JIS X 6175:2006 情報技術―情報交換用１２．７ｍｍ幅，３８４－トラック磁気テープカートリッジ―ウルトリウム１様式 | ページ 8

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X 6175 : 2006 (ISO/IEC 22050 : 2002)
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                                     図 18 LTO CMの位置

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                      図 19 ハンドリンググリップ及びカートリッジ挿入表示

9. テープの機械的・物理的特性及び寸法

9.1 材料

 テープは,ガラス転移点が125 ℃より高いベース材料[ポリエチレン2.6−ナフタレート
(PEN) 又は同等品]からなる。ガラス転移点は,tan (δ) の極大値の温度と定義する(ASTM D 4092-01:1996
及びASTM D 4065-01:1995参照)。ベース材料は,その片面に適切なバインダに分散した強磁性体の強固
で柔軟性の層を塗布する。テープの裏面は,非強磁性体の導電性塗布液を塗布する。

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  リーダテープは,ポリエチレンテレフタレート(又は同等品)のベース材料からなる。前面及び裏面に
塗布層があってもよい。
  スプライシングテープは,片面にアクリル系(又は同等品)接着剤を塗布したポリエチレンテレフタレ
ート(又は同等品)からなるものとし,磁気テープの裏面側にはり付ける。

9.2 テープ長

9.2.1  磁気テープ長 接合部からハブまでのテープ長は,次による。
    タイプA  : 609.0 m±1.0 m
    タイプB  : 319.0 m±1.0 m
    タイプC  : 203.0 m±1.0 m
    タイプD  : 87.0 m±1.0 m
9.2.2  リーダテープ長 リーダテープ長は,900 mm±30 mmとする。
  リーダテープ及び磁気テープは,重ねて接合してはならない。リーダテープ及び磁気テープは,スプラ
イシングテープ部でカールしたり盛り上がった隅又は縁がない平たんなものでなければならない。リーダ
テープと磁気テープの終端との間隔は,0.20 mm未満とする。
  接合部でのリーダテープと磁気テープとのオフセットは,0.30 mm未満とする。リーダテープの下端は,
磁気テープの下端と1° 以内の傾きとする。
9.2.3  スプライシングテープ長 スプライシングテープ長は,14.0 mm±1.0 mmとする。
  スプライシングテープは,リーダテープの端から6.0 mm8.0 mmの範囲とし,磁気テープ端から6.0 mm
8.0 mmの範囲とする。

9.3 テープ幅

9.3.1  磁気テープ幅 テープ幅は,縁から縁までテープを横切って測定することとし,12.650 mm±0.006
mmとする。テープ幅の偏差は,0.006 mm以下とする。
9.3.2  リーダテープ幅 リーダテープ幅は,12.650 mm±0.010 mmとする。
9.3.3  スプライシングテープ幅 スプライシングテープ幅は,12.20 mm±0.20 mmとする。
  リーダテープ及び磁気テープの幅を横切る位置並びにスプライシングテープの幅は,スプライシングテ
ープの下端が他の二つのテープの下端から0.40 mm0.05 mmの範囲とし,スプライシングテープの上端
は,他の二つのテープの上端から0.40 mm0.05 mmの範囲とする。
9.3.4  試験方法 試験方法は,次による。
a) テープを平らに保つ。
b) テープに張力を加えないで,校正済み顕微鏡,プロファイルプロジェクタ又は同等品で1 μm以上の
    精度のものを用いて,幅を測定する。
c) 測定は,100 mm離れた点で9回繰り返す。
d) テープ幅は,測定した幅の平均値とする。
e) テープ幅の偏差は,測定値の最大値と最小値との差とする。

9.4 テープ厚さ

 テープの総厚は,ベースフィルム,磁性層,下塗り層及び裏面塗布層からなる。テー
プの平均総厚は,8.9 μm±0.3 μmとする。
  リーダテープの総厚は,17.0 μm±1.0 μmとする。
  スプライシングテープの厚さは,最大24.0 μmとする。
  接合した位置の総厚は,リーダテープ及びスプライシングテープからなり,42.0 μmを超えてはならな
い。

