JIS X 6305-2:2010 識別カードの試験方法―第２部：磁気ストライプ付きカード | ページ 5

                                                                                             19
                                                            X 6305-2 : 2010 (ISO/IEC 10373-2 : 2006)
                      ここに, “a”は基準カードの校正係数であり,次のように定義する。
                                    基準カードの振幅
                                a
                                     1 次標準の振幅
  次の基準値を算出する。
a)   R=基準電流(0.8 URのときの書込み電流)
b)   R=電流IRに相当する磁束値
c)   IS X 6302-2の要件に対して試験する場合,Imin=磁束が3.5×FRのときの電流
    JIS X 6302-6の要件に対して試験する場合,Imin=磁束が2.8×FRのときの電流
    ISO/IEC 7811-7の要件に対して試験する場合,Imin=磁束が2.2×FRのときの電流
d)   IS X 6302-2の要件に対して試験する場合,Imax=磁束が5.0×FRのときの電流
    JIS X 6302-6の要件に対して試験する場合,Imax=磁束が3.5×FRのときの電流
    ISO/IEC 7811-7の要件に対して試験する場合,Imax=磁束が2.5×FRのときの電流
  JIS X 6302-2:1998にだけ従っているかどうかを確認する場合,次の基準を満たしているかどうかを確認
する。
          ・UA2≦0.95 UR
          ・0.9 Imax≦5.0 IR≦1.1 Imax
  JIS X 6302-6:1999にだけ従っているかどうかを確認する場合,次の基準を満たしているかどうかを確認
する。
          ・UA2≦0.95 UR
          ・0.8 Imax≦3.5 IR≦1.2 Imax
5.5.3.4  供試カードの測定
  基本規格で定義する様々な条件で供試カードに記録し,読み取る。
  消去効果と余剰パルス試験とを除いて,試験前及び各試験を実施するごとに供試カードを高周波の交流
電流で消去する。消去は,平均残留信号が0.05 UR以下を確実に保証する程度とする。
  書換え前後の振幅を比較する試験における2回の書込み間では,カードを消去してはならない。
  消去効果と余剰パルス測定用に供試カードを消去する前に,次に示す試験記録密度及び記録電流Imaxで
カードに記録する。
  基本規格がJIS X 6302-2又はJIS X 6302-6のときは8磁束反転/mmの密度,基本規格がISO/IEC 7811-7
のときは20磁束反転/mm及び基本規格に対する適切な書込み電流Iminでカードに記録する。
5.5.4  試験報告書
  試験報告書には,基本規格で規定する値に関する測定値を記録する。
  総合的な測定値に誤差を生じさせるような条件として,測定した駆動系の速度変動が±0.5 %を超える場
合はその値も,また,試験ヘッドに耐摩耗コーティングが施されているかどうかも記録する。

5.6 ビットセルの変動

  この試験は,記録された供試カードのビットセルの変動を評価することを目的とする(JIS X 6302-2,JIS
X 6302-6及びISO/IEC 7811-7参照)。
5.6.1  試験装置
  ビットセルの測定装置は,5.5.2.1及び5.5.2.4に従わなければならない。また,読取りヘッドについては,
5.5.2.2に従わなければならない。
  特に,試験装置は,試験中のすべての速度に対して40磁束反転/mmにおける位置精度を0.5 %に保持し,

――――― [JIS X 6305-2 pdf 21] ―――――

20
X 6305-2 : 2010 (ISO/IEC 10373-2 : 2006)
また,カードのくず及び汚染に対する何らかの保護策が設けられている構造とする。
  読取りヘッドは,読取りトラックの中心線が書込み試験で記録されたトラックの中心線の±0.15 mm以
内となるように設置する。
    注記 ヘッド又はカードのいずれかの位置を,他方が静止した状態で測定する。
  装置のブロック図を,図17に示す。
                                    図17−測定装置の構成例
5.6.2  試験手順
  供試カードを装置に入れる。
  ヘッド荷重は,測定時に供試カードから最大出力を得るのに必要な最小値に設定し,7 Nを超えないよ
うにする。
  装置を起動させ,隣接する信号ピーク間距離を測定する。
5.6.3  試験報告書
  試験報告書には,基本規格で規定する値の測定値及び各値に関する総合的な測定不確定性も記録する。

