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X 6233 : 2017 (ISO/IEC 30193 : 2016)
N.5 一般的な記録パルス調整方法
図N.6に,拡張N−1記録ストラテジの場合の記録パルス評価表が示されている。拡張N/2記録ストラ
テジの記録パルス評価表も同様に得ることが望ましい。
記録パルスパラメタとして,エッジシフト検出に加えて,マーク長及び位置の検出を用いてもよい。マ
ーク長及びマーク位置は,それぞれ,式(N.7)及び式(N.8)による。
マーク長=ΔTE−ΔLE (N.7)
マーク位置=(ΔLE+ΔTE)/2 (N.8)
ここに, ΔTE及びΔLE : 検討中のマークの,立上がりエッジ及び立下がりエ
ッジの,L-SEATエッジシフト
マーク長及びマーク位置は,立上がりエッジ制御パラメタを変え,同時に立下がりエッジに対しては同
じ又は逆方向とする制御をしてもよい。
記録パルスパラメタは,記録パルスパラメタを繰り返して更新してL-SEATエッジシフト評価を行い,
各記録パルス評価表のL-SEATエッジシフト値を小さくすることで決めることが望ましい(図N.9参照)。
上記方法を行った後に,i-MLSEが,規格を満たしていることを確認することが望ましい。
留意事項1 基準ドライブは,事前にI.2に従って調整することが望ましい。基準ドライブの接線方
向の傾き調整の場合には,適応形波形等化器は非対称係数モードに設定することを確認
することが望ましい。
留意事項2 原理的には,記録パルスのシフト方向に記録マークのエッジもシフトするが,dTtop又は
dTLPを変える場合,反対方向にシフトすることがある。
留意事項3 L-SEATエッジシフト値は,先行スペース,記録マーク及び続きのスペースが全て2Tの
場合は検出できない。該当する記録パルスパラメタは,全ての他のパラメタがL-SEAT
エッジシフト値に基づいて決められた後にi-MLSEの値を見て調整できる。
――――― [JIS X 6233 pdf 246] ―――――
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X 6233 : 2017 (ISO/IEC 30193 : 2016)
開始
基準ドライブの初期調整
記録及び読取り
L-SEATシフト評価
パルスパラメータ更新
No
L-SEATシフト
最小・
Yes
終了
図N.9−記録パルス調整のフローチャート
参考文献
[1] ASTM D1044:2005,Standard Test Method for Resistance of Transparent Plastic to Surface Abrasion.
American Society for Testing and Materials
JIS X 6233:2017の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO/IEC 30193:2016(IDT)
JIS X 6233:2017の国際規格 ICS 分類一覧
JIS X 6233:2017の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC60068-2-2:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
- JISC60068-2-30:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-30部:温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法(試験記号:Db)
- JISC6950-1:2016
- 情報技術機器―安全性―第1部:一般要求事項
- JISK7204:1999
- プラスチック―摩耗輪による摩耗試験方法
- JISX0201:1997
- 7ビット及び8ビットの情報交換用符号化文字集合