JIS Z 2277:2000 金属材料の液体ヘリウム中の引張試験方法 | ページ 2

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  5) 熱処理条件
  6) 素材の結晶粒度
  7) 素材からの試験片採取条件
  8) 試験材料の室温における機械的性質
  9) 試験材料の4Kにおけるヤング率
b) 試験片の表面仕上げの状態
c) 試験装置
  1) 試験機の形式及び容量
  2) 極低温装置の形式
  3) 伸び計の形式及び性能
  4) 試験装置(試験機及び極低温装置)の剛性(コンプライアンス)
d) 試験結果
  1) 試験力-伸び曲線(曲線上における耐力に対応する位置の表示)
  2) セレーション開始応力
  3) 試験片の破断部位置の表示及び破断面の走査形電子顕微鏡組織
  4) 同一ロットの試験材料について複数の試験片を試験した場合,試験片本数及び測定値の平均とばら
      つき

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Z 2277 : 2000
              附属書1(規定) 極低温装置の偏心負荷の検査方法
1. 適用範囲 この附属書は,極低温装置を用いて引張試験を行う際に試験片に加わる曲げ応力について,
ひずみゲージを用いて検査する方法を規定する。
  なお,極低温装置を初めて使用する際及び修理などを行った際には,この附属書に規定する検査を行う。
2. 検査用試験片 検査用試験片は,次による。
a) 試験片に加わる曲げ応力を検査するために用いる検査用試験片は,実際に試験する試験片と同一形状
    寸法のものを用いる。検査用試験片は,試験片自体ができるだけ偏心がないように作製する。
      検査用試験片の材料は,特に規定しないが,曲げ応力の検査を行う際の最大試験力においても検査
    用試験片の平行部に塑性変形が生じないよう,十分な剛性と強度をもつものとする。
b) 検査用試験片には,次のように,ひずみゲージをはる。
  1) 丸棒試験片を用いる場合 試験片平行部の長手方向の中央において,周方向に4点のひずみゲージ
      を等間隔に配置し,試験片の長手方向のひずみを測定できるようにする[附属書1図1a)参照]。
  2) く(矩)形断面試験片を用いる場合 試験片の各側面の中心線上において,長手方向の中央にひず
      みゲージを配置し,試験片の長手方向のひずみを測定できるようにする[附属書1図1b)参照]。
  3) 薄板試験片を用いる場合 試験片の両面の外縁に近い位置において,試験片の長手方向の中央にひ
      ずみゲージを配置し,試験片の長手方向のひずみを測定できるようにする[附属書1図1c)参照]。
          備考 R1R4は,試験片にはり付けられたひずみゲージを示す。
             a) 丸棒試験片               b) く形試験片               c) 薄板試験片
                     附属書1図1 検査用試験片のひずみゲージのはり付け位置
3. 検査温度及び試験力 検査温度及び試験力は,次による。
a) 検査は室温で行う。また,4Kでも行うことが望ましい。ただし,極低温装置が,室温と4Kとで,構
    造的に偏心に差異がないと認められる場合には,4Kでの検査は行わなくてもよい。
b) 曲げ応力の検査において検査用試験片に加える最大試験力は,極低温引張試験を行う際の引張試験機
    のひょう量の1/5に相当する試験力とする。
4. 検査手順 検査手順は,次による。

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a) 極低温装置に検査用試験片を取り付け,引張試験機に装着して,十分に心合せを行った後,順次段階
    的に試験力を負荷して,各段階における試験片平行部のひずみを測定する。試験力の段階は,検査す
    る最大試験力を含めて,3段階以上とする。
b) 検査は,同一の試験片取付け状態で繰り返し3回行う。次に,検査用試験片自体の偏心の影響を除く
    ため,試験片を180度回して取り付け直し,同様に測定を繰り返す。
      この場合,極低温装置を含めて試験装置は,元の状態を保つように注意する。
5. 検査結果の評価 検査結果の評価は,次による。
a) 1回の負荷ごとに次の式によって平均ひずみ  攀        各試験力段階ごとに求める。
                          攀  ( 攀    攀    攀    攀    一
                      ここに,      攀槿    試験片平行部にはった4か所のゲージのそれぞれのひずみ
                                       測定値
b) 各ひずみゲージのはり付け位置ごとの偏心度ei (%) は,次の式によって求める。
                             攀槿
                        ei= (      攀      攀   100
c) 偏心度eiは,負荷試験力の増加に伴って減少傾向を示し,かつ,3.b)の最大試験力において10%を超
    えない。

