JIS X 6149:2003 情報交換用８ｍｍ幅，磁気テープカートリッジ－ヘリカル走査記録－マンモステープ２様式 | ページ 13

56
X 6149 : 2003 (ISO/IEC 18836 : 2001)
                                                         Rf0
                                                                    0
             R
                                                                        S
                     LED                                 Rf1        1
  E                                       Di             A
                                                                      V
                                    附属書A図 2 測定回路

――――― [JIS X 6149 pdf 61] ―――――

                                                                                             57
                                                                X 6149 : 2003 (ISO/IEC 18836 : 2001)
                      附属書B(規定)テープの研磨性測定法
B.1 概要 テープの研磨性は,テープがテープ走行系を磨耗させる度合いとする。
B.2   取付け 附属書B図1に示す清浄な試験用バーを附属書B図2に示す試験用固定具に取り付ける。
試験用の刃は,上向けに取り付け,磨耗のない,かつ,1 m以上の欠けがないこととする。試験用の刃の
曲率半径は,113 m以下とする。
  試験用バーの成分及び重量比は,次による。
   A l5.4%
   Si 9.6%
   Fe 85.0%
  バーの4面すべての表面仕上げは,N2 (0.05 m) 以上とする。
  試験用バーの正方形からのずれは,0.5 mm以内とする。
B.3   測定方法 バーに対するテープの巻付け角度が片側15°合計30°になるよう試験用固定具をテープ
装置に取り付ける(B.2参照)。
  バーにおけるテープ張力を0.13 N±0.02 Nに設定する。
  相対湿度を50 %±10 %に設定する。
  テープを速度25.4 mm/sで,バーの上を1回走行させる。バーを通過するテープの長さを39.5 m±0.5 m
とする。
  テープ装置から試験用固定具を取り外し,試験用バーの磨耗した部分の長さを測定する。この測定には,
倍率が300倍の顕微鏡,カメラ及び網線を使用するとよい。
  測定は,磨耗パターンの幅の1/4,1/2及び3/4の部分で行い,3回の平均から長さを測定する。附属書B
図3に磨耗パターンと測定点を示す。
                                                             4.5 mm
                            18 mm                          ±0.3 mm
                                附属書B図 1 研磨性試験用バー

――――― [JIS X 6149 pdf 62] ―――――

58
X 6149 : 2003 (ISO/IEC 18836 : 2001)
                               巻きつけ角度15℃         試験用バー
                                  附属書B図 2 試験用固定具
                                                   摩耗パターン長
                                     3/4
                               1/2                                   テープ幅
                           1/4
                                  附属書B図 3 磨耗パターン

――――― [JIS X 6149 pdf 63] ―――――

                                                                                             59
                                                                X 6149 : 2003 (ISO/IEC 18836 : 2001)
                   附属書C(規定)論理ブロックのCRCの生成
  論理CRCの生成は,次のGF(2)の生成多項式による。
                         g(x)   x32  x28  x26  x19  x17  x10  x6   x2  1
  論理CRCは,情報多項式にx32を乗じて(乗算し),次にg(x)で除算して得られる剰余とする。情報多項
式の最上位係数は,データの最初のバイトのビット7とし,最下位係数はデータの最後のバイトのビット
0とする。
  CRC多項式は,CRCレジスタで情報多項式をシフトする前,初期値 (FFFFFFFF) に設定する。

――――― [JIS X 6149 pdf 64] ―――――

60
X 6149 : 2003 (ISO/IEC 18836 : 2001)
                      附属書D(規定)ECC3チェックバイト
  8ビットガロア体の生成多項式gf(x)は,次による。
                         gf (x)  x8  x4   x3  x2  1
  各8ビットバイトのガロア体の原始元は,上記の生成多項式によって生成する。α0, α1, α2, α3,···, α254
は,生成多項式gf (x)によって生成される255個の非ゼロ原始元を示す。ECC3チェックバイトの生成は,
次の生成多項式による。
                         gf (x)  x2     愀
  ECC3情報多項式は,ECC3ブロックから生成する。最初のバイトは,情報多項式の最上位項の係数とす
る。最後のバイトは,情報多項式の最下位項の係数とする。情報生成多項式は,x2で積算し,次にg (x)で
除算して,剰余を求める。剰余は,2個のECC3チェックバイトとする。
                                                         ECC3         ECC3
          ブロック1ブロック2ブロック3                   ブロック1    ブロック2
                                      チェックサムバイト
                               ・・・                        ECC3    ECC3
                                リードソロモンコードワード
                                 附属書D図 1 ECC3ブロック
  ECC3コードワードは,各ブロックから対応するバイトを抽出して算出する。物理ヘッダ及びCRCは,
ECC3の計算には含まない。各情報多項式は,ECC3グループにあるバイト数(最大253個)を含む。

――――― [JIS X 6149 pdf 65] ―――――

次のページ PDF 66