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X 6246 : 2005 (ISO/IEC 17592 : 2004)
日本工業規格(日本産業規格) JIS
X 6246 : 2005
(ISO/IEC 17592 : 2004)
120 mm (4.7 GB/面)及び80 mm(1.46 GB/面) DVD-書換形ディスク(DVD-RAM)120 mm (4.7 Gbyte per side) nd 80 mm (1.46 Gbyte per side) VDRewritable Disk (DVD-RAM)
序文
この規格は,2004年に第1版として発行されたISO/IEC 17592:Information Technology-120 mm (4.7
Gbytes per side) nd 80 mm (1.46 Gbytes per side) VD Rewritable Disk (DVD-RAM)を翻訳し,技術的内容及び
規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
第1章 一般事項
1. 適用範囲
この規格は,120 mm[4.7ギガバイト(以下,GBという。)/ 面]及び80 mm (1.46GB/ 面) DVD-
書換形ディスク(以下,ディスクという。)の互換性を可能にする機械的特性,物理的特性及び光学的特性
を規定するとともに,情報交換を可能にする記録した信号の品質,データのフォーマット及び記録方法に
ついて規定する。データは,相変化方式を用いて,多数回の書込み,読取り及びオーバライトが可能であ
る。直径によって120 mm及び80 mmの2種類の容量を規定する。
この規格は,次の項目について規定する。
− 二つの関連する異なるタイプのディスク(7.参照)
− 適合条件
− ディスクの試験環境, 使用環境及び保存環境
− データ処理システム間の機械的互換性のためのディスクの機械的特性,物理的特性及び寸法特性
− トラック及びセクタの物理的配置,誤り訂正符号及び符号化方法を含むディスク上の情報のフォー
マット
− データ処理システムがディスクからのデータ読取りを可能にするためのディスク上の記録信号特性
この規格は,ディスクとドライブ間との互換性を与えるものである。ボリューム及びファイル構造の規
格とともに,この規格は,データ処理システム間の完全なデータの互換性を与えるものである。この規格
に規定するディスクは,JIS X 6247に規定するケースに収納してもよい。
備考 この規格の対応国際規格を,次に示す。
なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide21に基づき,IDT(一致している),MOD(修
正している),NEQ(同等でない)とする。
ISO/IEC 17592:2004,Information Technology-120 mm (4.7 Gbytes per side) nd 80 mm (1.46 Gbytes
――――― [JIS X 6246 pdf 6] ―――――
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X 6246 : 2005 (ISO/IEC 17592 : 2004)
per side) VD Rewritable Disk (DVD-RAM) (IDT)
2. 適合性
2.1 光ディスク
この規格は,ディスクのタイプを規定する。ディスクは,ここに規定するすべての要
求事項を満たすとき,この規格に適合する。
2.2 製造システム
フォーマットの製造システムは,製造するディスクが2.1に一致するとき,この規
格に適合する。
2.3 情報再生システム
情報再生システムは,2.1に適合するディスクを取り扱うことができるならば,
この規格に適合する。
3. 引用規格
次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS X 0221-1 国際符号化文字集合(UCS)―第1部 : 体系及び基本多語面
備考 ISO/IEC 10646-1:2000, Information technology−Universal Multiple-Octet Corded Character Set
(USC)−Part 1:Architecture and Basic Multilingual Planeがこの規格と一致している。
JIS X 6247 120 mm及び80 mm DVD-RAM用ケース
備考 ISO/IEC 17594:2004, Information technology−Cases for 120 mm and 80 mm DVD-RAM disks
ECMA-287 Safety of electoronic equipment
4. 定義
この規格で用いる主な用語の定義は,次による。
4.1 ケース(Case) ディスクを保護するための入れ物。
4.2 チャネルビット(Channel bit) 変調後の2値の“0”及び“1”をディスク上のピット又はマークで表す
要素。
4.3 ディジタル総計値(DSV) [Digital Sum Value(DSV) ] 10進数の数値1をビット“1”及び10進数の数
値−1をビット“0”に割り当てることによってビットストリームから得た算術和。
