JIS Z 8737-1:2000 音響―作業位置及び他の指定位置における機械騒音の放射音圧レベルの測定方法―第1部:反射面上の準自由音場における実用測定方法 | ページ 4

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Z 8737-1 : 2000 (ISO 11201 : 1995)
通常,放射音圧レベルを測定するためには,IEC 60804に適合する積分形騒音計を使わなければならな
い(5.参照)。時間重み特性Sで測定した音圧レベル変動が,±1dBであることが示されれば,IEC 60651
に適合する騒音計を使ってもよい。この場合,その音圧レベルは,時間重み特性Sを使って測定した,測
定時間内の最大レベルと最小レベルの平均*として得られる。
参考* この場合の平均とは.算術平均でもパワー平均でもよい。

10.2.2 測定の回数

 指定位置における放射音圧レベル算出の不確かさを減少させるには,試験対象機器に
対し該当する個別規格で規定する回数だけ,反復測定が必要となることがある。反復測定の後で使うべき
値(例えば,平均又は最大)は,個別規格がある場合,その中で定義されたものとする。反復測定では,
次の手順が必要である。
a) 可能な場合,測定対象機器の電源をいったん切り,再び電源を投入する。
b) マイクロホンをいったん遠ざけ,再び指定位置に配置する。
c) 同じ環境内において,同じ測定時間,同じ測定器を使い,同じ設置及び作動条件の下で,再び測定を
行う。

10.2.3 衝撃性の騒音の測定

 附属書Aによって衝撃性の騒音である場合,放射音圧レベルを測定するに
は,特段の注意が必要であり,十分に大きなリニアリティレンジをもち,かつ,過大入力指示機構を装備
した騒音計を使う。
衝撃性の騒音の時間特性(例えば,ピーク音圧レベル)の測定のためには,10.2.2の反復測定手順に加
え,個別規格で別途規定されていない限り,測定時間には,少なくとも10個の衝撃性の事象を含まなけれ
ばならない。
前述のピーク音圧レベルを測定するのでない限り,最終的に残しておく値とは,通常,その平均である。
ピーク音圧レベルを測定した場合,その最大値を採用する。該当する個別規格でより詳細な手順を規定し
ている場合,その手順を使う。
測定対象機器が,分離可能な単発の音を発生する場合,作業位置における単発放射音圧レベルLp, 1s(3.3.3
参照)を測定する。
放射される騒音に,衝撃性の成分を含むかどうかを判断するには,附属書Aで規定する方法のいずれか
一つを使ってもよい。

11. マイクロホンの位置

11.1 一般事項

 測定位置は,11.2, 11.3, 11.4又は11.5で規定するものの中から,いずれか一つを選択する。
IEC 60651又はIEC 60804のそれぞれに適合した性能を得るために,製造業者が指定したマイクロホン
の基準方向と,その音の入射角度とが一致するようにマイクロホンを向ける。可能な場合,オペレータの
いない状態で測定対象機器の放射音圧レベルを測定する。マイクロホンを主要な音源の方向に向けて測定
する。
オペレータがいる状態で測定しなければならない場合,音響測定に影響を与えないよう,オペレータは
極端に吸音性の高い服,帽子又はスカーフを着用してはならない。ただし,安全目的で必要な保護ヘルメ
ット及びマイクロホンを支持するフレームの装着は認められる。
オペレータがいる場合のマイクロホンの位置は,オペレータの視線の方向に平行で,その両目を結ぶ線
上とし,オペレータの頭の中心面から横方向に0.20m±0.02mの距離の点のうち,A特性音圧レベルLPA
の値の大きい方とする。
備考18. 測定した音圧レベルが位置に大きく依存する場合,指定位置を中心とする小さな空間内の複

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数の位置における空間平均をとることが望ましい。
該当する個別規格にオペレータの位置に関する規定のない限り,オペレータの位置は,11.211.5のと
おりとする。

