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X 6302-6 : 2017 (ISO/IEC 7811-6 : 2014)
表2−未使用記録済みカードの磁束反転距離−トラック1及びトラック3(続き)
記号 項目 要求仕様 許容誤差
Bin+1 隣接するビットの許容差 ±10 %
0.90 Bin≦Bin+1≦1.10 Bin
Sin サブインターバルの距離 53 μm≦Sin≦68 μm ±12 %
Sin+1 隣接するサブインターバルの距離 ±12 %
0.88 Bin/2≦Sin+1≦1.12 Bin/2
Bin+1又はSin+1は,Binの直後に隣接する磁束の反転距離。
注記1 この表は,カードが正常に機能する範囲を示しているだけであり,発行されたカー
ドの有効期間内における磁束反転距離を保証するものではない。
注記2 表1によって測定した分解能が低いことと,表2によって測定した磁束の反転距離
変動が大きいこととは相関付けができる。
表3−返却カードの磁束反転距離−トラック1及びトラック3
記号 項目 要求仕様 許容誤差
Ba クロック信号間の平均距離 111 μm≦Ba≦131 μm ±8 %
Bin クロック信号間の個別距離 103 μm≦Bin≦139 μm ±15 %
Bin+1 隣接するビットの許容差 ±15 %
0.85 Bin≦Bin+1≦1.15 Bin
Sin サブインターバルの距離 48.4 μm≦Sin≦72.6 μm±20 %
Sin+1 隣接するサブインターバルの距離 ±30 %
0.70 Bin/2≦Sin+1≦1.30 Bin/2
Bin+1又はSin+1は,Binの直後に隣接する磁束の反転距離。
注記 この表は,カードが正常に機能する範囲を示しているだけであり,発行されたカー
ドの有効期間内における磁束反転距離を保証するものではない。
Bin Bin+1
Si Si
Sin+1
図11−ビットセルとサブインターバルとの関係
――――― [JIS X 6302-6 pdf 16] ―――――
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X 6302-6 : 2017 (ISO/IEC 7811-6 : 2014)
10.1.3 文字集合
トラック1に用いる文字集合は,表4に示す7ビット英数字符号とする。次の表の文字は,特殊な意味
をもち,その使用方法を記載のように制限する。
文字 意味又は使用方法
制御用として使用し,データ内容として使用してはならない。
! “ & * +, : ; < = > @
[ ] 国別の追加文字が必要なときのために留保して,国際的には使用しない。
# 追加用図形文字として留保する。
% 始め符号
^ 分離符号
・ 終わり符号
表4−7ビット英数字符号の文字集合
文字 2進符号 文字 2進符号
P 25 24 23 22 21 20 P 25 24 23 22 21 20
スペース 1 0 0 0 0 0 0 @ 0 1 0 0 0 0 0
! 0 0 0 0 0 0 1 A 1 1 0 0 0 0 1
“ 0 0 0 0 0 1 0 B 1 1 0 0 0 1 0
# 1 0 0 0 0 1 1 C 0 1 0 0 0 1 1
$ 0 0 0 0 1 0 0 D 1 1 0 0 1 0 0
% 1 0 0 0 1 0 1 E 0 1 0 0 1 0 1
& 1 0 0 0 1 1 0 F 0 1 0 0 1 1 0
0 0 0 0 1 1 1 G 1 1 0 0 1 1 1
( 0 0 0 1 0 0 0 H 1 1 0 1 0 0 0
) 1 0 0 1 0 0 1 I 0 1 0 1 0 0 1
* 1 0 0 1 0 1 0 J 0 1 0 1 0 1 0
+ 0 0 0 1 0 1 1 K 1 1 0 1 0 1 1
, 1 0 0 1 1 0 0 L 0 1 0 1 1 0 0
- 0 0 0 1 1 0 1 M 1 1 0 1 1 0 1
. 0 0 0 1 1 1 0 N 1 1 0 1 1 1 0
/ 1 0 0 1 1 1 1 O 0 1 0 1 1 1 1
0 0 0 1 0 0 0 0 P 1 1 1 0 0 0 0
1 1 0 1 0 0 0 1 Q 0 1 1 0 0 0 1
2 1 0 1 0 0 1 0 R 0 1 1 0 0 1 0
3 0 0 1 0 0 1 1 S 1 1 1 0 0 1 1
4 1 0 1 0 1 0 0 T 0 1 1 0 1 0 0
5 0 0 1 0 1 0 1 U 1 1 1 0 1 0 1
6 0 0 1 0 1 1 0 V 1 1 1 0 1 1 0
