JIS Z 2319:2018 漏えい(洩)磁束探傷試験方法

JIS Z 2319:2018 規格概要

この規格 Z2319は、鋼などの強磁性体の棒,管,板,それらの構造物,機械部品,ワイヤロープなどの表面,表面下及び裏面に存在するきずを検出することを目的とする漏えい(洩)磁束探傷試験方法の一般事項について規定。

JISZ2319 規格全文情報

規格番号
JIS Z2319 
規格名称
漏えい(洩)磁束探傷試験方法
規格名称英語訳
Methods for magnetic flux leakage testing
制定年月日
1991年3月1日
最新改正日
2018年1月22日
JIS 閲覧
‐ 
対応国際規格

ISO

国際規格分類

ICS

19.100
主務大臣
経済産業
JISハンドブック
鉄鋼 I 2021, 鉄鋼 II 2021, 非破壊検査 2020
改訂:履歴
1991-03-01 制定日, 1996-05-01 確認日, 2001-12-20 確認日, 2007-01-20 確認日, 2011-10-20 確認日, 2016-10-20 確認日, 2018-01-22 改正
ページ
JIS Z 2319:2018 PDF [12]
                                                                                   Z 2319 : 2018

pdf 目 次

ページ

  •  1 適用範囲・・・・[1]
  •  2 引用規格・・・・[1]
  •  3 用語及び定義・・・・[1]
  •  4 一般原理・・・・[1]
  •  5 技術者の資格・・・・[2]
  •  6 漏えい磁束探傷試験システム・・・・[2]
  •  6.1 システムの構成要素・・・・[2]
  •  6.2 探傷ヘッド・・・・[2]
  •  6.3 探傷試験装置・・・・[3]
  •  6.4 走査装置・・・・[4]
  •  6.5 附属装置・・・・[4]
  •  7 対比試験片・・・・[4]
  •  7.1 対比試験片の使用目的・・・・[4]
  •  7.2 対比試験片に用いる材料・・・・[4]
  •  7.3 人工きずの加工・・・・[4]
  •  7.4 対比試験片に用いる人工きず・・・・[4]
  •  8 試験の準備・・・・[5]
  •  8.1 試験体の準備・・・・[5]
  •  8.2 磁化条件の決定・・・・[6]
  •  8.3 漏えい磁束探傷試験システムの設定・・・・[6]
  •  9 試験・・・・[6]
  •  9.1 試験の実施・・・・[6]
  •  9.2 安全予防・・・・[7]
  •  9.3 信号の評価・・・・[7]
  •  10 システムの構成要素の点検・・・・[7]
  •  10.1 一般・・・・[7]
  •  10.2 日常点検・・・・[7]
  •  10.3 定期点検・・・・[7]
  •  10.4 是正処置・・・・[7]
  •  11 システムの全体機能の検証・・・・[7]
  •  11.1 総合機能点検・・・・[7]
  •  11.2 是正処置・・・・[7]
  •  12 文書類・・・・[8]
  •  12.1 一般・・・・[8]
  •  12.2 試験手順書・・・・[8]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS Z 2319 pdf 1] ―――――

Z 2319 : 2018

pdf 目次

ページ

  •  12.3 試験報告書・・・・[8]
  •  12.4 点検手順書・・・・[9]

(pdf 一覧ページ番号 2)

――――― [JIS Z 2319 pdf 2] ―――――

                                                                                   Z 2319 : 2018

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人日本
非破壊検査協会(JSNDI)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規
格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規
格である。これによって,JIS Z 2319:1991は改正され,この規格に置き換えられた。
この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

(pdf 一覧ページ番号 3)

――――― [JIS Z 2319 pdf 3] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
Z 2319 : 2018

漏えい(洩)磁束探傷試験方法

Methods for magnetic flux leakage testing

1 適用範囲

  この規格は,鋼などの強磁性体の棒,管,板,それらの構造物,機械部品,ワイヤロープなどの表面,
表面下及び裏面に存在するきずを検出することを目的とする漏えい(洩)磁束探傷試験方法の一般事項に
ついて規定する。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS G 0431 鉄鋼製品の雇用主による非破壊試験技術者の資格付与
JIS Z 2300 非破壊試験用語
JIS Z 2305 非破壊試験技術者の資格及び認証

