JIS X 6305-2:2010 識別カードの試験方法―第２部：磁気ストライプ付きカード | ページ 2

4
X 6305-2 : 2010 (ISO/IEC 10373-2 : 2006)
3.15
エルステッド,Oe (oersted)
  磁界強度のガウスcgs単位系。磁気記録業界で一般的に用いられてきた。1 Oeは,79.578 A/mに相当す
る(JIS Z 8202-5:2000参照)。
3.16
静的減磁,S160 (static demagnetisation)
  反対方向磁界の影響による磁性の減少。[Mr−M+(    160)   ]÷Mrで表される。静的飽和磁化M(H) 曲線の“減
磁”部分の象限において,磁界強度がH=0とH=−160 kA/mとの間で得られる磁化曲線の平均な傾きを
示す。
3.17
角形比,SQ (squareness)
  ゼロ磁界強度 (H=0) での磁性値 (Mr) と,静的飽和磁化M(H) 曲線から得られたHmaxでの磁性値[M
(Hmax)   ] との比率 [Mr/M (Hmax)   ]。
3.18
水平角形比,SQ‖ (longitudinal squareness)
  磁気ストライプの長辺方向と平行に測定された媒体の角形比。
3.19
垂直角形比,SQ        perpendicular squareness)
  磁気ストライプの平面と垂直に測定された媒体の角形比。
3.20
微分係数 (derivative) によるスイッチングフィールド,SFD (switching field by derivative)
  微分 (differentiated) された静的飽和磁化M(H) 曲線を同じカーブの保磁力で除した半値幅。
3.21
スロープによるスイッチングフィールド,SFS (switching field by slope)
  静的飽和磁化M(H) 曲線において,M(H)=+0.5Mr及びM(H)=−0.5Mrからなる2種類の磁界強度Hの
差を保磁力H'cMで除した値。次の式で表す。
                               H2   H1
                         SFS
                                 HcM
                      ここに, |H1|及び|H2|は,次の式を満たす磁界強度である。
                                M    H1    5.0Mr
                                 M   H2     5.0Mr
3.22
最大角形比の角度,Θ (SQmax) (angle of maximum squareness)
  角形比の最大値が見いだされた方向と,磁気ストライプの長辺方向軸との角度。
3.23
分解能 (resolution)
  20磁束反転/mmの平均信号振幅を8磁束反転/mmの平均信号振幅で除した数に100を乗じた値(%)。
3.24
UFi
  磁気ストライプのすべての波形のフーリエスペクトルの指定周波数における個々の要素の大きさ。

――――― [JIS X 6305-2 pdf 6] ―――――

                                                                                              5
                                                            X 6305-2 : 2010 (ISO/IEC 10373-2 : 2006)

4 指定がない場合の試験環境及び条件

4.1 試験環境

  ほかに規定がない場合,試験は温度23 ℃±3 ℃,及び相対湿度40 %60 %の環境で行う。

4.2 事前調整

  試験方法によって事前調整が必要な場合,試験するIDカードは,試験前に24時間,上記試験環境にな
じませる。

4.3 試験方法の選択

  カードに追加する技術の種類に応じた関連する基本規格によって規定された試験を行わなければならな
い。

4.4 指定がない場合に適用される公差

  ほかに規定がない場合,試験装置の特性,試験手順で試験装置の調整範囲などを表す量的な値(長さで
表される寸法など)に対して±5 %の公差を適用する。

4.5 総合的な測定不確定性

  これらの試験方法によって決定される各数量の総合的な測定の不確かさは,試験報告書に記録する。

5 試験方法

5.1 磁気ストライプ領域の反り

  この試験は,磁気ストライプ領域の供試カードの反りの程度を測定することを目的とする(JIS X 6302-2,
JIS X 6302-6及びISO/IEC 7811-7参照)。
  この試験方法は,エンボスされたカード及びエンボスされていないカードの両方に適用できる。
5.1.1  試験装置
  試験装置は,図1に示すとおり,次によって構成される。
a) 表面粗さがJIS B 0031で規定する3.2            下の平たんな硬い盤(以下,定盤という。)を使用する。
    定盤には,ダイヤルゲージの測定子が通る開口部を設ける。
b) 指示精度(狭範囲行き精度)の許容差が2.5         内で,接触面が直径3 mm8 mmの半球の測定子を
    もつダイヤルゲージを使用する。測定子の測定力は,f=0.6 N±0.3 Nとする。
c) 測定対象の磁気ストライプ領域とは反対側の面に対し,均一に分布する荷重F=2.2 Nを加える。
                                        図1−測定の方法

