この規格ページの目次
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X 5214 : 2010 (ISO/IEC 23917 : 2005)
シナリオ記述表T 9−タイムアウトビットが0に設定されたDEPREQ管理PDU,
正しいトランザクション
ターゲット試験装置 DUT
TESTCOMMAND100
TESTRESPONSE100
S(A)
S(A)
TESTCOMMAND101
TESTRESPONSE101
シナリオ記述表T 10−タイムアウトビットが0に設定されたDEPREQ管理PDU,
誤りのあるトランザクション
ターゲット試験装置 DUT
TESTCOMMAND100
TESTRESPONSE100
S(A) (~CRC)
Mute
S(A)
S(A)
TESTCOMMAND101
TESTRESPONSE101
8.5.6.2 試験成績書
試験成績書は,DUTがすべての伝送速度及び通信モードにおいて正しく振る舞うかどうかを示さなけれ
ばならない。
8.5.7 DSLREQの取扱方法
この試験の目的は,DSLREQの取扱いが正しいかどうかを判断することにある[JIS X 5211の12.7.1.3
(DSLREQ及びDSLRESの取扱方法)参照]。
8.5.7.1 手順
106 kb/s,212 kb/s,424 kb/sの伝送速度で,能動及び受動の両方の通信モードで,a) f)の手順を繰り返
す。
a) UTを動作範囲に置く。
b) 磁界強度範囲HminHmaxのRFフィールドを生成し,その磁界強度が試験結果に影響しないことを確
認する。
c) 選択された通信モード及び伝送速度において活性化を実行する。
d) TRREQを送信し,DUTからATRRESを受信する。
e) シナリオ記述表T 11,続いてシナリオ記述表T 12を実行する。
――――― [JIS X 5214 pdf 21] ―――――
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X 5214 : 2010 (ISO/IEC 23917 : 2005)
f) DUTからの応答及びPNIが試験シナリオと一致するかどうかを確認する。
シナリオ記述表T 11−DSLREQ,正しいトランザクション
ターゲット試験装置 DUT
TESTCOMMAND100
TESTRESPONSE100
DSLREQ
DSLRES
DSLREQ
Mute
シナリオ記述表T 12−DSLREQ,誤りのあるトランザクション
ターゲット試験装置 DUT
TESTCOMMAND100
TESTRESPONSE100
DSLREQ (~CRC)
Mute
DSLREQ
DSLRES
8.5.7.2 試験成績書
試験成績書は,DUTがすべての伝送速度及び通信モードにおいて正しく振る舞うかどうかを示さなけれ
ばならない。
8.5.8 RLSREQの取扱方法
この試験の目的は,DUTによるRLSREQの取扱いが正しいかどうかを判断することにある[JIS X 5211
の12.7.2.3(RLSREQ及びRLSRESの取扱方法)参照]。
8.5.8.1 手順
106 kb/s,212 kb/s,424 kb/sの伝送速度で,能動及び受動の両方の通信モードで,a) h)の手順を繰り返
す。
a) UTを動作範囲に置く。
b) 磁界強度範囲HminHmaxのRFフィールドを生成し,その磁界強度が試験結果に影響しないことを確
認する。
c) 選択された通信モード及び伝送速度において活性化を実行する。
d) TRREQを送信し,DUTからATRRESを受信する。
e) シナリオ記述表T 13,続いてシナリオ記述表T 14を実行する。
f) DUTからの応答及びPNIが試験シナリオと一致するかどうかを確認する。
g) 選択された通信モード及び伝送速度において活性化を実行する。
――――― [JIS X 5214 pdf 22] ―――――
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X 5214 : 2010 (ISO/IEC 23917 : 2005)
h) TRREQを送信し,DUTからの有効なATRRESを確認する。
シナリオ記述表T 13−RLSREQ,正しいトランザクション
ターゲット試験装置 DUT
TESTCOMMAND100
TESTRESPONSE100
RLSREQ
RLSRES
RLSREQ
Mute
シナリオ記述表T 14−RLSREQ,誤りのあるトランザクション
ターゲット試験装置 DUT
TESTCOMMAND100
TESTRESPONSE100
RLSREQ (~CRC)
Mute
RLSREQ
RLSRES
8.5.8.2 試験成績書
