JIS Z 8733:2000 音響―音圧法による騒音源の音響パワーレベルの測定方法―反射面上の準自由音場における実用測定方法

Z 8733 : 2000

まえがき

  この規格は,工業標準化法に基づいて,日本工業標準調査会の審議を経て,通商産業大臣が改正した日
本工業規格である。これによって,JIS Z 8733 : 1987は改正され,この規格に置き換えられる。
  JIS Z 8733には,次に示す附属書がある。
    附属書A(規定) 音響環境の検定手順
    附属書B(規定) 半球測定表面上のマイクロホン配列
    附属書C(規定) 平行六面体測定表面上のマイクロホン配列
    附属書D(参考) 騒音の衝撃性の判定指針
    附属書E(参考) 指向指数算出のための指針
    附属書F(参考) 騒音スペクトル及びレベルの時間変動による分類
    附属書G(参考) 参考文献

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ページ

•  序文・・・・[1]
•  1. 適用範囲・・・・[3]
•  1.1 一般事項・・・・[3]
•  1.2 騒音及び騒音源の種類・・・・[3]
•  1.3 試験環境・・・・[4]
•  1.4 測定の不確かさ・・・・[4]
•  2. 引用規格・・・・[6]
•  3. 定義・・・・[7]

3.1 音圧 (sound pressure)    :  7
3.2 音圧レベル (sound pressure level)   p :  7
3.2.1 時間平均音圧レベル (time-averaged sound pressure level)   peq,T :  7
3.2.2 単発事象音圧レベル (single-event sound pressure level)   p, 1s :  8

•  3.2.3 測定時間 (measurement time interval) : ・・・・[8]
•  3.3 測定表面 (measurement surface) : ・・・・[8]
•  3.4 表面音圧レベル (surface sound pressure level)・・・・[8]
•  3.5 音響パワー (sound power) : 83.6 音響パワーレベル (sound power level)・・・・[8]
•  3.7 自由音場 (free field) : ・・・・[8]
•  3.8 反射面上の自由音場 (free field over a reflecting plane) : ・・・・[8]
•  3.8A 反射面上の準自由音場 (essentially free field over a reflecting plane) : ・・・・[9]
•  3.9 対象周波数範囲 (frequency range of interest) : ・・・・[9]
•  3.10 基準箱 (reference box) : ・・・・[9]
•  3.11 特性音源寸法 (characteristics source dimension)・・・・[9]
•  3.12 測定距離 (measurement distance)・・・・[9]
•  3.13 測定半径 (measurement radius)・・・・[9]
•  3.14 暗騒音 (background noise) : ・・・・[9]
•  3.15 暗騒音補正値 (background noise correction)・・・・[9]
•  3.16 環境補正値 (environmental correction)・・・・[9]
•  3.17 騒音の衝撃性に関する指数 (impulsive noise index: impulsiveness)・・・・[9]
•  3.18 指向指数 (directivity index)・・・・[9]
•  3.19 基準音源 (reference sound source) : ・・・・[10]
•  3.20 残響時間 (reverberation time)・・・・[10]
•  3.21 室内等価吸音面積 (equivalent absorption area of surface)・・・・[10]
•  3.22 機能ユニット (functional unit) : ・・・・[10]
•  3.23 床置き形機器 (floor-standing equipment) : ・・・・[10]

