JIS X 6305-2:2010 識別カードの試験方法―第2部:磁気ストライプ付きカード | ページ 3

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X 6305-2 : 2010 (ISO/IEC 10373-2 : 2006)
a=ストライプ内最大垂直変位量
b=1 mm(最小)
W=関連する基本規格で規定する最小磁気ストライプ幅
図6−凹面ストライプ断面形状
a=ストライプ内最大垂直変位量
b=1 mm(最小)
W=関連する基本規格で規定する最小磁気ストライプ幅
図7−凸面ストライプ断面形状
5.2.3.2 磁気ストライプの盛上がり高さ
V,X,Y線に沿った3か所の測定では,始点と終点とを結ぶことによって基準測定線(図8及び図9
参照)を形成する。基準測定線の傾きは,記録方向の10°以内とする。
領域内最大垂直変位量(h)は,基準測定線と磁気ストライプ上との基準測定線から最も離れた点との距
離である。測定は,記録方向に対して直角方向で行う。
b=1 mm(最小)
h=関連する基本規格で規定する領域内最大垂直変位量
図8−凹面ストライプ断面形状

――――― [JIS X 6305-2 pdf 11] ―――――

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X 6305-2 : 2010 (ISO/IEC 10373-2 : 2006)
b=1 mm(最小)
h=関連する基本規格で規定する領域内最大垂直変位量
図9−凸面ストライプ断面形状
5.2.4 試験報告書
5.2.4.1 磁気ストライプの断面形状
試験報告書には,V,X,Y線に沿った3か所の測定で,それぞれのストライプ内最大垂直変位量 (a) の
測定値を記録する。
5.2.4.2 磁気ストライプの盛上がり高さ
試験報告書には,V,X,Y線に沿った3か所の測定で,それぞれの領域内最大垂直変位量 (h) の測定
値を記録する。

5.3 磁気ストライプの表面粗さ

  この試験は,供試カードの磁気ストライプの表面粗さの程度を測定することを目的とする(JIS X 6302-2
及びJIS X 6302-6参照)。
5.3.1 試験手順
磁気ストライプの表面粗さは,図3に示すような装置によって測定する。測定は,表面粗さが最も悪い
と思われる場所を横断して,各々の方向に対し少なくとも3か所行う。
すべての試験条件は,次の記載事項を除き,5.2で定めた試験条件を適用する。
− 触針先端の半径は,2 は5
− カットオフ値及び評価長さは,JIS B 0633及びJIS B 0651に従って選択する。
− 磁気ストライプの長辺方向と短辺方向とで測定する。
5.3.2 試験報告書
試験報告書には,長辺方向及び短辺方向で測定した磁気ストライプ表面の平均粗さRa値を記録する。

5.4 磁気ストライプの耐摩耗性

  この試験は,供試カードに対して一定の摩耗を行った後の,磁気ストライプの信号振幅を評価すること
を目的とする(JIS X 6302-2及びJIS X 6302-6参照)。
5.4.1 試験装置
金属ダミーヘッドは,硬度がビッカース硬さで110 HV130 HV又は同等のロックウェル硬さの材料で
作製する。所要寸法は,図10に示す。
カードを固定する台は,堅くて平たんとする。

――――― [JIS X 6305-2 pdf 12] ―――――

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X 6305-2 : 2010 (ISO/IEC 10373-2 : 2006)
単位 mm
図10−ダミーヘッドの接触部の寸法
5.4.2 試験手順
基本規格で規定した試験記録電流Iminで,かつ,20磁束反転/mmで供試カードに磁気記録したものを読
み取り,その信号振幅を記録する。
磁気ストライプの長辺方向へダミーヘッドが移動できるように,平たんな台上に,磁気ストライプを上
向きにして供試カードを固定する。また,カードがダミーヘッドの下を移動できてもよい(図11参照)。
カードを固くて平たんな台に取り付ける場合,試験の間カードが平らな状態で保持されるように固定する。
ダミーヘッドに対して1.5 N±0.2 Nの力を加え,200 mm/s500 mm/sの速度でダミーヘッドを2 000回
往復させる(1往復を1回とする。)。同じ装置で信号振幅を読み取り,それを初期出力信号振幅と比較す
る。
書込みヘッド及び読取りヘッドの位置は,ダミーヘッドで摩耗させた領域の範囲内に完全に入っていな
ければならない。

