JIS X 6147:2001 8mm幅,ヘリカル走査記録,情報交換用磁気テープカートリッジ,AIT-2・MIC様式 | ページ 18

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X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
附属書E(規定) ビットシフトの測定法
試験テープは,情報交換に使用する磁気テープ装置によってシステムオペレーションと互換性のあるモ
ードで記録する。
E.1 読取り装置 読取り装置は,次による。
附属書Fによって測定するときに,トラックの直線性が附属書Fの規定を満足する磁気テープ装置によ
って読み取る。
再生ヘッドの出力電圧の絶対値は,規定しない。ただし,再生ヘッド,前置増幅器,回転トランス,ヘ
ッドとテープの相対速度及び積分器は,低い信号対雑音比に起因する問題が発生しないように選択する。
− 再生ヘッド
ギャップ長 : 0.18 0.05
ヘッドギャップの角度 : 正アジマスのヘッドギャップは,スキャナ軸に対して+25°00'±15'とす
る。
: 負アジマスのヘッドギャップは,スキャナ軸に対して−25°00'±15'とす
る。
− ヘッドとテープの接触及び再生チャネル
信号取込み中(E.2参照)のヘッドとテープの接触の安定性及び読取りヘッド,前置増幅器及び回
転トランスの総合周波数応答特性は,信号対雑音比で10dB以上の良好なものとする。
E.2 測定方法 ビットシフトは,再生電圧波形をデジタル記録する計数信号処理を用いて等化器の出力で
測定する。信号取込みは,メインデータゾーン1の最初のビットで始まり(本体の15.1参照),メインデ
ータゾーン1のチャネルビットが少なくとも25 000個読み取られた時点で終わる。
信号処理のアルゴリズムは,次の段階で実行する。
a) メインデータゾーン1からのデジタル波形をタイミング抽出アルゴリズムに入力する。タイミング抽
出アルゴリズムの例としては,このゾーンからのリードバックチャネルビット信号のビット間隔での
公称中心位置について,一連の一定間隔の基準タイムを生成する第一次フーリエ変換がある。これら
の基準タイムはb) d)を実行したとき,d)に指定したビットエラー率を満足するように,十分に正確
であることとする。
b) 一連の基準タイムを,同一の周波数と位相で残りの信号キャプチャ間隔に拡張する。これらの基準タ
イムは,メインデータゾーン1からのリードバックチャネルビット信号のビット間隔での公称中心位
置のタイミングを定義する。
c) メインデータゾーン1から取り込んだビット間隔での公称中心位置で,再生電圧を2%よりも高い精
度で測定する。
d) メインデータゾーン1から取り込んだ各ビット間隔について,ビットエラー率が1/10 000よりも小さ
い検出方法を使用して,テープ上の対応するビットセルの状態を推測する。ヘッド走行方向に磁化さ
れている各ビットセルに,+1のデータ値Dを割り当て,ヘッド走行と反対方向に磁化されている各
ビットセルに,−1のデータ値Dを割り当てる。
e) 各ビットセルについて,4要素のベクトルを作成し,各要素に1,2,3,4と番号を付ける。第3要素

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X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
のD3の値は,現在のビットセルのデータ値Dとし,第4要素のD4の値は,次のビットセルのデータ
値Dとする。第1要素及び第2要素それぞれの値D1とD2は,前の2個のビットセルのデータ値Dと
する。その結果,ベクトル値は,16個のベクトル値のベクトル値iをもつ。
f) 16個の各ベクトル値について,ベクトル値がそのベクトル値iをもつすべてのビットセルのc)で測定
したプレイバック電圧の平均値Viを計算する。
g) 電圧平均値とデータ値を各ベクトル値に一つずつ与え,16個のボルテラシリーズを作成する。各シリ
ーズは,次による。
Vi= A0000 (d. c成分)
+A0100D2+A0010D3 (信号成分)
+A1000D1+A0001D4 (線形ISI成分)
+A1100D1D2+A0110D2D3+A0010D3D4 (非線形ISI成分)
+A1010D1D3+A0101D2D4+A1001D1D4 (高次非線形ISI成分)
+A1101D1D2D4+A1011D1D3D4+A1111D1D2D3D4 (高次線形ISI成分)
+A1110D1D2D3+A0111D2D3D4 (ビットシフトに関係する非線形ISI成分)
h) )で定義する16個の連立方程式を解くことによって,ボルテラ係数のA0000A1111を算出する。
i) ビットシフトに関係する非線形ISI干渉を示すボルテラ係数は,A1110及びA0111となる。
参考 この方法の論理的根拠は,次の文献に記述されている。
Newby, P. and Wood, R., 1986 “The effects of Nonlinear Distortion on Class IV Partial Response” IEEE
Transactions on Magnetics Volulme MAG-22, Number 5, September 1986, Page 1203
この方法の適用方法については,次の文献に記述されている。
Williams C. H., 1990 “The Measurement and Classification of Impairment for DVTR Transports” 8th
Conference on Video, Audio and Data Recording IEE Conference Publication No.319, page 67