4.4 ディスク基準面(Disk reference plane) ディスクをクランプするための基準となる,ディスク表面
にある環状の平面であって,理想的なスピンドルの回転軸に対して垂直に位置する面。
4.5 ダミー基板(Dummy substrate) ディスク及び/又は記録層を機械的に支持するために用意した透明
又は不透明な基体。
4.6 エンボスマーク(Embossed mark) 光学的方法で変更できないように形成したマーク。
4.7 入射面(Entrance surface) 光ビームが最初に当たるディスクの表面。
4.8 ランド及びグルーブ(Land and Groove) 情報が記録される前に形成されるディスクの溝状構造。ト
ラック位置を明らかにするために用いられ,グルーブは,それと一対でトラックを構成するランドよりも
入射面に近い方に位置する。グルーブの中心及びランドの中心の両方に記録を行う。
4.9 マーク(Mark) ピット,非晶質の形態又は光学的に検出できる形態をもった記録層の造作。マーク
及びスペースのパターンがディスクのデータを表す。
4.10 相変化(Phase change) 記録膜に光ビームを照射して加熱することによって,可逆的に非晶質状態
から結晶状態,又はその逆方向に変化する物理的効果。
4.11 偏光(Polarization) 光波の振動ベクトルの振動方向が規則的なもの及びその状態。光ビームの偏光
――――― [JIS X 6246 pdf 7] ―――――
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X 6246 : 2005 (ISO/IEC 17592 : 2004)
方向は,光ビームの電気ベクトルの方向。
備考 偏光面は,光ビームの伝ぱ(播)方向と電気ベクトルを含む面である。光ビームの伝ぱ(播)方
向から見て,電気ベクトルの終端が時計回りで長円を示す偏光を,右回転偏光という。
4.12 記録層(Recording layer) 製造及び/又は使用時にデータを書き込むディスク上又はディスク内の
層。
4.13 セクタ(Sector) ディスクの情報ゾーンに存在するトラックの中で,アドレス指定可能な最小領域。
4.14 スペース(Space) 非ピット,結晶の形態又は光学的に検出できる形態をもった記録層の造作。マー
ク及びスペースのパターンがディスクのデータを表す。
4.15 基板(Substrate) 記録層を機械的に支持する透明な円盤状の基体。これを通して光ビームで記録層
にアクセスする。
4.16 トラック(Track) 360°回転の連続スパイラル。
4.17 トラックピッチ(Track pitch) 隣接するトラック(グルーブ及びランド)中心線間の半径方向の距離。
4.18 ZCLV(ZCLV) ゾーン間で定線速度動作に必要なディスクフォーマット。
4.19 ゾーン(Zone) ディスクの環状領域。
5. 慣例及び表記法
5.1 数値表示
測定値は,該当規格値の最下位けた(桁)に丸める。例えば,+0.01のプラス許容差と−
0.02のマイナス許容差をもつ1.26という規格値は,1.235以上1.275未満の測定値の範囲を許容する。
10進数は,0から9までの数字で表す。
16進数は,括弧でくくった,0から9までのアラビア数字とAからFまでのアルファベット
で表す。
ビットの設定は,“0”及び“1”で表す。
2進数及びビットパターンは,左側を最上位ビットとし,“0”及び“1”の一連で表す。
2進数の負の値は,2の補数として表す。
各フィールドで,データは,バイト0とする最上位のバイト(MSB)を最初に記録し,最下位バイト(LSB)
を最後に記録する。
8nビットのフィールドで,ビットb(8n−1)は,最上位ビット(msb)とし,ビットb0は,最下位ビット(lsb)
としなければならない。
ビットb(8n−1)を最初に記録する。
“0”又は“1”どちらかをとれる2進の数字は,“x”で表す。
6. 略語
AM : Address Mark アドレスマーク
BCA : Burst Cutting Area バーストカッティング領域
BPF : Band Pass Filter 帯域フィルタ
DCC : DC Component Suppress Control 直流成分抑圧制御
DDS : Disk Definition Structure ディスク定義構造
DMA : Defect Management Area 欠陥管理領域
DSV : Digital Sum Value ディジタル総計値
――――― [JIS X 6246 pdf 8] ―――――
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X 6246 : 2005 (ISO/IEC 17592 : 2004)
ECC : Error Correction Code 誤り訂正符号
EDC : Error Detection Code 誤り検出符号
HF : High Frequency 高周波
ID : Identification Data 識別データ
IED : ID Error Detection Code ID誤り検出符号
LPF : Low Pass Filter 低域フィルタ
lsb 最下位ビット
: least significant bit
LSB : Least Significant Byte 最下位バイト
LSN : Logical Sector Number 論理セクタ番号
