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X 6279 : 2011 (ISO/IEC 17346 : 2005)
セクタマーク VFO AM,ID,PA
未記録トラック
レベル
I
x
p
ma
n
mi
o
I
I
m
If
s
p
I
v
p
IOL
m
p
m
o
o
o
p
t
t
t
t
o
t
x
t
o
ma
o
n
b
b
mi
n
I
x
mi
p
I
ma
p
I
I
p
p
0レベル
図17b−トラッキングチャネル1でのヘッダからの信号
図17−ヘッダ,グルーブ,エンボス記録領域からの信号(続き)
21 グルーブからの信号
和信号(I1+I2)及び差信号(I1−I2)は,1.0 MHz以上の周波数で40 dB以上減衰するようにフィルタを
使用し,エンボスマークによる変調の影響を除去する(図17及び附属書L参照)。
21.1 デバイデドプッシュプル信号
デバイデドプッシュプル信号(DPP信号)は,光ビームがエンボス記録フィールド又は未記録フィール
ドのグルーブを横切るときに,2分割フォトダイオードの差信号(I1−I2)を2分割フォトダイオードの和
信号(I1+I2)で除した信号のことであり,DPP信号の振幅の絶対値の規定,及びDPP信号の振幅のディ
スク内ばらつきの規定の二つを満足しなければならない。
このとき,2分割フォトダイオードの分割方向はトラック方向に平行とし,トラッキングサーボをかけ
ていない状態で測定する。
a) 光ビームがエンボスヘッダ又はエンボス記録フィールドを交差するときのDPP信号振幅は,次の条件
を満足しなければならない。
I1 I2
.012 ≦ ≦ .040
I1 I2 pp
b) 光ビームがエンボスのない記録フィールドを交差するときのDPP信号振幅は次の条件を満足しなけ
ればならない。
I1 I2
.035 ≦ ≦ .070
I1 I2 pp
DPP信号振幅の最小値と最大値との比が,次の条件を満足しなければならない。
I1 I2
(I1 I2 ) pp min
≧ 0.7
I1 I2
(I1 I2 ) pp max
21.2 位相深さ
グルーブの位相深さは,180°未満でなければならない。
21.3 トラックの位置
トラックは,2分割フォトダイオードの差信号(I1−I2)が0に等しく,和信号(I1+I2)の値が最大値と
――――― [JIS X 6279 pdf 56] ―――――
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X 6279 : 2011 (ISO/IEC 17346 : 2005)
なる位置とする。
22 ヘッダ信号
エンボスヘッダから得られる信号は,基準駆動装置のチャネル1で測定する。
エンボスマークからの信号は,チャネル1の信号振幅として定義する(図17及び附属書L参照)。
22.1 セクタマーク
セクタマークからの信号Ismは,次の要件を満たす。
≦IIsm≦
.045 .095
OL
22.2 VFO信号
VFO1及びVFO2のフィールドのマークからの信号Ivfoは,次の要件を満たす。
≦IIvfo≦
.018 .090
OL
さらに,各セクタ内で次の条件を満たす。
Ivfo≧
0.3
Ip max
ここに, Ip max : そのセクタでの22.3で定義するIpのエンボスマーク信号から
の最大振幅
Ivfo : VFO領域からの再生信号のピークからピークまでの振幅
22.3 アドレスマーク,IDフィールド及びポストアンブル
アドレスマーク,IDフィールド及びポストアンブルフィールドの中にあるマークからの信号Ipは,次の
要件を満たす。
≦IIp≦
.018 .090
OL
Ip min
≧ 0.30
Ip max
2番目の要件は,全てのヘッダに対して適用される。Ip min及びIp maxは,それらのフィールドにおいて,
最小振幅及び最大振幅とする。
22.4 ジッタ
ヘッダ信号のジッタJt(H)は,附属書Hで定義する再生チャネル回路を用いて,附属書Hの手順に従っ
て,20.2.2で規定する条件下で測定し,次の条件を満足しなければならない。
Jt(H)≦0.08T
ここに, T : チャネルクロック周期
