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図4 ディスク及びハブ
(2) 磁性層の有効領域 磁性層の有効領域は,次に示す半径の二つの円で囲まれる範囲とする。
内半径=20.6mm
外半径=42.0mm
4.4 ハブ ハブは,図4に示すように中央部とフランジ部で構成する。
(1) 大きさ 中央部の直径 (D5),フランジ部の直径 (D6),中央部の面からディスクの0面までの距離 (L34)
及びL34の測定位置の半径 (R7) は,次のとおりとする。
D5 =25.00+0.00mm
−0.15mm
D6 ≦31.15mm
L34=1.36 ±0.10mm
R7 =14mm 公称値
(2) 位置決め孔 ハブには,中心孔と駆動孔の二つの位置決め孔を設ける。
(a) 中心孔 中心孔の正方形の1辺の長さ (L35),ディスク回転中心からの位置 (L36) 及び角部の半径
――――― [JIS X 6221 pdf 6] ―――――
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(R5) は,次のとおりとする。
L35≧4.00mm
L36=1.9955mm
R5 =1.0 ±0.3mm
ディスクの回転中心は,ディスクの幾何学的中心の0.5mm以内とし,位置は,孔の2辺について
測定する。
(b) 駆動孔 駆動孔は,直交する2本の基準線A,Bによって規定する。その角度 ( 最 孔の大きさ (L37,
L38),基準線A,Bからの位置 (L39,L40),3か所の角部の半径 (R5) 及び4番目の角部の半径 (R6) は,
次のとおりとする。
柿 15±3°
L37=8.0 ±0.3mm
L38≧4.5mm
L39=2.0 ±0.2mm
L40=10.00±0.15mm
R5 =1.0 ±0.3mm
R6 =2.0 ±0.1mm
4.5 ノッチ ノッチを付ける場合,基準線Xからの位置 (L41),大きさ (L42,L43) 及び基準面XYからの
深さ (L44) は,図1,図2及び次のとおりとする。
L41=7.50±0.15mm
L42≧3.0mm
L43=4.2 ±0.2mm
L44≧2.0mm
4.6 フレキシブルディスクとディスク装置との接触断面 フレキシブルディスクをドライブに装着した
とき,基準面XYからのハブ中央部表面の位置 (L46),ケース1面の厚さ (E3),L47とL48で規定された環状
帯の厚さ (E4) 及び環状帯の位置 (L47,L48) は,図5及び次のとおりとする。
L46=0.3mm 公称値
E3 =1.3 ±0.1mm
E4 ≦2.5mm
L47=22.6mm
L48=21.7±0.2mm
――――― [JIS X 6221 pdf 7] ―――――
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図5 フレキシブルディスク接触断面図
4.7 可とう(撓)性 フレキシブルディスクは,附属書2に示す試験方法で試験するとき,P1P4にフ
レキシブルディスクが接触しなければならない。
5. 材料
5.1 ケース ケースは,適切な材料(例えば,ABS樹脂)とする。
5.2 ライナ ライナは,ディスクを傷つけないでほこりを除去できる材料(例えば,不織布)とする。
5.3 ディスク ディスクは,適切なベース(例えば,2軸に延伸したポリエチレンテレフタレート)の両
面に強固で柔軟性のある磁性塗膜(例えば,磁性材としてCo− 最 攀 いた塗膜)を形成したものとす
る。
5.4 ハブ ハブは適切な材料(例えば,SUS 430又はこれと同等な磁気特性を有する材料)とする。
6. トラック
6.1 トラック数 記録面には,磁性層の有効領域に80本の同心のトラックを有する。
6.2 トラック番号 トラック番号は,外周から始まる00から79までの10進2けたの数字で表す。
6.3 トラック幅 記録されたトラック幅は,0.115±0.008mmとする。ただし,この場合,隣接するトラ
ックの間は,消去されているものとする。
なお,トラック幅の測定方法は,附属書3による。
6.4 トラック位置 トラック位置は,次のとおりとする。
(1) トラック番号とトラック半径の関係 トラック中心線の半径の公称値 (Rn) は,次式による値とする。
Rn=X−0.187 5n
ここに, Rn : トラック中心線の半径の公称値 (mm)
X : 0面の場合39.500mm,1面の場合38.000mm
n : トラック番号 (0079)
(2) トラック半径の許容差 試験時における各トラック半径の許容差は,10.1で測定したとき,±0.020mm
とする。
7. 物理的・機械的特性
7.1 燃焼性 ディスク,ケース及びライナの材料は,マッチの炎によって着火しても差し支えないが,
二酸化炭素中で燃焼し続けてはならない。
――――― [JIS X 6221 pdf 8] ―――――
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7.2 ディスクの熱線膨張係数 ディスクの熱線膨張係数は, (17±8) ×10−-/℃とする。
7.3 ディスクの湿度線膨張係数 ディスクの湿度線膨張係数は, (015) ×10−6/%RHとする。
7.4 トルク 始動トルク及び回転トルクは,次のとおりとする。
(1) 始動トルク ヘッドをディスクに接触させない状態で,始動トルクは,0.006N・mを超えてはならない。
(2) 回転トルク ヘッドをディスクに接触させない状態で,ディスクの回転を維持するのに必要なトルク
は,0000 50.002 5N・mとする。ただし,回転数は,300±3rpm及び600±6rpmとする。
