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X 6279 : 2011 (ISO/IEC 17346 : 2005)
附属書G
(規定)
性能指数の測定
この附属書は,性能指数の測定について規定する。
G.1 性能指数について
性能指数は,低い周波数で記録したマークの再生信号振幅によって測定する。
図1で示す,箇条9で規定する光学系を使用した性能指数の測定では,光学系の位相差を含む。そのた
め,反射率,カー回転角及びだ(楕)円率を測定し,光学系の位相差を校正することが必要である。ただ
し,低保磁力のメディアを使用する場合だけ,この校正が精度良くできる。
G.2 測定用光学系の校正
測定用光学系の校正は,次のとおりとする。低保磁力の記録層をもつ複屈折率が無視できるほど小さい
ガラスディスクを用いて,反射率(R),カー回転角(θ)及びだ(楕)円率βを測定する。性能指数FLを,
次の式によって算出する。
FL=R sinθ cos2β
次に,同じディスクを用いて低周波数の信号を記録し,チャネル2の再生信号振幅VLを測定することに
よって,光学系自身の位相差の校正を行う。記録された磁区は,その領域で光学系のMTFが1となるよ
うに,実質的に集光スポットよりも大きくする。これは,50 Hzで回転するディスクに対して,100 kHzよ
り低い周波数の長い磁区のパターンが隣接するトラックでマークが半径方向に整列し,かつ,重なり合う
ように連続する数トラックにわたり記録されていることを意味する。
G.3 性能指数の算出
保磁力の大きさによらず,ディスクの性能指数Fは,校正された駆動装置で低周波数の信号を記録し,
チャネル2の再生信号の振幅Vを測定し,次の式で算出する。
V
F FLV
L
――――― [JIS X 6279 pdf 86] ―――――
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X 6279 : 2011 (ISO/IEC 17346 : 2005)
附属書H
(規定)
NBSNR(狭帯域信号対雑音比)及び
ジッタを測定するための再生チャネル
この附属書は,NBSNR(狭帯域信号対雑音比)及びジッタを測定するための再生チャネルについて規定
する。
NBSNR及びジッタは,次の再生チャネルを用いて測定する。
フィルタ
コンパレータ
比較器 エッジ検出器
チャネル1 前縁
又は +
チャネル2
−
後縁
しきい(閾)値
調整用
図H.1−再生チャネル
入力信号 :
エンボスマーク用のチャネル1
ユーザ記録マーク用のチャネル2
フィルタ仕様 :
a) イコライザ : MOの信号評価に使用しない
エンボスマークの信号評価に使用する
b) フィルタタイプ : 五次のベッセルフィルタ
c) ローパスフィルタ : カットオフ周波数=試験中の帯域で2Tの連続信号の周波数の2倍
H.1 しきい(閾)値フォロア
このトラッキングしきい(閾)値フォロア(又は同等のもの)は,データ検出過程で,ベースラインレ
ベルを設定するために必要である。これは,メディアの反射率及び記録感度の局所的変動並びに記録デー
タパターンで生じる直流成分の変動を補正するために用いる。
――――― [JIS X 6279 pdf 87] ―――――
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X 6279 : 2011 (ISO/IEC 17346 : 2005)
上側
エンベロープ
フォロア
10 kΩ
50 kHz
下側 ローパス
エンベロープ フィルタ
フォロア
出力
入力
入力バッファ コンパレータ
図H.2a−トラッキングしきい(閾)値ブロックダイアグラム
100 kΩ 1200pF 100 kΩ 1200 pF
入力 入力
出力 出力
100 kΩ 100 kΩ
上側エンベロープフォロアの例 下側エンベロープフォロアの例
(半波整流器) (半波整流器)
図H.2b−ダイオードを用いたエンベロープフォロア
図H.2−しきい(閾)値フォロア
H.2 ジッタ測定手順
前縁から前縁,又は後縁から後縁までのジッタは,次の手順で測定する。
a) FOの2Tマーク及び2Tスペースが正確に2チャネルビット時間Tの長さになるように,検出器
回路のしきい(閾)値レベルを設定する。
b) しきい(閾)値レベルを保ち,信号のエッジを検出する。
