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注(3) 印字図形とCOLゲージは,目視で位置を合わせる(図1参照)。
図1 最良一致
5.5.2.2 ボイド 直径0.20mm以上のボイドは,あってはならない。直径が0.20mm未満のボイドはあっ
てもよい。ただし,その周囲のボイドとともに直径0.20mmの円で包み込むことができ,かつ,次の条件
のうち一つを満足しなければならない。
(1) 円内に包み込まれたボイドの面積の和は,この円の面積の31未満であること。
(2) ボイドの面積の和が,円の面積の31以上ある場合は,他の同様なボイド又はボイドの集合との間に,
心線に沿って測定した中心間距離が1.0mm以上あること。
備考 線縁の凹凸だけに基づくボイドに関しては,5.5.2.3の規定によること。
図2 ボイド
5.5.2.3 線緑の凹凸 線縁は,最大COLの外側又は最小COLの内側へはみ出してはならない。ただし,
はみ出し部分の深さがわずか(4)であり,その長さがCOL上で0.30mm未満,かつ,他の同様なはみ出し部
分との間に,最大COL又は最小COLに沿って測定した中心間距離が1.0mm以上ある場合はこの限りでは
ない。
注(4) 線縁の凹凸に基づくボイドやスポットの面積は,直径0.20mmの円の面積の31未満であること。
――――― [JIS X 9004 pdf 6] ―――――
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図3 線縁の凹凸
5.5.2.4 スポット 直径0.20mm以上のスポットは,あってはならない。直径0.20mm未満のスポットは
あってもよい。ただし,その周囲のスポットとともに直径0.20mmの円で包み込むことができ,かつ,次
の条件のうち一つを満足しなければならない。
(1) 円内に包み込まれたスポットの面積の和は,この円の面積の31未満であること。
(2) スポットの面積の和が,円の面積の31以上ある場合は,他の同様なスポット又はスポットの集合との
中心間距離が1.0mm以上あること。
備考 線縁の凹凸だけに基づくスポットに関しては,5.5.2.3の規定によること。
図4 スポット
5.5.3 機器による測定
5.5.3.1 測定条件 機器による測定は,次の条件の下で行う。
(1) 照明 紙面に対し45°の位置にある1個の白熱電球を光源とし,測定視野よりも十分に広い面積を照
明すること。
――――― [JIS X 9004 pdf 7] ―――――
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X 9004-1983
(2) 走査 紙面に垂直な位置で,紙面上での直径が0.20mmに相当する円形開口部で走査すること。
(3) 検査対象領域 高さ及び幅が,それぞれ文字の大きさの約2倍あり,中心が文字の中心と一致する長
方形の領域とする。
(4) 最良一致 印字図形とCOLゲージは,目視で合わせる。
特に,厳密さが必要なときは,最小COL内からの反射光が最小になる位置とする。この位置が複数
ある場合は,最大COL外からの反射光が多い方を優先する。
(5) 分光特性 表1のスペクトルバンドとする。
備考1. 測定は,拡散反射光だけを対象とする。
2. OCRの分光特性が明らかである場合は,そのスペクトルバンドだけで測定してよい。それ以
外の場合は,表1のすべてのスペクトルバンドで測定する。
5.5.3.2 PCS 任意の測定点PにおけるPCS値 (PCSp) は,次の式で定義する。
Rw Rp
PCSP
Rw
ここに, RW : 検査対象領域内での最大反射率
RP : 任意の測定点Pにおける反射率
備考 測定は,黒の裏当て法で行う。
5.5.3.3 1文字内のPCS
5.5.3.3.1 基本PCS 基本PCS値は,直径0.20mmの開口部を0.10mm間隔で,心線に沿って移動しなが
ら測定したPCS値とする。ただし,心線の長さが2.0mm未満の孤立した線素では0.05mm間隔で移動する。
5.5.3.3.2 PCS80% PCS80%は,表8のとおりとする。ここでPCS80%とは,基本PCS値のうち,大き
い方から80%を選んだとき,その中で最も小さい値とする。
表8 PCS80%
レンジ PCS80%
X 0.60以上
Y 0.50以上
5.5.3.4 コントラストの一様性
5.5.3.4.1 コントラスト変動比 コントラスト変動比 (CVR) は,印字図形の部分的なインキ濃度のむらを
表すものであり,次の式で定義する。
PCSmax
CVR
PCSmin
ここに, PCSmax : 基本PCS値に関して,心線に沿って連続した3点の移動
平均を取ったとき,その最大値
PCSmin : その最小値
ただし,心線の長さが2.0mm未満の孤立した線素にあっては,連続した5点の
平均を取るものとする。
5.5.3.4.2 1文字内のコントラスト変動比 1文字内におけるコントラスト変動比は,表9のとおりとする。
表9 コントラスト変動比
レンジ コントラスト変動比
X 1.50以下
Y 1.75以下
5.5.3.5 ボイド 基本PCS値(5)が,d(6)より小さい値を示す部分をボイドとする。ボイドは次による。
(1) 一般の線素の場合 一般の線素の場合,3点以上連続してdより小さい値を示すボイドがあってはな
――――― [JIS X 9004 pdf 8] ―――――
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らない。これ以外のボイドはあってもよい。ただし,次の条件のうち一つを満足しなければならない。
(a) 両側に隣接する基本PCS値は,いずれもd以上であること。