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS Z 2300によるほか,次による。
3.1
探傷ヘッド(Detecting head)
試験体との相対運動によってきずなどを検出する目的で使用される,磁化器及び磁気センサ(群)。
3.2
センサ応答幅(Effective width of sensing coverage)
磁気センサ(群)が漏えい磁束を検出できる幅(走査方向に直交な方向の有効検知幅)。
3.3
走査ピッチ(Scanning pitch)
走査の間隔(走査線に直交する方向への走査の送りピッチ)。棒,管などをら旋運動で探傷する場合は,
ら旋の軸方向の間隔。

4 一般原理

  強磁性体の試験体を磁化器によって磁化し,試験体にきずなどの不連続部が存在すると,磁束が試験体
外部に漏えいする。漏えい磁束探傷試験は,このきずから漏えいする磁束の分布及び強度を磁気センサを
用いて測定し,きずを検出するものである。漏えい磁束探傷試験は,磁気センサが試験体に非接触で,か
つ,高速の試験が可能となるため,鋼材などの製造ライン中での検査,機械部品の検査,ワイヤロープな
どの保守検査に適する非破壊試験である。

――――― [JIS Z 2319 pdf 4] ―――――

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Z 2319 : 2018

5 技術者の資格

  試験を行う者は,漏えい磁束探傷試験について十分な知識及び経験をもつ者でなければならない。JIS G
0431,JIS Z 2305(ET及び/又はMT)又は同等規格で資格付けされていることが望ましい。

6 漏えい磁束探傷試験システム

6.1 システムの構成要素

  漏えい磁束探傷試験システムは,探傷ヘッド,探傷試験装置,走査装置,附属装置などで構成される。
簡易的機器では,これらが一体となったものもある。これらの探傷ヘッド及び装置は,電気的安全及び機
械的安全に関する我が国の法令及び法規を遵守しなければならない。

6.2 探傷ヘッド

  探傷ヘッドは,磁化器及び磁気センサから成る。探傷ヘッドは,磁極面と試験体表面間とのクリアラン
スを一定に保持できることが必要である。
6.2.1 磁化器
磁化器には,次に示すコイル磁化器,電磁石磁化器及び永久磁石磁化器がある。磁極面と試験体表面間
とのクリアランスの変化は,試験体表層の磁束密度を変化させるため探傷信号に影響を及ぼす。
a) コイル磁化器 空心コイルを用いた磁化器。励磁電流は,直流又は交流を用いる。
b) 電磁石磁化器 鉄心とコイルとを組み合わせた磁化器。交流を用いた交流磁化器及び直流を用いた直
流磁化器に分類できる。
c) 永久磁石磁化器 永久磁石と鉄心とを組み合わせた磁化器。
6.2.2 磁気センサ
磁気センサは,試験の目的及び探傷方式によって適切なものを用いる。
漏えい磁束を検出する磁気センサとして,サーチコイル,ホール素子,磁気抵抗素子,磁気インピーダ
ンス素子などがある。磁気センサに高透磁率材料を組み合わせ,感度向上及び探傷領域の改善を図ること
がある。
磁気センサの信号出力は,リフトオフの変化に大きく影響を受ける。そのため,磁気センサは,試験体
表面とのクリアランスを一定に保つことのできる倣い機能を設けて保持されることが望ましい。磁気セン
サを試験面に接触させながら試験を行うときは,磁気センサを保護するための保護シューが用いられる。
保護シューには,超硬プレート,ステンレスプレート,樹脂などがある。
磁気センサで測定する漏えい磁束は,試験体の表面に対して垂直方向成分Φz又は平行方向成分Φxであ
る。きず中央からの距離をXとするとき,試験体の表面に対して垂直方向成分の漏えい磁束を計測した信
号は,図1に示すように,きずの中心で零となり,その前後でピークをもつ信号が出力される。また,試
験体の表面に対して平行方向成分の漏えい磁束を計測した信号は,図2に示すように,きずの中心で最大
値を示す信号が出力される。試験では,測定する漏えい磁束の方向成分を選択する。

――――― [JIS Z 2319 pdf 5] ―――――

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JIS Z 2319:2018の国際規格 ICS 分類一覧

JIS Z 2319:2018の関連規格と引用規格一覧