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X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
附属書F(規定) トラックエッジの直線性の測定法
F.1 測定条件 試験片は,長手方向に0.04N0.06Nの張力を加える。
F.2 測定方法 記録トラックのエッジ上に,テープ基準縁からの距離4.454 5mmを中心とし,長手方向の
軸がテープ基準縁に対して, 懿 4.895 0°傾いた59.148mm×7.5 睥 形の箱を設定する。
F.3 要求事項 トラックエッジは,箱の短い辺にだけ交差しなければならない。
附属書F図1 トラックエッジの直線性の測定法

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X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
附属書G(規定) ECCの計算
C1符号は,GF (28) リードソロモン符号 (64,58,7) とし,C2符号は,GF (28) リードソロモン符号 (56,
48,9) とする。
*C1パリティは,シンボルでインターリブした2ブロックとして完了する。
GF (28) は,次の多項式によって算出する。
G (x) =x8+x4+x3+x2+1
懿 (00000010)
C1符号のインターリーブ深度は,2バイトとし,C2符号のインターリーブ深度は8ブロックとする。
ECCバイトは,次の式による。
HP×VP=0
HQ×VQ=0
生成多項式は,次の式による。
i5
i
GP (x) (x )
i0
i7
i
GQ (x) (x )
i0
0 0 0 0 0 0 0
63 62 61 60 2 1 0
126 124 122 120 4 2 0
HP 189 186 183 180 6 3 0
252 248 244 240 8 4 0
315 310 305 300 10 5 0
0 0 0 0 0 0 0
55 54 53 52 2 1 0
110 108 106 104 4 2 0
165 162 159 156 6 3 0
220 216 212 208 8 4 0
HQ
275 270 265 260 10 5 0
330 324 318 312 12 6 0
385 378 371 364 14 7 0
440 432 424 416 16 8 0

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X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
D2k,l Qm,n
D2k,l+2 Qm+6,n
D2k,l+4 Qm+12,n
D2k,l+6 Qm+18,n
D2k,l+8 Dm+24,n
D2k,l+10 Dm+30,n
D2k,l+12 Dm+36,n
D2k,l+14 Dm+42,n
D2k,l+16 Dm+48,n
D2k,l+18 Dm+54,n
D2k,l+20 Dm+60,n
D2k,l+22 Dm+66,n
D2k,l+24 Dm+72,n
D2k,l+26 Dm+78,n
D2k,l+28 Dm+84,n
D2k,l+30 Dm+90,n
D2k,l+32 Dm+96,n
D2k,l+34 Dm+102,n
D2k,l+36 Dm+108,n
D2k,l+38 Dm+116,n
D2k,l+40 Dm+122,n
D2k,l+42 Dm+128,n
D2k,l+44 Dm+132,n
D2k,l+46 Dm+138,n
D2k,l+48 Dm+144,n
D2k,l+50 Dm+150,n
D2k,l+52 Dm+156,n
D2k,l+54 Dm+162,n
D2k,l+56 Dm+168,n
D2k,l+58 Dm+174,n
D2k,l+60 Dm+180,n
D2k,l+62 Dm+186,n
VP= D2k+1,l+64
VQ= Dm+192,n
D2k+1,l+66 Dm+198,n
D2k+1,l+68 Dm+204,n
D2k+1,l+70 Dm+210,n
D2k+1,l+72 Dm+216,n
D2k+1,l+74 Dm+222,n
D2k+1,l+76 Dm+234,n
D2k+1,l+78 Dm+246,n
D2k+1,l+80 Dm+252,n
D2k+1,l+82 Dm+258,n
D2k+1,l+84 Dm+264,n
D2k+1,l+86 Dm+270,n
D2k+1,l+88 Dm+276,n
D2k+1,l+90 Dm+282,n
D2k+1,l+92 Dm+288,n
D2k+1,l+94 Dm+294,n
D2k+1,l+96 Dm+300,n
D2k+1,l+98 Dm+306,n
D2k+1,l+100 Qm+312,n
D2k+1,l+102 Qm+318,n
D2k+1,l+104 Qm+324,n
D2k+1,l+106 Qm+330,n
D2k+1,l+108
D2k+1,l+110
D2k+1,l+112
D2k+1,l+114
P2k+1,l+116
P2k+1,l+118
P2k+1,l+120
P2k+1,l+122
P2k+1,l+124
P2k+1,l+126

――――― [JIS X 6147 pdf 90] ―――――

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JIS X 6147:2001の引用国際規格 ISO 一覧

  • ISO/IEC 18810:2001(IDT)

JIS X 6147:2001の国際規格 ICS 分類一覧

JIS X 6147:2001の関連規格と引用規格一覧

規格番号
規格名称