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Z 2277 : 2000
                附属書2(規定) 極低温引張試験用伸び計の校正
1. 適用範囲 この附属書は,極低温引張試験において用いられる伸び計の校正について規定する。
    備考 伸び計を初めて使用する,及び修理などを行った場合には,校正を行う。また,伸び計は,定
          期的に校正を行うことが望ましい。
2. ひずみゲージを直接用いる伸び計の校正 ひずみゲージを直接用いる伸び計の校正は,次による。
a) 試験片に直接ひずみゲージをはって,試験片の伸びを測定する場合は,低温での温度補償に適したゲ
    ージ又はブリッジ回路を用いる。
      なお,ゲージの発熱の影響を防ぐため,ゲージのブリッジ電圧は,12Vと低くすることが望まし
    い。
b) ひずみ測定器の校正は,標準抵抗器を用いた電気的校正とし,ゲージ抵抗の温度依存性を考慮に入れ
    て,室温及び4Kについて行う。
      なお,ゲージファクタは,ゲージ製造業者のデータを用いてよい。
3. 機械・電気式伸び計の校正 ひずみゲージをはったビーム形クリップゲージ式伸び計,静電容量変化
を利用したキャパシタンス式伸び計などの機械式・電気式伸び計の校正は,次による。
a) 伸び計の標点距離の精度は,±2%以内とし,伸び計の試験片への取付方法に応じて適宜に検査する。
b) 伸び計の指示値の校正は,伸び検出器とそれに使用する指示計(又は記録計)を組み合わせて行う。
      なお,伸び計の指示目盛は,2          は指示値の1%のいずれかが読み取れるものとする。
c) 伸び計の指示値の校正装置は,原則として,伸び計を使用する際と同じ伸び計の姿勢,取付け,変位
    の与え方ができるものとする。また,校正装置は,±2         内の変位精度をもつものであって,与え
    た変位を読み取る目盛は,1            み取れるものとする。
d) 伸び計の指示値の校正の手順は,次による。
  1) 伸び計を校正装置に取り付けたならば,校正を行う前に,まず,伸び計の校正範囲にわたる変位を
      校正装置によって繰返しを2回以上与えた後,わずかにマイナス変位を与えてから伸び計の指示値
      の零点を設定する。
  2) 校正は,校正範囲をほぼ均等に分割した10以上の校正点について,零点から変位を順次増加させて
      行う。この校正は,2回の繰返しを行う。
  3) 伸び計の指示値の校正結果から,次の式によって指示誤差 (%) を求める。
                        (li−lt)   t×100
                      ここに, li :  各校正点における伸び計の指示値
                                lt :  各校正点における校正装置の指示値
e) 伸び計の指示値の誤差は,伸び計と校正装置との指示値の差±6         は指示誤差±2%のいずれか大き
    いほうを超えてはならない。
f)  d)の伸び計の指示値の校正は,原則として室温及び4Kで行う。ただし,伸び検出器の温度依存性が
    あらかじめ明らかである場合は,室温での校正結果を基にして4Kでの指示値の補正を行ってもよい。

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                                     原案作成委員会 構成表
1)   E2分科会
                                     氏名                         所属
        (主査)               西 島     敏      金属材料技術研究所
        (委員)               佐 藤 四 郎       社団法人軽金属協会
                               田 中 千 秋       金属材料技術研究所
                               濱 坂     隆      工業技術院標準部
                               町 田     進      東京大学
                               高 橋 秀 明       東北大学
                               金 子 純 一       日本大学
                               永 井     聰      工業技術院計量研究所
                               林        央      理化学研究所
                               桃 木 明 和       新日本製鐵株式会社
                               大 野 義 信       新日本製鐵株式会社
                               栗 原 正 好       NKK総合材料技術研究所
                               丸 山 久 助       鋼管計測株式会社
                               三 澤 啓 典       川崎製鉄株式会社
                               久 保 高 宏       川崎製鉄株式会社
                               三 浦 一 良       住友金属工業株式会社
                               椹 木 義 淳       住友金属工業株式会社
                               橋 本 俊 一       株式会社神戸製鋼所
                               落 田 義 隆       株式会社コベルコ科研
                               吉 田 鎮 雄       大同特殊鋼株式会社
                               雲丹亀 泰 和      山陽特殊製鋼株式会社
                               管 野 久 勝       日本試験機工業会
                               日 野 元 和       日本試験機工業会(株式会社島津製作所)
                               仲 田 進 一       清峰金属工業株式会社
                               日下部 和 也      財団法人日本規格協会
                               相 馬 南海雄      日本伸銅協会
                               樋 田 並 照       株式会社アカシ
                               井 野 幸 雄       財団法人日本海事協会
                               田 中 淳 夫       トヨタ自動車工業株式会社
        (幹事)               二 瓶 正 俊       金属材料技術研究所
        (事務局)             菊 地 諄 一       社団法人日本鉄鋼連盟
2)   E2分科会 金属材料の液体ヘリウム中における引張試験方法改正WG
                                     氏名                         所属
        (リーダ)             田  中 千  秋     宇宙開発事業団
        (幹事)               緒  形 俊  夫     金属材料技術研究所
        (委員)               柴  田 浩  司     東京大学
                               楠  橋 幹  雄     株式会社日本製鋼所
                               嶋  田 雅  生     株式会社神戸製鋼所
                               中  嶋 秀  夫     日本原子力研究所
                               山  本 章  夫     新日本製鐵株式会社
        (事務局)             金  子 康  弘     社団法人日本鉄鋼連盟