c) タイムインターバルアナライザを使用して,前縁から前縁又は後縁から後縁までの時間を測定する。
d) 欠陥領域からのデータを除いて,105個のデータ(時間間隔)を取得する。
e) 前縁から前縁,又は後縁から後縁までのデータの平均値Lnを計算する。
f) 測定した平均値Lnと,対応する前縁から前縁,又は後縁から後縁までの(すなわちTのn倍)の理
想値との差を計算し,その中の最大値をStとしてとる。
g) ジッタ分布の標準偏差Jtを計算する。すなわち,前縁から前縁までのデータ又は後縁から後縁まで
のデータと,各々に対応する平均値Lnとの差の標準偏差Jtを計算する(図H.3参照)。
前縁から前縁までの標準偏差Jt及び後縁から後縁までの標準偏差Jtは,別々に測定しなければならない。
――――― [JIS X 6279 pdf 88] ―――――
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X 6279 : 2011 (ISO/IEC 17346 : 2005)
個々の数値は,最悪でも規定を満たすことが望ましい。
ヘッダ信号の評価の場合,しきい(閾)値レベルはVFO1を使用して設定し,標準偏差Jtは,AMPA
のデータを使用して測定する。
エンボスデータ信号の評価の場合,しきい(閾)値レベルは,VFO3を使用して設定し,ユーザデータ領
域の同期フィールド及びデータフィールドのデータを使用して測定する。この場合,ユーザデータ領域は,
ユーザデータ,CRC及び再同期パターンからの全てのデータを使用して測定する。
nTマーク又はnTスペースの
ジッタ分散の中間値 標準偏差=Jt
事象
時間
T(チャネルクロック周期)
理想時間(nT)
図H.3−ジッタの測定分布
――――― [JIS X 6279 pdf 89] ―――――
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X 6279 : 2011 (ISO/IEC 17346 : 2005)
附属書I
(規定)
記録メディアの互換のための実装独立マーク品質決定(IIMQD)
この附属書は,記録メディアの互換のための実装独立マーク品質決定について規定する。
I.1 試験パターン
IIMQDオフセット試験は,7個のマーク及び7個のスペース,すなわち,2Tから8Tまでの各ランレン
グスの一つのマーク及び一つのスペースで構成される,二つの特別なパターンを用いる。この試験は,駆
動装置のメディア互換性のため,適切な長さのマークを形成する能力を検査する。
次の手順を用いて,記録メディア互換性のためのIIMQDを決定する。
駆動装置を用いて,トラックを消去し,次の試験パターンの一つの繰返しデータを,半径24 mm,32 mm
及び40.5 mmで,数トラック上に記録する。個々の試験を各々のパターンに対して実施する。
パターンNo.1 :
2T 2T 3T 3T 4T 4T 5T 5T 6T 6T 7T 7T 8T 8T
M S M S M S M S M S M S M S
パターンNo.2 :
2T 2T 3T 3T 4T 4T 5T 5T 6T 6T 7T 7T 8T 8T
S M S M S M S M S M S M S M
ここに,Mは,マークを,Sは,スペースを表す。
I.2 検出方法
24.2.4で規定した検出方法の他に,次のイコライザを用いて,データ信号を再生し検出する。この試験
では,しきい(閾)値TVを変更して,パラメタ変化によるマークのエッジ変動を補正してもよい。
E(q ) 1 2A cos(2) T
ここに, A=0.1
ω=2πf
Tは,読み取っているゾーンのチャネルクロック周期
このイコライザは,ディスクスピードが3 000 rpmのとき,半径24 mm,32 mm及び40.5 mmのそれぞ
れについて表2で規定するクロック周期をもち,タップ遅延が39.4 nsでタップ係数が−A,0,1,0,−A
及び0,−A,1,−A,0である5個のタップ付きディレイラインフィルタで実装できる。
タイムインターバルアナライザを使用して,記録トラックからの検出信号を2通りの方法で測定する。
1) 前縁から後縁(マーク)の長さの平均値
2) 後縁から前縁(スペース)の長さの平均値
――――― [JIS X 6279 pdf 90] ―――――
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