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X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
附属書A(規定) 光透過率の測定法
A.1 概要 この附属書は,テープの光透過率の測定装置及び測定法を規定する。
光透過率は,測定装置に試験片を入れないときを100とし,入れたときの比を百分率 (%) で表す。
A.2 測定装置の構成 測定装置の構成は,次による。
− 光源
− 光検出部
− 測定用マスク
− 光学系
− 測定回路
A.2.1 光源 光源は,次のパラメータをもつ赤外線発光ダイオード (LED) を使用する。
波長 : 850nm±50nm
半値幅 : ±50nm
A.2.2 光検出部 光検出部は,平らなシリコンフォトダイオードを用い,閉回路で動作する。
A.2.3 測定用マスク 測定用マスクは,厚さを2mmとし,孔の直径 (d) をフォトダイオードの受光領域の
80100%の大きさに設定する。
表面は,黒のつや消しとする。
試験片は,マスクの孔を覆い,かつ,周りの光が漏れないようにマスクに固定する。
A.2.4 光学系(附属書A図1) 光は,マスクに垂直に入射し,光源からマスクまでの距離 (L) は,次の
式による。
d
L
2 tan
光軸上の最大強度に対して95%以上の強度がある領域に設定する。
A.2.5 仕上げ 装置全体は,つや消しの黒いケースで覆う。
A.2.6 測定回路(附属書A図2) 測定回路は,次による。
E : 出力電圧可変の定電圧電源
R : 電流制限用の抵抗器
LED : 赤外線発光ダイオード
Di : シリコンフォトダイオード
A : 演算増幅器
Rf0,Rf1 : 帰還用の抵抗器
S : 増幅率切替えスイッチ
V : 電圧計
LEDに流れる電流,すなわち,照射力は,供給電圧 (E) によって変化する。
Diは,閉回路で動作する。
演算増幅器の出力は,V0=Ik×Rfで与えられる。ここで,Ikは,Diの閉回路での電流とする。
出力電圧は,光の明るさに比例する。
Rf0及びRf1は,許容誤差1%で,温度による抵抗変化の小さい抵抗器とする。これらの抵抗値の比は,次
――――― [JIS X 6147 pdf 81] ―――――
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X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
の式による。
Rf 0 1
Rf1 20
A.3 測定法 測定法は,次による。
− スイッチ (S) を位置 (0) に設定する。
− 試験片を取り付けないで,電圧計 (V) の指示がフルスケール (100%) になるようにLED供給電圧 (E)
を変化させる。
− リーダテープ又はトレーラテープをマスクに取り付ける。このときの電圧計は,60100%を示す。
− 磁気テープの試験片をマスクに取り付ける。スイッチ (S) を位置 (1) に設定する。このときの電圧計
のフルスケールは,光透過率5%を示す。
附属書A図1 光学系の構成
附属書A図2 測定回路
――――― [JIS X 6147 pdf 82] ―――――
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X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
附属書B(規定) 信号対雑音比の測定法
信号対雑音比の測定は,分解能3kHzのスペクトラムアナライザを用いる。試験条件は,特に規定がな
い限り,本体10.による。
B.1 テープを交流消去する。
B.2 テープに記録密度4 107.1ftpmmで記録する。その記録周波数をf1で表す。
B.3 信号振幅の実効値は,読取りヘッドが最初にテープに接触して1ms後から測定を開始し,1msの時間
にわたってスペクトラムアナライザを掃引して測定する。1回の掃引によって得た測定値を1回分の測定
値とし,8回分の測定値の平均値を求める。これをStapeとする。
これらの8回の掃引の際,周波数f2で全雑音レベルの実効値を測定する。ここで,f2は,f1より2MHz
低い周波数とする。1回の掃引によって得た測定値を1回分の測定値とし,100回分の測定値の平均値を求
める。これをNtotalとする。
B.4 周波数f2の再生系雑音レベルの実効値は,同じ1msの時間にわたって,テープを巻き付けずにモータ
を回転させて測定する。1回の掃引によって得た測定値を1回分の測定値とし,8回分の測定値の平均値を
求める。これをNampとする。
B.5 信号対雑音比は,次の式による。
Stape
20 log
Ntape
2total2amp
ここに, テープ雑音 : Ntape N N
Namp
は,0.7未満とする。
Ntape
B.6 テープの信号対雑音比 (SNRtape) は,B.3B.5を10回以上繰り返し測定した平均値とする。
B.7 二次基準テープについてもB.1B.6の測定を行い,二次基準テープの信号対雑音比SNRMSRTを求める。
供試テープの信号対雑音比は,次による。
(SNRtape−SNRMSRT) dB
――――― [JIS X 6147 pdf 83] ―――――
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X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
附属書C(規定) 記録レベルの公称値及び
最大許容値の決定法(記録前条件)
記録レベルの公称値及び最大許容値の試験条件は,本体10.による。
C.1 記録レベルの公称値の決定法
C.1.1 信号振幅二次基準テープの記録密度5 476.2ftpmmの信号を再生し,読み取った値を信号振幅二次基
準テープによって校正する。
C.1.2 交流消去した二次基準テープに,5 476.2ftpmmの信号を記録電流が小さい値から徐々に増やしなが
ら記録し,読み取った値がC.1.1で求めた値と等しくなるまで記録電流を増やす。
C.1.3 交流消去した供試テープに対し,C.1.2で求めた記録電流で5 476.2ftpmmの信号を記録する。読み取
った値を,記録密度5 476.2ftpmmでの記録レベルの公称値とする。
C.1.4 記録密度821.4ftpmm,912.7ftpmm,1 026.8ftpmm,1 173.5ftpmm,1 369.0ftpmm,1 642.9ftpmm,
