JIS X 6302-6:2017 識別カード―記録技術―第６部：磁気ストライプ―高保磁力 | ページ 5

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X 6302-6 : 2017 (ISO/IEC 7811-6 : 2014)
                                                                                      単位 mm
                        項目    トラック1     トラック2     トラック3
                          a        −         最小 8.33     最小 11.63
                                最大 5.79     最大 9.09     最大 12.65
                          b     最小 8.33     最小 11.63    最小 15.19
                                最大 9.09     最大 12.65    最大 15.82
                          c     7.44±1.00    7.44±0.50    7.44±1.00
                          d     最小 6.93     最小 6.93    要求事項なし
                        注記 全てのトラックの最小幅は,2.54 mmである。
                                   図12−記録トラックの位置

――――― [JIS X 6302-6 pdf 21] ―――――

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                                                             X 6302-6 : 2017 (ISO/IEC 7811-6 : 2014)
                                          附属書A
                                          (参考)
          磁気ストライプの読取り互換性−JIS X 6302-2及びこの規格
  この附属書は,この規格の適用範囲に記載している“読取り互換性”の限界を説明するものであり,JIS
X 6302-2及びこの規格に対応する。
  高保磁力磁気ストライプは耐消去性を向上しているが,再生出力信号特性において低保磁力磁気ストラ
イプ(例えば,JIS X 6302-2に適合する磁気ストライプ)と理想的には同等であるのが望ましい。しかし,
実際には,高保磁力磁気ストライプと低保磁力磁気ストライプとの磁気特性の違いが,測定器に依存する
再生出力信号振幅の評価結果に大きな差を生じさせる。
  一般的には,短い記録波長に対して感度が高い再生装置であればあるほど,高保磁力磁気ストライプの
再生出力信号振幅は,低保磁力磁気ストライプに比して大きくなると予想される。
  この規格の利用者は,再生出力信号振幅を比較する場合,JIS X 6302-2に適合する磁気ストライプの再
生出力信号振幅がJIS X 6305-2に規定する正確な測定条件に依存することに注意するのがよい。

――――― [JIS X 6302-6 pdf 22] ―――――

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X 6302-6 : 2017 (ISO/IEC 7811-6 : 2014)
                                          附属書B
                                          (参考)
                            磁気ストライプの磨耗研磨特性
  この附属書は,磁気ヘッド寿命と関連する磁気ストライプ磨耗研磨特性が,物理的な特性を定めたこの
規格の中に含まれない理由を説明することを目的とする。磨耗研磨特性の要求仕様がないことは,磨耗の
パラメータを定義し,磨耗研磨特性を測定するための正確な耐久試験を規定することの難しさを反映して
いる。耐久試験方法は,確立されていないが,磁気ストライプの寿命を延ばすために利用可能な技術(例
えば,改良された磁気ヘッド材料,磁気ストライプの添加物,又は磁気ストライプの保護膜)が知られて
いる。
  定量化された磁気ストライプの磨耗研磨特性は,磁気ヘッドの寿命を予測するために必須の前提条件で
あるようにも思える。しかし,異なる磁気ストライプの磨耗研磨特性に多様性があるように,磁気ストラ
イプリーダ及び磁気ストライプライタの環境は,多数存在する。影響の組合せの多様性,及び磨耗研磨特
性に対するそれらの影響の仕方の複雑さは,環境,機器及び磁気ストライプの状態が指定されたときでさ
え,磁気ヘッドの寿命を予測するのを非常に難しくしている。
  JIS X 6305-2に示す現行の磨耗研磨特性試験は,ある磁気ストライプの磨耗の度合いが,他の特定の状
況での試験のものよりも多いか少ないかを単純に示すだけの単なる比較試験である。この方法で磁気ヘッ
ドの磨耗研磨特性を試験する場合には,多くの時間及びカードが必要となる上に,正確な絶対値がなく,
試験条件によって結果が変動する場合がある。
  磁気ストライプの読み書きには,磁気ストライプと磁気ヘッドとが接触する必要がある。磁気ヘッドと
磁気ストライプとのしゅう(摺)動によって,両者とも磨耗する。磁気ストライプの磨耗研磨特性は,し
ゅう(摺)動回数とともに初めは急速に低下するが,回数の増加とともに変化率は減少する。したがって,
未使用の磁気ストライプの磨耗研磨特性は,一度書かれただけの磁気ストライプの磨耗研磨特性よりもは
るかに高い。
  磁気ストライプの磨耗研磨特性に影響するものとして,温度,湿度,磁気ヘッド材料(その形状及び仕
上げの状態),磁気ヘッドの圧力,カード速度,磁気ヘッドと接触する磁気ストライプの表面上の物理的な
特性,磁気ストライプの表面粗さ,及び汚れがある。実際の使用環境下では,ほこり及び油分は,磁気ヘ
ッドと磁気ストライプとの間に蓄積するため,実験室条件下で測定した磨耗研磨特性との間に違いが生じ
ることがある。
  したがって,この試験を誤差が許容できるまでに抑え込むのは困難な上,実験室環境下での試験から実
際の使用環境での磨耗を推定するのも困難である。このため,磨耗研磨特性試験のための測定の不確実性
を許容レベルまでに達成するのが困難なばかりか,実使用のときの予測に,実験室条件下でのカードの磨
耗研磨特性試験結果を適用するのには重大な疑問すらある。これらの問題が解決されない限り,磨耗研磨
特性の実用的な規定及び試験方法を,規定することができない。

