20
Z 4721 : 2000
2.3) スリット像は,サンプリングスリットの長軸方向又はCCDカメラの画素配列方向に対して平行に
結像されるようにする。
2.4) LSFの2次元のCCDカメラによって得られた画素値を列方向に足し合わせることによってLSFを
得る。又はサンプリングスリットをスリット像に対して垂直に走査し,サンプリングスリットを通
過した光をPMTによって検出することによってLSFを得る。
備考 低空間周波数成分におけるMTF測定の際のスリット幅は,高空間周波数成分の測定のときに
使用したスリット幅より広くする。このとき,スリット像の信号が強すぎるのでNDフィルタ
などを使用し,LSFのすそ野の部分を測定するときには,NDフィルタを外すことで広いダイ
ナミックレンジを昇ることができる。
2.5) LSFをフーリエ変換し,測定された変調度伝達関数MTFMを計算する。
2.6) 測定に関する空間周波数の分解能 次の式で表現される。
1
f mm 1-
N X
1
fmin mm 1-
EFS
1
fmax mm 1-
4 X
ここに, N : 1ライン当たりの測定数(画素数)
X : 入射面換算したサンプリング間隔
fmin : 感知できる空間周波数の最小値
EFS : mm単位で表される入射面視野寸法
fmax : 有効な空間周波数(ナイキスト条件の半分)の最大値
備考 もし,fmaxでのMTFMが0.02を超えているなら,スリット像は誤ってサンプリングされている
ので光学系の倍率を上げる。
f) 空間周波数の大きさは,中心拡大率と光学系による拡大率とを用いてI. I. の入射面に換算させる。
g) 零空間周波数でのMTFは,1.00とする。
h) 結果として得られたMTFは,空間周波数全体にわたって0.02以上の精度で測定する。
図12 MTF測定器
7.10.5 補正 I. I. の変調伝達関数MTFxは,測定された変調伝達関数MTFMを試験器具の変調伝達関数
MTFT,リレーレンズ系とMTF分析器の変調伝達関数MTFA,焦点の変調伝達関数MTFsによって,補正
する。
a) TFxは,次の式で計算する。
――――― [JIS Z 4721 pdf 21] ―――――
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Z 4721 : 2000
MTFM
MTFX
MTFT MTFA MTFS
b) 試験器具のMTFTは,次の式で計算する。
sin d f
MTFT f
d f
ここに, f : 空間周波数
d : I. I. の入射面に換算したスリット幅
この近似は,スリット幅がスリット長に比べて十分小さいことを仮定している。
c) TFsの補正の場合には,実効焦点のMTFはJIS Z 4704によって決定する。その他の場合は1.00とす
る。
d) 補正に用いたそれぞれのMTFの結果は,空間周波数全体で0.50以上である。
7.10.6 LFDの計算方法 LFDは,次の式から計算される。
LFD= [1.00−MTF (0.1mm−1) ]
7.10.7 MTF及びLFDの表示
a) 変調度伝達関数の表示方法LFDを含んだMTF。これは,縦軸,横軸ともゼロを原点とした線形グラ
フで表現される。空間周波数は,mm−1(又はcm−1)で示され,I. I. の入射面に換算した数値で示す。
b) FDの表示方法
LFDの数値
8. 表示 I. I. には,少なくとも次の事項を見やすい位置に表示しなければならない。ただし,e),f)は,
電源部に表示すればよい。
a) 形名又は名称
b) 製造業者名及び所在地
c) 製造番号
d) 据付年月又は製造年月若しくはこれらの略号
e) 定格電源の相数,電圧 (V) 及び周波数 (Hz) (電源部がある場合)
f) 消費電力 (W) (力率90%以上)又は皮相電力 (VA) (電源部がある場合)
g) その他必要な事項
9. 附属文書 附属文書には,少なくとも次の事項を記載しなければならない。
a) 形名又は名称
b) 構造及び構成[主要寸法 (mm),質量 (kg) など]
c) 入力面位置及び入力面寸法(図2参照) (mm)
d) 電源の相数,電圧 (V),周波数 (Hz) 及び消費電力 (W)(5)又は皮相電力 (VA) (電源部がある場合)
注(5) 力率90%以上の場合に限る。
e) 電源に備えるヒューズの種類及び定格(電源部がある場合)
f) 使用方法及び次の事項
1) 保守,管理に関する事項
1.1) 組み込んだ真空ポンプの作動条件(組込み真空ポンプがある場合)
