JIS X 6305-2:2020 識別カードの試験方法―第２部：磁気ストライプ付きカード | ページ 3

                                                                                             9
                                                            X 6305-2 : 2020 (ISO/IEC 10373-2 : 2015)
  各供試カードの磁気ストライプ幅を横切る3か所で測定を行う。3か所の測定位置のV,X及びYは,
カードの両端から15 mm±2 mmの距離のV線及びY線並びにカードの中心のX線とする(図5参照)。
  指定の3か所よりも高さ又は断面形状変差が大きいと思われる場所がある場合には,追加して測定する。
  V線,X線及びY線に沿った各測定は,磁気ストライプの上端から少なくとも1 mm上から,下端から
少なくとも1 mm下まで行う。
  注記 断面形状測定用の供試カードを準備するとき,断面形状記録結果から最小ストライプ幅Wを見つ
        けるために,関連する基本規格で規定する最小磁気ストライプ幅の位置に,鋭利なナイフを使っ
        てカードの上端辺に平行に線を軽くけがくとよい。
                                                                                     単位 mm
  記号説明
    b : 磁気ストライプ領域外の測定範囲
    W : 関連する基本規格で規定する最小磁気ストライプ幅
    注記1 図の縮尺は正確ではない。
    注記2 実際の磁気ストライプの幅は,関連する基本規格で規定する最小磁気ストライプ幅Wよりも大きいこと
          がある。この図は,実際の磁気ストライプの幅と最小磁気ストライプ幅Wとが等しい場合の例である。
                            図5−磁気ストライプの断面形状の測定位置
5.2.3 結果の表現
5.2.3.1 磁気ストライプの断面形状
  V線,X線及びY線(図5参照)に沿った測定では,基準測定線(図6及び図7参照)は,関連する基
本規格で規定する最小磁気ストライプ幅Wの両端を定義する上端と下端とを結ぶことによって形成する。
基準測定線の傾きは,定盤の基準面に対して10°以下とする。
  ストライプ内最大垂直変位量(a)は,基準測定線と基準測定線から最も離れた磁気ストライプ上の点と
の距離とする。定盤の基準面に対して直角方向で求める。

――――― [JIS X 6305-2 pdf 11] ―――――

           10
X 6305-2 : 2020 (ISO/IEC 10373-2 : 2015)
                 記号説明
                   a : ストライプ内最大垂直変位量
                   b : 最小1 mm(磁気ストライプ領域外の測定範囲)
                   W : 関連する基本規格で規定する最小磁気ストライプ幅
                                  図6−凹面ストライプ断面形状
                 記号説明
                   a : ストライプ内最大垂直変位量
                   b : 最小1 mm(磁気ストライプ領域外の測定範囲)
                   W : 関連する基本規格で規定する最小磁気ストライプ幅
                                  図7−凸面ストライプ断面形状
5.2.3.2 磁気ストライプの盛上がり高さ
  V線,X線及びY線に沿った3か所の測定では,始点と終点とを結ぶことによって基準測定線(図8及
び図9参照)を形成する。基準測定線の傾きは,定盤の基準面に対して10°以下とする。
  領域内最大垂直変位量(h)は,基準測定線と基準測定線から最も離れた磁気ストライプ上の点との距離
とする。定盤の基準面に対して直角方向で求める。
                 記号説明
                   b : 最小1 mm(磁気ストライプ領域外の測定範囲)
                   h : 関連する基本規格で規定する領域内最大垂直変位量
                                  図8−凹面ストライプ断面形状

――――― [JIS X 6305-2 pdf 12] ―――――

                                                                                            11
                                                            X 6305-2 : 2020 (ISO/IEC 10373-2 : 2015)
                 記号説明
                   b : 最小1 mm(磁気ストライプ領域外の測定範囲)
                   h : 関連する基本規格で規定する領域内最大垂直変位量
                                  図9−凸面ストライプ断面形状
5.2.4 試験報告書
5.2.4.1 磁気ストライプの断面形状
  試験報告書には,V線,X線及びY線に沿った3か所の測定で,それぞれのストライプ内最大垂直変位
量(a)の測定値を記録する。
5.2.4.2 磁気ストライプの盛上がり高さ
  試験報告書には,V線,X線及びY線に沿った3か所の測定で,それぞれの領域内最大垂直変位量(h)
の測定値を記録する。