msb : most significant bit最上位ビット
MSB : Most Significant Byte 最上位バイト
NRZ : Non Return to Zero 非ゼロ復帰
NRZI : Non Retum to Zero Inverted 非ゼロ反転復帰
PA : Postamble ポストアンブル
PDL : Primary Defect List 一次欠陥管理表
PED : P(ID) rror Detection code 物理ID誤り検出符号
PI : Parity of Inner-code 内符号パリティ
PID : Physical Identification Data 物理識別データ
PLL : Phase-Locked Loop 位相同期ループ
PO : Parity of Outer-Code 外符号パリティ
PS : Pre-Synchronous Code プリシンク符号
RS : Reed-Solomon Code リードソロモン符号
SDL : Secondary Defect List 二次欠陥管理表
SLR : Status of Linear Replacement リニアリプレイスメントの状態
SYNC Code : Synchronous Code 同期符号
VFO : Variable Frequency Oscillator VFO信号
ZCLV : Zoned Constant Linear Velocity ゾーン化された線速度一定方式
7. ディスクの概要
この規格で規定するディスクは,記録層を内側にして,2枚の基板を接着層ではり
合わせた構造をもつ。ディスクの中心位置決めは,読取り側のディスク中心孔のエッジで行う。クランプ
は,クランプゾーンで行う。クランプゾーンの最内周からリードアウトゾーンの最外周までの領域は,接
着剤によって接着する。この規格は,次の二つのタイプについて規定する。
タイプ1S 一つの基板,一つの記録層及びダミー基板からなり,記録層には,一方向だけからアクセス
できる。公称容量は,120 mm ディスクは4.7ギガバイト,80 mm ディスクは1.46ギガバイトである。
タイプ2S 二つの基板,二つの記録層からなり,ディスクの片面からは,一つの記録層だけにアクセス
できる。公称容量は,120 mm ディスクは9.4ギガバイト,80 mm ディスクは2.92ギガバイトである。
――――― [JIS X 6246 pdf 9] ―――――
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X 6246 : 2005 (ISO/IEC 17592 : 2004)
タイプ1Sでは,ダミー基板は,例えば,エンボスしてもよい。
JIS X 6247 に規定したケースを使用するとき,タイプ1Sの120 mmディスクは,タイプ1,タイプ
2,タイプ3又はタイプ5のケースタイプのいずれに収納してもよい。タイプ2Sの120 mmディスクは,
タイプ1,タイプ3,タイプ4又はタイプ5のケースタイプのいずれに収納してもよい。タイプ1Sの80 mm
ディスクは,タイプ7又はタイプ9のケースタイプのいずれに収納してもよい。タイプ2Sの80 mmディ
スクは,タイプ6又はタイプ8のケースタイプのいずれに収納してもよい。
データは,非晶質状態及び結晶状態の間の相変化効果を利用して,結晶の記録層に非晶質部分を形成し
てマークとしてディスクに書込み,また集束光でその上にオーバライトすることができる。データは,非
晶質状態及び結晶状態の間の相変化効果を利用して,集束光で読み取ることができる。光ビームは,ディ
スクの透明基板を通して記録層にアクセスする。
ディスクの一部分は,製造業者によってエンボスピットの形で形成された再生専用データを含む。こ
のデータは,エンボスピットによる光ビームの回折を利用して読み取ることができる。図1に,これらの
二つのタイプを図示する。
入射面
基板
記録層
タイプ 1S
接着層
ダミー基板
入射面
基板
記録層
タイプ 2S
接着層
記録層
入射面 基板
図1 DVD-RAMディスクのタイプ
8. 一般要求事項
8.1 環境条件
8.1.1 試験環境条件 試験環境条件は,ディスク近傍の環境条件とし,次による。
温度 : 23 ℃±2 ℃
相対湿度 : 50 %±5 %
大気圧 : 86106 kPa
ディスク上に結露があってはならない。試験前に,ディスクを最少48時間この環境条件に放置するも
のとする。試験前に,光ディスクの読取り表面をディスク製造業者の指示書に従って清浄することを推奨
――――― [JIS X 6246 pdf 10] ―――――
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JIS X 6246:2005の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO/IEC 17592:2004(IDT)
JIS X 6246:2005の国際規格 ICS 分類一覧
JIS X 6246:2005の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISX0221-1:2001
- 国際符号化文字集合(UCS) ― 第1部:体系及び基本多言語面
- JISX6247:2005
- 120mm及び80mmDVD-RAMディスク用ケース