11.2 着席しているオペレータ

 オペレータのいない状態での測定で,その座席が測定対象機器に取り付
けられている場合,該当する個別規格に規定のない限り,座席面中央の上方0.80m±0.05mにマイクロホ
ンを配置する。
オペレータのいない状態での測定で,その座席が測定対象機器に取り付けられていない場合,マイクロ
ホンの位置は,その測定対象機器の該当する個別規格で規定するとおりとする。該当する個別規格がない
場合,試験報告書にマイクロホンの位置を記載する。
オペレータのいる状態で測定する場合,オペレータが座席を望ましい位置に調整してもよい。オペレー
タの頭頂部から座席面までの距離は,0.91m±0.05mと想定される。

11.3 起立しているオペレータ

 オペレータのいる状態で測定する場合,11.1の規定を適用する。オペレ
ータ又はバイスタンダのいない状態で測定する場合,若しくは該当する個別規格で,起立しているオペレ
ータのための位置を規定していない場合,通常オペレータが立っている床面上の基準点との相対位置とし
てマイクロホンの位置が定義される。この基準点とは,オペレータの頭の中心の真下の床面上の点である。
マイクロホンは,基準点の真上の1.55m±0.075mの範囲に配置する。マイクロホンの高さは,通常,該当
する個別規格に規定されている。

11.4 指定経路に沿って移動するオペレータ

 測定対象機器の近傍の指定経路に沿ってオペレータが移動
する場合,その所定の経路に沿って音圧レベルを測定するために,十分な数のマイクロホンを配置するか,
又はマイクロホンを移動させなければならない。マイクロホンを移動させる場合,経路に沿って連続して
積分を行う(3.3.1参照)か,又は経路上の十分な数の位置において定義された時間で測定を行い,式(5)
を適用する。
移動経路の代表的なものに対して,オペレータの頭の中心の真下にある床面上の1本の線として基準線
を定義する。オペレータが移動する場合,該当する個別規格に高さに関する規定のない限り,基準線の真
上,1.55m±0.075mの範囲に複数のマイクロホン位置を配置する。
固定されたオペレータの位置のすべてに対し,マイクロホンの位置を定義しなければならない。
該当する個別規格に移動経路が規定されている場合,その規定による。
位置の指定のない場合,基準線に沿って音場を適切にサンプリングするために,少なくとも4か所のマ
イクロホンの位置を定義する。
備考19. 基準箱から一定距離にある長方形の測定表面の上に指定経路がある場合,ISO 11203の方法を
適用することが推奨される。
参考 すなわち,測定面上の放射音圧レベルを音響パワーレベルから計算によって求めてもよい。

11.5 バイスタンダ及び無人運転機械

 オペレータの位置を特定できない場合,(例えば,保守や修理など
のための)“便宜上の”作業位置,若しくは1か所又は複数のバイスタンダ位置を定義し,個別規格に明記
する。
該当する個別規格がない場合,JIS Z 8733又はISO 3746で定義する基準箱から1m離れ,床面上高さ
1.55m±0.075mに配置した4か所以上のマイクロホンの位置において測定を行う。バイスタンダ位置で観
測された値の最大のものを,その測定対象機器の放射音圧レベルとして,その位置とともに記録する。
備考20. 離散点による測定の代わりに,ISO 11203に従い,音響パワーレベルから表面音圧レベルを計
算によって算出しても十分な場合がある。

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21. 個別規格によっては,ISO 7779のように4か所以上の位置からのレベルの平均を,その測定
対象機器の放射音圧レベルとして記録することを規定することがある。

12. 記録事項

 適用可能な場合,この規格に従って行った測定のすべてに対し,次の事項を一覧にして,
記録する。報告書作成に先立って行われる,最終的な計算処理を行った後でだけ,値を丸めることが許さ
れる。

12.1 測定対象機器

 次の事項を含む測定対象機器の詳細
− 形式
− 技術仕様
− 寸法
− 製造業者名
− 製造番号
− 製造年

12.2 作動条件

a) 作動条件の定量的な詳細。必要な場合,作動別時間及び作動サイクルも含む。
b) 据付け条件
c) 試験環境内での測定対象機器の配置
d) 測定対象機器に複数の騒音源がある場合,測定中のそれらの音源の作動の詳細。