――――― [JIS X 6305-2 pdf 7] ―――――

6
X 6305-2 : 2010 (ISO/IEC 10373-2 : 2006)
5.1.2  試験手順
  供試カードを測定する磁気ストライプ領域とは反対側の面が上向きになるようにして,測定する磁気ス
トライプ領域が定盤の開口部にくるように置く。
  2.2 Nの荷重を,その荷重と反対方向に働くダイヤルゲージの測定力を補正するために,fの荷重だけ増
加させる。
  磁気ストライプ領域上の反対側の面に直接荷重F(+f ) を加え,1分間放置後測定する。
  図2に示すように,磁気ストライプに沿って9か所の磁気ストライプ領域の反りを測定する。指定の9
か所よりも反りが大きいと思われる場所がある場合には,追加して測定する。
                                                                     単位 mm
                  注記 xの値は,表1に示す。
                                     図2−カード上の測定点
                                       表1−測定点の位置
                                 磁気ストライプ領域    寸法x
                                                        mm
                                 トラック1,2           8.00
                                 トラック1,2,3       10.70
5.1.3  試験報告書
  試験報告書には,測定結果の最大値を記録する。

5.2 磁気ストライプの盛上がり高さ及び断面形状

  この試験は,供試カードの磁気ストライプの盛上がり高さ及び平面度を測定することを目的とする(JIS
X 6302-2,JIS X 6302-6及びISO/IEC 7811-7参照)。
  磁気ストライプの盛上がり高さは,カード及びストライプ断面形状によって決まる。
5.2.1  試験装置
  試験装置の構成は,次による。
a) 触針式表面粗さ測定機(図3参照)
b) 図4に示すような切欠きが入った剛性のある金属板(カード保持板)。剛性がある任意の金属板が使用
    可能であるが,その厚さは,材料密度に応じて2.2 N±0.1 Nの重量となるように調整する。板の寸法

――――― [JIS X 6305-2 pdf 8] ―――――

                                                                                              7
                                                            X 6305-2 : 2010 (ISO/IEC 10373-2 : 2006)
    公差は,すべて±0.5 mm以内とする。
                  図3−磁気ストライプの盛上がり高さ及び断面形状を測定する装置
                                                                           単位 mm
                               図4−カード保持板(接触面の形状)
5.2.2  試験手順
  供試カードを,図4に示すような切欠きが入った剛性のある金属板で保持する。
  磁気ストライプの盛上がり高さ及び断面形状を,その周辺のカード表面を含めて測定記録装置を用いて
測定する。
  断面形状は,0.38 mm2.54 mmの半径をもった触針に0.5 mN6 mNの力を加え,最大1 mm/sの速度
で測定する。
  各供試カードの磁気ストライプ幅を横切った3か所で測定を行う。3か所の測定位置V,X,Yは,カー
ドの両端から15 mm±2 mmの距離にあるV,Y線及びカードの中心線Xとする(図5参照)。

――――― [JIS X 6305-2 pdf 9] ―――――

8
X 6305-2 : 2010 (ISO/IEC 10373-2 : 2006)
  指定の3か所よりも高さ又は断面形状変差が大きいと思われる場所がある場合には,追加して測定する。
                                                                             単位 mm
                            図5−磁気ストライプの断面形状の測定位置
  V,X,Y線に沿った各測定は,磁気ストライプの上端から少なくとも1 mm上から,下端から少なくと
も1 mm下まで行う。
    注記 断面形状測定用の供試カードを準備するとき,断面形状記録結果から最小ストライプ幅Wを見
          つけるために,鋭利なナイフを使ってカードの上端辺に平行に線を軽くけがくとよい。
5.2.3  結果の表現
5.2.3.1  磁気ストライプの断面形状
  V,X,Y線(図5参照)に沿った測定では,基準測定線(図6及び図7参照)は,最小磁気ストライプ
幅 (W) の両端を定義する上端と下端とを結ぶことによって形成する。基準測定線の傾きは,10°以内とす
る。
  ストライプ内最大垂直変位量 (a) は,基準測定線と磁気ストライプ上の基準測定線から最も離れた点と
の距離である。測定は,記録方向に対して直角方向で行う。

――――― [JIS X 6305-2 pdf 10] ―――――

次のページ PDF 11