5.7 磁気ストライプとカードとの接着性

  この試験は,供試カードの磁気ストライプとカード基板との間の接着の程度を評価することを目的とす
る(JIS X 6302-2及びJIS X 6302-6参照)。
5.7.1  試験装置
  次のものを準備する。
− 片刃の切込み工具(JIS K 5600-5-6参照)
− JIS K 5600-5-6で規定する,幅20 mm以下の透明感圧付着テープ
− 25 mm×50 mmの四角形の開口部が付いた,強固で方形の金属板でできたカード押さえ板
5.7.2  試験手順
  長さ約20 mmの切れ目を,磁気ストライプの中心付近で約20°45°の角度をもって交わるように,2
本入れる。切れ目を入れるときは,カード押さえ板の側面を利用して,一気に磁気ストライプを貫通して
カード基板まで切り込む。
  切れ目の交差部が開口部の中央に位置するように,カード押さえ板をカード上に置く。透明感圧付着テ

――――― [JIS X 6305-2 pdf 22] ―――――

                                                                                             21
                                                            X 6305-2 : 2010 (ISO/IEC 10373-2 : 2006)
ープを75 mmの長さに切り,カード押さえ板の開口部内の磁気ストライプ上にはる。指先で透明感圧付着
テープを押し,切れ目に透明感圧付着テープを確実にはり付ける。
  透明感圧付着テープを正しくはり付け,カード押さえ板の下に正しく位置決めされているカードを,図
18に示す。
  透明感圧付着テープをはってから5分以内に,自由端を保持して,カードの表面にはり付けられた残り
のテープとテープのは(剥)がれた場所との間の角度が60°となるように,0.51秒間で透明感圧付着テ
ープを確実にはがす。透明感圧付着テープをはがすときにカードが動かないよう,カード押さえ板を確実
に保持する。
  透明感圧付着テープ及び磁気ストライプの切れ目交差部を検査する。カードから磁性材がはがれた形跡
があれば記録する。
                                図18−磁気ストライプの接着試験
5.7.3  試験報告書
  試験報告書には,最終検査時にカードから磁性材がはがれた形跡が見られたかどうかを記録する。はが
れた形跡が見られた場合は,試験報告書にその状態及び程度も記録する。

5.8 静的磁気特性

  この試験は,JIS X 6302-6の附属書Dで示す磁気ストライプの静的磁気特性を評価することを目的とす
る。
    注記 JIS X 6302-6の附属書Dは,参考である。この試験方法は,JIS X 6302-6の附属書Dを適用す
          るとき得られた結果の整合性を評価するためにだけ使用する。
  この試験方法で使用する値の定義については,箇条3参照。
5.8.1  試験装置
  次に示す性能をもつ装置
  1) 最大印加磁界±Hmax=±1 200 kA/m (±15 000 Oe)
  2) 測定精度 : Hc±2 %, SQ‖±2 %, SFD(又はSFS)±4 %, SQ    6 %, S160±4 %
5.8.2  試験手順
5.8.2.1  試験条件
  試験片の温度は,21 ℃23 ℃(又は室温)とする。

