JIS X 6305-2:2010 識別カードの試験方法―第２部：磁気ストライプ付きカード | ページ 4

14
X 6305-2 : 2010 (ISO/IEC 10373-2 : 2006)
                                                                                 単位 mm
      注a) 値については,表2参照。
                                  図12−検査ヘッド磁心の形状
  図13に示すように,書込みヘッドの磁心の別々の脚に2層以上にならないようにコイルを100回巻き,
全部で4本のリード線は,外部へのリード線として終端させる。
                                    図13−検査ヘッドの巻線
  ギャップ,磁心の幅などは,表2に示す。表の数値はすべて,光学的に測定する。

――――― [JIS X 6305-2 pdf 16] ―――――

                                                                                             15
                                                            X 6305-2 : 2010 (ISO/IEC 10373-2 : 2006)
                                      表2−試験ヘッド仕様
        ヘッド機能                  読取り                             書込み
   基本規格             JIS X 6302-2及びISO/IEC 7811-7  JIS X 6302-2 JIS X 6302-6 ISO/IEC 7811-7
                        JIS X 6302-6
   薄板厚さ                      最大0.18 mm                          図12参照
   曲率半径             未使用のヘッドで19 mm±0.19 mm。ギャップの平たん部分は除く。
   ストライプとの接触幅                             2.8 mm3.5 mm
   磁心の幅             1.4 mm±0.14 mm 0.5 mm±0.05 mm       最小2.79 mm         最小1.0 mm
   ギャップ             12.7 m±1.27 m   6 m±0.6 m       0.025 mm     0.051 mm     0.025 mm
                                                        ±0.002 5 mm ±0.005 1 mm ±0.002 5 mm
   飽和誘導                                              最小0.8 T           最小2.3 T
   注記 試験ヘッドの平たん部分の寸法は,磁気ストライプとの良好な接触の維持に影響する。試験ヘッドの摩耗
        に応じて再校正を行う。
  ヘッドは,アジマスずれが10′(分)以下となるように,相互に機械的に独立するように取り付けなけ
ればならない。読取りトラックの中心線は,書込みトラックの中心線の±0.15 mm以内になければならな
い。
  ヘッドにかける力は,校正時に基準カードから最大出力を得るのに必要な最小値に設定し,7 Nを超え
てはならない。
    注記 ヘッドにかける力は,おおよそ3 Nである。
5.5.2.3  書込みヘッド駆動
  公称記録密度8磁束反転/mm20磁束反転/mmで測定される書込み電流Iの波形は,図14aに示す。た
だし,ISO/IEC 7811-7の規定に従う記録密度の波形は,図14bに示す。
注記1 電流波形は,破線で示す限度内になければならない。
注記2 波形の比は,T1=T2±5 %になければならない。
                                  図14a−代表的な記録電流波形

――――― [JIS X 6305-2 pdf 17] ―――――

16
X 6305-2 : 2010 (ISO/IEC 10373-2 : 2006)
注記1 電流波形は,破線で示す限度内になければならない。
注記2 波形の比は,T1=T2±5 %になければならない。
                        図14b−ISO/IEC 7811-7の規定に従う記録密度の波形
5.5.2.4  読取り装置
  読取り装置に接続した場合の読取りヘッドの残留磁気による影響は,連続して5回読み取った後,使用
中の基準カードの平均信号振幅減少が5 %未満とする。
  読取り装置の分解能は,試験記録電流Imax(5.5.3.3参照)で次に示す記録密度を用いて基準カードで試
験したとき,85 %100 %の間でなければならない。
− JIS X 6302-2及びJIS X 6302-6に従う試験の場合の記録密度は,8磁束反転/mm及び20磁束反転/mm
    とする。
− ISO/IEC 7811-7に従う試験の場合の記録密度は,20磁束反転/mm及び40磁束反転/mmとする。
  読取り装置の構成は,次による。
a) 線形増幅器 増幅器は,自動感度調整機能をもたず,ノイズがURの0.5 %未満(5.5.3.2参照)で,図
    15の位置2から位置3までの範囲に対応する周波数において,周波数応答が±0.2 dB以内の平たんな
    特性でなければならない。
      この範囲は,次のc) に示すフィルタの帯域幅の特性に相当する。この帯域範囲の両外側で,出力が
    あってはならない。