Jt(H) : マークの前縁から前縁までの長さ及びマークの後縁から後
縁までの長さの,各nTの区間の標準偏差(シグマ)の合計
[Jt(H)については,図H.3で示す。]
ヘッダ信号から検出される全ての時間間隔のサンプルは,Jt(H)の条件を満足しなければならない。
22.5 非対称性
非対称性は,アドレスマーク,IDフィールド及びPAフィールドの中で最大振幅及び最小振幅(Ip max及
びIp min)を与える信号の中心レベル間の偏差とし(図17参照),次の条件を満たさなければならない。
――――― [JIS X 6279 pdf 57] ―――――
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Ip max bottom
Ip max top Ip min bottom
Ip min top
.015 ≦ 2 2 ≦ .015
Ip max bottom
Ip max top
23 エンボス記録フィールド信号
23.1 信号振幅
エンボス記録フィールドから得られる信号は,基準駆動装置のチャネル1で測定する(9.1及び附属書L
参照)。容認可能なマークの欠陥は,第6章で規定する。
エンボスマークからの信号は,チャネル1の信号振幅として定義する(図17参照)。
全てのエンボス記録フィールドからの信号は,信号変調のピークからピークまでの値として定義する。
エンボス記録フィールドのマークからの信号Idは,次の条件を満足しなければならない。
≦IId≦
.018 .090
OL
Id min
≧ 0.30
Id max
最後の条件は,記録フィールド全体に適用される。Id min及びId maxは,各セクタのエンボス記録フィール
ド内のIdの最小値と最大値とする。
23.2 ジッタ
エンボス記録フィールドのジッタJt (D) は,附属書Hで定義する再生チャネル回路を用いて,附属書H
の手順に従って,20.2.2で規定する条件下で測定し,次の条件を満足しなければならない。
Jt(D)≦0.08T
ここに, T : チャネルクロック周期
Jt(D) : マークの前縁から前縁までの長さ及びマークの後縁から後
縁までの長さの,各nTの区間の標準偏差(シグマ)の合計
(Jtについては,図H.3で示す。)
エンボスデータ信号から検出される全ての時間間隔のサンプルは,Jt(D) の条件を満足しなければなら
ない。
第5章 記録層及びユーザデータの特性
24 測定方法
箇条25箇条27では,データの記録及び消去に用いる記録層の光磁気特性の測定条件及び性能につい
て規定する。測定は,書換形ゾーンのセクタの記録フィールドで行う。記録,再生及び消去の測定は,同
一の基準駆動装置で行う(附属書H参照)。
箇条25箇条27では,記録層の平均品質だけを規定する。規定値からの部分的な逸脱を欠陥と呼ぶが,
これは,記録又は消去の問題の原因となり得る。これらの欠陥は第6章で記述する。
24.1 測定環境
箇条25箇条27の全ての信号は,別に注記がある場合を除いて,8.1.2で規定する使用環境の範囲にあ
るカートリッジに関して,規定範囲内になければならない。
24.2 基準駆動装置
箇条25箇条27で記述する記録及び消去は,基準駆動装置のチャネル2で測定する。このため基準駆
動装置は,次の特性をもっていなければならない。
――――― [JIS X 6279 pdf 58] ―――――
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24.2.1 光学系
光ビームは,9.2 a)9.2 f) で規定する特性をもつ。ディスクは,9.5で規定のとおりに回転する。
24.2.2 再生パワー
この章で規定する試験において,ディスクの入射面から入射される最大再生パワーは,7.5 mWとする。
データゾーンの再生パワーは,制御ゾーンのデータフィールドに記載された制御データのバイト21から
23で与えられる範囲内とする(附属書E参照)。
24.2.3 再生磁界
全ての試験において,記録層の位置で再生磁界強度は,36 000 A/m以下でなければならない。
全ての試験において,再生磁界方向は,ディスク基準面Pの垂線に対して10°以内で,入射ビームの方
