JIS X 6175:2006 情報技術―情報交換用１２．７ｍｍ幅，３８４－トラック磁気テープカートリッジ―ウルトリウム１様式

                                                                X 6175 : 2006 (ISO/IEC 22050 : 2002)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)/
財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,
日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  制定に当たっては,日本工業規格(日本産業規格)と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格(日本産業規格)の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,ISO/IEC 22050:2002,Information
technology−Data interchange on 12.7 mm,384-track magnetic tape cartridges−Ultrium-1 formatを基礎として用
いた。
  この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について,責任をもたない。
  JIS X 6175には,次に示す附属書がある。
    附属書A(規定)ビットシフトの測定
    附属書B(規定)広帯域信号対雑音比測定
    附属書C(規定)テープの研磨性試験方法
    附属書D(規定)LTOカートリッジメモリ
    附属書E(規定)テープ曲げ剛性試験
    附属書F(規定)LTO CMの電気的インタフェース
    附属書G(参考)輸送条件
    附属書H(参考)不良テープ
    附属書I(参考)ベンダコードリスト

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS X 6175 pdf 1] ―――――

X 6175 : 2006 (ISO/IEC 22050 : 2002)

pdf 目次

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1. 適用範囲・・・・[1]
•  2. 適合性・・・・[1]
•  2.1 磁気テープカートリッジ・・・・[1]
•  2.2 生成システム・・・・[2]
•  2.3 受領システム・・・・[2]
•  3. 引用規格・・・・[2]
•  4. 定義・・・・[2]
•  5. 表記法・・・・[5]
•  5.1 数字の表現・・・・[5]
•  5.2 寸法・・・・[5]
•  5.3 名称・・・・[5]
•  5.4 英数字文字列符号化・・・・[5]
•  6. 略号・・・・[5]
•  7. 環境条件及び安全性・・・・[6]
•  7.1 カートリッジ及びテープの試験環境条件・・・・[6]
•  7.2 カートリッジ使用環境条件・・・・[6]
•  7.3 カートリッジの保存環境条件・・・・[6]
•  7.4 テープ張力・・・・[6]
•  7.5 安全性・・・・[7]
•  7.6 燃焼性・・・・[7]
•  7.7 輸送・・・・[7]
•  8. カートリッジの寸法及び機械的特性・・・・[7]
•  8.1 カートリッジの要素・・・・[7]
•  8.2 ケースの基準面(図2)・・・・[8]
•  8.3 ケースの寸法・・・・[8]
•  8.4 書込み禁止機構(図3及び図5)・・・・[12]
•  8.5 ケースの柔軟性・・・・[12]
•  8.6 テープリール・・・・[12]
•  8.7 磁気テープ・・・・[15]
•  8.8 リーダピンアセンブリ・・・・[15]
•  8.9 LTO CM(図18)・・・・[17]
•  8.10 カートリッジ検知領域(図3)・・・・[17]
•  8.11 ハンドリンググリップ及び挿入表示(図19)・・・・[17]
•  8.12 パッド印刷領域(図19)・・・・[18]

――――― [JIS X 6175 pdf 2] ―――――

                                                          X 6175 : 2006 (ISO/IEC 22050 : 2002)

pdf 目次

ページ

•  8.13 不透明性・・・・[18]
•  9. テープの機械的・物理的特性及び寸法・・・・[31]
•  9.1 材料・・・・[31]
•  9.2 テープ長・・・・[32]
•  9.3 テープ幅・・・・[32]
•  9.4 テープ厚さ・・・・[32]
•  9.5 長手方向の湾曲・・・・[33]
•  9.6 縁品質・・・・[33]
•  9.7 テープ平面性・・・・[34]
•  9.8 塗布面の接着強度・・・・[34]
•  9.9 層間の粘着・・・・[35]
•  9.10 摩擦係数・・・・[36]
•  9.11 表面品質・・・・[37]
•  9.12 研磨性・・・・[37]
•  9.13 引張り強度・・・・[37]
•  9.14 長手方向の弾力性・・・・[38]
•  9.15 残留伸び・・・・[38]
•  9.16 曲げ剛性・・・・[38]
•  9.17 幅方向寸法安定性・・・・[38]
•  9.18 塗布面の電気抵抗・・・・[38]
•  10. 磁気記録特性・・・・[39]
•  10.1 概要・・・・[39]
•  10.2 試験条件・・・・[39]
•  10.3 最適記録電流・・・・[39]
•  10.4 信号振幅・・・・[40]
•  10.5 分解能・・・・[40]
•  10.6 重ね書き・・・・[40]
•  10.7 消去性能・・・・[40]
•  10.8 広帯域信号対雑音比・・・・[40]
•  10.9 テープ品質・・・・[40]
•  11. サーボバンドの記録方法・・・・[40]
•  11.1 概要・・・・[40]
•  11.2 サーボバンド・・・・[41]
•  11.3 サーボフレーム符号化・・・・[44]
•  11.4 サーボバンド位置・・・・[48]
•  11.5 サーボバンドピッチ・・・・[48]
•  11.6 公称サーボ位置・・・・[48]
•  11.7 長周期平均サーボ位置・・・・[48]
•  12. データトラックの記録方法・・・・[48]

