND100
TESTRESPONSE100
TESTCOMMAND201
TESTCOMMAND3B01
A(ACK)10
TESTCOMMAND3010
A(ACK)11
TESTCOMMAND3111
A(ACK)00
TESTCOMMAND3200
A(ACK)01
TESTCOMMAND3301
A(ACK)10
TESTCOMMAND3E10
TESTCOMMAND111
TESTRESPONSE111
――――― [JIS X 5214 pdf 17] ―――――
16
X 5214 : 2010 (ISO/IEC 23917 : 2005)
シナリオ記述表T 6−複数情報リンクビットが1に設定されたDEPREQ情報PDU,
誤りのあるトランザクション
ターゲット試験装置 DUT
TESTCOMMAND100
TESTRESPONSE100
TESTCOMMAND3B01
A(ACK)01
TESTCOMMAND3010 (~CRC)
Mute
S(A)
S(A)
TESTCOMMAND3010
A(ACK)10
TESTCOMMAND3E11
TESTRESPONSE311
TESTCOMMAND100
TESTRESPONSE100
TESTCOMMAND100
TESTRESPONSE100
TESTCOMMAND201
TESTCOMMAND3B01
A(ACK)10 (~CRC)
Mute
S(A)
S(A)
A(ACK)10
TESTRESPONSE3E10
TESTCOMMAND111
TESTRESPONSE111
8.5.4.2 試験成績書
試験成績書は,DUTがすべての伝送速度及び通信モードにおいて正しく振る舞うかどうかを示さなけれ
ばならない。
――――― [JIS X 5214 pdf 18] ―――――
17
X 5214 : 2010 (ISO/IEC 23917 : 2005)
8.5.5 タイムアウトビットが1に設定されたDEPREQ管理PDUの取扱方法
この試験の目的は,タイムアウトビットが1に設定されたDEPREQ管理PDUの取扱いが正しいかどう
かを判断することにある(JIS X 5211の12.6.1.3参照)。
8.5.5.1 手順
106 kb/s,212 kb/s及び424 kb/sの伝送速度で,能動及び受動の両方の通信モードで,a) f)の手順を繰り
返す。
a) UTを動作範囲に置く。
b) 磁界強度範囲HminHmaxのRFフィールドを生成し,その磁界強度が試験結果に影響しないことを確
認する。
c) 選択された通信モード及び伝送速度において活性化を実行する。
d) TRREQを送信し,DUTからATRRESを受信する。
e) シナリオ記述表T 7,続いてシナリオ記述表T 8を実行する。
f) DUTからの応答及びPNIが試験シナリオと一致するかどうかを確認する。
シナリオ記述表T 7−タイムアウトビットが1に設定されているDEPREQ管理PDU,
正しいトランザクション
ターゲット試験装置 DUT
TESTCOMMAND100
TESTRESPONSE100
TESTCOMMAND401
S(TO)
S(TO)
TESTRESPONSE401
TESTCOMMAND110
TESTRESPONSE110
――――― [JIS X 5214 pdf 19] ―――――
18
X 5214 : 2010 (ISO/IEC 23917 : 2005)
シナリオ記述表T 8−タイムアウトビットが1に設定されたDEPREQ管理PDU,
誤りのあるトランザクション
ターゲット試験装置 DUT
TESTCOMMAND100
TESTRESPONSE100
TESTCOMMAND401
S(TO)
S(TO) (~CRC)
Mute
S(A)
S(A)
S(TO)
TESTRESPONSE401
TESTCOMMAND110
TESTRESPONSE110
8.5.5.2 試験成績書
試験成績書は,DUTがすべての伝送速度及び通信モードにおいて正しく振る舞うかどうかを示さなけれ
ばならない。
8.5.6 タイムアウトビットが0に設定されたDEPREQ管理PDUの取扱方法
この試験の目的は,タイムアウトビットが0に設定されたDEPREQ管理PDUの取扱いが正しいかどう
かを判断することにある(JIS X 5211の12.6.1.3参照)。
8.5.6.1 手順
106 kb/s,212 kb/s及び424 kb/sの伝送速度で,能動及び受動の両方の通信モードで,a) f)の手順を繰り
返す。
a) UTを動作範囲に置く。
b) 磁界強度範囲HminHmaxのRFフィールドを生成し,その磁界強度が試験結果に影響しないことを確
認する。
c) 選択された通信モード及び伝送速度において活性化を実行する。
d) TRREQを送信し,DUTからATRRESを受信する。
e) シナリオ記述表T 9,続いてシナリオ記述表T 10を実行する。
f) DUTからの応答及びPNIが試験シナリオと一致するかどうかを確認する。
――――― [JIS X 5214 pdf 20] ―――――
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JIS X 5214:2010の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO/IEC 23917:2005(IDT)
JIS X 5214:2010の国際規格 ICS 分類一覧
- 35 : 情報技術.事務機械 > 35.100 : 開放型システム間相互接続(OSI) > 35.100.10 : 物理層
JIS X 5214:2010の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISX5211:2015
- システム間の通信及び情報交換―近距離通信用インタフェース及びプロトコル(NFCIP-1)
- JISX5213:2015
- 近距離通信用インタフェース及びプロトコル(NFCIP-1)―RFインタフェース試験方法
- JISX6305-6:2013
- 識別カードの試験方法―第6部:非接触(外部端子なし)ICカード―近接型