――――― [JIS X 6302-6 pdf 17] ―――――
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X 6302-6 : 2017 (ISO/IEC 7811-6 : 2014)
表4−7ビット英数字符号の文字集合(続き)
文字 2進符号 文字 2進符号
P 25 24 23 22 21 20 P 25 24 23 22 21 20
7 1 0 1 0 1 1 1 W 0 1 1 0 1 1 1
8 1 0 1 1 0 0 0 X 0 1 1 1 0 0 0
9 0 0 1 1 0 0 1 Y 1 1 1 1 0 0 1
: 0 0 1 1 0 1 0 Z 1 1 1 1 0 1 0
; 1 0 1 1 0 1 1 [ 0 1 1 1 0 1 1
< 0 0 1 1 1 0 0 1 1 1 1 1 0 0
= 1 0 1 1 1 0 1 ] 0 1 1 1 1 0 1
> 1 0 1 1 1 1 0 ^ 0 1 1 1 1 1 0
・ 0 0 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1
注記 この文字集合は,JIS X 6302-2の文字集合と同一である(ASCIIから派生したもの)。
10.1.4 ID-1カードの最大文字数
データ用文字,制御用文字,始め符号,終わり符号及び水平冗長検査文字は,合計して79文字を超えて
はならない。
10.2 トラック2
10.2.1 平均記録密度
平均記録密度(Ba)は,上端基準辺に平行に測定して2.95ビット/mm(75 bpi)とし,その許容誤差を
±5 %とする。
10.2.2 磁束反転距離の許容誤差
未使用記録済みカード及び返却カードの磁束反転距離(図11参照)の許容誤差を,それぞれ,表5及び
表6に示す。
表5−未使用記録済みカードの磁束反転距離−トラック2
記号 項目 要求仕様 許容誤差
Ba クロック信号間の平均距離 322 μm≦Ba≦356 μm ±5 %
Bin クロック信号間の個別距離 315 μm≦Bin≦363 μm ±7 %
Bin+1 隣接するビットの許容差 ±10 %
0.90 Bin≦Bin+1≦1.10 Bin
Sin サブインターバルの距離 153 μm≦Sin≦186 μm ±10 %
Sin+1 隣接するサブインターバルの距離 ±12 %
0.88 Bin /2≦Sin+1≦1.12 Bin /2
Bin+1又はSin+1は,Binの直後に隣接する磁束の反転距離。
表6−返却カードの磁束反転距離−トラック2
記号 項目 要求仕様 許容誤差
Ba クロック信号間の平均距離 322 μm≦Ba≦356 μm ±5 %
Bin クロック信号間の個別距離 288 μm≦Bin≦390 μm ±15 %
――――― [JIS X 6302-6 pdf 18] ―――――
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X 6302-6 : 2017 (ISO/IEC 7811-6 : 2014)
表6−返却カードの磁束反転距離−トラック2(続き)
記号 項目 要求仕様 許容誤差
Bin+1 隣接するビットの許容差 ±15 %
0.85 Bin≦Bin+1≦1.15 Bin
Sin サブインターバルの距離 136 μm≦Sin≦203 μm ±20 %
Sin+1 隣接するサブインターバルの距離 ±30 %
0.70 Bin /2≦Sin+1≦1.30 Bin /2
Bin+1又はSin+1は,Binの直後に隣接する磁束の反転距離。
注記 この表は,カードが正常に機能する範囲を示しているだけであり,カードが発行
されてから有効期間内の磁束反転距離を保証するものではない。
10.2.3 文字集合
トラック2に用いる文字集合は,表7に示す5ビット数字符号とする。次の表の文字は,特殊な意味を
もち,その使用方法を記載のように制限する。
文字 意味又は使用方法
:<> 制御用として使用し,データ内容として使用してはならない。
; 始め符号
= 分離符号
・ 終わり符号
表7−5ビット数字符号の文字集合
文字 2進符号 文字 2進符号
P 23 22 21 20 P 23 22 21 20
0 1 0 0 0 0 8 0 1 0 0 0
1 0 0 0 0 1 9 1 1 0 0 1
2 0 0 0 1 0 : 1 1 0 1 0
3 1 0 0 1 1 ; 0 1 0 1 1
4 0 0 1 0 0 < 1 1 1 0 0
5 1 0 1 0 1 = 0 1 1 0 1
6 1 0 1 1 0 > 0 1 1 1 0