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Z 8733 : 2000

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ページ

•  3.24 卓上形機器 (table-top equipment) : ・・・・[10]
•  3.25 壁掛け形機器 (wall-mounted equipment) : ・・・・[10]
•  3.26 サブアセンブリ (sub-assembly) : ・・・・[10]
•  3.27 ラック組込み形機器 (rack-mounted equipment) : ・・・・[10]
•  3.28 標準試験卓 (standard test table) : ・・・・[10]
•  3.29 作動モード (operating mode) : ・・・・[10]
•  3.30 アイドルモード (idle mode) : ・・・・[11]
•  4. 音響環境・・・・[11]
•  4.1 一般事項・・・・[11]
•  4.2 試験環境の適正基準・・・・[11]
•  4.3 暗騒音の基準・・・・[11]
•  5. 測定器・・・・[11]
•  5.1 一般事項・・・・[11]
•  5.2 校正・・・・[11]
•  5.3 マイクロホンの風防・・・・[12]
•  6. 測定対象機器の設置及び作動・・・・[12]
•  6.1 一般事項・・・・[12]
•  6.2 測定対象機器の配置・・・・[12]
•  6.3 測定対象機器の据付け・・・・[12]
•  6.3.1 手持ち形機器・・・・[13]
•  6.3.2 床置き形及び壁掛け形機器・・・・[13]
•  6.3.3 卓上形機器・・・・[13]
•  6.3.4 ラック据付け形機器・・・・[13]
•  6.3.5 サブアセンブリ・・・・[13]
•  6.4 補助装置・・・・[14]
•  6.5 測定対象機器の作動・・・・[14]
•  7. 音圧レベルの測定・・・・[14]
•  7.1 測定表面の選択・・・・[14]
•  7.2 半球測定表面・・・・[15]
•  7.2.1 半球測定表面の面積及び基本マイクロホン位置・・・・[15]
•  7.2.2 半球測定表面上の追加マイクロホン位置・・・・[15]
•  7.3 平行六面体測定表面・・・・[16]
•  7.3.1 平行六面体測定表面の面積及びマイクロホン位置・・・・[16]
•  7.3.2 平行六面体測定表面上の追加マイクロホン位置・・・・[16]
•  7.4 マイクロホン位置を選択するための付加的な手順・・・・[17]
•  7.4.1 測定表面上の限定された部分へのマイクロホン位置の追加・・・・[17]
•  7.4.2 マイクロホン位置の数の削減・・・・[17]
•  7.4.3 移動マイクロホンのための測定経路・・・・[17]
•  7.5 測定・・・・[18]

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•  7.5.1 環境条件・・・・[18]
•  7.5.2 測定器・・・・[19]
•  7.5.3 手順・・・・[19]
•  8. 表面音圧レベル及び音響パワーレベルの計算・・・・[19]
•  8.1 測定表面上で平均された音圧レベルの計算・・・・[19]
•  8.2 バンド音圧レベルからのA特性音圧レベルの計算・・・・[20]
•  8.3 暗騒音に対する補正・・・・[20]
•  8.4 試験環境に対する補正・・・・[21]
•  8.5 表面音圧レベルの計算・・・・[21]
•  8.6 音響パワーレベルの計算・・・・[21]
•  8.7 追加的な量の算出・・・・[21]
•  9. 記録事項・・・・[22]
•  9.1 測定対象機器・・・・[22]
•  9.2 音響環境・・・・[22]
•  9.3 測定器・・・・[22]
•  9.4 音響データ・・・・[22]
•  9.5 追加データ・・・・[23]
•  10. 報告事項・・・・[23]
•  附属書A(規定) 音響環境の検定手順・・・・[24]
•  A.1 一般事項・・・・[24]
•  A.2 環境条件・・・・[24]
•  A.2.1 反射面の特性・・・・[25]
•  A.2.2 屋外測定に関する注意事項・・・・[25]
•  A.3 絶対比較試験・・・・[25]
•  A.3.1 手順・・・・[25]
•  A.3.2 試験環境内の基準音源の配置・・・・[25]
•  A.4 室吸収に基づく環境補正値の算出・・・・[26]
•  A.4.1 概算法・・・・[26]
•  A.4.2 残響法・・・・[26]
•  A.4.3 二重測定表面法・・・・[27]
•  附属書B(規定) 半球測定表面上のマイクロホン配列・・・・[28]
•  B.1 基本マイクロホン位置及び追加マイクロホン位置・・・・[28]
•  B.2 離散純音を放射する音源のためのマイクロホン位置・・・・[28]
•  B.3 二つの反射面に隣接する音源のためのマイクロホン位置・・・・[29]
•  B.4 測定経路・・・・[29]
•  附属書C(規定) 平行六面体測定表面上のマイクロホン配列・・・・[33]
•  C.1 一つの反射面上に設置した音源のためのマイクロホン配列・・・・[33]
•  C.2 二つ又は三つの反射面に接する音源のためのマイクロホン位置・・・・[33]
•  附属書D(参考) 騒音の衝撃性の判定指針・・・・[38]

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ページ

•  附属書E(参考) 指向指数算出のための指針・・・・[39]
•  附属書F(参考) 騒音のスペクトル及びレベルの時間変動による分類・・・・[40]
•  F.1 一般事項・・・・[40]
•  F.2 スペクトルによる分類・・・・[40]
•  F.2.1 広帯域騒音 (broad-band noise) : ・・・・[40]
•  F.2.2 狭帯域騒音 (narrow-band noise) : ・・・・[40]
•  F.2.3 離散純音 (discrete tone) : ・・・・[40]
•  F.3 レベルの時間変動による分類・・・・[40]
•  F.3.1 定常騒音 (steady noise) : ・・・・[40]
•  F.3.2 非定常騒音 (non-steady noise) : ・・・・[41]
•  附属書G(参考) 参考文献・・・・[42]

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