7.5 シャッタ機構 シャッタは,フレキシブルディスクをドライブに装着するとき及びドライブから取
り出すとき,自動的に開閉する機構を有し,その開閉力は閉じた位置で0.2N以上,開いた位置で1N以下
とする。
7.6 書込み禁止孔 この孔は,機械的なスイッチ又は光学的検出器と共に利用され,閉じた状態のとき
にだけディスクへの記録を可能とするために用いる。書込み禁止孔を閉じたとき,閉じた部分はディスク
カートリッジ表面より飛び出さないものとし,3Nの荷重をかけても0.3mmを超えるへこみを生じてはな
らない。
また,附属書4に示す光学系を用いて測定したとき,書込み禁止孔における光透過率は閉じた状態で1%
以下とする。
8. 電気的・磁気的特性
8.1 平均信号振幅 平均信号振幅は,標準フレキシブルディスク(1)を用いて同じ条件で記録したときの
標準振幅に対して,トラック00の1f出力は130%以下,トラック79の2f出力は80%以上とする(10.2参
照)。
注(1) 電気的・磁気的特性の測定に用いる標準フレキシブルディスクは,副標準フレキシブルディス
クに代えることができる。
8.2 分解能 トラック79において,2fの平均信号振幅を1fの平均信号振幅で除した値は,標準フレキ
シブルディスクを用いて測定したときの値に対して80%以上とする。この試験は,両面において行わなけ
ればならない。
8.3 ピークシフト ピークシフトは,附属書5の方法で測定したとき,標準フレキシブルディスクを用
いて同じ条件で測定したときの値に対して63137%とする。この試験は両面のトラック79において行わ
なければならない。
なお,ピークシフトは次式で表す。
T T
ピークシフト=
2
ここに, T : 再生波形における1対のビット間隔の周期の平均。テストパタ
ーンDB6における値と,B6Dにおける値の平均とする。
T : 2fパターンの周期で,600rpmのとき2 300rpmのとき4
とする。
8.4 重ね書き 直流消法[10.2(3)参照]を行った後,トラック00に1fを1周にわたって記録し,1fの
平均信号振幅を測定する。次に消去を行わないで2fを1周にわたって重ね書きし,1fの残留平均信号振幅
を測定する。これらの平均信号振幅の測定には,周波数選択レベル計(セレクティブ電圧計)を使用する。
これらの測定値から次式によって平均信号振幅比を算出したとき,その値は,標準フレキシブルディスク
に対する値の125%以下でなければならない。
――――― [JIS X 6221 pdf 9] ―――――
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2 f記録後の1 f残留平均信号振幅
平均信号振幅比=
1 f平均信号振幅
この試験は,両面において行わなければならない。
8.5 飽和特性 トラック00において,1fの試験周波数で記録し,これを再生するとき,その再生出力電
圧が最大出力電圧(飽和値)の95%となるような最小記録磁界は,基準磁界の±20%に入っていなければ
ならない。
8.6 モジュレーション トラック00における1fのモジュレーション及びトラック79における2fのモジ
ュレーションは,10%以下でなければならない。
なお,モジュレーションは,次式で表す。
A B
モジュレーション (%) = 100
A B
ここに, A : トラック1周のうち最大出力電圧を含む約2 000磁束反転の平
均出力電圧
B : トラック1周のうち最小出力電圧を含む約2 000磁束反転の平
均出力電圧
8.7 トラックの品質
8.7.1 ミッシングパルス 2fのせん(尖)頭値が,その平均信号振幅の21の45%未満のものを,ミッシン
グパルスとする。
8.7.2 エキストラパルス 2fを記録した後,直流消去[10.2(3)参照]を行い,再生された信号のせん(尖)
頭値が,その平均信号振幅の21の20%を超える信号となるものをエキストラパルスとする。
8.7.3 トラックの必要条件 全トラックにおいて,次の条件を満足しなければならない。
(1) トラック00には,ミッシングパルス又はエキストラパルスがあってはならない。
(2) トラック00を除く全トラックにおいては,原則としてミッシングパルス又はエキストラパルスがあっ
てはならない。
9. 耐久性及び耐候性
9.1 耐久性 耐久性は,附属書6の方法で試験する。試験前の再生出力電圧に対する試験後の再生出力
電圧の比は,0.7以上でなければならない。
9.2 耐候性 耐候性は,附属書7の方法で8.の各項目を試験し,それらの規格値を満足しなければなら
ない。
また,この試験によってミッシングパルス又はエキストラパルス数が増加してはならない。
10. 試験条件
10.1 一般試験条件 一般試験条件は,次のとおりとする。ただし,温度及び相対湿度の測定は,フレキ
シブルディスクの近傍の値とする。
また,周辺磁界は,ヘッドによる磁束の集中効果を含めたフレキシブルディスク面上の値とする。
温度 : 23±2℃
相対湿度 : 4060%
試験前放置時間 : 最低24時間
周辺磁界 : 4 000A/m以下
――――― [JIS X 6221 pdf 10] ―――――
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JIS X 6221:1987の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO/DIS 8860-1(MOD)
JIS X 6221:1987の国際規格 ICS 分類一覧
JIS X 6221:1987の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISX0001:1994
- 情報処理用語―基本用語