JIS X 6305-2:2010 識別カードの試験方法―第２部：磁気ストライプ付きカード | ページ 6

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X 6305-2 : 2010 (ISO/IEC 10373-2 : 2006)
                                          附属書A
                                          (参考)
              試験ヘッドの摩耗現象及び耐摩耗性試験ヘッドの使用

序文

  この附属書は,試験ヘッドの摩耗現象及び耐摩耗性試験ヘッドの使用について記載するものであって,
規定の一部ではない。
A.1 試験ヘッドの摩耗現象
  試験に合った調整を行うためには,本体で定義される試験ヘッドの半径及び形状が重要である。使用回
数を超えた試験装置は,試験ヘッドに平たん部が生じる傾向がある。平たん部は,試験結果に影響を及ぼ
す。試験ヘッドは,使用頻度によって定期的な整備又は交換をしなければならない。平たん部が,ある段
階になると試験結果は信頼できない。使用者は平たん部の摩耗を測定して,寸法Wが試験装置の推奨値を
超えたときに取り替えることが望ましい。寸法Wの推奨値がない場合は,2 mmをWの推奨値とする(図
A.1参照)。
                                   図A.1−平たん部の寸法 W
A.2 耐摩耗コーティング試験ヘッド
  耐摩耗コーティングは,JIS X 6302-2及びJIS X 6302-6に従ってID-1カードを試験した場合の測定誤差
が7 %を超えることが知られている。高速大量試験装置では,耐摩耗コーティング及び/又はJIS X 6302-2
及びJIS X 6302-6の規定に適合しないものを使用していることが知られているが,その測定の結果はよく
知られている材料の場合でさえも,参考情報としてだけ扱うことが望ましい。