JIS X 6305-2:2020 識別カードの試験方法―第２部：磁気ストライプ付きカード | ページ 5

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                                                            X 6305-2 : 2020 (ISO/IEC 10373-2 : 2015)
                                 図16−ヘッド特性試験装置の例
5.5.3.2 基準カードによるUmax及びIRの決定
  表2Bに示す試験記録密度で書き込まれた基準カード(5.5.1参照)を使用し,飽和曲線を描き,最大出
力信号電圧(Umax)及び基準書込み電流(IR)を求める。それぞれ電流値に対する,基準カードの平均出力
信号電圧を記録する。
                                      表2B−試験記録密度
                       試験記録密度          JIS及びISO/IEC基本規格
                       8磁束反転/mm  JIS X 6302-2,JIS X 6302-6,ISO/IEC 7811-8
                                      及びISO/IEC 8484
                      20磁束反転/mm              ISO/IEC 7811-7
  各電流振幅での記録前に,カードは高周波の交流電流で消去する。平均残留信号が0.05 UR未満となる
ように消去する。
  この校正工程(基準カードからUR及びIRの値を求める。)は,基準カードに対して書込みを行った直後
に読取りを行う方法で実施する。
  校正工程は,少なくとも3回行う。出力変動が2 %(すなわち±1 %)を超える場合,校正手順をやり直
す。
  注記1 読取りを行う前に,書込みの後で書込みヘッド又は読取りヘッドが接触すると,URの値に影響
          を及ぼすことがある。
  注記2 検査済みの5枚の基準カードで信号出力を比較して,基準カードの精度を定期的に確認するこ
          とが一般的である。

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5.5.3.3 基準値の算出
  二次基準カード(対応する基本規格で二次標準カードと定義されているもの)の基準信号振幅(UR)及
び試験記録電流(Imin及びImax)は,次の式によって求める。補正係数は,二次基準カードに添付されてい
る。
a)   R : (二次基準最大振幅)×(振幅補正係数)
      振幅補正係数=(一次標準振幅)/(二次基準振幅)
b)   R : (二次基準電流)×(電流補正係数)
      二次基準電流=信号振幅Uが二次基準最大値の80 %のときの電流
      電流補正係数=(一次標準電流)/(二次基準電流)
c)   R=電流IRに相当する磁束値
d)   min及びImaxの電流値は,基本規格による。理解を容易にするために表2Cに例を示す。
  注記 表2Cは理解を容易にするために,この規格を制定した時点でのものである。最新の値は基本規
        格を参照する。
                                     表2C−試験記録電流例
                          基本規格              Imin             Imax
                                           次の磁束レベルの 次の磁束レベルの
                                              ときの電流       ときの電流
                   JIS X 6302-2,ISO/IEC 8484  3.5×FR          5.0×FR
                   JIS X 6302-6                2.8×FR          3.5×FR
                   ISO/IEC 7811-7              2.2×FR          2.5×FR
                   ISO/IEC 7811-8              6.5×FR          8.0×FR
5.5.3.4 供試カードの測定
  基本規格で定義する様々な条件で供試カードに記録し,読み取る。
  消去効果と余剰パルス試験とを除いて,試験前及び各試験を実施するごとに供試カードを高周波の交流
電流で消去する。平均残留信号が0.05 UR未満となるように消去する。上書き前後の振幅を比較する試験
における2回の書込み間では,カードを消去してはならない。
  消去効果及び余剰パルス測定用に供試カードを消去する前に,表2Dに示す試験記録密度及び基本規格
に適合する書込み電流Imaxでカードに記録する。
                  表2D−消去効果及び余剰パルス測定前に記録するときの記録密度
                       試験記録密度          JIS及びISO/IEC基本規格
                       8磁束反転/mm  JIS X 6302-2,JIS X 6302-6,ISO/IEC 7811-8
                                      及びISO/IEC 8484
                      20磁束反転/mm              ISO/IEC 7811-7
  基本規格の要求事項に対する減磁試験を実行する前に,表2Eに示す試験記録密度及び基本規格に適合
する書込み電流Iminでカードに記録する。

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                           表2E−減磁試験前に記録するときの記録密度
                       試験記録密度         JIS及びISO/IEC基本規格
                      20磁束反転/mm               JIS X 6302-6
                      40磁束反転/mm              ISO/IEC 7811-7
5.5.4 試験報告書
  試験報告書には,基本規格で規定する値に関する測定値を記録する。
  総合的な測定値に誤差を生じさせるような条件として,次のものを記録する。
a) 測定した駆動系の速度変動が±0.5 %を超える場合はその値。
b) 試験ヘッドに耐磨耗コーティングの実施の有無。

