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X 6279 : 2011 (ISO/IEC 17346 : 2005)
表9−DDSの内容
バイト番号 内容 設定
0 DDS識別子 (0A)
1 DDS識別子 (0A)
2 メディア識別子 (00)
3 ディスク検証 (01)
ディスク非検証 (02)
4 グループ数のMSB (00)
5 グループ数のLSB (13)
613 予備 (00)
14 PDLの開始アドレスのトラックのMSB −
15 PDLの開始アドレス −
16 PDLの開始アドレスのトラックのLSB −
17 PDLの開始アドレスのセクタ −
18 SDLの開始アドレスのトラックのMSB −
19 SDLの開始アドレス −
20 SDLの開始アドレスのトラックのLSB −
21 SDLの開始アドレスのセクタ −
22 グループ0タイプ (01)
23 グループ1タイプ (01)
24 グループ2タイプ (01)
25 グループ3タイプ (01)
26 グループ4タイプ (01)
27 グループ5タイプ (01)
28 グループ6タイプ (01)
29 グループ7タイプ (01)
30 グループ8タイプ (01)
31 グループ9タイプ (01)
32 グループ10タイプ (01)
33 グループ11タイプ (01)
34 グループ12タイプ (01)
35 グループ13タイプ (01)
36 グループ14タイプ (01)
37 グループ15タイプ (01)
38 グループ16タイプ (01)
39 グループ17タイプ (01)
40 予備 (01)
412 047 (00)
この表の記号“−”は,PDL,SDLの開始アドレスの適正値が入ることを意味する。
19 欠陥管理
書換形ゾーンの欠陥セクタは,次に記述する欠陥管理方式に従って,正常セクタに代替する。使用前に,
ディスクを初期化する。初期化のとき,検証を行っても行わなくてもよい。欠陥セクタは,セクタスリッ
プ方式,又は線形置換方式によって処理される。両方式が置換した欠陥セクタの総数は,最大で4 437以
下とする。
19.1 ディスクの初期化
ディスクの初期化とは,ディスクの最初の使用に先立って,四つのDMAを記録することをいう。各グ
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ループは,連続したデータセクタと連続したスペアセクタを含む。スペアセクタは欠陥セクタの代替とし
て使うことができる。ディスクの初期化のときに,書換形グループの検証によって,欠陥セクタの検出及
び代替を行ってもよい。
全てのDDSの内容を,四つのDDSセクタに記録する。PDL及びSDLを,四つのDMAに記録する。PDL
及びSDLを記録するための要件は,表10及び表11に規定する。
19.2 検証
ディスクを検証する場合,グループ内のデータセクタ及びスペアセクタについて検証を行う。この規格
は,検証の方法について規定しないが,セクタの消去,記録及び再生を含み得る。検証中に発見された欠
陥セクタは,セクタスリップ方式によって処理されるか,又は線形置換方式によって処理される。再生又
は記録に欠陥セクタを使用してはならない。
19.2.1 セクタスリップ方式
検証を実行する場合,セクタスリップ方式は,書換形ゾーンの全てのグループに個々に適用する。
検証中に検出された欠陥データセクタは,欠陥セクタに後続する最初の正常セクタで代替し,これによ
って,グループの最後尾のセクタがスペアセクタ領域にスリップすることになる。欠陥セクタのアドレス
は,PDLに記録する。検証中に欠陥セクタが見つからない場合は,空のPDLを記録する。
セクタスリップ方式によってデータセクタとして使われなかったスペアセクタで,検証中に欠陥がある
と判明した場合は,そのアドレスをPDLに記録する。したがって,使用できるスペアセクタの数は,それ
に応じて減少する。
検証中にグループ内のスペアセクタを使い切った場合には,欠陥セクタは,線形置換方式によって処理
される。この過程は,別のグループのスペアセクタへの置換を含み,別のグループの検証が終了するまで
完了できない。これは,検証が終了するまで,すなわち,セクタスリップ方式を適用するまで,次に使用
できるスペアセクタが分からないためである。
19.2.2 線形置換方式
検証後に見つかった欠陥セクタは,線形置換方式を用いて処理する。また,検証中にグループのスペア
セクタを使い切った場合にも,線形置換方式を使用する。
欠陥セクタは,そのグループの最初に使用できるスペアセクタに代替する。グループにスペアセクタが
残っていない場合,欠陥セクタは,別のグループの最初に使用できるスペアセクタに置換する。欠陥セク
タ及び代替セクタのアドレスを,SDLに記録する。
既にPDLに記録したセクタのアドレスを,SDLに記録してはならない。
SDLに記録した代替セクタが,後に欠陥セクタであると判明した場合には,その欠陥セクタ及び代替セ