(pdf 一覧ページ番号 3)

――――― [JIS X 6175 pdf 3] ―――――

X 6175 : 2006 (ISO/IEC 22050 : 2002)

pdf 目次

ページ

•  12.1 物理的記録密度・・・・[48]
•  12.2 公称ビットセル長・・・・[49]
•  12.3 長周期平均ビットセル長・・・・[49]
•  12.4 短周期平均ビットセル長(STA)・・・・[49]
•  12.5 STA変化率・・・・[49]
•  12.6 ビットシフト・・・・[49]
•  12.7 記録特性試験条件・・・・[49]
•  12.8 トラックシーケンスアドレッシング・・・・[49]
•  12.9 データトラックの位置・・・・[49]
•  12.10 トラック幅・・・・[50]
•  12.11 隣接トラックピッチ・・・・[50]
•  12.12 アジマス・・・・[50]
•  12.13 全文字スキュー・・・・[51]
•  12.14 チャネル配置・・・・[51]
•  13. フォーマット・・・・[51]
•  13.1 概要・・・・[51]
•  13.2 保護レコード・・・・[52]
•  13.3 圧縮保護レコードの順序・・・・[53]
•  13.4 データセット・・・・[55]
•  13.5 データセット情報表 (DSIT)・・・・[56]
•  13.6 ECC・・・・[61]
•  13.7 コードワードクワッド(CQ)・・・・[65]
•  13.8 論理トラックへのCQの配置・・・・[68]
•  13.9 データ乱数化・・・・[68]
•  13.10 RLL符号化・・・・[69]
•  14. テープ上へのデータの記録・・・・[70]
•  14.1 同期データセット・・・・[70]
•  14.2 書込み等価ビット符号化・・・・[72]
•  14.3 テープ上への書込みセル・・・・[72]
•  15. テープ上の領域・・・・[72]
•  15.1 論理箇所及び領域・・・・[72]
•  15.2 校正領域・・・・[74]
•  15.3 使用者データ領域・・・・[74]
•  15.4 中断データセット・・・・[74]
•  15.5 CQセットの再書込み・・・・[74]
•  15.6 アンブルCQ・・・・[75]
•  15.7 ラップの始端 (BOW)・・・・[76]
•  15.8 ラップの終端 (EOW)・・・・[76]
•  15.9 追記録及び重ね書き・・・・[76]

――――― [JIS X 6175 pdf 4] ―――――

                                                          X 6175 : 2006 (ISO/IEC 22050 : 2002)

pdf 目次

ページ

•  15.10 サーボトラッキング欠陥・・・・[77]
•  附属書A(規定)ビットシフトの測定・・・・[78]
•  附属書B(規定)広帯域信号対雑音比測定・・・・[79]
•  附属書C(規定)テープの研磨性試験方法・・・・[81]
•  附属書D(規定)LTOカートリッジメモリ・・・・[83]
•  附属書E(規定)テープ曲げ剛性試験・・・・[97]
•  附属書F(規定)LTO CMの電気的インタフェース・・・・[99]
•  附属書G(参考)輸送条件・・・・[116]
•  附属書H(参考)不良テープ・・・・[117]
•  附属書I(参考)ベンダコードリスト・・・・[118]

(pdf 一覧ページ番号 5)

――――― [JIS X 6175 pdf 5] ―――――

次のページ PDF 6