JIS Z 2319:2018 漏えい（洩）磁束探傷試験方法 | ページ 3

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  さらに,前回の正常な総合機能点検以降に試験した全ての製品は,試験していないものと考えて,これ
らの製品に対する是正処置方法(例えば,再調整後の再試験,他の非破壊試験法による試験の実施など)
を決定し,その実施結果を記録する。

12 文書類

12.1 一般

  文書類は,試験手順書,試験報告書及び点検手順書から成る。
  製品に対する漏えい磁束探傷試験の適用及び使用に対する一般的な要求事項は,例えば,次のような文
書に記載されている。
a) 試験体の規格
b) 契約文書

12.2 試験手順書

  試験手順書には,適用する文書から必要な項目を選び出し記載しなければならない。必要があれば関連
する技術情報を収集して記載する。
  試験手順書には,次のような事項がある。
a) 試験の目的
b) 試験体の詳細
c) 適用した文書
d) 技術者の資格・認証の詳細
e) 試験の範囲
f)  試験方法
g) 試験体の前処理
h) 環境条件
i)  対比試験片
j)  探傷試験装置の構成
k) システムの構成要素の点検は,次による。
  1) 日常点検の項目
  2) 定期点検の周期及び項目
l)  総合機能点検の周期及び項目
m) 試験条件
n) 信号評価方法及び項目
o) 合否判定基準
p) 試験報告書に含める内容

12.3 試験報告書

  試験報告書は,将来,試験を再現することを可能にする十分な情報を含む必要がある。試験報告書の様
式は,受渡当事者間で受注時に同意しておく。受渡当事者間の協定がない限り,次の事項を含むことが望
ましい。
a) 製品製造業者の名称
b) 試験体の識別番号
c) 参照した関連文書及び試験手順書。試験手順書が試験方法,漏えい磁束探傷試験システム,及び漏え

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    い磁束探傷試験システムの設定値に対して変更を認めている場合,その方法の詳細を与える技術資料
    又はそれと同等な資料
d) 漏えい磁束探傷試験システムの名称,特に,使用する探傷ヘッド,探傷試験装置の形式を特定するの
    に必要な詳細事項
e) 日常点検結果,定期点検結果及び総合機能点検結果
f)  探傷試験装置の調整値
g) 脱磁の有無
h) 使用した対比試験片の識別番号
i)  試験の結果
j)  試験手順書との変更点
k) 試験の責任組織
l)  試験員の名前・資格
m) 試験員の署名又は責任者の名前・署名
n) 試験日及び試験場所

12.4 点検手順書

  点検手順書は,点検を実施するための手順書であり,少なくとも次の事項を含むことが望ましい。
a) 日常点検に関する項目 日常点検に関する項目は,次による。
  1) 対比試験片
  2) 点検手順
  3) 是正処置手順
b) 定期点検に関する項目 定期点検に関する項目は,次による。
  1) 点検の周期
  2) 対比試験片
  3) 点検手順
  4) 是正処置手順
c) 総合機能点検に関する項目 総合機能点検に関する項目は,次による。
  1) 点検の周期 : 定められた周期,同一試験の開始時・終了時,装置の部品の交換時など
  2) 対比試験片
  3) 点検項目 : 励磁電流,探傷試験感度,対比試験片のきず信号など
  4) 漏えい磁束探傷試験システムの設定及び校正手順
  5) 検出特性の評価基準
  6) 各項目ごとの点検方法及び点検結果の記録方法
  7) 是正処置の内容
d) 試験員に関する項目 試験員に関する項目は,次による。
  1) 試験の責任組織
  2) 試験員の資格