JIS X 6305-2:2020 識別カードの試験方法―第２部：磁気ストライプ付きカード | ページ 6

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X 6305-2 : 2020 (ISO/IEC 10373-2 : 2015)
5.8.2.3 測定
  5.8.2.45.8.2.6に示す要求値を測定する。
5.8.2.4 長辺方向のヒステリシス曲線測定
  長辺方向が磁界方向と平行となるように,試験片の向きを決定する。
  ±Hmaxの範囲で試験片の磁気モーメントMを測定する。
  試験片にプラス方向及びマイナス方向に磁界を印加し,それぞれ磁気モーメントが変化しなくなるまで
ヒステリシス曲線をプロットするが,プロットの間隔は最大40 kA/m (500 Oe)ごと及びH'cMの近傍領域で
は最大4 kA/m (50 Oe)ごととする。プロットしたヒステリシス曲線の例を,図19に示す。
                                  図19−ヒステリシス曲線の例
  得られたヒステリシス曲線から,次の値を得る。
− 試験片の保磁力 H'cM
− Hmaxにおける飽和磁化 Mmax
− 残留磁化 Mr
− ±0.5 Mrに対応する磁界の値H1及びH2
  これらの値から,基本規格で定義する水平角形比SQ··及びスイッチングフィールドディストリビューシ
ョンSFS又はSFD(プロットされたヒステリシス曲線の微分係数)を計算する。
5.8.2.5 垂直方向のヒステリシス曲線測定
  長辺方向が磁界方向に対して90°±2°となるよう試験片の向きを決定する。
  ±Hmaxの範囲で磁気モーメントMを測定する。
  試験片にプラス方向及びマイナス方向に磁界を印加し,それぞれ磁気モーメントが変化しなくなるまで
ヒステリシス曲線をプロットするが,プロットの間隔は最大40 kA/m (500 Oe)ごと及びH'cMの近傍領域で
は最大4 kA/m (50 Oe)ごととする。結果は,図19に示す曲線に類似する。
  得られたヒステリシス曲線から,次の値を得る。
− 飽和磁化(Mmax)

――――― [JIS X 6305-2 pdf 26] ―――――

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− 残留磁化(Mr)
  基本規格で定義する垂直角形比SQ   帰   算する。
5.8.2.6 長辺方向の静的減磁S160の測定
  長辺方向が磁界方向と±2°で平行となるように,試験片の向きを決定する。
  磁界+Hmaxを与え,それを0に減少させ,試験片の残留磁化Mrを測定する。
  次に,−160 kA/m (−2 000 Oe)の磁界を与え,それをゼロに減少させ,試験片の残留磁化M+(−160)を測定
する。
  基本規格で定義する静的減磁S160を計算する。
5.8.3 試験報告書
  試験報告書には,求めた数値,及び各結果が基本規格の要件を満たしているかを記録する。

5.9 波形Ui6

  この試験は,規定する条件で記録したときの読取り波形に含まれる波形のひず(歪)みの程度を評価す
ることを目的とする(JIS X 6302-6及びISO/IEC 15457-2参照)。
5.9.1 試験装置
  基本規格JIS X 6302-6の振幅特性の試験では5.5に規定する装置を使用して行う。
5.9.2 試験手順
  同じ装置及び同じ条件で一連の測定を行う。
  測定するときの読取りは,書込みと同一方向で行わなければならない。読取り前にカードを移動するの
は,書込み後に開始位置まで戻す場合だけでなければならない。
  基本規格で規定された条件及び次に示す方法でカードの書込み,及び読取りを行う。
a) カード全長にわたってトラック2に磁束反転を記録する。
b) 平均振幅UA6の値を測定結果から得る。
c) 基本規格の手順でカードのUi6の最大値を見つけ,Ui6値として記録する。
5.9.3 試験報告書
  試験報告書には,求めた数値を記録し,また,各結果が基本規格の要件を満たしているかも記録する。

5.10 高保磁力,高密度記録の重ね書き

  この試験は,磁気ストライプの磁気記録履歴によって生じる電流波形のひず(歪)みの程度を評価する
ことを目的とする(ISO/IEC 7811-7参照)。
5.10.1 試験装置
  基本規格ISO/IEC 7811-7の振幅測定の試験ではフィルタを含めて5.5に規定する装置を使用して行う。

――――― [JIS X 6305-2 pdf 27] ―――――

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5.10.2 試験方法
  電流Imaxで,かつ,20磁束反転/mmでストライプのカード全長に書き込む。ハニング窓(Hanning window)
を使用し20磁束反転/mmのUF20Bを記録する。
  電流Iminで,かつ,40磁束反転/mmでストライプのカード全長に書き込む。ハニング窓を使用し20磁
束反転/mmのUF20Aを記録する。
5.10.3 試験報告書
  試験報告書には,UF20B及びUF20A値を記録し,また,各結果が基本規格の要件を満たしているかも記録
する。

――――― [JIS X 6305-2 pdf 28] ―――――

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                                           附属書A
                                          (参考)
             試験ヘッドの磨耗の影響及び耐磨耗性試験ヘッドの使用
A.1 試験ヘッドの磨耗の影響
  試験に合った調整を行うためには,本体で定義する試験ヘッドの半径及び形状が重要である。使用回数
を超えた試験装置は,試験ヘッドに平たん部が生じる傾向がある。平たん部は,試験結果に影響を及ぼす。
試験ヘッドは,使用頻度によって定期的な整備又は交換をしなければならない。平たん部が,ある段階に
なると試験結果は信頼することが不可能である。使用者は平たん部の磨耗を測定して,寸法Wが試験装置
の推奨値を超えたときに取り替えることが望ましい。寸法Wの推奨値がない場合は,2 mmをWの推奨値
とする(図A.1参照)。
                                   図A.1−平たん部の寸法 W
A.2 耐磨耗コーティング試験ヘッド
  耐磨耗コーティングは,JIS X 6302-2及びJIS X 6302-6に従ってID-1カードを試験した場合の測定誤差
が7 %を超えることが知られている。高速大量試験装置では,耐磨耗コーティング並びにJIS X 6302-2及
びJIS X 6302-6の規定に適合しないものを使用していることが知られているが,その測定の結果はよく知
られている材料の場合であっても,参考情報としてだけ扱うことが望ましい。

――――― [JIS X 6305-2 pdf 29] ―――――

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                                          参考文献
  IEC 60050-221,International Electrotechnical Vocabulary. Chapter 221: Magnetic materials and components
  IEC 80000-6,Quantities and units−Part 6: Electromagnetism
  ISO/IEC 15457-2,Identification cards−Thin flexible cards−Part 2: Magnetic recording technique