5.6 磁束反転距離の変動

  この試験は,記録された供試カードの磁束反転距離の変動を評価することを目的とする(JIS X 6302-2,
JIS X 6302-6,ISO/IEC 7811-7,ISO/IEC 7811-8及びISO/IEC 8484参照)。
5.6.1 試験装置
  磁束反転距離の測定装置は,5.5.2.1及び5.5.2.4に従わなければならない。また,読取りヘッドについて
は,5.5.2.2に従わなければならない。
  特に,試験装置は,試験中の全ての速度に対して40磁束反転/mmにおける位置精度を±0.5 %に保持し,
また,異物及び汚染に対する何らかの保護策が設けられている構造とする。
  読取りヘッドは,読取りトラックの中心線が書込み試験で記録されたトラックの中心線の±0.15 mmと
なるように設置する。
  注記 読取りヘッド又は供試カードのいずれかの位置を,他方が静止した状態で測定する。
  装置のブロック図を,図17に示す。
                                    図17−測定装置の構成例

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5.6.2 試験手順
  供試カードを装置に入れる。
  読取りヘッド荷重は,測定時に供試カードから最大出力を得るために必要な最小値に設定し,7 Nを超
えないようにする。
  装置を起動させ,隣接する信号ピーク間距離を測定する。
5.6.3 試験報告書
  試験報告書には,基本規格で規定する値の測定値及び各値に関する総合的な測定の不確かさも記録する。

5.7 磁気ストライプとカードとの接着性

  この試験は,供試カードの磁気ストライプとカード基板との間の接着の程度を評価することを目的とす
る(JIS X 6302-2,JIS X 6302-6,ISO/IEC 7811-7,ISO/IEC 7811-8及びISO/IEC 8484参照)。
5.7.1 試験装置
  試験装置の構成は,次による。
− ISO 2409:2007で規定する単一刃切込み工具
− ISO 2409:2007の3.5で規定する,JIS C 2107に従って試験された幅20 mm以下の透明感圧付着テー
    プ
− 25 mm×50 mmの四角形の開口部が付いた,強固で方形の金属板で作製されたカード押さえ板
  注記 透明感圧付着テープはJIS K 5600-5-6で使われている名称であるが,目的は磁気ストライプに透
        明なテープを粘着させることである。例えばセロハン粘着テープを利用可能である。
5.7.2 試験手順
  長さ約20 mmの切れ目を,磁気ストライプの中心付近で約20°45°の角度をもって交わるように,2
本入れる。切れ目を入れるときは,カード押さえ板の側面を利用して,磁気ストライプを貫通してカード
基材に達するまで1回の均一な動きで切り込む。
  切れ目の交差部が開口部の中央に位置するように,カード押さえ板をカード上に置く。透明感圧付着テ
ープを75 mmの長さに切り,カード押さえ板の開口部内の磁気ストライプ上に貼る。指先で透明感圧付着
テープを押し,切れ目に透明感圧付着テープを確実に貼り付ける。
  透明感圧付着テープを正しく貼り付け,カード押さえ板の下に正しく位置決めされている供試カードを,
図18に示す。
  テープを付着して5分以内にテープを引きがすが,テープのがされた部分と供試カードの表面に貼
り付けられた残りの部分との間の角度をできるだけ60°に近い角度でテープの端をつか(掴)み0.5秒か
ら1.0秒で確実に引き離すようにする。透明感圧付着テープをがすときに供試カードが動かないよう,
カード押さえ板を確実に保持する。
  透明感圧付着テープ及び磁気ストライプの切れ目交差部を観察する。供試カードから磁性材ががれた
形跡があれば記録する。

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                           図18−磁気ストライプとカードとの接着試験
5.7.3 試験報告書
  試験報告書には,最終検査時に供試カードから磁性材ががれた形跡が見られたかどうかを記録する。
がれた形跡が見られた場合は,試験報告書にその状態及び程度も記録する。

5.8 静的磁気特性

  この試験は,JIS X 6302-6及びISO/IEC 7811-7の附属書で示す磁気ストライプの静的磁気特性を評価す
ることを目的とする。この試験方法で使用する値の定義については,JIS X 6302-6又はISO/IEC 7811-7の
静的磁気特性に関する附属書を参照する。
  注記 JIS X 6302-6及びISO/IEC 7811-7の附属書は,参考である。この試験方法は,静的磁気特性を適
        用するとき得られた結果の整合性を評価するためにだけ使用する。
5.8.1 試験装置
  次に示す性能をもつ装置
a) 最大印加磁界 : ±Hmax=±1 200 kA/m (±15 000 Oe)
b) 測定精度 : Hc±2 %,SQ··±2 %,SFD(又はSFS)±4 %,SQ     6 %,S160±4 %
5.8.2 試験手順
5.8.2.1 試験条件
  試験片の温度は,21 ℃23 ℃(又は室温)とする。
  注記 試験中の試験片の温度は,H'cMの測定値に影響する。
5.8.2.2 準備
  試験装置を校正する。
  試験片を準備する。

――――― [JIS X 6305-2 pdf 25] ―――――

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