12.3 試験環境

 試験環境の詳細
a) 屋内の場合,壁,天井及び床の仕上げ処理。測定対象機器及び室内にあるものの配置を示したスケッ
チ。6.2に従い求めた室の音響性能(K2の値)
b) 屋外の場合,次のもののほか,周囲の地形に対する測定対象機器の位置を示したスケッチ。
1) 試験環境の物理的な詳細
2) 気温 (℃) ,気圧 (kPa) 及び相対湿度 (%)
3) 風速 (m/s)

12.4 測定器

a) 使用した機器の名称,形式,製造番号及び製造業者名
b) 測定システムの校正を確認するために使用した方法。校正年月日,校正場所及び結果を記録する。
c) 使用した場合,ウィンドスクリーンの特性。

12.5 測定位置

 放射音圧レベルを測定したすべての位置を,詳細に記録する。

12.6 測定結果

a) 全実測音圧レベルデータ
b) 指定位置におけるA特性放射音圧レベル。必要に応じて,その他の周波数重み特性及び/又は周波数バ
ンドでの放射音圧レベル。
c) 指定位置におけるC特性ピーク放射音圧レベル。必要に応じて,作業位置における騒音放射のその他
の時間特性。
d) 指定位置ごとのA特性暗騒音レベル及び暗騒音補正値K1A。必要に応じて,周波数バンドごとの暗騒
音レベル及び暗騒音補正値K1。
e) 測定場所,測定年月日及び試験責任者名。

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13. 報告事項

 記録事項(12.参照)のうち,その測定に必要な事項だけを報告する。該当する個別規格が
ある場合,その規定によって報告事項が規定される。
報告書には,報告された指定位置における放射音圧レベルが,この規格に適合して得られたかどうかを
明記しなければならない。
報告書には,放射音圧レベルの測定年月日及び試験責任者名を含むものとする。
指定位置における放射音圧レベルは,最も近い0.5dB単位で報告する。

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附属書A(参考) 騒音の衝撃性の判定指針
時間重み特性Iを使って測定した時間平均A特性音圧レベルLpAIeqと,同じ作動サイクルに対するLpAeq
を比較することが,その騒音に際立った衝撃性成分を含むかどうかを判定するのに役立つことがある。こ
の目的のためには,1か所以上のマイクロホンの位置において比較を行い,各位置において少なくとも10
作動サイクルを観測する。その差(LpAIeq−LpAeq)が,騒音の衝撃性に関する指数である。
騒音の衝撃性に関する指数の算術平均値が3dB以上の場合,その騒音は衝撃性と考えられる。
本体の3.3,7.及び10.2.3で規定するC特性ピーク放射音圧レベルLpc, peakと,同じ作動サイクルに対す
る時間平均C特性放射音圧レベル,Lpc, eqとを比較し,その差(Lpc, peak−Lpc, eq)を,機械及び装置から放
射される騒音の衝撃性の程度を表す量として使ってもよい。
分離可能な単発事象,又は1秒以上の間隔で連続して発生する事象に対しては,LpAIの最大値とLpASの
最大値との差を,単発事象の衝撃性を表す量として使ってもよい。その差(LpAImax−LpASmax)は,単発騒
音の衝撃性に関する指数である。連続して発生する単発事象に対しては,個々の事象に対するLpAIの最大
値の算術平均と,すべての事象上でのLpASの最大値の平均とが使われる。
C特性ピーク放射音圧レベルLpc, peakと,同じ作動サイクルに対する時間重み特性SでのC特性音圧レベ
ルの最大値LpCSmaxとを比較し,その差(Lpc, peak−LpCSmax)を,機械及び装置から放射される単発騒音の衝
撃性の程度を表す量として使ってもよい。

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  • ISO 11201:1995(IDT)

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