――――― [JIS X 6305-2 pdf 13] ―――――

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X 6305-2 : 2010 (ISO/IEC 10373-2 : 2006)
図11−ダミーヘッド及び磁気ストライプ
5.4.3 試験報告書
試験報告書には,摩耗の前後で測定した基本規格で規定する信号振幅の測定値を記録する。

5.5 振幅測定

  この試験は,供試カードの磁気ストライプの信号振幅,分解能,消去,減磁及び波形のひず(歪)み部
分が該当する基本規格と一致するかを確認するために測定することを目的とする。すなわち,
− 約48 kA/m (600 Oe)までの保磁力をもつ磁気ストライプが,JIS X 6302-2に従っているかどうかの確
認。
− 80 kA/m (1 000 Oe)以上の保磁力をもつ磁気ストライプが,JIS X 6302-6に従っているかどうかの確認。
− 80 kA/m (1 000 Oe)以上の保磁力をもち,記録密度40磁束反転/mmの磁気ストライプが,ISO/IEC
7811-7に従っているかどうかの確認。
注記1 消去及び波形のひず(歪)み部分は,JIS X 6302-6だけで要求される。
注記2 この試験は,JIS X 6302-2の附属書1に規定するおもて面磁気ストライプ付き識別カードに
も利用してもよい。
5.5.1 校正基準
校正基準カードは,適合性の確認に対応する基本規格に従って選択する。

――――― [JIS X 6305-2 pdf 14] ―――――

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X 6305-2 : 2010 (ISO/IEC 10373-2 : 2006)
JIS X 6302-2が基本規格の場合,RM 7811-2タイプの基準カードを使用する。
JIS X 6302-6が基本規格の場合,RM 7811-6タイプの基準カードを使用する。
ISO/IEC 7811-7が基本規格の場合,RM 7811-7タイプの基準カードを使用する。
注記1 基準カードは,Q-CARD Laboratories(所在地 : 301 Reagan Street, Sunbury, PA 17801 USA.
Tel:570-286-7447又はorder reference cards from www.q-card.com)で入手可能である。この情報
は規格で定めたものではないが,国際規格の使用者への便宜のために記載する。
注記2 クリーニング剤を使用すると,検査済みの特性が劣化する可能性がある。したがって,クリ
ーニング剤を使用した基準カードは,破棄する。
注記3 JIS X 6302-2の附属書1に規定するおもて面磁気ストライプ付き識別カードに該当する基準
カードはない。
5.5.2 試験装置
5.5.2.15.5.2.4に示す項目及び特性を備えた機能からなる記録・読取り装置が必要である。
5.5.2.1 機械的駆動装置
測定中,カードは平らに保持しなければならない。
駆動装置は,平均移動速度の変動が±0.5 %以内で,ヘッド圧は安定していなければならない。
注記 速度及びヘッド圧の変化は,測定精度を低下させる。特に瞬間的な速度変動は,個々の信号振
幅の測定精度に影響する。
平均速度変動が要求の±0.5 %を超えるときは,実際の速度変動を試験結果に記録しなければならない。
5.5.2.2 試験ヘッド
試験ヘッドは,黄銅,アルミニウムなど非磁性材のケースに内蔵され,書込みヘッドと読取りヘッドと
が分離した構造となっていなければならない。
的確な周波数応答を保証するため,読取りヘッドは,最高厚さ0.18 mmの薄板状金属構造とする。
書込みヘッドの磁心は,図12のような金属薄板構造とする。正面のギャップ材は,強磁性の不純物がな
いベリリウム銅とする。耐摩耗コーティングは使用してはならない(附属書A参照)。

――――― [JIS X 6305-2 pdf 15] ―――――

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JIS X 6305-2:2010の引用国際規格 ISO 一覧

  • ISO/IEC 10373-2:2006(IDT)

JIS X 6305-2:2010の国際規格 ICS 分類一覧

JIS X 6305-2:2010の関連規格と引用規格一覧