向,すなわち,入射面から記録層へ向かってN極からS極となるようにする。50 Hzの回転数に対する再
生磁界の値は,制御ゾーンに記録される。
24.2.4 再生チャネル
基準駆動装置は,記録層の磁気光学マークを検出できる9.3のチャネル2と同等の再生チャネルをもた
なければならない。
測定はマークのエッジ位置をしきい(閾)値検出方法で行い,しきい(閾)値は再生信号のピークから
ピークの包絡線の中心とする。正のピーク信号及び負のピーク信号の包絡線は,各々50 kHzで3 dB減衰
する一次ローパスフィルタを通さなければならない。
24.2.5 トラッキング
測定中の光ビームの焦点は,20.2.4で規定のとおりにトラックを追随しなければならない。
24.2.6 信号検出
再生チャネルからの信号は,検出前に等化回路を通してはならない。信号は,チャネルクロック周波数
の1/2のカットオフ周波数をもつ三次バターワースフィルタを通す。全ての再生試験は,50 Hzの回転数で
行う。
データの記録条件などが理想的であれば,しきい(閾)値は0となるが,測定によっては,記録中のパ
ラメタ変化によるマークサイズの変化の影響を除くために,しきい(閾)値を調整しなければならないこ
ともある。
24.3 記録条件
24.3.1 記録パルス及び記録パワー
マークは,アシストパワーPaにパルス列を重畳させた光ビームによってディスク上に記録される。
2T,4T及び8Tの長さのマークについて,次のとおりに試験パルス列を定義する。
2Tマークの試験パルスは,パワーPsの1.5Tパルスをアシストパワーに重畳して形成する。2Tよりも長
いマークの試験パルス列は,冒頭の2T部分をパワーPsの1.5Tパルスとし,それに引き続いて0.5T(Pa)
及び0.5T(Pw)の組合せを所要の長さ分だけ追加することで形成する。ここに,Paはアシストパワー,Pw
は記録ピークパワー,及びPsは記録サブピークパワーとし,これらの関係は,次のとおりとする。
Pw : Ps : Pa=1.0 : 1.0 : 0.5
マークの長さ2T,4T及び8Tについて,パルス列は次のとおりとする。
2T : 1.5T(Ps)0.5T(Pa)
4T : 1.5T(Ps)0.5T(Pa)0.5T(Pw)0.5T(Pa)0.5T(Pw)0.5T(Pa)
8T : 1.5T(Ps)0.5T(Pa)0.5T(Pw)0.5T(Pa)0.5T(Pw)0.5T(Pa)0.5T(Pw)0.5T(Pa)
0.5T(Pw)0.5T(Pa)0.5T(Pw)0.5T(Pa)0.5T(Pw)0.5T(Pa)
――――― [JIS X 6279 pdf 59] ―――――
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試験の目的のための汎用パルス列を,図18に示す。
パルスの10 %から90 %までの立上がり,立下がり時間は,3 ns未満とする。
レーザパワーの測定は,繰返しパルス発光の平均パワーの測定,例えばパルス幅を50 nsとして光パワ
ーメータで測定し,パルス幅とパルス振幅との積として評価することで,パルス幅及びパルス振幅の設定
誤差を小さくすることができる(附属書U参照)。
メディア試験で使用するPwは,24.3.3の方法で測定した値を用いる。ODC製造者は,24 mm,32 mm及
び40.5 mmで測定したPwの5 %以内の値を,制御ゾーンに記録しなければならない。
Pw
Ps
Pa
1.5T 0.5T 0.5T 0.5T
2T
4T
8T
ここに, Pw : 記録ピークパワー
Ps : 記録サブピークパワー
Pa : アシストパワー
図18a−記録パルスの波形
Tp
.5P
P
0
.1
P
0
Ps
P
9
w,
0.
P
Pa
Tr Tf
ここに, Pw : 記録ピークパワー
Ps : 記録サブピークパワー
Pa : アシストパワー
P : Pw(Ps)−Pa
Tf : 立下がり時間
Tr : 立上がり時間
Tp : 記録パルス幅
図18b−記録パルス形状
図18−記録パルス
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