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X 6277 : 2012 (ISO/IEC 15041 : 1997)
4.34
リードソロモン符号(Reed-Solomon code)
誤り検出符合及び/又は誤り訂正符号の一つ。特に,バーストエラー又は高い相関をもつ誤りの訂正に
向いている。
4.35
セクタ(sector)
ディスクの情報ゾーンにあるアドレス指定可能な最小単位のトラックの部分。
4.36
スペース(space)
トラックに沿ったマーク間の領域。
4.37
スピンドル(spindle)
ディスク及び/又はハブに接触するディスク駆動装置の一部。
4.38
基板(substrate)
記録層を機械的に支持する透明なディスク構成層。光ビームはこの層を通して記録層に入射する。
4.39
ゾーン(zone)
ディスクの環状領域。
5 表記法
5.1 数値表示
数値表示は,次による。
+.001
.002 という規定値は,1.235以上1.275未満
− 測定値は,該当規定値の最下位桁に丸める。例えば,1.26 −
の測定値を許容する。
− 16進数は,括弧でくくった09の数字及びAFのアルファベットで表示する。
− ビットの値は,“0”及び“1”とする。
− 2進数及びビットの組合せの数値は,0及び1で表す。
− 2進数及びビットの組合せの数値は,左に最上位ビットを示す。
− 2進数の負の値は,2の補数で表す。
− 各フィールドのデータは,最上位バイト(バイト0)を最初に記録する。8ビットで構成する各バイト
内では,最下位ビット(0番目)を最後に記録し,最上位ビット(7番目)を最初に記録する。この記
録順は,誤り検出訂正回路のデータ入出力及び出力にも適用する。
− 特に明記されていない限り,全てのトラック番号はロジカルトラックで表す。
− 特に明記されていない限り,xx···x/yy···y といった形式の10進数字のグループは,値xx···xが512バ
イトセクタの場合,値yy···yは2 048バイトセクタの場合に適用されることを示す。
5.2 名称
固有のトラック,フィールドなどの実体の名前は,大文字の頭文字で示す。
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X 6277 : 2012 (ISO/IEC 15041 : 1997)
6 略語
略語について規定する。
AM Address Mark アドレスマーク
CRC Cyclic Redundancy Check 巡回冗長検査
DDS Disk Definition Structure ディスク定義構造
DMA Defect Management Area 欠陥管理領域
DOW Direct OverWrite ダイレクトオーバーライト
ECC Error Correction Code 誤り訂正符号
FA1 Functional Area 1 機能領域1
FA2 Functional Area 2 機能領域2
ID Identifier 識別子
LSB Least Significant Byte 最下位バイト
MO Magneto-Optical 光磁気
MSB Most Significant Byte 最上位バイト
ODC Optical Disk Cartridge 光ディスクカートリッジ
O-ROM Optical Read Only Memory オーロム,フルロム
PA Postamble ポストアンブル
PDL Primary Defect List 一次欠陥管理表
P-DOW Partial ROM Direct OverWrite パーシャルロム(パーシャルダウ)
P-ROM Partial Read Only Memory パーシャルロム
RLL(1,7) Run Length Limited (code) (1,7)ランレングス限定(符号)
R/W Rewritable 書換形
SDL 二次欠陥管理表
Secondary Defect List
SM Sector Mark セクタマーク
TIA Time Interval Analyzer タイムインターバルアナライザ
VFO Variable Frequency Oscillator VFO(信号)
ZCAV Zoned Constant Angular Velocity ゾーン化された角速度一定方式
7 ODCの概要
この規格の主題であるODCは,光ディスクを含むケースからなる。
ケースは,光ディスクを保護する覆いであり,シャッタによって覆われたアクセス窓をもつ。ODCを駆
動装置に挿入したとき,シャッタは自動的に開く構造とする。
光ディスクは,一面だけに記録可能とする。データの記録及び消去は,熱磁気効果を用いてディスクの
記録層の磁化領域に焦点を結ぶ光ビームによって行う。光ビームの強度を変えることによって,現存する
データの上に直接データを書き込んでもよい。再生は,集束光ビームで光磁気効果を使用して,データを
読み取る。光ビームは,透明なディスクの基板を通して,記録層にアクセスする。
製造業者は,エンボスマークを形成することで,ディスクの一部又は全部を再生専用データとすること
ができる。このデータは,エンボスマークによる回折を利用して再生される。
――――― [JIS X 6277 pdf 12] ―――――
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X 6277 : 2012 (ISO/IEC 15041 : 1997)
8 一般要件
8.1 環境条件
8.1.1 試験環境
試験環境は,規定がない限り,ODCの近傍で測定し,次のとおりとする。
温度 : 23±2 ℃
相対湿度 : 4555 %
大気圧 : 60106 kPa
空気清浄度 : クラス100 000(附属書K参照)
ODCの中又はディスク上に結露が生じてはならない。ODCは,試験の前に,48時間以上試験環境に慣
らしておかなければならない。光ディスクの表面は,ディスク製造業者の条件によって清浄にしておくこ
