JIS X 6305-2:2020 識別カードの試験方法―第２部：磁気ストライプ付きカード | ページ 4

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X 6305-2 : 2020 (ISO/IEC 10373-2 : 2015)
5.5.1 校正基準
  校正基準カードは表1Bに示す基本規格に従って選択する。
                          表1B−基本規格と適用する基準カードとの関係
                         基準カード          JIS及びISO/IEC基本規格
                         RM 7811-2       JIS X 6302-2,ISO/IEC 7811-8及び
                                                   ISO/IEC 8484
                         RM 7811-6                 JIS X 6302-6
                         RM 7811-7               ISO/IEC 7811-7
  クリーニング剤を使用すると,検査済みの特性が劣化する可能性がある。したがって,クリーニング剤
を使用した基準カードは,破棄することが望ましい。
  注記1 注記には,要求事項,推奨事項及び許容事項を含めてはならないため,対応国際規格の注記2
          の記載内容を本文に移動した。
  注記2 二次基準カード(JIS X 6302-2及びJIS X 6302-6の二次標準参照)は,Q-CARD Laboratories(所
          在地 : 301 Reagan Street, Sunbury, PA 17801 USA. Tel:570-286-7447又はorder reference cards from
          www.q-card.com)で少なくとも2018年まで入手可能である。この情報は規格で定めたものでは
          ないが,この規格の使用者への便宜のために記載する。
  注記3 JIS X 6302-2の附属書JA(おもて面磁気ストライプ付き識別カード)に規定するおもて面磁気
          ストライプ付き識別カードに該当する基準カードはない。
5.5.2 試験装置
  5.5.2.15.5.2.4に示す項目及び特性を備えた機能からなる記録·読取り装置が必要である。
5.5.2.1 機械的駆動装置
  装置の仕様としては,供試カードを平らに保持できるものでなければならない。
  駆動装置は,平均移動速度の変動が±0.5 %で,ヘッド圧は安定していなければならない。平均速度変動
が要求の±0.5 %を超えるときは,実際の速度変動を試験結果に記録しなければならない。
  注記 速度及びヘッド圧の変化は,測定精度を低下させる。特に瞬間的な速度変動は,個々の信号振幅
        の測定精度に影響する。
5.5.2.2 試験ヘッド
  試験ヘッドは,黄銅,アルミニウムなど非磁性材のケースに内蔵され,書込みヘッドと読取りヘッドと
が分離した構造となっていなければならない。
  的確な周波数応答を保証するため,読取りヘッドは,最大厚さ0.18 mmの薄板状金属構造とする。
  書込みヘッドの磁心は,図12のような金属薄板構造とする。正面のギャップ材は,強磁性の不純物がな
いベリリウム銅とする。耐磨耗コーティングは使用してはならない(附属書A参照)。

――――― [JIS X 6305-2 pdf 16] ―――――

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         注記 正確な縮尺ではない。
        注a) 値については,表2に示す。
                                  図12−検査ヘッド磁心の形状
  図13に示すように,書込みヘッドの磁心の別々の脚に2層以内となるようにコイルを100回巻き,全
部で4本のリード線は,外部へのリード線として終端させる。
                           注記 正確な縮尺ではない。
                                    図13−検査ヘッドの巻線

――――― [JIS X 6305-2 pdf 17] ―――――

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X 6305-2 : 2020 (ISO/IEC 10373-2 : 2015)
  ギャップ,磁心の幅などは,表2による。表の数値は全て,光学的に測定する。
                                      表2−試験ヘッド仕様
 ヘッド機能               読取り                                  書込み
 基本規格     JIS X 6302-2,  ISO/IEC 7811-7   JIS X 6302-2    JIS X 6302-6  ISO/IEC 7811-
               JIS X 6302-6,                 ISO/IEC 7811-8及び                     7
             ISO/IEC 7811-8及び                  ISO/IEC 8484
                ISO/IEC 8484
 薄板厚さ              最大0.18 mm                              図12参照
 曲率半径                未使用のヘッドで19 mm±0.19 mm。ギャップの平たん部分は除く。
 ストライプ                                   2.8 mm3.5 mm
 との接触幅
 磁心の幅     1.4 mm±0.14 mm 0.5 mm±0.05 mm          最小2.79 mm             最小1.0 mm
 ギャップ     12.7 m±1.27 m   6 m±0.6 m        0.025 mm        0.051 mm      0.025 mm
                                                  ±0.002 5 mm    ±0.005 1 mm  ±0.002 5 mm
 飽和誘導                                          最小0.8 T              最小2.3 T
   注記 試験ヘッドの平たん部分の寸法は,磁気ストライプとの良好な接触の維持に影響する。試験ヘッドの磨耗
        に応じて再校正を行う。
  ヘッドは,アジマスずれが10′(分)未満となるように,相互に機械的に独立するように取り付けなけ
ればならない。読取りトラックの中心線は,書込みトラックの中心線の±0.15 mmになければならない。
  ヘッドにかける力は,校正時に基準カードから最大出力を得るのに必要な最小値に設定し,7 Nを超え
てはならない。
  注記 ヘッドにかける力は,通常3 Nである。
5.5.2.3 書込みヘッド駆動
  表2Aに示す試験記録密度で測定する書込み電流Iの波形を図14に示す。記録電流波形は,破線で示す
範囲内になければならない。
                                                             ISO/IEC 7811-7の要求事項
            図14の変数 JIS X 6302-2,JIS X 6302-6,ISO/IEC 7811-8
                             及びISO/IEC 8484の要求事項
                a                  0.05 (T1+T2)                 0.10 (T1+T2)
                b                  0.15 (T1+T2)                 0.35 (T1+T2)
                c                  0.30 (T1+T2)                 0.10 (T1+T2)
                d                     1.02 I                        1.02 I
                e                     0.98 I                        0.98 I
                f                     0.90 I                        0.90 I
              対称性              T1=T2±0.05 T1               T1=T2±0.02 T1