2 053.6ftpmm,2 738.1ftpmm,4 107.1ftpmm及び5 476.2ftpmmの値を求めるために,C.1.1C1.3を同様に
繰り返す。
C.2 記録レベルの最大許容値の決定法
C.2.1 交流消去した二次基準テープに,記録密度5 476.2ftpmmの信号を記録電流が小さい値から徐々に増
やしながら記録し,読み取った値がC.1.1で求めた校正後の値の120%になるまで記録電流を増やす。
C.2.2 交流消去した供試テープに対し,C.2.1で求めた記録電流で5 476.2ftpmmの信号を記録する。読み取
った値を,記録密度5476.2ftpmmでの記録レベルの最大許容値とする。
C.2.3 記録密度821.4ftpmm,912.7ftpmm,1 026.8ftpmm,1 173.5ftpmm,1 369.0ftpmm,1 642.9ftpmm,
2 053.6ftpmm,2 738.1ftpmm及び4 107.1ftpmmの値を求めるために,C.2.1C2.2を同様に繰り返す。
C.3 記録レベルの限界値 極端な記録レベルは,この規格を用いた記録システムの動作に支障を来すので,
互換性が得られる記録レベルの限界値を決める必要がある。限界値は,次による。
記録密度821.4ftpmm,912.7ftpmm,1 026.8ftpmm,1 173.5ftpmm,1 369.0ftpmm,1 642.9ftpmm,2 053.6ftpmm,
2 738.1ftpmm,4 107.1ftpmm及び5 476.2ftpmmでは,記録レベルの最大許容値とする。
参考 互換性確保のために,記録レベルは,記録密度821.4ftpmm,912.7ftpmm,1 026.8ftpmm,
1 173.5ftpmm,1 369.0ftpmm,1 642.9ftpmm,2 053.6ftpmm,2 738.1ftpmm,4 107.1ftpmm及び
5 476.2ftpmmで,記録レベルの公称値を超えないことが望ましい。
――――― [JIS X 6147 pdf 84] ―――――
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X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
附属書D(規定) 16ビットワードから
20チャネルビットパターンへの変換
16ビットワードは,最上位ビットを左側とし,最下位ビットを右側とする。20チャネルビットパターン
は,最初に記録するビットを左側とし,最後に記録するビットを右側とする。
使用する記録装置は,記録信号の直流成分を0に近づける必要がある。すべての20チャネルビットパタ
ーンは,0直流平衡又は直流部とする,各20チャネルビットパターンは,DC(直流成分)を最小にする
ために,次の20チャネルビットパターンの二つの代替パターンのどちらかを選択するかを変調器に指示す
るインジケータQが含まれる。
Q'は,前のパターンの直流情報である。
Qは,現在のパターンの直流情報である。
ビットの変換表は,1 639ページにも及ぶため,次のURLによって入手できる。
http : //www. iso. ch/isoiec18810table. htm
変換表の最初を情報として次に示す。16ビット及び20チャネルビットパターンは,16進数で示す。
16-bit Q'=0 Q Q'=1 Q Q'=2 Q Q'=3 Q
Words Channel Channel Channel Channel
bits bits bits bits
pattern pattern pattern pattern
(0000) (2659B) 0 (2659B) 1 (D9A64) 2 (D9A64) 3
(0001) (2659E) 0 (2659E) 1 (D9A61) 2 (D9A61) 3
(0002) (265A7) 0 (265A7) 1 (D9A58) 2 (D9A58) 3
(0003) (265AB) 2 (265AB) 3 (D9A54) 0 (D9A54) 1
(0004) (265AD) 0 (265AD) 1 (D9A52) 2 (D9A52) 3
(0005) (265AE) 2 (265AE) 3 (D9A51) 0 (D9A51) 1
(0006) (265B3) 0 (265B3) 1 (D9A4C) 2 (D9A4C) 3
(0007) (265B6) 0 (265B6) 1 (D9A49) 2 (D9A49) 3
(0008) (265B9) 0 (265B9) 1 (D9A46) 2 (D9A46) 3
(0009) (265BA) 2 (265BA) 3 (D9A45) 0 (D9A45) 1
(000A) (265BC) 0 (265BC) 1 (D9A43) 2 (D9A43) 3
(000B) (265CB) 0 (265CB) 1 (D9A34) 2 (D9A34) 3
(000C) (265CE) 0 (265CE) 1 (D9A31) 2 (D9A31) 3
(000D) (265E3) 0 (265E3) 1 (D9A1C) 2 (D9A1C) 3
(000E) (265E6) 0 (265E6) 1 (D9A19) 2 (D9A19) 3
(000F) (265E9) 0 (265E9) 1 (D9A16) 2 (D9A16) 3
(0011) (265EA) 2 (265EA) 2 (D9A15) 0 (D9A15) 1
(0012) (265F2) 0 (265F2) 0 (D9A0D) 2 (D9A0D) 3
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――――― [JIS X 6147 pdf 85] ―――――
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JIS X 6147:2001の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO/IEC 18810:2001(IDT)
JIS X 6147:2001の国際規格 ICS 分類一覧
- 35 : 情報技術.事務機械 > 35.220 : データ蓄積装備 > 35.220.23 : 磁気テープ用カセット及びカートリッジ
JIS X 6147:2001の関連規格と引用規格一覧
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