1.2) I. I. の交換時の注意事項
――――― [JIS Z 4721 pdf 22] ―――――
22
Z 4721 : 2000
1.3) その他必要事項
2) 過度の振動及び衝撃に関する注意事項
3) 運搬及び保管に関する事項
3.1) 許容できる輸送及び保管環境条件
3.2) 長期間不使用保管時の注意事項
3.3) その他
g) 定格
1) 陽極電圧,集束電極電圧(kV又はV)
2) 公称入射面視野方法 (mm),有効入射面視野寸法 (mm)
3) 出力像寸法 (mm)
4) 変換係数 (cdm−2/ 1)
5) 輝度分布,輝度不均一度 (%)
6) 微分像ひずみ
7) コントラスト比又はベーリンググレア指数
8) 解像度(Lp/mm又はLp/cm)(7.8.7参照)
9) QE
10) TF
h) 取扱い上の注意事項
――――― [JIS Z 4721 pdf 23] ―――――
23
Z 4721 : 2000
JIS Z 4721 医用X線イメージエンテンシファイア 原案作成委員会 構成表
氏名 所属
委員長 平 松 慶 博 東邦大学医学部
委員 野辺地 篤 郎 聖路加国際病院
幾 瀬 純 一 東芝メディカル株式会社
宗 近 宏 次 昭和大学医学部
川 原 章 厚生省医薬安全局
尾 内 能 夫 財団法人癌研究会癌研究所
宮 崎 正 浩 通商産業省工業技術院標準部
山 村 修 蔵 財団法人日本規格協会
橋 本 進 財団法人日本規格協会
宮 崎 茂 社団法人日本放射線技術学会(東邦大学医学部附属大橋病院)
山 口 尚二郎 株式会社島津製作所
竹 中 栄 一 関東労災病院
多 田 信 平 東京慈恵医科大学
平 林 久 枝 社団法人日本放射線技術学会(東京女子医科大学病院)
荒 木 由季子 通商産業省機械情報産業局
三田村 正 義 ジーイー横河メディカルシステム株式会社
山 田 和 美 社団法人日本放射線技術学会(東京日立病院)
村 上 文 男 株式会社日立メディコ
矢 野 太 ジーイー田中メディカルシステム株式会社
荒 舘 博 株式会社東芝
谷 津 哲 夫 株式会社東芝
鴨 下 実 三田屋商事株式会社
伊 東 厚 社団法人日本画像医療システム工業会
(事務局) 椎 名 光 男 社団法人日本画像医療システム工業会
JIS Z 4721 医用X線イメージインテンシファイア 原案作成分科会 構成表
氏名 所属
(主査) 谷 津 哲 夫 株式会社東芝
佐 藤 直 高 株式会社東芝
斎 藤 啓 一 株式会社東芝
大久保 彰 株式会社日立メディコ
相 原 雄 一 フィリップスメディカルシステムズ株式会社
長谷川 亨 コニカ株式会社
松 永 功 介 株式会社ナック
三 橋 昇 シーメンス旭メディテック株式会社
山 田 稔 富士メディカルシステム株式会社
木 村 雄太郎 株式会社島津製作所
篠 原 文 章 社団法人日本放射線技術学会(日本医科大学附属第二病院)
寺 沢 操 社団法人日本放射線技術学会(財団法人癌研究会附属病院)
村 西 久 幸 社団法人日本放射線技術学会(神奈川県立厚木病院)
宗 像 保 男 通商産業省工業技術院標準部
橋 本 進 財団法人日本規格協会
(事務局) 椎 名 光 男 社団法人日本画像医療システム工業会
JIS Z 4721:2000の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 61262-1:1994(MOD)
- IEC 61262-2:1994(MOD)
- IEC 61262-3:1994(MOD)
- IEC 61262-4:1994(MOD)
- IEC 61262-5:1994(MOD)
- IEC 61262-6:1994(MOD)
- IEC 61262-7:1995(MOD)
JIS Z 4721:2000の国際規格 ICS 分類一覧
JIS Z 4721:2000の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC7614:1993
- 照明の場における輝度測定方法
- JISH4000:2014
- アルミニウム及びアルミニウム合金の板及び条
- JIST0601-1:2017
- 医用電気機器―第1部:基礎安全及び基本性能に関する一般要求事項
- JISZ4005:2012
- 医用放射線機器―定義した用語
- JISZ4701:1951
- 医療用薄ゴムシート
- JISZ4701:1997
- 医用X線装置通則
- JISZ4916:1997
- X線用解像力テストチャート