29
X 5214 : 2010 (ISO/IEC 23917 : 2005)
シナリオ記述表I 4−DEPRES情報PDU,誤りのあるトランザクション
DUT LT
TESTCOMMAND100
TESTRESPONSE100 (~CRC)
A(NACK)00
TESTRESPONSE100
TESTCOMMAND101
TESTCOMMAND100
TESTRESPONSE100 (~CRC)
A(NACK)00
Mute
A(NACK)00
TESTRESPONSE100
TESTCOMMAND101
9.5.3.2 試験成績書
試験成績書は,DUTがすべての伝送速度及び通信モードで正しく振る舞うかどうかを示さなければなら
ない。
9.5.4 複数情報リンクビットが1に設定されたDEPRES情報PDUの取扱方法
この試験の目的は,複数情報リンクビットが1に設定されたDEPRES情報PDUの取扱いが正しいかど
うかを判断することにある(JIS X 5211の12.6.1.3参照)。
9.5.4.1 手順
すべての伝送速度,通信モード及びプロトコル活性化手順の組合せで,a) d)の手順を繰り返す。
a) TをDUTの動作範囲に置く。
b) 106 kb/sの受動通信モードで9.1.2を,212 kb/s及び424 kb/sの受動通信モードで9.1.3を,すべての伝
送速度の能動通信モードで9.1.4を実行する。
c) シナリオ記述表I 5を実行する。
d) シナリオ記述表I 6を実行する。
――――― [JIS X 5214 pdf 31] ―――――
30
X 5214 : 2010 (ISO/IEC 23917 : 2005)
シナリオ記述表I 5−複数情報リンクビットが1に設定されたDEPRES情報PDU,
正しいトランザクション
DUT LT
TESTCOMMAND100
TESTCOMMAND200
TESTCOMMAND3B01
A(ACK)01
TESTCOMMAND3E10
TESTRESPONSE310
TESTCOMMAND111
TESTCOMMAND100
TESTCOMMAND3B00
A(ACK)01
TESTCOMMAND3E01
TESTRESPONSE310
TESTCOMMAND100
TESTCOMMAND3B00
A(ACK)01
TESTCOMMAND3001
A(ACK)10
TESTCOMMAND3110
A(ACK)11
TESTCOMMAND3211
A(ACK)00
TESTCOMMAND3300
A(ACK)01
TESTCOMMAND3E01
TESTRESPONSE310
――――― [JIS X 5214 pdf 32] ―――――
31
X 5214 : 2010 (ISO/IEC 23917 : 2005)
次の試験は,DUTの振る舞いに依存するので,任意とする。
TESTCOMMAND100
TESTCOMMAND200
TESTCOMMAND3B01
A(ACK)01
TESTCOMMAND3010
A(ACK)10
TESTCOMMAND3111
A(ACK)11
TESTCOMMAND3200
A(ACK)00
TESTCOMMAND3301
A(ACK)01
TESTCOMMAND3E10
TESTRESPONSE310
TESTCOMMANDE111
シナリオ記述表I 6−複数情報リンクビットが1に設定されたDEPRES情報PDU,
誤りのあるトランザクション
DUT LT
TESTCOMMAND100
TESTCOMMAND3B00 (~CRC)
A(NACK)00
TESTCOMMAND3B00
A(ACK)01
TESTCOMMAND3E01
TESTRESPONSE310
――――― [JIS X 5214 pdf 33] ―――――
32
X 5214 : 2010 (ISO/IEC 23917 : 2005)
TESTCOMMAND100
TESTCOMMAND200
TESTCOMMAND3B01
A(ACK)01 (~CRC)
A(NACK)01
A(ACK)01
TESTCOMMAND3E10
TESTRESPONSE310
TESTCOMMAND111
TESTCOMMAND100
TESTCOMMAND3B00
A(ACK)01
TESTCOMMAND3001 (~CRC)
A(NACK)01
Mute
A(NACK)01
TESTCOMMAND3001
A(ACK)10
TESTCOMMAND3E10
TESTCOMMAND111
9.5.4.2 試験成績書
試験成績書は,DUTがすべての伝送速度及び通信モードで正しく振る舞うかどうかを示さなければなら
ない。
9.5.5 タイムアウトビットが1に設定されたDEPRES管理PDUの取扱方法
この試験の目的は,タイムアウトビットが1に設定されたDEPRES管理PDUの取扱いが正しいかどう
かを判断することである(JIS X 5211の12.6.1.3参照)。
9.5.5.1 手順
すべての伝送速度,通信モード及びプロトコル活性化手順の組合せで,a) d)の手順を繰り返す。
a) TをDUTの動作範囲に置く。
b) 106 kb/sの受動通信モードで9.1.2を,212 kb/s及び424 kb/sの受動通信モードで9.1.3を,すべての伝
送速度の能動通信モードで9.1.4を実行する。
c) シナリオ記述表I 7を実行する。
d) シナリオ記述表I 8を実行する。
――――― [JIS X 5214 pdf 34] ―――――
33
X 5214 : 2010 (ISO/IEC 23917 : 2005)
シナリオ記述表I 7−タイムアウトビットが1に設定されたDEPRES,正しいトランザクション
DUT LT
TESTCOMMAND100
S(TO)
S(TO)
TESTRESPONSE100
TESTCOMMAND101
シナリオ記述表I 8−タイムアウトビットが1に設定されたDEPRES,誤りのあるトランザクション
DUT LT
TESTCOMMAND100
S(TO) (~CRC)
A(NACK)00
S(TO)
S(TO)
TESTRESPONSE100
TESTCOMMAND101
TESTCOMMAND100
S(TO) (~CRC)
A(NACK)00
Mute
A(NACK)00
S(TO)
S(TO)
TESTRESPONSE100
TESTCOMMAND101
9.5.5.2 試験成績書
試験成績書は,DUTがすべての伝送速度及び通信モードで正しく振る舞うかどうかを示さなければなら
ない。
9.5.6 タイムアウトビットが0に設定されたDEPRES管理PDUの取扱方法
この試験の目的は,タイムアウトビットが0に設定されたDEPRES管理PDUの取扱いが正しいかどう
かを判断することにある(JIS X 5211の12.6.1.3参照)。
――――― [JIS X 5214 pdf 35] ―――――
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JIS X 5214:2010の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO/IEC 23917:2005(IDT)
JIS X 5214:2010の国際規格 ICS 分類一覧
- 35 : 情報技術.事務機械 > 35.100 : 開放型システム間相互接続(OSI) > 35.100.10 : 物理層
JIS X 5214:2010の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISX5211:2015
- システム間の通信及び情報交換―近距離通信用インタフェース及びプロトコル(NFCIP-1)
- JISX5213:2015
- 近距離通信用インタフェース及びプロトコル(NFCIP-1)―RFインタフェース試験方法
- JISX6305-6:2013
- 識別カードの試験方法―第6部:非接触(外部端子なし)ICカード―近接型