――――― [JIS X 6305-2 pdf 23] ―――――

22
X 6305-2 : 2010 (ISO/IEC 10373-2 : 2006)
    注記 試験中の試験片の温度は,HcMの測定値に影響する。
5.8.2.2  準備
  試験装置を校正する。試験片を準備する。
5.8.2.3  測定
  次に示す要求値を測定する。
5.8.2.4  長辺方向のヒステリシス曲線測定
  長辺方向が磁界方向と平行となるように,試験片の向きを決定する。
  ±Hmaxの範囲で試験片の磁気モーメントMを測定する。
  最大40 kA/m (500 Oe)ごと及びH'cMの近傍領域では,最大4 kA/m (50 Oe)ごとに得られたデータを使って,
ヒステリシス曲線をプロットする。ヒステリシス曲線の例を,図19に示す。
                                  図19−ヒステリシス曲線の例
  得られたヒステリシス曲線から,次の値を得る。
− 試験片の保磁力 H'cM
− Hmaxにおける飽和磁化 Mmax
− 残留磁化 Mr
− ±0.5 Mrに対応する磁界の値H1及びH2
  これらの値から,基本規格で定義する水平方向の角形比SQ‖及びスイッチングフィールドディストリビ
ューションSFS又はSFD(プロットされたヒステリシス曲線の微分係数)を計算する。
5.8.2.5  垂直方向のヒステリシス曲線測定
  長辺方向が磁界方向に対して90°±2°以内となるよう試験片の向きを決める。
  ±Hmaxの範囲で磁気モーメントMを測定する。
  最大40 kA/m (500 Oe)ごと及びH'cMの近傍領域では,最大4 kA/m (50 Oe)ごとに得られたデータを使って,
ヒステリシス曲線をプロットする。結果は,図19に示す曲線に類似する。
  得られたヒステリシス曲線から,次の値を得る。

――――― [JIS X 6305-2 pdf 24] ―――――

                                                                                             23
                                                            X 6305-2 : 2010 (ISO/IEC 10373-2 : 2006)
− 飽和磁化 (Mmax)
− 残留磁化 (Mr)
  基本規格で定義する垂直方向の角形比SQ    帰    算する。
5.8.2.6  長辺方向の静的減磁S160の測定
  長辺方向が磁界方向と±2°以内で平行となるように,試験片の向きを決定する。
  磁界+Hmaxを与え,それを0に減少させ,試験片の残留磁化Mrを測定する。
  次に,−160 kA/m (−2 000 Oe)の磁界を与え,それを0に減少させ,試験片の残留磁化M+(−160)を測定す
る。
  基本規格で定義する静的減磁S160を計算する。
5.8.3  試験報告書
  試験報告書には,求めた数値を記録し,また,各結果が基本規格の要件を満たしているかも記録する。

5.9 波形Ui6

  この試験は,規定された条件で記録したときの読取り波形に含まれる波形のひず(歪)みの程度を評価
することを目的とする(JIS X 6302-6及びISO/IEC 15457-2参照)。
5.9.1  試験装置
  試験は,基本規格JIS X 6302-6に代わり5.5の振幅測定に規定する装置を使用して行う。
5.9.2  試験手順
  同じ装置及び同じ条件で一連の測定を行う。
  測定するときの読取りは,書込みと同一方向で行わなければならない。読取り前にカードを移動するの
は,書込み後に開始位置まで戻す場合だけでなければならない。
  基本規格で規定された条件及び次に示す方法でカードを書込み,及び読取りを行う。
  1) カード全長にわたってトラック2に磁束反転を記録する。
  2) 平均振幅UA6の値を測定結果から得る。
  3) 基本規格の手順でカードのUi6の最大値を見つけ,Ui6値として記録する。
5.9.3  試験報告書
  試験報告書には,求めた数値を記録し,また,各結果が基本規格の要件を満たしているかも記録する。

5.10 高保磁力,高密度記録の重ね書き

  この試験は,磁気ストライプの磁気記録履歴によって生じる電流波形のひず(歪)みの程度を評価する
ことを目的とする(ISO/IEC 7811-7参照)。
5.10.1 試験装置
  試験は,フィルタを含めて基本規格ISO/IEC 7811-7に代わり5.5の振幅測定に規定する装置を使用して
行う。
5.10.2 試験方法
  電流Imaxで,かつ,20磁束反転/mmでストライプのカード全長に書き込む。ハニング窓(Hanning window
又はHann window)を使用し20磁束反転/mmのUF20Bを記録する。
  電流Iminで,かつ,40磁束反転/mmでストライプのカード全長に書き込む。ハニング窓を使用し20磁
束反転/mmのUF20Aを記録する。
5.10.3 試験報告書
  試験報告書には,UF20B及びUF20A値を記録し,また,各結果が基本規格の要件を満たしているかも記録
する。

――――― [JIS X 6305-2 pdf 25] ―――――

次のページ PDF 26