JIS X 6221:1987 ９０ｍｍフレキシブルディスクカートリッジ（７９５８磁束反転／ｒａｄ） | ページ 4

16
X 6221-1987
                            附属書4 光透過率の測定方法
  附属書4図1及び附属書4図2に示す測定器及び測定回路を用い,測定器に試験片を差し込んだときの
電圧計の読取り値V0と試験片を抜き取ったときの読取り値V1とを測定する。次式によって光透過率t (%)
を求める。
                               1
                        t%        100
                               0
                                      附属書4図1 測定器

――――― [JIS X 6221 pdf 16] ―――――

                                                                                             17
                                                                                    X 6221-1987
                                     附属書4図2 測定回路
                       項目                           仕様
                                  最大放射光の波長 : 攀愀     940±10nm
                                  半値幅 : b=±50nm
                                  ディスクまでの距離 : 
                  発光ダイオード              5.3
                                         L1        mm
                                             2 tan
                                  ここに,懿  発光ダイオードの最大光度の95%以上を
                                             得るために必要な角度
                                  開口厚 : 1.21.4mm
                                                  愀
                                  開口径 : D=2L2tan
                  マスク
                                  ここに,L2=L1+1.5mm
                                  表面塗装 : 黒色,つや消し
                  ホトダイオード  受光面 : マスク開口径の100120%
                                               R
                                               f0 1
                  抵抗器          Rf0とRf1の比 :  R
                                               f150
                     (Rf0,Rf1)   精度 : 1%

――――― [JIS X 6221 pdf 17] ―――――

18
X 6221-1987
                         附属書5      ピークシフトの測定方法
1. 試験装置
1.1   測定回路 ピークシフトの測定回路とタイムチャートは,附属書5図1及び附属書5図2に示すと
おりとするこれらの図において,信号a,b,c,···,gは次のとおりとする。
  a :  インデックスパルス トラックの始点と終点を表す。
  b :  インデックスパルスタイマ インデックスパルスによって起動される1msのタイマであり,記録電
      流がオフになったとき不連続記録部のサンプリングを防ぐために用いる。
  c :  再生信号 テストパターンの再生出力であり,1対のビットの最初のビットの立ち上がりはLS 74
      フリップフロップを起動し,立ち上がりはLS 221タイマを起動する。
  d :  ビット周期ウィンドウ LS 221タイマの出力であり,再生信号の1対のビットの2番目のビットの
      立ち上がりとタイミングをとり,LS 74フリップフロップをリセットする。
  e :  ビット周期 LS 74フリップフロップの出力であり,再生信号の一対の2ビット間の時間間隔T'を
      示す。
  f :  サンプリング周期 サンプリング周期は,インデックスパルスタイマがリセットされてから,2番
      目のLS 74フリップフロップがdの後縁によってセットされるときに始まり,次のインデックスル
      スタイマの周期の間に生じる最初のLS 221タイマの後縁によって終わる。
  g :  出力 gの波形は,ビット周期(e)とサンプリング周期(f)の否定論理積であり,時間間隔カウンタに
      送られる。
1.2   LS 221タイマの周期 LS 221タイマの周期は,次のとおりである。
      600rpmのとき3  
      300rpmのとき6  
1.3   時間間隔カウンタ 時間間隔カウンタの分解能は,5ns以上でなければならない。
2. 試験方法
2.1   消去 ディスクを交流でバルク消去する。
2.2   記録 テストパターンDB6 (110110110110110······) を連続して,両面のトラック79に記録する。こ
の記録は,インデックスパルスと共に始まり,インデックスパルスが検出されたときに終わる。
2.3   再生 記録に使用した装置と同じ装置によって再生し,時間間隔カウンタによって時間間隔T'を測
定する。
    備考 装置の回転速度による誤差を最小限にするため,記録した後,直ちに再生する必要がある。
2.4   サンプリング方法
2.4.1  データ記録領域 データ記録領域は,インデックスパルスの後縁から次のインデックスパルスの後
縁までとする。
2.4.2  サンプリング領域 サンプリング領域は,インデックスパルスタイマのリセットから次のインデッ
クスパルスの後縁までとする。
2.4.3  サンプリング方法 サンプリング方法は,サンプリング領域においてすべての時間間隔T' を測定
する。ただし,すべての時間間隔T' を測定することが不可能なサンプリングレートである場合は,サン
プルサイズ(測定数)が1 000以上の条件でランダムサンプリングしてもよい。

――――― [JIS X 6221 pdf 18] ―――――

                                                                                             19
                                                                                    X 6221-1987
2.5   記録電流波形の非対称 記録電流波形の非対称に起因する誤差を除くため,テストパターンB6D
(1011011011011······) を使用して,2.1から2.4を繰り返す。この操作は,標準フレキシブルディスクと試
験に供するディスクの両方に対して行わなければならない。
                            附属書5図1 測定回路(600rpmの場合)
                         附属書5図2 タイムチャート(600rpmの場合)

――――― [JIS X 6221 pdf 19] ―――――

20
X 6221-1987
                              附属書6 耐久性の試験方法
  附属書6表に示すそれぞれの試験条件下において,トラック12にあらかじめ1周にわたって2fを記録
し,1周にわたる再生を300回繰り返した後の再生出力電圧をA0とする。その後,トラック12において,
1周にわたる再生を附属書6表に示す走行回数繰り返す。試験後の再生出力電圧をA1とするとき,A1/A0
によって評価する。
                                    附属書6表 耐久性試験
                     試験条件      温度℃     湿度%RH      走行回数 万パス
                                         04
                     高温試験      51.5        2030              100
                     常温試験      23 ±2      4060              300
                                       40
                     低温試験      10          2040              100
                   備考 温度及び湿度の測定は,フレキシブルディスクの近傍で行う。

――――― [JIS X 6221 pdf 20] ―――――

次のページ PDF 21