JIS X 6233:2017 情報の交換及び蓄積用のデジタル記録媒体―120mm3層(100ギガバイト/ディスク)BD書換形ディスク | ページ 50

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X 6233 : 2017 (ISO/IEC 30193 : 2016)
N.5 一般的な記録パルス調整方法
図N.6に,拡張N−1記録ストラテジの場合の記録パルス評価表が示されている。拡張N/2記録ストラ
テジの記録パルス評価表も同様に得ることが望ましい。
記録パルスパラメタとして,エッジシフト検出に加えて,マーク長及び位置の検出を用いてもよい。マ
ーク長及びマーク位置は,それぞれ,式(N.7)及び式(N.8)による。
マーク長=ΔTE−ΔLE (N.7)
マーク位置=(ΔLE+ΔTE)/2 (N.8)
ここに, ΔTE及びΔLE : 検討中のマークの,立上がりエッジ及び立下がりエ
ッジの,L-SEATエッジシフト
マーク長及びマーク位置は,立上がりエッジ制御パラメタを変え,同時に立下がりエッジに対しては同
じ又は逆方向とする制御をしてもよい。
記録パルスパラメタは,記録パルスパラメタを繰り返して更新してL-SEATエッジシフト評価を行い,
各記録パルス評価表のL-SEATエッジシフト値を小さくすることで決めることが望ましい(図N.9参照)。
上記方法を行った後に,i-MLSEが,規格を満たしていることを確認することが望ましい。
留意事項1 基準ドライブは,事前にI.2に従って調整することが望ましい。基準ドライブの接線方
向の傾き調整の場合には,適応形波形等化器は非対称係数モードに設定することを確認
することが望ましい。
留意事項2 原理的には,記録パルスのシフト方向に記録マークのエッジもシフトするが,dTtop又は
dTLPを変える場合,反対方向にシフトすることがある。
留意事項3 L-SEATエッジシフト値は,先行スペース,記録マーク及び続きのスペースが全て2Tの
場合は検出できない。該当する記録パルスパラメタは,全ての他のパラメタがL-SEAT
エッジシフト値に基づいて決められた後にi-MLSEの値を見て調整できる。

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開始
基準ドライブの初期調整
記録及び読取り
L-SEATシフト評価
パルスパラメータ更新
No
L-SEATシフト
最小・
Yes
終了
図N.9−記録パルス調整のフローチャート

参考文献

  [1] ASTM D1044:2005,Standard Test Method for Resistance of Transparent Plastic to Surface Abrasion.
American Society for Testing and Materials

JIS X 6233:2017の引用国際規格 ISO 一覧

  • ISO/IEC 30193:2016(IDT)

JIS X 6233:2017の国際規格 ICS 分類一覧

JIS X 6233:2017の関連規格と引用規格一覧