――――― [JIS X 6305-2 pdf 18] ―――――

                                                                                             17
                                                            X 6305-2 : 2010 (ISO/IEC 10373-2 : 2006)
b) 表示及び測定手段 ストレージオシロスコープなどで,信号の振幅を測定する。
c) 帯域通過フィルタ このフィルタは,消去効果 (UA4) と余剰パルス (Ui4) とを除き,全測定に使用す
    る。
      フィルタの通過帯域の上下端は,二次応答(12 dB/オクターブの傾斜)を示す。通過帯域応答は,
    0.25周期/mm(0.5磁束反転/mm)10.5周期/mm(21磁束反転/mm)に対応する周波数において,0.2 dB
    以内の平たんな特性でなければならない。特性を図15に示す。
      フィルタ応答性は,帯域端から少なくとも1ディケード(周波数が10倍又は1/10になるまでの周
    波数変化)の間は,減衰を続けなければならない。また,この1ディケードの範囲では,−40 dBを
    超えてはならない。1ディケードの範囲外では,他のフィルタ特性を使用してもよい。
              位置            試験記録密度                 試験磁束反転の密度
                    JIS X 6302-2及び ISO/IEC 7811-7  JIS X 6302-2及びISO/IEC 7811-7
                    JIS X 6302-6                     JIS X 6302-6
                                 回/mm                        磁束反転/mm
             位置1                0.009                           0.018
             位置2                0.025                           0.05
             位置3         10.5            28              21              56
             位置4         30              80              60             160
                                  図15−フィルタの周波数特性
5.5.3  試験手順
  すべての測定は,同じ装置を使用し,同じ条件の下で実行する。
  すべての測定は,書込みと同一の方向で読取りを行い,同じ通過回数の後,測定する。
5.5.3.1  試験書込みヘッドの磁束及び電流特性の確認
  磁束の出力と書込み電流との相関をとり,次の方法で書込みヘッドの特性を試験する。
  各電流振幅 (I) については,図16に示す装置を使って,対応する磁束振幅 (F) を記録する。

――――― [JIS X 6305-2 pdf 19] ―――――

18
X 6305-2 : 2010 (ISO/IEC 10373-2 : 2006)
           注記1 電流源の電圧に対する電流の直線性は,±2 %以内とする。
           注記2 積分器の損失=2 000      RC=6 283×RCは,少なくとも200とする。
                                 図16−ヘッド特性試験装置の例
5.5.3.2  基準カードからUmaxとIRとの測定
  8磁束反転/mmの密度で書き込まれた基準カード(5.5.1参照)を使用し,飽和曲線を描き,最大出力信
号電圧 (Umax) 及び基準書込み電流 (IR) を求め,基本規格に適合した試験記録密度に校正する。基本規格
JIS X 6302-2及びJIS X 6302-6に対する試験記録密度校正は8磁束反転/mmであり,基本規格ISO/IEC
7811-7に対する試験記録密度校正は,20磁束反転/mmである。それぞれ電流値に対する,基準カードの平
均出力信号電圧を記録する。
  各電流振幅での記録前に,カードは高周波の交流電流で消去する。消去は,平均残留信号が0.05 UR以
下を確実に保証する程度とする。
  この校正工程(基準カードからURの値を求める。)は,基準カードに対して書込みを行った直後に読取
りを行う方法で実施する。
    注記1 読取りを行う前に,書込みの後で書込みヘッド又は読取りヘッドが接触すると,URの値に影
            響を及ぼすことがある。
  校正工程は,少なくとも3回行う。出力変動が2 % (±1 %) 以上の場合,校正手順をやり直す。
    注記2 検査済みの5枚の基準カードで信号出力を比較して,基準カードの精度を定期的に確認する
            ことを推奨する。
5.5.3.3  基準値の算出
  ヘッドの特性試験装置の校正のために必要な値は,次の式によって求める。
                          R  Umax
                        U
                               a

――――― [JIS X 6305-2 pdf 20] ―――――

次のページ PDF 21