JIS Z 3082:1995 アルミニウムのT形溶接部の超音波探傷試験方法 | ページ 2

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図3 T1材からの斜角探傷における探傷面と走査範囲
7.3.2 T2材からの垂直探傷及び斜角探傷 探傷面及び走査範囲は,図4に示すように,垂直探傷又は斜
角探傷によって,試験部となる溶接部全域に超音波が伝搬するように定める。
なお,斜角探傷は,図4のA1面からの直射法又はA2面からの一回反射法によって実施する。
また,二振動子垂直探触子を用いるときは,音響隔離面を溶接線に平行にした場合と垂直にした場合の
両方について実施する。
図4 T2材からの探傷における探傷面と走査範囲
7.4 評価の対象とするきずとその区分 最大エコー高さを示す位置及び方向に探触子を置き,その最大
エコー高さが7.2で指定した評価レベルを超える場合は,探触子の位置,ビーム路程,溶接継手の状況な
どから,きずかどうかを判定する。きずと判定されたものを評価の対象とし,表8によってA種,B種又
はC種のいずれかに区分する。
表8 きずの区分とエコー高さ
きずの区分 エコー高さ
A種 A評価レベルを超えるもの
B種 A評価レベル以下でB評価レベルを超えるもの
C種 B評価レベル以下でC評価レベルを超えるもの

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7.5 きずの位置の表示 きずの位置は,最大エコー高さを示す位置で表示する。
7.6 きずの指示長さの測定 最大エコー高さを示す位置に探触子を置き,左右走査を行う。このとき若
干の前後走査を行うが首振り走査は行わない。きずからのエコー高さが表9に示すレベルと一致する探触
子位置におけるビーム中心軸上の反射源の位置をきずの端とする。探傷面上でのきずの始端と終端の間隔
を1mmの単位で測定してきずの指示長さとする。
なお,二振動子垂直探触子を用いた場合は,音響隔離面を溶接線に平行にした場合と垂直にした場合の
両方について測定し,両者のうち長い方をきずの指示長さとする。
表9 きずの端を決めるためのレベル
きずの区分 きずの端を決めるためのレベル
A種 HFmax−10dB(2)
B種,C種 7.2で指定したレベル
注(2) Fmax : 最大エコー高さ
異なる屈折角又は異なる探傷面で一つのきずを検出した場合,図5に示すように,それぞれ始端と終端
を求め,それらの間隔の最大長さをきずの指示長さとする。
図5 きずの指示長さの測定
8. 試験結果の分類方法 試験結果の分類方法は,附属書による。
9. 記録 試験を行った後,その試験成績書には,次の事項を記載し,その記録と試験体とをいつでも照
合できるようにしておかなければならない。
(1) 試験体に関する事項
(1.1) 施工業者名又は製造業者名
(1.2) 工事名又は製品名
(1.3) 試験体の外形・寸法及び試験部位の記号又は番号
(1.4) 材質
(1.5) 母材の厚さ
(1.6) 溶接部の継手形状,開先形状及び溶接方法
(2) 試験年月日
(3) 試験技術者の所属,氏名及び資格
(4) 試験条件
(4.1) 使用装置,試験片及び材料
(a) 探傷器(名称,製造所,製造番号,点検年月日,点検者,性能及び使用条件の確認結果)

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(b) 探触子(名称,製造所,製造番号,点検年月日,点検者,性能及び使用条件の確認結果)
(c) 標準試験片及び対比試験片
(d) 接触媒質
(4.2) 探傷寸法
(4.3) 探傷面及び走査範囲(探傷面の記号,反射回数など)
(4.4) 基準レベル及び評価レベル
(a) 距離振幅特性曲線
(b) 指定した評価レベル
(5) 試験結果
(5.1) 試験部の形状・寸法
(5.2) きず指示の有無
(5.3) きずの位置
(5.4) きずの区分
(5.5) きずの指示長さ
(5.6) きずの分類
(6) その他必要事項
(7) 備考

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附属書 試験結果の分類方法
1. 適用範囲 この附属書は,試験結果の分類を行う場合に適用する。
2. 試験結果の分類 試験結果の分類は,きずの区分及びきずの指示長さに応じて附属書表1によって行
う。
附属書表1 きずの指示長さによるきずの分類
単位 mm
母材の 5以上20以下 20を超え80以下 80を超えるもの
厚さt(1)
区分
A種 B種 C種 A種 B種 C種 A種 B種 C種
分類
t以下 t以下 t以下
き 1類 − 5以下 6以下 8 4 3 10以下 20以下 26以下
t以下 t以下 t以下
ず 2類 − 6以下 10以下 6 3 2 13以下 26以下 40以下
t以下 t以下
の 3類 5以下 10以下 20以下 4 2 t以下 20以下 40以下 80以下
分 4類 3種を超えるもの

注(1) : 開先を取った側の母材の厚さ (mm)
附属書表1の適用に当たり,同一とみなされる深さにおいて,きずときずの間隔が大きい方のきずの指
示長さと等しいかそれより短い場合は,同一のきずとみなし,それらを間隔も含めて連続としたきずとし
て取り扱う。きずときずの間隔が,両者のきずの指示長さのうち大きい方のきずの指示長さより長い場合
は,それぞれ独立したきずとみなす。
改正原案作成委員会 構成表
氏名 所属
(委員長) 大 岡 紀 一 日本原子力研究所大洗研究所
古 賀 英 宣 通商産業省基礎産業局
高 木 譲 一 工業技術院標準部
福 原 煕 明 金属材料技術研究所
座 古 勝 大阪大学工学部
竹 花 立 美 高圧ガス保安協会
冨 田 真 己 社団法人日本溶接協会
名 取 孝 夫 社団法人日本非破壊検査協会(株式会社ジャスト研究所)
米 山 弘 志 石川島播磨重工業株式会社
松 村 裕 之 川崎重工業株式会社
青 山 芳 夫 日本酸素株式会社
倉 持 貢 清水建設株式会社
高 橋 伸 幸 住友軽金属工業株式会社
松 本 二 郎 株式会社日軽技研
井 川 敏 之 株式会社アイ・エム・シー
丸 本 尚 神鋼検査サービス株式会社
清 田 文 範 新日本非破壊検査株式会社
横 野 泰 和 非破壊検査株式会社
八 木 健 株式会社トキメック
高 橋 弘 幸 日本クラウトクレーマー株式会社
和 高 修 三 三菱電機株式会社

――――― [JIS Z 3082 pdf 9] ―――――

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Z 3082-1995
氏名 所属
(事務局) 初 谷 正 治 社団法人軽金属溶接構造協会

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