JIS Z 8122:2000 コンタミネーションコントロール用語

JIS Z 8122:2000 規格概要

この規格 Z8122は、コンタミネーションコントロールに関する用語及びその定義について規定。

JISZ8122 規格全文情報

規格番号
JIS Z8122 
規格名称
コンタミネーションコントロール用語
規格名称英語訳
Contamination control -- Terminology
制定年月日
1974年10月1日
最新改正日
2019年10月21日
JIS 閲覧
‐ 
対応国際規格

ISO

国際規格分類

ICS

01.040.13, 13.040.30
主務大臣
経済産業
JISハンドブック
‐ 
改訂:履歴
1974-10-01 制定日, 1977-10-01 確認日, 1988-07-01 改正日, 1994-06-01 改正日, 2000-03-20 改正日, 2004-11-20 確認日, 2009-10-01 確認日, 2014-10-20 確認日, 2019-10-21 確認
ページ
JIS Z 8122:2000 PDF [40]
Z 8122 : 2000

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,社団法人 日本空気清浄協会 (JACA) /財
団法人 日本規格協会 (JSA) から工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改正すべきとの申出があり,日本
工業標準調査会の審議を経て,通商産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)である。これによってJIS Z 8122 :
1994は改正され,この規格に置き換えられる。

(pdf 一覧ページ番号 )

――――― [JIS Z 8122 pdf 1] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
Z 8122 : 2000

コンタミネーションコントロール用語

Contamination Control−Terminology

1. 適用範囲 この規格は,コンタミネーションコントロールに関する主な用語及びその定義について定
義する。
備考1. コンタミネーションコントロールは,清浄度管理ともいい,限られた空間,及び製品などの
内部,表面又は周辺について,要求される清浄状態を保持するためあらゆる事柄について計
画を立て,組織し,実施することをいう。
なお,放射能の問題は含まない。
2. 引用規格 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格は,その最新版を適用する。
JIS B 8241 継目なし鋼製高圧ガス容器
JIS B 9920 クリーンルーム中における浮遊微粒子の濃度測定方法及びクリーンルームの空気清浄度
の評価方法
JIS B 9921 光散乱式自動粒子計数器
JIS B 9924 表面付着粒子計数器
JIS B 9925 液体用光散乱式自動粒子計数器
JIS K 3600 バイオテクノロジー用語
JIS K 3800 生物学用クラスII安全キャビネット
JIS Z 4812 放射性エアロゾル用高性能エアフィルタ
JIS Z 8103 計測用語
JIS Z 8901 試験用粉体及び試験用粒子
3. 用語の分類 用語は,次のように分類する。
a) 基本 1001
b) 管理 2001
c) 測定・分析
1) 共通 3001
2) 空気 3101
3) 水・薬液 3201
4) ガス 3301
5) 微生物 3401
d) 清浄化装置

――――― [JIS Z 8122 pdf 2] ―――――

2
Z 8122 : 2000
1) 共通 4001
2) 空気 4101
3) 水・薬液 4201
4) ガス 4301
5) 微生物 4401
4. 定義 用語及び定義は,次による。
なお,参考として慣用語対応英語を示す。
備考1. 二つ以上の用語を併記してある場合は,上位の用語を優先的に使用する。
2. 用語欄で用語の下の丸括弧のかなは,読み方を示す。
3. 定義欄で太字で記載している語は,この規格中規定されている用語であることを示す。
a) 基本
番号 用語 定義 参考
慣用語 対応英語
1001 対象物 コンタミネーションコントロールの対象とするも physical object
の。
備考 クリーンルーム内で取り扱う製品,器具,
実験対象物(生物を含む),クリーンルー
ム内の空気,クリーンルームに供給され
る水,ガス,薬液などをいう。
1002 汚染 対象物に何らかの物質が付着,混入,発生すること 汚れ, contamination
などによって,対象物が本来もっている機能,性能 コンタミネーショ
に好ましくない影響が与えられている状態。 ン
1003 汚染物質 contaminants
対象物に付着,混入,発生することなどによって汚 コンタミナント,
染を引き起こす物質。 汚染要因物
1004 被汚染物 汚染物質によって,汚染される対象物。 コンタミニー contaminees
1005 汚染源 被汚染物を発生する原因となるもの。 contaminated source
備考 人間,動物,植物,衣服,土壌などの汚
染物,及び純水,ガス,薬品に含まれる
不純物。また製造工程に伴って発生する
汚染物質を指す場合もある。
1006 清浄 汚染がない状態。 cleanness
1007 清浄度 対象物の清浄状態を示す量。 cleanliness
備考 一定面積又は一定体積中に含まれる汚染
物の大きさ,及び数又は質量によって表
す。
1008 環境 被汚染物を取り巻いている状況で,直接・間接に汚 エンバイロンメン environment
染の原因になるもの。 ト
備考 コンタミネーションコントロールの分野
における環境の主な例は,被汚染物に接
する空気,ガス,液体,固体表面などで
ある。
1009 キャリア 汚染物質を被汚染物に運ぶ媒体。 carrier
備考 周囲空気,工具などは,代表的なキャリ
アである。
1010 粒子汚染 粒子状汚染物質によって,汚染している状態。 particle
contamination
1011 ガス汚染 ガス状汚染物質によって,汚染している状態。 gaseous