7 0 0 1 1 1 ・ 1 1 1 1 1
注記 この文字集合は,JIS X 6302-2の文字集合と同一である(ASCIIから派生したも
の)。
10.2.4 ID-1カードの最大文字数
データ用文字,制御用文字,始め符号,終わり符号及び水平冗長検査文字は,合計して40文字を超えて
はならない。
10.3 トラック3
10.3.1 平均記録密度
平均記録密度(Ba)は,上端基準辺に平行に測定して8.27ビット/mm(210 bpi)とし,その許容誤差
を±8 %とする。
10.3.2 磁束反転距離の許容誤差
未使用記録済みカード及び返却カードの磁束反転距離(図11参照)の許容誤差を,それぞれ,表2及び
表3に示す。
――――― [JIS X 6302-6 pdf 19] ―――――
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X 6302-6 : 2017 (ISO/IEC 7811-6 : 2014)
10.3.3 文字集合
トラック3に用いる文字集合は,表7に示す5ビット数字符号とする。次の表の文字は,特殊な意味を
もち,その使用方法を記載のように制限する。
文字 意味又は使用方法
:<> 制御用として使用し,データ内容として使用してはならない。
; 始め符号
= 分離符号
・ 終わり符号
10.3.4 ID-1カードの最大文字数
データ用文字,制御用文字,始め符号,終わり符号及び水平冗長検査文字は,合計して107文字を超え
てはならない。
11 誤り検出
次に示す2種類の誤り検出方式を記録しなければならない。いずれの場合でも,前端部及び後端部の同
期ビット“0”は,誤り検出の対象として扱ってはならない。
11.1 パリティ
各符号化された文字のためのパリティビットを使用しなければならない。パリティビットは,文字ごと
に記録しなければならない。ここで,パリティビットの値は,パリティビットを含めた文字を構成する“1”
のビットの個数の合計は奇数でなければならない。
11.2 水平冗長検査文字(LRC文字)
LRC文字は,各データトラックに設定しなければならない。LRC文字は,始め符号,データ,終わり符
号の順で読むときの終わり符号の直後に記録しなければならない。LRC文字のビット構成は,データ用文
字のビット構成と同じでなければならない。
LRC文字は,次のように算出しなければならない。
パリティビットを除いたLRC文字の各ビットの値は,データトラック内の全ての文字(始め符号,デー
タ,終わり符号及びLRC文字)を構成する同じビット位置(表4及び表7で2進符号の2nで示す,べき
数の位置)にある“1”のビットの個数の合計は偶数でなければならない。
LRC文字のパリティビットは,データトラックの個々のパリティビットから得られるパリティビットで
はなく,11.1で示すようなLRC文字自体のパリティビットとする。
12 記録トラックの位置
記録トラック位置,記録の開始位置及び記録の終わり位置は,図12に示す値を満足しなければならない。
記録の開始位置は,始め符号の最初のビット“1”の中心線に位置する。記録の終わり位置は,LRC文字
の最後のビット(最後のビットはパリティビットである。)の中心線に位置する。
――――― [JIS X 6302-6 pdf 20] ―――――
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JIS X 6302-6:2017の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO/IEC 7811-6:2014(IDT)
JIS X 6302-6:2017の国際規格 ICS 分類一覧
- 35 : 情報技術.事務機械 > 35.240 : 情報技術(IT)の応用 > 35.240.15 : IDカード及び関連装備
JIS X 6302-6:2017の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB0601:2013
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―表面性状:輪郭曲線方式―用語,定義及び表面性状パラメータ
- JISX6301:2005
- 識別カード-物理的特性
- JISX6305-1:2010
- 識別カードの試験方法―第1部:一般的特性
- JISX6305-2:2010
- 識別カードの試験方法―第2部:磁気ストライプ付きカード
- JISX6305-2:2020
- 識別カードの試験方法―第2部:磁気ストライプ付きカード