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9.4.1  試験方法 試験方法は,次による。
a) 測定方法は,10枚以上のテープを重ねて測定し,精度0.04 μm又はそれ以上で平均厚さを求める。
b) テープ長2.0 mに沿って最低10回を測定する。
c) テープの総厚は,測定した厚さの平均値とする。

9.5 長手方向の湾曲

 テープ縁の湾曲半径は,33 m以上とする。
9.5.1  試験方法 試験方法は,次による。
  テープ長1.0 mを巻きほぐし,平滑面上で自然な湾曲を出すテープ長1.0 mの弦からの偏差を測定する。
偏差は,3.8 mm以下とする。この偏差値は,最低33 mの半径の湾曲に相当する。

9.6 縁品質

 テープは,その縁が均一で欠陥がないように製造する。
9.6.1  縁偏差 サンプル長50 mmにわたる計算縁位置からテープ基準縁までの偏差は,3.5 μm以下とす
る。この測定は,サンプルに1.00 N±0.05 Nの張力を加えて,精度0.5 μmで次の試験方法又は同等の方法
で行う。
9.6.1.1  試験方法
a) 450 mmのサンプルに1.00 N±0.05 Nの張力を加える。
b) 校正済みの縁位置センサ(図20参照)を用いて,精度0.5 μm又はそれ以上でサンプルのテープ縁250
    mmにわたって0.25 mm間隔で測定する。テープは,測定点で平らに保つこととする。
c) 最初の50 mm長の縁位置データを用いて,線形回帰分析で全長の縁位置を計算する(図21参照)。
d) この長さのうちで縁測定の最大偏差を計算した縁位置から決定する(図21参照)。
e) 次の50 mm長の計算の開始位置を0.25 mm間隔で移動する。
f)  c),d)及びe)を,テープ縁の250 mmにわたって50 mmずつ繰り返す。
g) 縁の偏差は,d) からの801個の値の平均とする。
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                                      図 20 縁偏差の測定

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                                         図 21 縁偏差

9.7 テープ平面性

 テープは,自然で平らに置いた状態で測定することとし,平面性は,カッピング,
カール及びツイストを規定する。
9.7.1  カッピング テープが幅方向に平面から浮き上がる量は,負のカッピングとして0.0 mm1.5 mm
とする。負のカッピングは,磁気層を上向きにしてテープを平面の上に置いたとき,テープの中心縁から
の浮き上がりとする。
9.7.1.1  試験方法 試験方法は,次による。
  テープを長さ1.0 m±0.1 m切り取る。これを24時間以上7.1の試験環境下につり下げ,その両面を同じ
環境下に自然に放置する。テープから長さ約300 mmの試験片を切り取る。これを磁性面を上にして光学
的な平面上に置き,テープの端が平面に着いていることを確かめる。テープの中心100 mmをカッピング
測定に用いる。精度0.01 mm以上の光学コンパレータを用い平面からの最大浮き上がり量を測定する。25
mm間隔でこの測定を4回繰り返す。カッピングは,これら5回の測定の平均値とする。
9.7.2  カール及びツイスト カールは,テープを自然に放置したとき,長手方向の湾曲とする。カールは,
テープを自然につり下げたときに生じるツイストを測定する。ツイストは,15° の精度で0°±180° を測定
する。
9.7.2.1  試験方法 試験方法は,次による。
  テープの0.50 m±0.05 mの長さに切り取る。その一端に200 mgのおもりを付ける。これを24時間以上
7.1の試験環境下に一端から垂直につり下げて,両面を同じ環境下に自然に放置する。カールがないとき,
テープは,ツイストしないでまっすぐ下につり下がる。カールがあるとき,保持している端に対してテー
プの底がツイストし始める。ツイストは,保持している端に対する回転角度で測定する。

9.8 塗布面の接着強度

 塗布層をベース材料からは(剥)がす力は,1.0 N以上とする。
9.8.1  試験方法
a) 長さ約380 mmのテープの試験片を取り出し,その一端から125 mmの箇所に記録層の幅を横切って
    けがき線を一本引く。
b) 非アクリルベースの両面感圧テープを用いて試験片の全幅に平滑な金属板を付ける。記録面を金属板
    に向ける(図22参照)。
c) 試験片をけがき線に沿って180° 折り曲げ,試験片の自由端と金属板とを万能試験機に取り付け,速
    度1 000 mm/minで引っ張る。

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