試験成績書は,DUTがすべての伝送速度及び通信モードにおいて正しく振る舞うかどうかを示さなけれ
ばならない。
8.5.9 WUPREQの取扱方法(能動通信モードに限る)
この試験の目的は,DUTによるWUPREQの取扱いが正しいかどうかを判断することにある[JIS X 5211
の12.5.2.3(WUPREQ及びWUPRESの取扱方法)参照]。
8.5.9.1 手順
106 kb/s,212 kb/s及び424 kb/sの伝送速度で,a) g)の手順を繰り返す。
a) UTを動作範囲に置く。
b) 磁界強度範囲HminHmaxのRFフィールドを生成し,その磁界強度が試験結果に影響しないことを確
認する。
c) 能動通信モードにおいて,選択された伝送速度で活性化を実行する。
d) TRREQを送信し,DUTからATRRESを受信する。
e) シナリオ記述表T 15,続いてシナリオ記述表T 16を実行する。
f) DUTからの応答及びPNIがシナリオと一致するかどうかを確認する。
g) TRREQを送信し,DUTからATRRESを受信する。
――――― [JIS X 5214 pdf 23] ―――――
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X 5214 : 2010 (ISO/IEC 23917 : 2005)
シナリオ記述表T 15−WUPREQ,正しいトランザクション
ターゲット試験装置 DUT
TESTCOMMAND100
TESTRESPONSE100
TESTCOMMAND101
TESTRESPONSE101
DSLREQ
DSLRES
WUPREQ
WUPRES
TESTCOMMAND100
TESTRESPONSE100
シナリオ記述表T 16−WUPREQ,誤りのあるトランザクション
ターゲット試験装置 DUT
TESTCOMMAND100
TESTRESPONSE100
TESTCOMMAND101
TESTRESPONSE101
DSLREQ
DSLRES
TESTCOMMAND110
Mute
TESTCOMMAND100
Mute
WUPREQ
WUPRES
TESTCOMMAND100
TESTRESPONSE100
――――― [JIS X 5214 pdf 24] ―――――
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X 5214 : 2010 (ISO/IEC 23917 : 2005)
TESTCOMMAND100
TESTRESPONSE100
TESTCOMMAND101
TESTRESPONSE101
DSLREQ
DSLRES
WUPREQ(~CRC)
Mute
WUPREQ
WUPRES
TESTCOMMAND100
TESTRESPONSE100
8.5.9.2 試験成績書
試験成績書は,DUTがすべての伝送速度において正しく振る舞うかどうかを示さなければならない。
9 イニシエータ試験方法
9.1 イニシエータ試験装置
9.1.1 イニシエータ試験装置の概念
イニシエータ試験装置は,二つの部分から構成される(図1参照)。
a) Tは,イニシエータを設定する部分で,命令の送信を指示する。この規格ではUTがDUTを制御す
る方法について言及しない。
b) Tは,ターゲットのプロトコルをエミュレートする部分で,タイミング測定のためのデジタルサンプ
リングオシロスコープをもつ。
UT
イニシエータ
試験装置 イニシエータ(DUT)
PDU
LT
図1−イニシエータ試験装置の概念図
――――― [JIS X 5214 pdf 25] ―――――
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JIS X 5214:2010の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO/IEC 23917:2005(IDT)
JIS X 5214:2010の国際規格 ICS 分類一覧
- 35 : 情報技術.事務機械 > 35.100 : 開放型システム間相互接続(OSI) > 35.100.10 : 物理層
JIS X 5214:2010の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISX5211:2015
- システム間の通信及び情報交換―近距離通信用インタフェース及びプロトコル(NFCIP-1)
- JISX5213:2015
- 近距離通信用インタフェース及びプロトコル(NFCIP-1)―RFインタフェース試験方法
- JISX6305-6:2013
- 識別カードの試験方法―第6部:非接触(外部端子なし)ICカード―近接型