――――― [JIS Z 8122 pdf 3] ―――――

                                                                                              3
Z 8122 : 2000
番号 用語 定義 参考
慣用語 対応英語
contamination
1012 内部汚染 対象物の内部が汚染物質によって汚染されている Internal
か,又は汚染されている状態。 contamination
1013 表面汚染 対象物の表面が汚染物質によって汚染されている surface
か,又は汚染されている状態。 contamination
備考 半導体分野ではウエハの表面が原子オー
ダで凹凸の著しい状態を表面マイクロラ
フネス,表面粗度 (surface micro
roughness) という,このような表面でデ
イバイスを作ると特性が悪化する。これ
も表面汚染の1種と考える。
1014 被膜汚染 被膜による表面汚染。 film contamination
備考 半導体の分野では,けい素の自然酸化膜
による汚染も含む。
1015 粒子 固体又は液体の粒状小物体。 particle,
備考 測定可能な大きさをもつ。 particulate
1016 粒径 粒子の大きさ。 particle size
備考 粒子は各種の形状をもっているので,粒
径は測定法ごとに定められた方法によっ
て表す。例えば,顕微鏡法によって測定
した粒径は粒子の最大差渡し寸法,粒子
の沈降速度によって測定した粒径は空気
力学的に等価な球形粒子の直径,光散乱
式自動粒子計数器法で測定した粒径は粒
子からの散乱光量の等しい球形の試験粒
子の直径で表す。
1017 粗大粒子 粒径が10 度100 度の粒子。 coarse particle
備考 発じん源の由来から粒径が2 上とす
る場合もある。
1018 微小粒子 一般に,気体中,又は液体中に浮遊し,ほとんど沈 微粒子 fine particle
降しない粒径が1 度以下の粒子。
備考 発じん源の由来から2 下とする場合
もある。
1019 サブミクロン粒 微小粒子のうち0.11 度以下の粒子。 submicron particle

1020 超微粒子 粒径が1100nm程度の粒子。 nm粒子 ultrafine particle
1021 エアロゾル 気体中に分散している固体又は液体の微細粒子。 aerosol
(JIS K 3600参照。)
1022 粉じん 固形物がその化学的組成が変わらないままで形・大 ダスト dust
きさが変わって粒状になり分散した粒子。
備考1. 粉じん(塵)と表記してもよい。
2. 粉砕,研磨,せん(穿)孔,爆破など
主として物理的破砕過程で生じる。
1023 繊維状粒子 長い方の寸法が,幅の10倍以上である粒子。 fibre particle
1024 浮遊微小粒子 気体又は液体中に浮遊している微小粒子。 浮遊微粒子, airborne particle,
SPM (気体中)
liquidborne particle,
(液体中)
suspended particulate

――――― [JIS Z 8122 pdf 4] ―――――

4
Z 8122 : 2000
番号 用語 定義 参考
慣用語 対応英語
matter
1025 荷電粒子 他の物質との接触によって,又はイオンとの結合に イオン粒子 ion particle
よって正又は負の電荷をもつ分子,又は微小粒子。
1026 ミスト 微小な液体粒子が空気中に浮遊している系。 mist
1027 フューム や(冶)金工程などで,溶融物質から揮発したガス fume
状態の物質が凝縮して生成した微小な固体粒子又
は液体粒子が空気中に浮遊している系。
1028 粒子状汚染物質 固体,又は液体の粒子状の汚染物質。 particulate
備考 粉じんダスト,ミスト,フューム,煙, contaminant
霧などを示す。
AMC
1029 ガス状汚染物質 気体中にガスの状態で含まれている汚染物質。 gaseous contaminant
備考 通常CO2,SO2,NOx(1) NH3フロン,臭気 airborne molecular
などがその例である。“(酸性,アルカリ contaminant (acid,
性有機性のものがある。)” base, condensable,
注(1) Oxは,窒素酸化物の総称。 dopant)
1030 汚染濃度 汚染物質の濃度。 concentration of
備考 被汚染物の単位面積,単体体積又は contaminant
単位質量当たりの汚染物質の種類
別及び寸法別の数又は質量で表す。
1031 空気汚染濃度 空気中に含まれる汚染物質の空気の単位体積又は concentration of
単位質量当たりの量。 airborne
contaminant
1032 粒子濃度 気体又は液体中に浮遊している微小粒子の濃度。 particle concentration
備考 一般には単位体積若しくは単位質
量の気体中,又は液体中に浮遊して
いる微小粒子の種類別及び寸法別
の数又は質量で表す。
1033 ガス濃度 気体,液体,まれには固体中に含まれているガス状 gas concentration
汚染物質の濃度。
備考 一般にはmg/m3又はppmで表す。
1034 質量濃度 標準状態(JIS Z 8103を参照)における単位体積の mass concentration
気体,又は液体中に含まれている汚染物質の質量。
1035 相対濃度 気体又は液体中に含まれている汚染物質によって equivalent
発生する現象を介して求めた汚染濃度。例,散乱光 concentration
量などから求めた相当質量濃度。
1036 相当質量濃度 質量濃度で示された相対濃度。 equivalent mass
concentration,
concentration
1037 個数濃度 標準状態(JIS Z 8103を参照)における単位体積の number concentration
気体,又は液体中に含まれている粒子の個数。
1038 光学濃度 浮遊微小粒子をろ紙上に捕集して,その光の透過量 optical density,
又は反射量の減少によって求めた相当質量濃度。 optical
concentration
1039 表面濃度 被汚染物の表面の単位面積当たりに含まれる汚染 concentration of
物質の量。 surface
contamination
1040 希釈 溶液に希釈剤を加えて溶質の濃度を減少させる行 dilution

――――― [JIS Z 8122 pdf 5] ―――――

次のページ PDF 6

JIS Z 8122:2000の国際規格 ICS 分類一覧

JIS Z 8122:2000の関連規格と引用規格一覧