――――― [JIS X 6305-2 pdf 18] ―――――

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                                      図14−記録電流波形
5.5.2.4 読取り装置
  読取り装置に接続した場合の読取りヘッドの残留磁気による影響は,連続して5回読み取った後,使用
中の基準カードの平均信号振幅減少が5 %を超えてはならない。
  読取り装置の分解能は,試験記録電流Imax(5.5.3.3参照)で表2Aに示す記録密度を用いて基準カードで
試験したとき,85 %100 %の間でなければならない。
                   表2A−基本規格と分解能試験に適用する試験記録密度との関係
                       試験記録密度          JIS及びISO/IEC基本規格
                     8磁束反転/mm及び JIS X 6302-2,JIS X 6302-6,ISO/IEC 7811-8
                     20磁束反転/mm   及びISO/IEC 8484
                     20磁束反転/mm及             ISO/IEC 7811-7
                     び40磁束反転/mm
  読取り装置の構成は,次による。
a) 線形増幅器 増幅器は,自動感度調整機能をもたず,ノイズがURの0.5 %未満(5.5.3.2参照)で,図
    15の位置2から位置3までの範囲に対応する周波数において,周波数応答が±0.2 dBの平たんな特性
    でなければならない。
      この範囲は,次のc) に示すフィルタの帯域幅の特性に相当する。この帯域範囲の両外側で,出力が
    あってはならない。
b) 表示及び測定手段 ストレージオシロスコープなどで,信号の振幅を測定する。
c) 帯域通過フィルタ このフィルタは,消去効果(UA4)と余剰パルス(Ui4)とを除き,全測定に使用す
    る。
      フィルタの通過帯域の上下端は,二次応答(12 dB/オクターブの傾斜)を示す。通過帯域応答は,
    0.25周期/mm(0.5磁束反転/mm)10.5周期/mm(21磁束反転/mm)に対応する周波数において,0.2
    dB以内の平たんな特性でなければならない。特性を図15に示す。
      フィルタ応答性は,帯域端から少なくとも1ディケード(周波数が10倍又は1/10になるまでの周
    波数変化)の間は,減衰を続けなければならない。また,この1ディケードの範囲では,−40 dBを超
    えてはならない。1ディケードの範囲外では,他のフィルタ特性を使用してもよい。

――――― [JIS X 6305-2 pdf 19] ―――――

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X 6305-2 : 2020 (ISO/IEC 10373-2 : 2015)
          位置         試験記録密度(周期/mm)       試験磁束反転の密度(磁束反転/mm)
        基本規格  JIS X 6302-2,   ISO/IEC 7811-7   JIS X 6302-2,   ISO/IEC 7811-7
                   JIS X 6302-6,                     JIS X 6302-6,
                 ISO/IEC 7811-8及び                 ISO/IEC 7811-8及び
                    ISO/IEC 8484                       ISO/IEC 8484
         位置1                 0.009                              0.018
         位置2                 0.025                               0.05
         位置3         10.5              28               21               56
         位置4          30               80               60              160
                                  図15−フィルタの周波数特性
5.5.3 試験手順
  全ての測定は,同じ装置を使用し,同じ条件の下で行う。
  全ての測定は,書込みと同一の方向で読取りを行い,同じ通過回数の後,測定する。
5.5.3.1 試験書込みヘッドの磁束及び電流特性の確認
  磁束の出力と書込み電流との相関をとり,次の方法で書込みヘッドの特性を試験する。
  各電流振幅(I)については,図16に示す装置を使って,対応する磁束振幅(F)を記録する。
  電流源の電圧に対する電流の直線性は,±2 %とする。
  積分器の損失(2 000       RC=約6 283×RC)は,少なくとも200とする。

――――― [JIS X 6305-2 pdf 20] ―――――

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