とが望ましい。
別に規定しない限り,全ての試験及び測定は,この試験環境条件で行わなければならない。
8.1.2 使用環境
使用環境は,ODCの近傍で測定し,次のとおりとする。試験環境を満足したODCは,使用環境でデー
タの互換性を保証しなければならない。
動作環境条件は,ディスク近傍の状態が次の条件を満たす環境とする。
温度 : 555 ℃
相対湿度 : 385 %
絶対湿度 : 130 g/m3
大気圧 : 60106 kPa
最大温度勾配 : 最大10 ℃/h
最大相対湿度勾配 : 最大10 %/h
空気清浄度 : オフィス環境(附属書T参照)
最大磁界強度(光ビーム照射時) : 最大32 000 A/m(附属書T参照)
最大磁界強度(光ビーム非照射時) : 最大48 000 A/m
ODCの中又はディスク上に結露が生じてはならない。ODCは,使用環境条件を外れて保管した場合,
使用前に2時間以上使用環境に慣らしておかなければならない(附属書R参照)。
8.1.3 保存環境
保護の覆いがないODCは,保存環境を外れて保管してはならない。
保存環境は,ODC近傍の状態が次の条件を満たす環境とする。
温度 : −1055 ℃
相対湿度 : 390 %
絶対湿度 : 130 g/m3
大気圧 : 60106 kPa
最大温度勾配 : 最大15 ℃/h
最大相対湿度勾配 : 最大10 %/h
空気清浄度 : オフィス環境(附属書T参照)
最大磁界強度 : 最大48 000 A/m
ODCの中又はディスク上に結露が生じてはならない。
8.1.4 輸送条件
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X 6277 : 2012 (ISO/IEC 15041 : 1997)
この規格では規定しないが,附属書Sに従うことが望ましい。
8.2 温度衝撃
ODCは,駆動装置に着脱するとき,20 ℃までの温度衝撃に耐えなければならない。
8.3 安全性
ODCは,指示された方法で使用するとき,又は情報処理システムにおける予測可能な使用において,JIS
C 6950-1の安全性要件を満たさなければならない。
8.4 耐燃性
ODC及びその部品は,JIS C 6950-1に規定するように,燃焼性区分HB又は同等以上の耐燃性の材料を
使用しなければならない。
9 基準駆動装置
基準駆動装置は,明確に定義された特性をもつ幾つかの重要部品からなる駆動装置であり,この規格で
規定する光ディスクの記録特性,再生特性及び消去特性を試験するために用いる。箇条9では,全ての部
品の概要について記述する。特定の箇条での試験に必要な部品については,それぞれの箇条で規定する。
9.1 光学系
記録特性,再生特性及び消去特性を測定するために用いる基準駆動装置の光学系の基本構成は,図1に
示すとおりとする。図1の光学系と同じ動作をする限り,基準駆動装置に用いる部品及び部品の配置は問
わない。ディスクの入射面からの反射光は,測定の精度に影響を与えないように光学系の構成を配慮しな
ければならない。
――――― [JIS X 6277 pdf 14] ―――――
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X 6277 : 2012 (ISO/IEC 15041 : 1997)
I1 I2
チャネル2
K3
K2
L2
チャネル1
J
M
L1
N K1
H
C D E F G
B
A
A : レーザダイオード I1, I2 : 2分割フォトダイオードからの出力(20.3参照)
B : コリメータレンズ J : 偏光ビームスプリッタ
C : 光整形プリズム K1, K2 : フォトダイオード
D : ビームスプリッタ K3 : 2分割フォトダイオード
E : 偏光ビームスプリッタ L1, L2 : DCアンプ
F : 対物レンズ M : トラッキングチャネル(20.3参照)
G : 光ディスク N : 位相補償器
H : 1/2λ波長板
図1−基準駆動装置の光学系
ディスクによって偏光が変化しないとき,偏光ビームスプリッタJは,フォトダイオードK1の信号とフ
ォトダイオードK2の信号とが等しくなるようにする。この場合の偏光方向をニュートラル偏光方向という。
位相補償器Nは,光学系において,ニュートラル偏光方向の偏光とそれに直角の方向の偏光との間の位相
の遅れが2.5°以下になるように調整されなければならない。この位相補償器の位置は,中立位置という。
位相補償器は,狭帯域信号対雑音比の測定のために用いる(26.2参照)。
偏光ビームスプリッタJは,100以上のP-S強度反射率比をもたなければならない。
偏光ビームスプリッタEのFからHへのニュートラル偏光方向の反射率Rpの公称値は0.30とする。ニ
ュートラル偏光方向及び直角方向の偏光の反射率Rsの公称値は0.95とする。Rsの実際の値は,0.90以上
とする。反射率がR'p及びR'sとなる偏光ビームスプリッタEをもつ駆動装置で光磁気信号の非対称性を測
定した場合,測定値は,次の係数を乗じて補正をしなければならない。
RsR'p
RpR's
チャネル1の出力は,フォトダイオードK1及びK2の電流値の和とし,エンボスマークの再生に用いる。
チャネル2の出力は,フォトダイオードK1及びK2の電流値の差とし,光磁気効果によるユーザ記録マ
ークの再生に用いる。
――――― [JIS X 6277 pdf 15] ―――――
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JIS X 6277:2012の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO/IEC 15041:1997(IDT)
JIS X 6277:2012の国際規格 ICS 分類一覧
JIS X 6277:2012の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC6950-1:2016
- 情報技術機器―安全性―第1部:一般要求事項