(b) 連続した2点がdより小さい場合は,隣接する他の同様なボイドとの距離が11ステップ以上あるこ
と。
(2) 短い線素の場合 心線の長さが,2.0mm未満の孤立した短い線素の場合,基本PCS値が5点以上連続
してdより小さい値を示すボイドがあってはならない。これ以外のボイドはあってもよい。ただし,
次の条件のうち一つを満足しなければならない。
(a) より小さいところは,1点又は連続した2点であって,その両側は,dより大きいこと。
(b) より小さいところが,3点又は4点連続する場合は,同様なボイドとの距離が,21ステップ以上
あること。
注(5) 基本PCS値のうちPCS80%より小さい値を示す部分だけを検査対象とする。
(6) の値は,表10のとおりとする。
表10 dの値
レンジ d
X 0.40
Y 0.35
5.5.3.6 線縁の凹凸 COL上に中心のある直径0.20mmの開口部をCOLに沿って0.20mm間隔で移動しな
がらPCS値を求めたとき,最小COL上で21PCSavg(7)より小さい値を示す点,又は最大COL上で21PCSavgよ
り大きい値を示す点があってはならない。ただし,同様な値を示す他の点が,COLに沿って中心間距離で
1.0mm以上離れている場合は,この限りではない。
1PCSavgは,次式のとおりとする。
注(7) 2
1
PCSavg PCSavg
2
ここに, PCSavg : 基本PCS値のうち大きいものの80%の算術平均値。
ただし,その値が0.60未満のときは21PCSavgは0.30とする。
5.5.3.7 スポット 最大COL外において,直径0.20mmの開口部で測定したPCS値がe(8)より大きい部分
をスポットとする。
検査対象領域内にあるすべてのスポット上で,最も大きいPCS値を示す点を中心に,この開口部を上下
左右に0.10mm間隔で移動し,周囲8点(9)のPCS値を測定したとき,更に2点以上でeより大きい値を示
すことがあってはならない。1点以下の場合は,次の条件のうち一つを満足しなければならない。
(1) 8点のPCS値は,すべてeより小さいこと。
(2) 8点のうち1点のPCS値がeより大きい場合は,更にその点の周囲8点について同様の測定を行う。
新たな測定点のPCS値は,すべてeより小さく,かつ,スポットと最大COL間の距離及び他の同様
なスポットとの中心間距離が,ともに1.0mm以上あること。
注(8) は,次式のとおりとする。
e=k×PCSmin
ここに, 表11の値
――――― [JIS X 9004 pdf 9] ―――――
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表11 kの値
レンジ k
X 0.65
Y 0.70
(9) これらの測定点のうち中心が最大COL内にあるものは無視する。
備考 検査対象領域の外で,クリアエリア内にあるスポットの大きさは,直径0.20mm未満でなけれ
ばならない。
5.5.4 電子計算機利用による測定
5.5.4.1 測定条件 電子計算機利用による印字図形の測定は,次の条件の下で行う。
(1) 走査方法の種類 走査方法は,次の2種類とする。
(a) 照明装置による走査方法
(b) 受光装置による走査方法
(2) 機器の構成 機器の構成は,走査方法の種類に応じて次の2種類とする。
(a) 照明装置による走査方法 紙面に対し垂直な位置にあり,走査開口部に相当する部分を選択的に照
明できる照明装置と,紙面に対し45°の位置にあり,測定視野からの反射光をむらなく受光できる
受光装置で構成すること。
(b) 受光装置による走査方法 紙面に対し45°の位置にあり,一つの光源で測定視野を一様に照明でき
る照明装置と,紙面に対し垂直な位置にあり,走査開口部に相当する部分を選択的に受光できる受
光装置で構成すること。
(3) 空間分解能 紙面上で25 下とする。
(4) 走査開口部 紙面上で直径25 は空間分解能と同じ大きさとする。
(5) 測定開口部 複数の走査開口部を合成して等価的に直径0.20mmの円形開口部を作ること。
(6) 分光特性 表1のスペクトルバンドとする。
備考 OCRの分光特性が明らかである場合は,そのスペクトルバンドだけで測定してよい。それ以外
の場合は,表1のすべてのスペクトルバンドで測定する。
(7) 白の標準 硫酸バリウム (BaSO4) などを用いること。
(8) 階調分解能 32レベル以上の階調分解能をもつこと。
(9) OLゲージ 電子計算機の記憶装置内にマトリックス図形として記憶していること。
(10) 検査対象領域 5.5.4.2で定義する領域とする。
(11) 最良一致 5.5.4.4で規定する方法で合わせること。
5.5.4.2 検査対象領域 検査対象領域の大きさは,表12のとおりとし,その中心位置は,検査対象文字
の中心と一致させる。
――――― [JIS X 9004 pdf 10] ―――――
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JIS X 9004:1983の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 1831:1980(IDT)
JIS X 9004:1983の国際規格 ICS 分類一覧
- 35 : 情報技術.事務機械 > 35.180 : IT端末設備及びその他の周辺設備
- 35 : 情報技術.事務機械 > 35.040 : 文字セット及び符号化
JIS X 9004:1983の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISX9001:1976
- 光学式文字認識のための字形(英数字)
- JISX9003:1980
- 光学式文字認識のための字形(片仮名)