クタのアドレスを新しくSDLに記録する。
19.3 非検証ディスク
検証されていないディスクの欠陥セクタの取扱いには,線形置換方式を使用する。
欠陥セクタは,当該グループの最初に使用できるスペアセクタに代替する。当該グループに使用できる
スペアセクタが残っていない場合,欠陥セクタは,別のグループの最初に使用できるスペアセクタに代替
する。欠陥セクタ及び代替セクタのアドレスを,SDLに記録する。
検証されていないディスクであってもPDLに欠陥セクタのアドレスのリストが存在する場合は,これら
のセクタを使用せず,19.2.1で規定する検証済みディスクの場合と同様にセクタスリップ方式を適用する。
19.4 記録方法
データの記録に当たっては,PDLに記録した欠陥セクタは,スキップされ,セクタスリップ方式に従っ
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て次のデータセクタで記録を行う。記録しようとするセクタがSDLに記録されている場合,線形置換方式
に従って,SDLが指示した代替セクタにデータを記録する。
19.5 一次欠陥管理表(PDL)
一次欠陥管理表(PDL)は,欠陥セクタがない場合でも必ず記録しなければならない。
欠陥セクタのリストは,検証によって得られる。
PDLには,初期化のときに検証した,セクタスリップ方式によって代替された全ての欠陥セクタのアド
レスを昇順に記録する。PDLのセクタ数は,必要最小数とし,DDSの次のセクタから記録する。PDLの
最終セクタの全ての未使用バイトには,(FF)を記録する。PDLに記録する内容を表10に示す。
PDLが複数セクタにわたる場合,欠陥セクタのアドレスのリストを,2番目以降のセクタの最初のバイ
トから記録する。したがって,PDLの識別子及び欠陥セクタ登録数は最初のセクタにだけ存在する。
セクタスリップ方式による欠陥セクタがない場合,すなわち空のPDLでは,バイト2及びバイト3に(00)
を記録し,バイト4から2 047までに(FF)を記録する。
表10−PDLの内容
バイト番号 内容
0 (00),PDL識別子
1 (01),PDL識別子
2 PDLに登録された欠陥セクタ数のMSB
3 PDLに登録された欠陥セクタ数のLSB
[バイト2及びバイト3が(00)の場合,バイト3はPDLの最後]
4 最初の欠陥セクタのアドレス(トラック番号のMSB)
5 最初の欠陥セクタのアドレス(トラック番号)
6 最初の欠陥セクタのアドレス(トラック番号のLSB)
7 最初の欠陥セクタのアドレス(セクタ番号)
... ...
x−3 最後の欠陥セクタのアドレス(トラック番号のMSB)
x−2 最後の欠陥セクタのアドレス(トラック番号)
x−1 最後の欠陥セクタのアドレス(トラック番号のLSB)
x 最後の欠陥セクタのアドレス(セクタ番号)
19.6 二次欠陥管理表(SDL)
二次欠陥管理表(SDL)に,検証中にセクタスリップ方式で処理できなかった欠陥セクタ情報,及び検
証後に欠陥セクタが発見されたときの欠陥セクタ情報を記録する。初期化されたディスクは,SDLが記録
されていなければならない。
SDLに記録する欠陥セクタ情報は,欠陥セクタのアドレス4バイト及び代替セクタのアドレス4バイト
の計8バイトを一組とし,欠陥セクタのアドレスが昇順となるように記録する。
SDLのセクタ数は必要最小数とし,PDLの最終セクタの次のセクタから記録する。SDLが記録される最
後のセクタの残り全てのバイトは,(FF) に設定する。四つのSDLに表11に示す内容を記録する。
既にPDLに記録したセクタのアドレスを,SDLに記録してはならない。
SDLに記録した代替セクタが,後に欠陥セクタであると判明した場合には,その欠陥セクタ及び代替セ
クタのアドレスを新しくSDLに記録する。
SDLが複数セクタにわたる場合,欠陥セクタ及び代替セクタのアドレスのリストを,2番目以降のセク
タの最初のバイトから記録する。したがって,表11のバイト0からバイト15までの内容は,最初のセク
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タだけに存在する。
表11−SDLの内容
バイト番号 内容
0 (00),SDL識別子
1 (02),SDL識別子
2 (00)
3 (01)
4 SDLのリスト長のMSB
5 SDLのリスト長のLSB
67 (00)
8 (02)
9 (01)
1013 (00)
14 SDLの登録数のMSB
15 SDLの登録数のLSB
16 最初の欠陥セクタのアドレス(トラック番号のMSB)
17 最初の欠陥セクタのアドレス(トラック番号)
18 最初の欠陥セクタのアドレス(トラック番号のLSB)
19 最初の欠陥セクタのアドレス(セクタ番号)
20 最初の代替セクタのアドレス(トラック番号のMSB)
21 最初の代替セクタのアドレス(トラック番号)
22 最初の代替セクタのアドレス(トラック番号のLSB)
23 最初の代替セクタのアドレス(セクタ番号)
... ...