5.3 磁気ストライプの表面粗さ

  この試験は,供試カードの磁気ストライプの表面粗さの程度を測定することを目的とする(JIS X 6302-
2,JIS X 6302-6,ISO/IEC 7811-7,ISO/IEC 7811-8及びISO/IEC 8484参照)。
5.3.1 試験手順
  磁気ストライプの表面粗さは,図3に示すような装置によって測定する。測定は,表面粗さが最も悪い
と思われる場所を横断して,各々の方向に対して少なくとも3か所行う。
  全ての試験条件は,次の記載事項を除き,5.2で定めた試験条件を適用する。
− 触針先端の半径は,2        は5  
− カットオフ値及び評価長さは,JIS B 0633及びJIS B 0651に従って選択する。
− 磁気ストライプの長辺方向及び短辺方向で測定する。
5.3.2 試験報告書
  試験報告書には,長辺方向及び短辺方向で測定した磁気ストライプ表面の中心線平均粗さRa値を記録
する。

5.4 磁気ストライプの耐磨耗性

  この試験は,供試カードに対して一定の磨耗を行った後の,磁気ストライプの信号振幅を評価すること
を目的とする(JIS X 6302-2,JIS X 6302-6,ISO/IEC 7811-7及びISO/IEC 7811-8参照)。

――――― [JIS X 6305-2 pdf 13] ―――――

           12
X 6305-2 : 2020 (ISO/IEC 10373-2 : 2015)
5.4.1 試験装置
  金属ダミーヘッドは,硬度がビッカース硬さで110 HV130 HV又は同等のロックウェル硬さの材料で
作製する。所要寸法は,図10に示す。
  カードを固定する台は,硬くて平たんなものとする。
                                                                   単位 mm
                      注記 正確な縮尺ではない。
                               図10−ダミーヘッドの接触部の寸法
5.4.2 試験手順
  試験記録電流Iminを用い,20磁束反転/mmで磁気記録した供試カードを,基本規格に従って読み取った
信号振幅を記録する。
  磁気ストライプの長辺方向へダミーヘッドが移動できるように,平たんな台上に,磁気ストライプを上
向きにして供試カードを固定する。また,カードがダミーヘッドの下を移動できるようにしてもよい(図
11参照)。供試カードを硬くて平たんな台に取り付ける場合,試験の間,供試カードが平らな状態で保持
されるように固定する。
  ダミーヘッドに対して1.5 N±0.2 Nの力を加え,200 mm/s500 mm/sの速度でダミーヘッドを2 000回
往復させる(1往復を1回とする。)。同じ装置で信号振幅を読み取り,試験開始時の信号振幅と比較する。
  書込みヘッド及び読取りヘッドの位置は,ダミーヘッドで磨耗させた領域の範囲内に完全に入っていな
ければならない。

――――― [JIS X 6305-2 pdf 14] ―――――

                                                                                            13
                                                            X 6305-2 : 2020 (ISO/IEC 10373-2 : 2015)
                             図11−ダミーヘッド及び磁気ストライプ
5.4.3 試験報告書
  試験報告書には,磨耗の前後で測定した基本規格で規定する信号振幅の測定値を記録する。

5.5 振幅測定

  この試験は,供試カードの磁気ストライプの信号振幅,分解能,消去,減磁及び波形のひず(歪)み部
分が該当する表1Aに示す基本規格と一致するかを確認するために測定することを目的とする。
                       表1A−基本規格と近似値保磁力及び記録密度との関係
               近似値保磁力             記録密度           JIS及びISO/IEC基本規格
           35 kA/m(440 Oe)以下 12 bits/mm(300 bpi)以下 JIS X 6302-2及びISO/IEC 8484
           80 kA/m(1 000 Oe)以上12 bits/mm(300 bpi)以下         JIS X 6302-6
           80 kA/m(1 000 Oe)以上40 bits/mm(1 016 bpi)         ISO/IEC 7811-7
           51.7 kA/m (650 Oe)  12 bits/mm(300 bpi)以下       ISO/IEC 7811-8
  注記 消去及び波形のひず(歪)み部分は,全ての規格に適用されるわけではない。

――――― [JIS X 6305-2 pdf 15] ―――――

次のページ PDF 16