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X 6302-6 : 2017 (ISO/IEC 7811-6 : 2014)
表1−未使用未記録カードに対する信号振幅の要求仕様
特性 磁束反転密度 試験記録電流 信号振幅の結果 要求仕様
(磁束反転/mm)
信号振幅 8 Imin UA1 0.8 UR≦UA1≦1.2 UR
信号振幅 8 Imin Ui1 Ui1≦1.26 UR
信号振幅 8 Imax UA2 UA2≧0.8 UR
信号振幅 20 Imax Ui2 Ui2≧0.65 UR
分解能 20 Imax UA3 UA3≧0.7 UA2
消去 0 Imin,DC UA4 UA4≦0.03 UR
余剰パルス 0 Imin,DC Ui4 Ui4≦0.05 UR
減磁 0 Id,DC UA5 UA5≧0.64 UR
減磁 0 Id,DC Ui5 Ui5≧0.54 UR
波形のひずみ部分 3 Imax Ui6,UA6 Ui6≦0.07 UA6
Ui6は,図7に示すUi6の測定範囲における最大信号振幅の絶対値である。
飽和曲線の傾きは,IminとImaxとの間では右肩上がりであってはならない。
注記1 要求仕様は,それぞれ独立して測定するものとし,これらを相互に計算するものではない。また,これら
要求仕様の数値は,未使用未記録カードに対して適用するものであり,既に記録されたカードに対しては
適用されない。
注記2 表1によって測定した分解能が低いことと,表2によって測定した磁束の反転距離変動が大きいこととは
相関付けができる。
――――― [JIS X 6302-6 pdf 11] ―――――
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X 6302-6 : 2017 (ISO/IEC 7811-6 : 2014)
(一次標準で補正した標準カードの飽和曲線)
飽和曲線の例
二次標準で測定した値を一次標準と同等となるように補正した基準飽和曲線
注記 基準飽和曲線は,一次標準の応答結果を示す。ウィンドウパラメータは,機械読取りに対応したカードの
規定である。
図6−8磁束反転/mmにおける許容範囲を示す飽和曲線の例
Ui6の測定は,次の手順で行う。
1. 二つの隣接したピークの中間点を決定する。
2. 中間点と隣接したピークとの間で信号出力が0となる点を決定する(“0”交差点)。
3. 測定範囲は,a(中間点と“0”交差点との距離)を1.5倍した範囲とする。
4. この測定範囲内の最大信号振幅値を決定する。
5. 測定範囲内の最大信号振幅値の絶対値が,この信号のUi6である。
図7−波形のひずみ部分の測定方法
――――― [JIS X 6302-6 pdf 12] ―――――
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X 6302-6 : 2017 (ISO/IEC 7811-6 : 2014)
8 記録方式
各トラックの記録方式は,F2F(two-frequency)記録として知られている。この方式は,自己同期データ
の連続記録を可能にする。この方式は,データとクロック遷移とが組み合わさって成る。クロック信号間
に磁束反転があれば,ビットが“1”であり,クロック信号間に磁束反転がなければ“0”である(図8参
照)。
t 自己同期信号の間隔(タイミング)を示す。
図8−F2F記録の例
データは,隙間のない文字の同期シーケンスとして記録しなければならない。
注記 Imin未満の電流で書き込むと,記録品質が低下することがある。
9 一般記録仕様
9.1 記録角度
記録角度は,磁気ストライプと平行なカードの上端基準辺に対して,90°±20'でなければならない。記
録角度(α)は,読取り出力が最大のときのヘッドギャップの角度の測定から求める(図9参照)。
――――― [JIS X 6302-6 pdf 13] ―――――
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X 6302-6 : 2017 (ISO/IEC 7811-6 : 2014)
図9−記録角度
9.2 公称記録密度
各トラックの公称記録密度は,次による。
トラック1 : 8.27ビット/mm(210 bpi)
トラック2 : 2.95ビット/mm(75 bpi)
トラック3 : 8.27ビット/mm(210 bpi)
9.3 トラック1,2及び3に対する信号振幅
トラック1,2及び3に対する信号振幅の要求仕様は,次による。
未使用記録済みカード : 0.64 UR≦Ui≦1.36 UR
返却カード : 0.52 UR≦Ui≦1.36 UR
信号振幅の下限要求値(未使用記録済みカードの0.64 UR又は返却カードの0.52 UR)と0.07 URとの間
にはノイズのピーク信号があってはならない(図10参照)。
注記 この項目は,指定された記録密度におけるトラック1,2及び3について実際に用いる条件での
信号振幅の制限を規定している。このノイズと,未記録磁気媒体の特性を表している表1の要
求仕様にある余剰パルスとを混同しない。
――――― [JIS X 6302-6 pdf 14] ―――――
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X 6302-6 : 2017 (ISO/IEC 7811-6 : 2014)
図10−信号波形におけるノイズ
9.4 ビット構成
磁気ストライプ領域の各文字のビット構成は,最下位ビット(20)を最初に,パリティビットを最後に
記録しなければならない。
9.5 記録方向
カードの裏面から見て磁気ストライプを上側にした状態で,右端から記録しなければならない。
9.6 前端部及び後端部の同期ビット“0”
最初のデータビットの前及び最後のデータビットの後の全てに,“0”を記録しなければならない。カー
ドの裏面から見て磁気ストライプを上側にした状態で,カードの右端辺から3.30 mmよりも前,及び82.17
mmよりも後の部分での“0”は,この規格の仕様を満足する必要はない。
10 記録仕様
10.1 トラック1
10.1.1 平均記録密度
平均記録密度(Ba)は,上端基準辺に平行に測定して8.27ビット/mm(210 bpi)とし,その許容誤差
を±8 %とする。
10.1.2 磁束反転距離の許容誤差
未使用記録済みカード及び返却カードの磁束反転距離(図11参照)の許容誤差を,それぞれ,表2及び
表3に示す。
表2−未使用記録済みカードの磁束反転距離−トラック1及びトラック3
記号 項目 要求仕様 許容誤差
Ba クロック信号間の平均距離 111 μm≦Ba≦131 μm ±8 %
Bin クロック信号間の個別距離 109 μm≦Bin≦133 μm ±10 %
――――― [JIS X 6302-6 pdf 15] ―――――
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JIS X 6302-6:2017の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO/IEC 7811-6:2014(IDT)
JIS X 6302-6:2017の国際規格 ICS 分類一覧
- 35 : 情報技術.事務機械 > 35.240 : 情報技術(IT)の応用 > 35.240.15 : IDカード及び関連装備
JIS X 6302-6:2017の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB0601:2013
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―表面性状:輪郭曲線方式―用語,定義及び表面性状パラメータ
- JISX6301:2005
- 識別カード-物理的特性
- JISX6305-1:2010
- 識別カードの試験方法―第1部:一般的特性
- JISX6305-2:2010
- 識別カードの試験方法―第2部:磁気ストライプ付きカード
- JISX6305-2:2020
- 識別カードの試験方法―第2部:磁気ストライプ付きカード