――――― [JIS X 6302-6 pdf 23] ―――――

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                                          附属書C
                                          (参考)
                                       静的磁気特性
C.1 始めに
  この附属書は,高保磁力磁気ストライプにおいて推奨する静的磁気特性及び定義を示す。これらの値は,
磁性材料の製造業者にとって有用であるが,表1に示すカードに対する磁気特性の値に直接関係するもの
でない。この附属書の値をもつ磁気ストライプは,表1に示す要求事項に合致することを保証するもので
はない。しかし,提示された静的磁気特性に適合しない磁気ストライプは,表1の特性に適合しないこと
がある。
C.2 用語及び定義
C.2.1
最大印可磁界,Hmax(maximum field,Hmax)
  試験方法に示す最大印加磁界。
C.2.2
静的M(H)曲線[static M(H)   oop]
  磁化曲線が影響を受けない程度の低い掃引速度で,磁界強度を−Hmaxから+Hmaxまでの間で周期的に変
化させて得られるヒステリシス曲線。
C.2.3
保磁力,H'cM=H'cJ(coercivity,H'cM=H'cJ)
  飽和状態から,飽和磁化状態とは反対方向に連続的に磁界を印加したとき磁化量が“0”になる磁界強度。
測定は,磁気ストライプの水平軸方向に行う。
C.2.4
残留磁化,Mr(remanence,Mr)
  最大印加磁界(Hmax)を印加した後,印加磁界が“0”となるときの最大印加磁界と同一方向の磁化(M)
の値。
C.2.5
残留保磁力,Hr(remanence coercivity,Hr)
  飽和状態から,飽和磁化状態とは反対方向に磁界を印加し,その後この磁界を“0”まで戻したときに,
残留磁化量が“0”になる磁界強度。測定は,磁気ストライプの水平軸方向に行う。
C.2.6
エルステッド,Oe(oersted,Oe)
  磁界強度のCGSガウス単位。磁気記録業界で一般的に用いており,1 Oeは,10 3/ (4 π)   /mに相当する
(JIS Z 8000-6:2014の附属書A参照)。
C.2.7
静的減磁,S160(static demagnetisation,S160)
  反対方向磁界の影響による磁化の減少。[Mr−M+(−160)   ]/Mrで定義される。M(H)曲線の“減磁”部分の
象限において,磁界強度がH=0とH=−160 kA/mとの間の磁化曲線の平均的な傾きを示す。

――――― [JIS X 6302-6 pdf 24] ―――――

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X 6302-6 : 2017 (ISO/IEC 7811-6 : 2014)
C.2.8
角形比,SQ=Mr/M(Hmax)[longitudinal squareness,SQ=Mr/M(Hmax)]
  静的M(H)曲線において磁界強度がHmaxのときの磁化量[M(Hmax)]に対する,磁界強度が“0”(H=0)
のときの磁化量(Mr)の比。
C.2.9
残留磁化比,RM=(MrP/MrL)[remanence ratio,RM=(MrP/MrL)]
  磁気ストライプの水平軸に対し水平方向に沿って測定した水平残留磁化(MrL)に対する,磁気ストライ
プ平面に垂直に測定した垂直残留磁化(MrP)の比。
C.2.10
傾きによるスイッチングフィールド,SFS(switching field by slope,SFS)
  (|H2|−|H1|)/H'cMで求められる値。ここで|H1|及び|H2|は,M(−|H1|)=0.5Mr及びM(−|H2|)=−0.5Mrを満た
す磁界強度。静的M(H)曲線においてM(H)=0.5Mr及びM(H)=−0.5Mrとなる2種類の磁界強度の差を保磁
力で除することによって求められる。
C.2.11
派生によるスイッチングフィールド,SFD(switching field by derivative,SFD)
  微分した静的M(H)曲線の半分の高さにおける幅を同一曲線上の保磁力で除したもの。
    注記 静的磁気特性の定義は,IEC 50-221(IEC 60050-221に置き換えられている。)とISO 31-5:1992
          (IEC 80000-6に置き換えられている。)とから派生したものである。
C.3 推奨特性
  高保磁力磁気ストライプにおいて推奨する静的磁気特性を表C.1に示す。
                             表C.1−高保磁力磁性材料の静的磁気特性
               番号               項目               符号            値
                1    保磁力                         H'cM   最大335 kA/m(4 200 Oe)
                                                           最小200 kA/m(2 500 Oe)
                2    静的減磁                       S160   最大0.20
                3    角形比                         SQ     最小0.80
                4    残留磁化比                     RM     最大0.35
                5                                   SFS
                     傾きによるスイッチングフィールド      最大0.30
                6                                   SFD
                     派生によるスイッチングフィールド      最大0.50
参考文献 JIS X 6302-2 識別カード−記録技術−第2部 : 磁気ストライプ−低保磁力
            注記 対応国際規格として,ISO/IEC 7811-2,Identification cards−Recording technique−Part 2:
                  Magnetic stripe−Low coercivityがある。
          JIS Z 8000-6:2014 量及び単位−第6部 : 電磁気
            注記 対応国際規格として,IEC 80000-6:2008,Quantities and units−Part 6: Electromagnetism
                  がある。
          IEC 60050-221:1990,International Electrotechnical Vocabulary. Chapter 221: Magnetic materials and
              components