y−7 最後の欠陥セクタのアドレス(トラック番号のMSB)
y−6 最後の欠陥セクタのアドレス(トラック番号)
y−5 最後の欠陥セクタのアドレス(トラック番号のLSB)
y−4 最後の欠陥セクタのアドレス(セクタ番号)
y−3 最後の代替セクタのアドレス(トラック番号のMSB)
y−2 最後の代替セクタのアドレス(トラック番号)
y−1 最後の代替セクタのアドレス(トラック番号のLSB)
y 最後の代替セクタのアドレス(セクタ番号)
第4章 エンボス特性
20 測定方法
ディスク上のエンボスデータのフォーマットは,箇条13箇条18で定義する。箇条21箇条23は,箇
条9で規定する基準駆動装置を用いて得られるグルーブ,ヘッダ及びエンボスデータからの信号について
規定する。
箇条21箇条23は,エンボスデータの平均品質を規定する。規定値からの局所的な逸脱を欠陥と呼ぶ
が,これらについては,第6章に記載する。
20.1 使用環境
ODCは,8.1.2に規定する使用環境の範囲で,箇条21箇条23の規定を満足していなければならない。
20.2 基準駆動装置
箇条21箇条23で規定する全ての信号は,基準駆動装置で指定のチャネルで測定する。このため,基
準駆動装置は,次の特性をもっていなければならない。
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20.2.1 光学系
光ビームは,9.2 a)9.2 f) で規定されたものとする。ディスクの回転方式は,9.5で規定のものとする。
20.2.2 再生パワー
この章で規定する試験において,ディスクの入射面から入射する再生パワーは,1.3 mWとする。
制御トラックを再生するときの再生パワーは,制御ゾーンのバイト6で与えられる範囲とする(附属書
E参照)。
再生を行うときのディスク温度は,25±1 ℃とする。
20.2.3 再生チャネル
駆動装置には,対物レンズの射出瞳からの総光量を測定する再生チャネルを設ける。このチャネルは,
9.1のチャネル1とする。
20.2.4 フォーカシング及びトラッキング
測定中の光ビームの焦点と記録層との軸方向の偏位,すなわち,フォーカシングエラーの最大許容量は,
次のとおりとする。
emax(フォーカシング)=0.8 μm
トラックの中心との間の半径方向の偏位,すなわち,トラッキングエラーの最大許容量は,次のとおり
とする。
emax(トラッキング)=0.09 μm
20.3 信号の定義
図17に,箇条21箇条23で規定する信号を示す。
全ての信号は,フォトダイオードの出力であり,したがって,ディテクタ上の光パワーに比例する。
I1及びI2は,トラッキングチャネルの2分割フォトダイオードの出力である(9.1及び図17a参照)。
エンボスのない記録フィールド エンボスヘッダ又はエンボス記録フィールド
光ビーム
2) p
p
ランドレベル
1+I
I1 I2
OL
p
・・
2)
2) p
1+I
n
I
I
) mi
(
1-
I
2
I
I
+
2分割フォトダイオード
(
(
(I
1
0レベル
クロストラック信号
図17a−トラッキングチャネルでのグルーブからの信号
図17−ヘッダ,グルーブ,エンボス記録領域からの信号
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